JPS6313381A - 光電センサ - Google Patents
光電センサInfo
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- JPS6313381A JPS6313381A JP61156839A JP15683986A JPS6313381A JP S6313381 A JPS6313381 A JP S6313381A JP 61156839 A JP61156839 A JP 61156839A JP 15683986 A JP15683986 A JP 15683986A JP S6313381 A JPS6313381 A JP S6313381A
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/549—Organic PV cells
Landscapes
- Light Receiving Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光電センサに関する。更に詳しくは。
波長感度にすぐれかつ製作の容易な光電センサに関する
。
。
従来、光電センサとして一般的に使用されているものは
、硫化カドミウムセルとシリコンまたはゲルマニウムフ
ォトダイオードである。しかるに、硫化カドミウムセル
は520nm付近の波長に中心感度を有しており、また
フォトダイオードは850nm付近の波長に中心感度を
有しているので、光源の波長に合わせて受光素子である
光電センサを選択する必要がある。
、硫化カドミウムセルとシリコンまたはゲルマニウムフ
ォトダイオードである。しかるに、硫化カドミウムセル
は520nm付近の波長に中心感度を有しており、また
フォトダイオードは850nm付近の波長に中心感度を
有しているので、光源の波長に合わせて受光素子である
光電センサを選択する必要がある。
ところで、近年光通信の分野では、波長領域が550〜
800nmのLEDが使用されることが多いが、受光素
子に最適なものがないため、フォトダイオードなどが使
用されている。また、このフォトダイオードの材料とし
ては、単結晶のシリコン、ゲルマニウムが使用されてい
るため、基本的にコストが高いという問題もみられる。
800nmのLEDが使用されることが多いが、受光素
子に最適なものがないため、フォトダイオードなどが使
用されている。また、このフォトダイオードの材料とし
ては、単結晶のシリコン、ゲルマニウムが使用されてい
るため、基本的にコストが高いという問題もみられる。
本発明者は、550−800nmの波長領域に良好、な
感度を有し、しかもコスト的に廉価なものとしてフタロ
シアニン系色素材料に着目し、これを薄膜化して絶縁性
基板上の電極を覆う構造とすることにより、照度の変化
を抵抗値の変化としてとらえることに成功し、ここに有
用な光電センサを得ることができた。
感度を有し、しかもコスト的に廉価なものとしてフタロ
シアニン系色素材料に着目し、これを薄膜化して絶縁性
基板上の電極を覆う構造とすることにより、照度の変化
を抵抗値の変化としてとらえることに成功し、ここに有
用な光電センサを得ることができた。
〔問題点を解決するための手段〕および〔作用〕従って
、本発明は光電センサに係り、この光電センサは、導電
性くし形電極を有する絶縁性基板表面に、電極部分を覆
うフタロシアニン薄膜またはフタロシアニン−金属錯体
薄膜を形成せしめてなる。
、本発明は光電センサに係り、この光電センサは、導電
性くし形電極を有する絶縁性基板表面に、電極部分を覆
うフタロシアニン薄膜またはフタロシアニン−金属錯体
薄膜を形成せしめてなる。
かかる光電センサの一態様が1図面の第1図に平面図と
して示されており、絶縁性基板1上に導電性くし形電極
2,2′が形成され、その表面をフタロシアニン薄膜ま
たはフタロシアニン−金属錯体薄膜3が覆っており、各
取出電極部分には半田付けあるいは銀ペースト4,4′
によりリード線5,5′が取り付けられている。
して示されており、絶縁性基板1上に導電性くし形電極
2,2′が形成され、その表面をフタロシアニン薄膜ま
たはフタロシアニン−金属錯体薄膜3が覆っており、各
取出電極部分には半田付けあるいは銀ペースト4,4′
によりリード線5,5′が取り付けられている。
絶縁性基板上への導電性くし形電極の形成は。
従来の例にならって行われる。即ち、ガラス、アルミナ
、石英などの絶縁性基板上に、ステンレススチール、ハ
ステロイC、インコネル、モネル、金、銀、銅、白金、
アルミニウム、鉄、コバルト、ニッケルなどの耐食性金
属や電極形成材料金属をスパッタリング法、イオンブレ
ーティング法などにより、約0.1〜0.5μm程度の
厚さの薄膜を形成させ、次にそこにフォトレジストパタ
ーンを形成させる。
、石英などの絶縁性基板上に、ステンレススチール、ハ
ステロイC、インコネル、モネル、金、銀、銅、白金、
アルミニウム、鉄、コバルト、ニッケルなどの耐食性金
属や電極形成材料金属をスパッタリング法、イオンブレ
ーティング法などにより、約0.1〜0.5μm程度の
厚さの薄膜を形成させ、次にそこにフォトレジストパタ
ーンを形成させる。
゛例えば電極形成材料がアルミニウムの場合には、この
ようにして形成された電極形成材料金属薄膜へのフォト
レジストパターンの形成は、周知のフォトリソグラフ技
術を適用することによって行われる。即ち、金属薄膜上
にフォトレジストコーティングを行ない、そこにくし形
電極のパターンの陰画または陽画を焼付けたガラス乾板
を重ね、光照射による焼付けおよび現像によって行われ
る。
ようにして形成された電極形成材料金属薄膜へのフォト
レジストパターンの形成は、周知のフォトリソグラフ技
術を適用することによって行われる。即ち、金属薄膜上
にフォトレジストコーティングを行ない、そこにくし形
電極のパターンの陰画または陽画を焼付けたガラス乾板
を重ね、光照射による焼付けおよび現像によって行われ
る。
この後、湿式化学エツチングが行われるが、エツチング
液としては、リン酸−硫酸一無ホクロム酸−水(重量比
65 : 15 : 5 : 15)混合液、B)IF
(フッ酸系)、塩化第2鉄水溶液、硝酸、リン酸−硝
酸混合液などが用いられる。
液としては、リン酸−硫酸一無ホクロム酸−水(重量比
65 : 15 : 5 : 15)混合液、B)IF
(フッ酸系)、塩化第2鉄水溶液、硝酸、リン酸−硝
酸混合液などが用いられる。
また、電極形成材料として金が用いられる場合には、金
ペーストを用いるスクリーン印刷法などを適用すること
ができ、この場合には絶縁性基板上に金ペーストをスク
リーン印刷でくし形に塗布し、次いでこれを約100〜
200℃の温度で焼結させることにより、くし形電極の
形成が行われる。このようにくし形電極の形成に際して
焼結工程がとられるため、絶縁性基板としては熱的に安
定なアルミナ基板などが用いられることが好ましい。
ペーストを用いるスクリーン印刷法などを適用すること
ができ、この場合には絶縁性基板上に金ペーストをスク
リーン印刷でくし形に塗布し、次いでこれを約100〜
200℃の温度で焼結させることにより、くし形電極の
形成が行われる。このようにくし形電極の形成に際して
焼結工程がとられるため、絶縁性基板としては熱的に安
定なアルミナ基板などが用いられることが好ましい。
このようにして絶縁性基板上に形成させた導電性くし形
電極の表面は、波長感度にすぐれたフタロシアニン薄膜
またはフタロシアニン−金属錯体薄膜によって覆われる
。
電極の表面は、波長感度にすぐれたフタロシアニン薄膜
またはフタロシアニン−金属錯体薄膜によって覆われる
。
フタロシアニン−金属錯体としては、コバルト。
銅、鉄、ニッケル、鉛などとの錯体、好ましくは出力の
大きさの点から鉛錯体が用いられる。これらの金属錯体
あるいはフタロシアニンによる導電性くし形電極の被覆
は、一般に真空蒸着法などによって行われ、その被覆は
約100〜5000人の厚さで行われる。
大きさの点から鉛錯体が用いられる。これらの金属錯体
あるいはフタロシアニンによる導電性くし形電極の被覆
は、一般に真空蒸着法などによって行われ、その被覆は
約100〜5000人の厚さで行われる。
〔作用〕および〔発明の効果〕
このようにして作成される本発明の光電センサは、これ
に550−800nmの光を照射した場合、照度に対応
して素子抵抗が変化することが確かめられたので、素子
抵抗を測定することにより照度を計測することができる
。
に550−800nmの光を照射した場合、照度に対応
して素子抵抗が変化することが確かめられたので、素子
抵抗を測定することにより照度を計測することができる
。
しかも、光電センサは、波長感度を有するフタロシアニ
ン系薄膜の形成が真空蒸着法などの適用により、容易に
行なうことができるという特徴を有している。
ン系薄膜の形成が真空蒸着法などの適用により、容易に
行なうことができるという特徴を有している。
従って、550〜800nn+の波長感度を有する光電
センサは、 LEDのような受光素子としてすぐれてお
り、光通信分野で有効な素子として用いられる。
センサは、 LEDのような受光素子としてすぐれてお
り、光通信分野で有効な素子として用いられる。
また、近接スイッチ(光スィッチ)などの簡便な用途に
おいても、すぐれた機能を発揮する。
おいても、すぐれた機能を発揮する。
第1図に図示されるような光電センサを作製した。即ち
、厚さ0.6mmのアルミナ基板上に、スクリーン印刷
法により金ペーストを塗布し、これを150℃の温度で
焼結してくし形電極を形成させた後、フタロシアニン−
鉛錯体を真空蒸着法により厚さ3000人でくし形電極
部分を覆うように形成させた。
、厚さ0.6mmのアルミナ基板上に、スクリーン印刷
法により金ペーストを塗布し、これを150℃の温度で
焼結してくし形電極を形成させた後、フタロシアニン−
鉛錯体を真空蒸着法により厚さ3000人でくし形電極
部分を覆うように形成させた。
このようにして作製された光電センサは、中心波長75
00mの光をハロゲンランプから照射し、その抵抗値を
測定した。得られた結果は第2図のグラフに示され、こ
の結果から照度に対応して素子抵抗が変化することが分
かる。
00mの光をハロゲンランプから照射し、その抵抗値を
測定した。得られた結果は第2図のグラフに示され、こ
の結果から照度に対応して素子抵抗が変化することが分
かる。
第1図は、本発明に係る光電センサの一態様の平面図で
ある。第2図はこの光電センサを用いて測定した照度−
素子抵抗の関係を示すグラフである。 (符号の説明) 1・・・・・絶縁性基板 2・・・・・導電性くし形電極 3・・・・・金属錯体薄膜
ある。第2図はこの光電センサを用いて測定した照度−
素子抵抗の関係を示すグラフである。 (符号の説明) 1・・・・・絶縁性基板 2・・・・・導電性くし形電極 3・・・・・金属錯体薄膜
Claims (1)
- 1、導電性くし形電極を有する絶縁性基板表面に、電極
部分を覆うフタロシアニン薄膜またはフタロシアニン−
金属錯体薄膜を形成せしめた光電センサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61156839A JPS6313381A (ja) | 1986-07-03 | 1986-07-03 | 光電センサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61156839A JPS6313381A (ja) | 1986-07-03 | 1986-07-03 | 光電センサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6313381A true JPS6313381A (ja) | 1988-01-20 |
Family
ID=15636497
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61156839A Pending JPS6313381A (ja) | 1986-07-03 | 1986-07-03 | 光電センサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6313381A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03137894A (ja) * | 1989-10-23 | 1991-06-12 | Matsushita Giken Kk | スイッチング・メモリ複合機能素子アレイ |
US5281542A (en) * | 1992-03-31 | 1994-01-25 | At&T Bell Laboratories | Planar quantum well photodetector |
JP2014507068A (ja) * | 2011-02-07 | 2014-03-20 | サントル・ナショナル・ドゥ・ラ・レシェルシュ・サイエンティフィーク−セ・エン・エール・エス− | 最適化されたトリアゾール粒子配置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6086552A (ja) * | 1983-10-19 | 1985-05-16 | Toyo Ink Mfg Co Ltd | 光導電性材料 |
-
1986
- 1986-07-03 JP JP61156839A patent/JPS6313381A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6086552A (ja) * | 1983-10-19 | 1985-05-16 | Toyo Ink Mfg Co Ltd | 光導電性材料 |
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JP2014507068A (ja) * | 2011-02-07 | 2014-03-20 | サントル・ナショナル・ドゥ・ラ・レシェルシュ・サイエンティフィーク−セ・エン・エール・エス− | 最適化されたトリアゾール粒子配置 |
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