JPS63134558U - - Google Patents

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JPS63134558U
JPS63134558U JP2692087U JP2692087U JPS63134558U JP S63134558 U JPS63134558 U JP S63134558U JP 2692087 U JP2692087 U JP 2692087U JP 2692087 U JP2692087 U JP 2692087U JP S63134558 U JPS63134558 U JP S63134558U
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JP
Japan
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semiconductor region
conductivity type
type semiconductor
regions
photo sensor
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JP2692087U
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Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案フオトセンサの第1の実施例を
示す断面図、第2図は本考案フオトセンサの第2
の実施例を示す断面図、第3図は本考案フオトセ
ンサの第3の実施例を示す断面図、第4図はフオ
トセンサの従来例を示す断面図である。 符号の説明、1……絶縁基板、2……第1導電
型半導体領域、2A,2B,2C……分割領域、
3……真性半導体領域、4……第2導電型半導体
領域。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 絶縁基板上に第1導電型半導体領域を形成し、
    該第1導電型半導体領域上に真性半導体領域を形
    成し、該真性半導体領域上に第2導電型半導体領
    域を形成してなるフオトセンサにおいて、 上記第1導電型半導体領域と第2導電型半導体
    領域のうちの一方の半導体領域が互いに分離され
    た複数の領域に分割され、 上記真性半導体領域の上記各分割領域に対応す
    る部分における膜厚が互いに異なるようにされて
    なる ことを特徴とするフオトセンサ。
JP2692087U 1987-02-25 1987-02-25 Pending JPS63134558U (ja)

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JP2692087U JPS63134558U (ja) 1987-02-25 1987-02-25

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JPS63134558U true JPS63134558U (ja) 1988-09-02

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JP2692087U Pending JPS63134558U (ja) 1987-02-25 1987-02-25

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009135314A (ja) * 2007-11-30 2009-06-18 Oki Semiconductor Co Ltd フォトダイオードの製造方法およびそれを用いて形成されたフォトダイオード

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009135314A (ja) * 2007-11-30 2009-06-18 Oki Semiconductor Co Ltd フォトダイオードの製造方法およびそれを用いて形成されたフォトダイオード
JP4574667B2 (ja) * 2007-11-30 2010-11-04 Okiセミコンダクタ株式会社 フォトダイオードの製造方法およびそれを用いて形成されたフォトダイオード

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