JPS63140426A - 光ピツクアツプ装置 - Google Patents
光ピツクアツプ装置Info
- Publication number
- JPS63140426A JPS63140426A JP28749386A JP28749386A JPS63140426A JP S63140426 A JPS63140426 A JP S63140426A JP 28749386 A JP28749386 A JP 28749386A JP 28749386 A JP28749386 A JP 28749386A JP S63140426 A JPS63140426 A JP S63140426A
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- JP
- Japan
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- objective lens
- light
- parallel plate
- optical axis
- axis
- Prior art date
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- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 28
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 13
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims abstract description 10
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims abstract description 10
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims abstract description 10
- 230000004907 flux Effects 0.000 abstract description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(従来技術)
光情報記録再生装置の光ピックアップ装置として従来、
第5図に示される構成のものが知られている。
第5図に示される構成のものが知られている。
この構成によれば、半導体レーザー2からの光束はカッ
プリングレンズ4で平行光束にされ、偏光ビームスプリ
ッタ6.1/4波長板8を経て対物レンズ10により記
録媒体12上に約1μm径の微小なスポットとして集光
される。そして、このスポットの反射光は、今までの進
路を逆進して対物レンズ10.1/4波長板8を介し、
ビームスプリッタ6で入射光束と直交する方向に分割さ
れる。
プリングレンズ4で平行光束にされ、偏光ビームスプリ
ッタ6.1/4波長板8を経て対物レンズ10により記
録媒体12上に約1μm径の微小なスポットとして集光
される。そして、このスポットの反射光は、今までの進
路を逆進して対物レンズ10.1/4波長板8を介し、
ビームスプリッタ6で入射光束と直交する方向に分割さ
れる。
さらに、この反射光は集光レンズ14を透過後、その光
束の一部が第1の2分割受光素子16の素子C,D (
第6図参照)に入射され、これによりトラック信号が検
出される。
束の一部が第1の2分割受光素子16の素子C,D (
第6図参照)に入射され、これによりトラック信号が検
出される。
残りの光束は、その集光点に配置された第2の2分割受
光素子18に入射され、これにより焦点信号が検出され
る。
光素子18に入射され、これにより焦点信号が検出され
る。
そして、これらトラック信号、焦点信号の検出により、
記録媒体に対し情報の授受がなされる。
記録媒体に対し情報の授受がなされる。
ここで、トラック検出方法に着目すると、トラック検出
は、光ピックアップ装置で記録媒体12のトラックを横
切らせ、その際に受光素子16の出力として得られるト
ラック信号に基づいて行なわれる。
は、光ピックアップ装置で記録媒体12のトラックを横
切らせ、その際に受光素子16の出力として得られるト
ラック信号に基づいて行なわれる。
例えば、第9図に示す如く、スポットが記録媒体12の
トラック溝中心位置にあるときは、反射光強度分布が素
子C,Dに各等しい分布となり、又。
トラック溝中心位置にあるときは、反射光強度分布が素
子C,Dに各等しい分布となり、又。
第10図に示す如く、スポットがトランク溝中心から外
れたときは、反射光強度分布が素子C,Dについて不均
等となる。
れたときは、反射光強度分布が素子C,Dについて不均
等となる。
従って、素子C,Dの差信号をトラック信号とすれば、
正常なトラック信号は第13図に示す如くOvレベルを
中心として上下対称なサイン曲線を呈する。
正常なトラック信号は第13図に示す如くOvレベルを
中心として上下対称なサイン曲線を呈する。
しかし、このような正常なトラック信号を得ることは一
般的に困難であり、第14図に示す如く、Ovレベルが
上下対称なレベルよりもずれてしまい、所謂オフセット
を生ずる。
般的に困難であり、第14図に示す如く、Ovレベルが
上下対称なレベルよりもずれてしまい、所謂オフセット
を生ずる。
オフセットの生ずる原因は、半導体レーザー2からの出
射光束の光強度分布における強度のピーク軸と対物レン
ズ10の光軸の不一致による。
射光束の光強度分布における強度のピーク軸と対物レン
ズ10の光軸の不一致による。
すなわち、一般に半導体レーザー2のチップは半導体レ
ーザーの発光強度が最大となるピーク軸が取付基準の法
線方向に対して傾き0 (=2〜3度)をもつことをさ
けられない(第7図、第8図参照)。このため、上記ピ
ーク軸と対物レンズの光軸との間にずれ量Δを生じてし
まい、光ピックアップ装置組付時に第11図に示す如き
記録媒体上のトラックのない部位で素子C,Dを調整方
向Xに移動して反射光強度分布が素子C,Dで均等にな
るように調整しても、スポットが第12図に示す如くト
ラック溝中心に合致しているにも拘らず、トラックの有
無により反射の状態が異なるので素子Cの受光強度が素
子りの受光強度よりも大きくなり、トラック信号に誤差
を生ずるのである。
ーザーの発光強度が最大となるピーク軸が取付基準の法
線方向に対して傾き0 (=2〜3度)をもつことをさ
けられない(第7図、第8図参照)。このため、上記ピ
ーク軸と対物レンズの光軸との間にずれ量Δを生じてし
まい、光ピックアップ装置組付時に第11図に示す如き
記録媒体上のトラックのない部位で素子C,Dを調整方
向Xに移動して反射光強度分布が素子C,Dで均等にな
るように調整しても、スポットが第12図に示す如くト
ラック溝中心に合致しているにも拘らず、トラックの有
無により反射の状態が異なるので素子Cの受光強度が素
子りの受光強度よりも大きくなり、トラック信号に誤差
を生ずるのである。
なお、ここで、ずれ量Δは、カップリングレンズ4の焦
点距離なfとすると、(1)式で示される。
点距離なfとすると、(1)式で示される。
Δ=f−sinθ ・・・・(1)従って、
トラックエラーがない状態でも、第141図に示す如き
トラック検出誤差を生ずるとの間開がある。
トラックエラーがない状態でも、第141図に示す如き
トラック検出誤差を生ずるとの間開がある。
(目 的)
本発明の目的は前記トラック検出誤差を解消することに
あり、より具体的には、前記ずれ量Δを可及的に減少さ
せることのできる改良された光ピックアップ装置を提供
することにある。
あり、より具体的には、前記ずれ量Δを可及的に減少さ
せることのできる改良された光ピックアップ装置を提供
することにある。
(構 成)
本発明は、上記の目的を達成させるため、カップリング
レンズと対物レンズの間の平行光束中に透明な平行平板
を回動可能に設けたことを特徴としたものである。
レンズと対物レンズの間の平行光束中に透明な平行平板
を回動可能に設けたことを特徴としたものである。
以下1本発明の一実施例に基づいて具体的に説明する。
第1図に示す、本発明に係る光ピンクアップ装置は、例
えばガラス板による平行平板20が設けられている他は
第5図で説明した光ビックアンプ装置に準じて構成され
ている。
えばガラス板による平行平板20が設けられている他は
第5図で説明した光ビックアンプ装置に準じて構成され
ている。
平行平板20は屈折率をn、厚さをdとする。この平行
平板20は第1図し;おいて174波長板8と対物レン
ズ10との間、原理的には第2図、第3図に示す如く、
カップリングレンズ、1と対物レンズ10との間に、対
物レンズ光軸と交わる点22を中心として微小回動量調
整可能に設けられている。そこで、この平行平板20を
回動調整して傾けることにより、対物レンズの光軸と半
導体レーザー出射光束の光強度分布における強度のピー
ク軸を一致させる(Δ=0)とすることができる。
平板20は第1図し;おいて174波長板8と対物レン
ズ10との間、原理的には第2図、第3図に示す如く、
カップリングレンズ、1と対物レンズ10との間に、対
物レンズ光軸と交わる点22を中心として微小回動量調
整可能に設けられている。そこで、この平行平板20を
回動調整して傾けることにより、対物レンズの光軸と半
導体レーザー出射光束の光強度分布における強度のピー
ク軸を一致させる(Δ=0)とすることができる。
平行平板20の具体的な傾き調整量を以下に求めてみる
。
。
今、第4図に示すように、平行平板20に入射角αで光
が入射したとする。すると、入射光と出射光は互いに平
行であるがΔ′だけ間隔がずれる。
が入射したとする。すると、入射光と出射光は互いに平
行であるがΔ′だけ間隔がずれる。
そこで、屈折角βとし1点Pp Q y R、Slそ載
ぞ九設定する。ここで0点Pは入射光と入射面の交点2
点Qは法線と出射面の交点1点Rは出射光と出射面の交
点9点Sは点Rより入射光の延長線に下した垂線の交点
である。
ぞ九設定する。ここで0点Pは入射光と入射面の交点2
点Qは法線と出射面の交点1点Rは出射光と出射面の交
点9点Sは点Rより入射光の延長線に下した垂線の交点
である。
すると、第4図において、スネルの、人間により(2)
式が成立する。
式が成立する。
sin a = n Sin β −−−・
(2)又、三角法により、(3)式が成立する。
(2)又、三角法により、(3)式が成立する。
従って、Δ’ (=CD)は、(4)式で示される。
そこで、第3図に示す如く対物レンズの光軸と平行平板
20のなす角を芦とすると、5p=αである。
20のなす角を芦とすると、5p=αである。
従って、Δ=Δ1となればよいので、(1)式と(4)
式から(5)が成立する。
式から(5)が成立する。
次に、上記(5)式を用いて具体的に を求めてみる。
f=15mm、 θ=3’ 、n=1.5.d=5m
m とすると、計算により%=25.1” と求めるこ
とができる。従って、この場合つまり、半導体レーザー
の出射光のピーク軸方向が第2図に示す如く時計回りの
向きに3mずれていた場合には、対物レンズ光軸が平行
平板20と直交している第2図の状態よりも、第3図に
示す如く反時計回りの向きに戸=25.1’傾ければΔ
:0となり対物レンズ光軸と上記ピーク軸を一致させる
ことができる。
m とすると、計算により%=25.1” と求めるこ
とができる。従って、この場合つまり、半導体レーザー
の出射光のピーク軸方向が第2図に示す如く時計回りの
向きに3mずれていた場合には、対物レンズ光軸が平行
平板20と直交している第2図の状態よりも、第3図に
示す如く反時計回りの向きに戸=25.1’傾ければΔ
:0となり対物レンズ光軸と上記ピーク軸を一致させる
ことができる。
(効 果)
本発明によれば、トラック検出信号に誤差をもたらす原
因の一つである半導体レーザービーl、の発光ピーク軸
と対物レンズ光軸とのずれを、光学系に平行平板を回動
調整自在に挿入したことにより容易に一致させることが
でき5打部合である。
因の一つである半導体レーザービーl、の発光ピーク軸
と対物レンズ光軸とのずれを、光学系に平行平板を回動
調整自在に挿入したことにより容易に一致させることが
でき5打部合である。
第1図は本発明の一実施例に係る光ピックアップ装置の
構成図、第2図は平行平板を回動調整する前の状態を説
明した同上図の要部模式図、第3図は同上図において平
行平板を回動調整後の要部模式図、第4図は平行平板中
の光路説明図、第5図は従来例に係る光ピックアップ装
置の構成図、第6図は受光素子の正面図、第7図、第8
図はそれぞれ、半導体レーザー出射光の強度ピーク軸の
ずれを説明した図、第9図、第10図はそれぞれ対物レ
ンズ光軸と半導体レーザー出射光の強度ピーク軸が一致
している状態での反射光強度分布と受光素子との関係を
説明した図、第13図は同上図の状態でのトラック信号
波形を説明した図、第11図、第12図はそれぞれ対物
レンズ光軸と半導体レーザー出射光の強度ピーク軸が不
一致状態での反射光強度分布と受光素子との関係を説明
した図、第14図は同上図の状態でのトラック信号波形
を説明した図である。 4・・・・カップリングレンズ、10・・・・対物レン
ズ。 20・・・・平行平板。
構成図、第2図は平行平板を回動調整する前の状態を説
明した同上図の要部模式図、第3図は同上図において平
行平板を回動調整後の要部模式図、第4図は平行平板中
の光路説明図、第5図は従来例に係る光ピックアップ装
置の構成図、第6図は受光素子の正面図、第7図、第8
図はそれぞれ、半導体レーザー出射光の強度ピーク軸の
ずれを説明した図、第9図、第10図はそれぞれ対物レ
ンズ光軸と半導体レーザー出射光の強度ピーク軸が一致
している状態での反射光強度分布と受光素子との関係を
説明した図、第13図は同上図の状態でのトラック信号
波形を説明した図、第11図、第12図はそれぞれ対物
レンズ光軸と半導体レーザー出射光の強度ピーク軸が不
一致状態での反射光強度分布と受光素子との関係を説明
した図、第14図は同上図の状態でのトラック信号波形
を説明した図である。 4・・・・カップリングレンズ、10・・・・対物レン
ズ。 20・・・・平行平板。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 半導体レーザーからの光束をカップリングレンズを介し
て平行光束とし、対物レンズにより記録媒体上に微小な
スポットとして集光させ、情報の記録、再生を行なう光
情報記録再生装置の光ピックアップ装置において、 カップリングレンズと対物レンズの間の平行光束中に透
明な平行平板を回動可能に設けたことを特徴とする光ピ
ックアップ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28749386A JPS63140426A (ja) | 1986-12-02 | 1986-12-02 | 光ピツクアツプ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28749386A JPS63140426A (ja) | 1986-12-02 | 1986-12-02 | 光ピツクアツプ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63140426A true JPS63140426A (ja) | 1988-06-13 |
Family
ID=17718053
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28749386A Pending JPS63140426A (ja) | 1986-12-02 | 1986-12-02 | 光ピツクアツプ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63140426A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0380523U (ja) * | 1989-11-29 | 1991-08-19 | ||
US5237457A (en) * | 1990-10-04 | 1993-08-17 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Apparatus for adjusting an optical axis including a laser beam source and a beam shaping prism |
US7286450B2 (en) | 2003-01-22 | 2007-10-23 | Sharp Kabushiki Kaisha | Light pickup device with center axis and light balancing adjustment |
-
1986
- 1986-12-02 JP JP28749386A patent/JPS63140426A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0380523U (ja) * | 1989-11-29 | 1991-08-19 | ||
US5237457A (en) * | 1990-10-04 | 1993-08-17 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Apparatus for adjusting an optical axis including a laser beam source and a beam shaping prism |
US5341246A (en) * | 1990-10-04 | 1994-08-23 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Apparatus for adjusting an optical axis including plates on opposite sides of a beam shaping prism |
US5343332A (en) * | 1990-10-04 | 1994-08-30 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Apparatus for adjusting optical axis including a beam shaping prism |
US7286450B2 (en) | 2003-01-22 | 2007-10-23 | Sharp Kabushiki Kaisha | Light pickup device with center axis and light balancing adjustment |
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