JPS63133157A - 電子写真感光体 - Google Patents
電子写真感光体Info
- Publication number
- JPS63133157A JPS63133157A JP28045786A JP28045786A JPS63133157A JP S63133157 A JPS63133157 A JP S63133157A JP 28045786 A JP28045786 A JP 28045786A JP 28045786 A JP28045786 A JP 28045786A JP S63133157 A JPS63133157 A JP S63133157A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- carrier
- layer
- photoreceptor
- injection blocking
- transport layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims abstract description 29
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims abstract description 29
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims abstract description 26
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 16
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 9
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 8
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 8
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 8
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 5
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims abstract description 5
- 108091008695 photoreceptors Proteins 0.000 claims description 43
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 19
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 88
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
- 206010034972 Photosensitivity reaction Diseases 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 239000010408 film Substances 0.000 description 7
- 230000036211 photosensitivity Effects 0.000 description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 6
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 4
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 2
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 2
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000002401 inhibitory effect Effects 0.000 description 2
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 2
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 2
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 2
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 2
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052789 astatine Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052794 bromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000010790 dilution Methods 0.000 description 1
- 239000012895 dilution Substances 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 125000005843 halogen group Chemical group 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 229910052740 iodine Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 1
- 230000003446 memory effect Effects 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 1
- 238000013441 quality evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000005546 reactive sputtering Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000000682 scanning probe acoustic microscopy Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000002230 thermal chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
- G03G5/082—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
- G03G5/08214—Silicon-based
- G03G5/08235—Silicon-based comprising three or four silicon-based layers
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は残留電位を小さくして画像にカブリが生じない
ようにした電子写真感光体に関するものである。
ようにした電子写真感光体に関するものである。
近年、電子写真感光体の進歩は目覚ましく、超高速複写
機やレーザービームプリンタなどの開発が活発に進めら
れており、これらの機器に用いられる感光体は長期間高
速で使用されるため、動作の安定性及び耐久性が要求さ
れる。この要求に対して水素化アモルファスシリコンが
耐熱性、耐摩耗性、無公害性並びに光感度特性等に優れ
ているという理由から注目されている。
機やレーザービームプリンタなどの開発が活発に進めら
れており、これらの機器に用いられる感光体は長期間高
速で使用されるため、動作の安定性及び耐久性が要求さ
れる。この要求に対して水素化アモルファスシリコンが
耐熱性、耐摩耗性、無公害性並びに光感度特性等に優れ
ているという理由から注目されている。
かかるアモルファスシリコン(以下、a−5iと略す)
から成る電子写真感光体には第2図に示す通りの積層型
感光体が提案されている。
から成る電子写真感光体には第2図に示す通りの積層型
感光体が提案されている。
即ち、第2図によれば、アルミニウムなどの導電性基板
(1)上にa−3iキャリア注入阻止層(2)、a−3
iキャリア発生層(3)及び表面保護層(4)を順次積
層しており、このキャリア注入阻止層(2)は基板(1
)からのキャリアの注入を阻止して表面電位を高めるた
めに形成されており、そして、表面保護層(4)には高
硬度な材料を用いて感光体の耐久性を高めている。
(1)上にa−3iキャリア注入阻止層(2)、a−3
iキャリア発生層(3)及び表面保護層(4)を順次積
層しており、このキャリア注入阻止層(2)は基板(1
)からのキャリアの注入を阻止して表面電位を高めるた
めに形成されており、そして、表面保護層(4)には高
硬度な材料を用いて感光体の耐久性を高めている。
ところが、このa−5i悪感光によれば、a−5iキャ
リア発生層(3)自体が有する暗抵抗率が10’−Ω・
cm以下であり、これにより、この感光体の暗減衰率が
大きくなると共にそれ自体の帯電能を高めることが難し
くなり、その結果、この感光体を高速複写用に用いた場
合には光メモリ効果により先の画像が完全に除去されず
に残存し、次の画像形成に伴って先の画像が再び現れる
(ゴースト現象)という問題がある。
リア発生層(3)自体が有する暗抵抗率が10’−Ω・
cm以下であり、これにより、この感光体の暗減衰率が
大きくなると共にそれ自体の帯電能を高めることが難し
くなり、その結果、この感光体を高速複写用に用いた場
合には光メモリ効果により先の画像が完全に除去されず
に残存し、次の画像形成に伴って先の画像が再び現れる
(ゴースト現象)という問題がある。
この問題を解決するために第3図に示すような機能分離
型感光体が提案されている。
型感光体が提案されている。
即ち、第3図によれば、前述したキャリア注入阻止層(
2a)とキャリア発生層(3a)の間にキャリア輸送層
(5)を形成しており、そして、このキャリア輸送層(
5)には暗抵抗率及びキャリア移動度のそれぞれが大き
い材料で形成されており、これにより、表面電位及び光
感度に優れ且つ残留電位が小さい高性能な感光体が得ら
れ、その結果、ゴースト現象が生じなくなる。
2a)とキャリア発生層(3a)の間にキャリア輸送層
(5)を形成しており、そして、このキャリア輸送層(
5)には暗抵抗率及びキャリア移動度のそれぞれが大き
い材料で形成されており、これにより、表面電位及び光
感度に優れ且つ残留電位が小さい高性能な感光体が得ら
れ、その結果、ゴースト現象が生じなくなる。
このキャリア輸送層(5)については高抵抗且つ広いバ
ンドギャップ並びに半導体特性を具備したアモルファス
シリコンカーバイドを用いることが特開昭58−192
046号公報などに提案されている。
ンドギャップ並びに半導体特性を具備したアモルファス
シリコンカーバイドを用いることが特開昭58−192
046号公報などに提案されている。
しかしながら、この公報に示されたアモルファスシリコ
ンカーバイド(以下、計SiCと略す)から成るキャリ
ア輸送層を形成するに当たってシリコン元素(St)と
カーボン元素(C)の原子組成比を1=9乃至9;1の
範囲内に設定した場合、キャリア移動度が低下傾向にあ
り、これにより、キャリアがa−3iCキャリア輸送層
でトラップされ易くなって高光感度特性且つ残留電位の
一層の低減化が髄しくなり、その結果、画像にカブリが
生じ易くなる。
ンカーバイド(以下、計SiCと略す)から成るキャリ
ア輸送層を形成するに当たってシリコン元素(St)と
カーボン元素(C)の原子組成比を1=9乃至9;1の
範囲内に設定した場合、キャリア移動度が低下傾向にあ
り、これにより、キャリアがa−3iCキャリア輸送層
でトラップされ易くなって高光感度特性且つ残留電位の
一層の低減化が髄しくなり、その結果、画像にカブリが
生じ易くなる。
従って本発明は上記事情に鑑みて完成されたものであり
、その目的はa−3iCキャリア輸送層のキャリア移動
度を一段と向上させ、これにより、残留電位を小さくし
て画像にカブリが生じないようにした電子写真感光体を
提供することにある。
、その目的はa−3iCキャリア輸送層のキャリア移動
度を一段と向上させ、これにより、残留電位を小さくし
て画像にカブリが生じないようにした電子写真感光体を
提供することにある。
3一
本発明によれば、基板上に少なくともキャリア注入阻止
層、キャリア輸送層及びキャリア発生層を形成した電子
写真感光体において、前記キャリア注入阻止層がa−5
iCから成ると共にCとSiの原子組成比を1=9乃至
9:1の範囲内に設定し、前記キャリア輸送層がa−5
iCから成ると共にCとSiの原子組成比を1:100
乃至1:9の範囲内に設定し、前記キャリア発生層をa
−5iCにより形成したことを特徴とする電子写真感光
体が提供される。
層、キャリア輸送層及びキャリア発生層を形成した電子
写真感光体において、前記キャリア注入阻止層がa−5
iCから成ると共にCとSiの原子組成比を1=9乃至
9:1の範囲内に設定し、前記キャリア輸送層がa−5
iCから成ると共にCとSiの原子組成比を1:100
乃至1:9の範囲内に設定し、前記キャリア発生層をa
−5iCにより形成したことを特徴とする電子写真感光
体が提供される。
以下、本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明の電子写真感光体の典型的な層構成を示
しており、この図によれば、導電性基板(1)上にキャ
リア注入阻止層(6)、キャリア輸送層(7)、キャリ
ア発生層(8)及び表面保護層(9)が順次形成された
積層型感光体を示しており、そして、この感光体に対し
てキャリア輸送層(7)とキャリア発生層(8)の積層
順序を変えた積層型感光体であってもよい。
しており、この図によれば、導電性基板(1)上にキャ
リア注入阻止層(6)、キャリア輸送層(7)、キャリ
ア発生層(8)及び表面保護層(9)が順次形成された
積層型感光体を示しており、そして、この感光体に対し
てキャリア輸送層(7)とキャリア発生層(8)の積層
順序を変えた積層型感光体であってもよい。
本発明によれば、上記キャリア輸送層(7)をa−5i
Cにより形成するに当たってC元素とSi元素の原子組
成比を]:100乃至1:9の範囲内に、好適には1
:50乃至1 ;9の範囲内に設定し、これにより、こ
のキャリア輸送層(7)のキャリア移動度を向上させ、
更に上記キャリア発生層(8)をa−5iCにより形成
し、これによって帯電能と光感度を高め、更にまた上記
キャリア注入阻止層(6)をa−3iCにより形成し、
これによって一層帯電能を大きくし且つ暗減衰を減少さ
せると共に残留電位も小さくすることを特徴とする。
Cにより形成するに当たってC元素とSi元素の原子組
成比を]:100乃至1:9の範囲内に、好適には1
:50乃至1 ;9の範囲内に設定し、これにより、こ
のキャリア輸送層(7)のキャリア移動度を向上させ、
更に上記キャリア発生層(8)をa−5iCにより形成
し、これによって帯電能と光感度を高め、更にまた上記
キャリア注入阻止層(6)をa−3iCにより形成し、
これによって一層帯電能を大きくし且つ暗減衰を減少さ
せると共に残留電位も小さくすることを特徴とする。
先ず、キャリア輸送層(7)を上記の通りの原子組成比
に決めた理由は、C元素とSi元素の原子組成比がbl
OOから外れた場合、キャリア輸送層の暗抵抗率を大き
くして表面電位を高くするという効果が顕著でなくなり
、この原子組成比が1:9から外れた場合、キャリア輸
送層の暗抵抗率が大きくなって表面電位が高くなるが、
その反面、キャリア移動度が低下傾向にあり、これによ
って残留電位が増加して画像にカブリが生じ易くなるた
めである。
に決めた理由は、C元素とSi元素の原子組成比がbl
OOから外れた場合、キャリア輸送層の暗抵抗率を大き
くして表面電位を高くするという効果が顕著でなくなり
、この原子組成比が1:9から外れた場合、キャリア輸
送層の暗抵抗率が大きくなって表面電位が高くなるが、
その反面、キャリア移動度が低下傾向にあり、これによ
って残留電位が増加して画像にカブリが生じ易くなるた
めである。
−6=
上記キャリア輸送層(7)の厚みは1乃至50μm、好
適には5乃至30μmの範囲内に設定するのがよく、1
μm未満であれば電荷保持能力に劣ってゴースト現象が
顕著になり、50μmを超えると画像の分解能が劣化す
ると共に残留電位が大きくなる。
適には5乃至30μmの範囲内に設定するのがよく、1
μm未満であれば電荷保持能力に劣ってゴースト現象が
顕著になり、50μmを超えると画像の分解能が劣化す
ると共に残留電位が大きくなる。
このキャリア輸送層(7)には周期律表第Va族元素(
以下、Va族元素と略す)又は周期律表第ma族元素(
以下、nla族元素と略す)を所要の範囲内で含有させ
てもよい。
以下、Va族元素と略す)又は周期律表第ma族元素(
以下、nla族元素と略す)を所要の範囲内で含有させ
てもよい。
即ち、Va族元素を含有させる場合、その含有量を0乃
至10,000ppm 、好適には0.1乃至1100
0ppの範囲内で含有させると負帯電に有利な感光体と
なり、このVa族元素としてはP+N+As、Sb等が
あり、就中、Pが望ましい。
至10,000ppm 、好適には0.1乃至1100
0ppの範囲内で含有させると負帯電に有利な感光体と
なり、このVa族元素としてはP+N+As、Sb等が
あり、就中、Pが望ましい。
また、ma族元素を含有させる場合にはその含有量を0
.1乃至10,000ppm 、好適には0.5乃至1
1000ppの範囲内で含有させると正帯電に有利な感
光体となり、このma族元素としてはB、A1.Ga。
.1乃至10,000ppm 、好適には0.5乃至1
1000ppの範囲内で含有させると正帯電に有利な感
光体となり、このma族元素としてはB、A1.Ga。
In等があり、就中、Bが望ましい。
上述したような不純物元素をドーピングして所要の通り
に帯電させるという場合、それに加えて暗抵抗率を更に
一層大きくして表面電位を高めるという目的のためには
ma族元素を添加すると有利である。
に帯電させるという場合、それに加えて暗抵抗率を更に
一層大きくして表面電位を高めるという目的のためには
ma族元素を添加すると有利である。
また、キャリア発生層(8)はa−5iCが光導電性を
有する範囲内でCとStの原子組成比が決められ、a−
5iCキャリア輸送層(7)と組み合わせて形成した場
合、C,l!:Siの原子組成比を1:100乃至9:
1、好適には1:20乃至1:1の範囲内に設定すると
よく、この範囲内であれば光導電性に優れると共に残留
電位が小さくなり、そして、高い帯電能を有し、その結
果、画像濃度が大きい感光体が得られる。また、このよ
うに5i−C組成比を決めるのに当たってこの組成比を
計SiCキャリア輸送層の5i−C組成比に比べてSt
比率を大きくするのがよく、これによってキャリア発生
層で生じた光キャリアがスムーズにキャリア輸送層へ移
動し、その結果、更に一層光感度が大きくなると共に残
留電位が小さくなる。
有する範囲内でCとStの原子組成比が決められ、a−
5iCキャリア輸送層(7)と組み合わせて形成した場
合、C,l!:Siの原子組成比を1:100乃至9:
1、好適には1:20乃至1:1の範囲内に設定すると
よく、この範囲内であれば光導電性に優れると共に残留
電位が小さくなり、そして、高い帯電能を有し、その結
果、画像濃度が大きい感光体が得られる。また、このよ
うに5i−C組成比を決めるのに当たってこの組成比を
計SiCキャリア輸送層の5i−C組成比に比べてSt
比率を大きくするのがよく、これによってキャリア発生
層で生じた光キャリアがスムーズにキャリア輸送層へ移
動し、その結果、更に一層光感度が大きくなると共に残
留電位が小さくなる。
更にa−3iCキャリア発生層(8)には10,000
ppm以下、好適には1 、000ppm以下の範囲内
でVa族元素又はI[Ia族元素を添加すると近赤外領
域の光感度を高めることができる。
ppm以下、好適には1 、000ppm以下の範囲内
でVa族元素又はI[Ia族元素を添加すると近赤外領
域の光感度を高めることができる。
更にまた、a−5iCキャリア輸送層(7)及びa−3
iCキャリア発生層(8)の両者の層にVa族元素又は
ll1a族元素を含有させる場合、キャリア輸送層(7
)はキャリア発生層(8)に比べて多く含有させるのが
よく、これにより、キャリア発生層(8)に生じた励起
キャリアがキャリア輸送層(7)へスムーズに注入し、
残留電位の低減化に有利に作用する。
iCキャリア発生層(8)の両者の層にVa族元素又は
ll1a族元素を含有させる場合、キャリア輸送層(7
)はキャリア発生層(8)に比べて多く含有させるのが
よく、これにより、キャリア発生層(8)に生じた励起
キャリアがキャリア輸送層(7)へスムーズに注入し、
残留電位の低減化に有利に作用する。
前記キャリア注入阻止層(6)はキャリア輸送層(7)
へのキャリア注入を阻止するためにa−3iCによって
形成されており、このC元素とSt元素の原子組成比を
1:9乃至9:1、好適には2:8乃至8:2の範囲に
設定するのがよい。
へのキャリア注入を阻止するためにa−3iCによって
形成されており、このC元素とSt元素の原子組成比を
1:9乃至9:1、好適には2:8乃至8:2の範囲に
設定するのがよい。
この原子組成比が1=9から外れた場合、基板側からキ
ャリア注入阻止効果が十分でなく、これによって表面電
位が低下し且つ暗減衰が増大し、9:1から外れた場合
には励起キャリアの基板側への注入の阻害作用が著しく
なって残留電位が増大する。
ャリア注入阻止効果が十分でなく、これによって表面電
位が低下し且つ暗減衰が増大し、9:1から外れた場合
には励起キャリアの基板側への注入の阻害作用が著しく
なって残留電位が増大する。
このキャリア注入阻止層(6)を形成するに当たって、
感光体を正極性に帯電させる場合にはその伝導型をP型
に制御し、負極性に帯電させる場合にはN型に制御する
のがよく、こによってキャリアの注入阻止作用が一段と
向上する。例えば、このP型半導体材料にはB等のma
族元素を、N型半導体材料にはP等のVa族元素をそれ
ぞれ50乃至10,000ppmの範囲内で含有させる
。
感光体を正極性に帯電させる場合にはその伝導型をP型
に制御し、負極性に帯電させる場合にはN型に制御する
のがよく、こによってキャリアの注入阻止作用が一段と
向上する。例えば、このP型半導体材料にはB等のma
族元素を、N型半導体材料にはP等のVa族元素をそれ
ぞれ50乃至10,000ppmの範囲内で含有させる
。
また、キャリア注入阻止層(6)の厚みは0.2乃至5
.0μm1好適には0.5乃至3.0μIの範囲内に設
定するのがよく、この範囲内の厚みであれば、基板から
のキャリアの阻止能が十分となって残留電位が小さくな
るという点で望ましい。
.0μm1好適には0.5乃至3.0μIの範囲内に設
定するのがよく、この範囲内の厚みであれば、基板から
のキャリアの阻止能が十分となって残留電位が小さくな
るという点で望ましい。
また、a−3iCキャリア注入層層(6)及びa−3i
Cキャリア輸送層(7)の両者の層にVa族元素又はI
[1a族元素を含有させる場合、キャリア注入阻止層(
6)はキャリア輸送層(7)に比べて多く含有させるの
がよく、これにより、キャリアの注入阻止作用が有利に
働く。
Cキャリア輸送層(7)の両者の層にVa族元素又はI
[1a族元素を含有させる場合、キャリア注入阻止層(
6)はキャリア輸送層(7)に比べて多く含有させるの
がよく、これにより、キャリアの注入阻止作用が有利に
働く。
上述したキャリア注入阻止層(6)、キャリア輸送層(
7)及びキャリア発生層(8)はa−3iCから実質上
構成されるが、そのアモルファス状態のダングリングボ
ンドを終端させるために水素元素(H)やハロゲン元素
を含有させる必要があり、これらの元素の含有量は5乃
至50原子%、好適には5乃至40原子%、最適には1
0乃至30原子%がよく、通常、H元素が用いられる。
7)及びキャリア発生層(8)はa−3iCから実質上
構成されるが、そのアモルファス状態のダングリングボ
ンドを終端させるために水素元素(H)やハロゲン元素
を含有させる必要があり、これらの元素の含有量は5乃
至50原子%、好適には5乃至40原子%、最適には1
0乃至30原子%がよく、通常、H元素が用いられる。
このH元素が用いられるとその元素が上記終端部に取り
込まれ易いのでハンドギャップ中の局在準位密度を低減
化させ、これにより、優れた半導体特性が得られる。
込まれ易いのでハンドギャップ中の局在準位密度を低減
化させ、これにより、優れた半導体特性が得られる。
また、この■元素の一部をハロゲン元素に置換してもよ
く、これにより、この層の局在準位密度を下げて光導電
性及び耐熱性(温度特性)を高めることができ、その置
換比率はダングリングボンド終端用全元素中0.01乃
至50原子%、好適には1乃至30原子゛%がよい。こ
のハロゲン元素にはF、CI、Br、I、At等がある
が、就中、Fを用いるとその大きな電気陰性度によって
原子間の結合が大きくなり、これによって熱的安定性に
優れるという点で望ましい。
く、これにより、この層の局在準位密度を下げて光導電
性及び耐熱性(温度特性)を高めることができ、その置
換比率はダングリングボンド終端用全元素中0.01乃
至50原子%、好適には1乃至30原子゛%がよい。こ
のハロゲン元素にはF、CI、Br、I、At等がある
が、就中、Fを用いるとその大きな電気陰性度によって
原子間の結合が大きくなり、これによって熱的安定性に
優れるという点で望ましい。
前記表面保護層(9)にはそれ自体高絶縁性、高耐食性
及び高硬度特性を有するものであれば種々の材料を用い
ることができる。例えば、ポリイミド樹脂などの有機材
料、S!Oz+ sio、 Al□03+ SiCI
Si 3Na、a−5i、a−3iCなどの無機材料を
用いて形成され、これにより、感光体の耐久性及び耐環
境性を高めることができる。
及び高硬度特性を有するものであれば種々の材料を用い
ることができる。例えば、ポリイミド樹脂などの有機材
料、S!Oz+ sio、 Al□03+ SiCI
Si 3Na、a−5i、a−3iCなどの無機材料を
用いて形成され、これにより、感光体の耐久性及び耐環
境性を高めることができる。
次に本発明の電子写真感光体の製法を述べる。
a−3iCキャリア注入阻止層(6) 、a−3iCキ
ャリア輸送層(7)及びa−3iCキャリア発生層(8
)はグロー放電分解法、イオンブレーティング法、反応
性スパッタリング法、真空蒸着法、熱CVD法等の薄膜
形成手段によって形成することができる。また、これに
用いられる原料には固体、液体、気体のいずれでもよい
。
ャリア輸送層(7)及びa−3iCキャリア発生層(8
)はグロー放電分解法、イオンブレーティング法、反応
性スパッタリング法、真空蒸着法、熱CVD法等の薄膜
形成手段によって形成することができる。また、これに
用いられる原料には固体、液体、気体のいずれでもよい
。
例えばグロー放電分解法に用いられる気体原料としては
5iHt、5tzH6,5I3HaなどのSi系ガス、
Cl14゜CzHa、CJ2.Czl16.CJsなど
のC系ガスを用いればよく、更にHz+He、Ne、A
rなどをキャリアーガスとして用いられる。
5iHt、5tzH6,5I3HaなどのSi系ガス、
Cl14゜CzHa、CJ2.Czl16.CJsなど
のC系ガスを用いればよく、更にHz+He、Ne、A
rなどをキャリアーガスとして用いられる。
また、表面保護層(9)を形成するに当たって、その層
をa−3i又はa−3iCにより形成するのであれば、
同様な薄膜形成手段を用いることができるという点で望
ましく、更に同一の成膜装置を用いた場合、共通した薄
膜形成手段によって連続的に積層することができるとい
う利点がある。
をa−3i又はa−3iCにより形成するのであれば、
同様な薄膜形成手段を用いることができるという点で望
ましく、更に同一の成膜装置を用いた場合、共通した薄
膜形成手段によって連続的に積層することができるとい
う利点がある。
次に本発明の実施例に用いられる電子写真感光体をグロ
ー放電分解法を用いてa−5t又はa−5iCにより形
成する場合、その製作法を第4図の容量結合型グロー放
電分解装置により説明する。
ー放電分解法を用いてa−5t又はa−5iCにより形
成する場合、その製作法を第4図の容量結合型グロー放
電分解装置により説明する。
図中、タンク(10) (11) (12) (13)
(1,4)にはそれぞれ5jl(t+czllz+B
zHb (Hzガス希釈で0.2%含有)、H2、NO
ガスが密封されており、H2はキャリアガスとしても用
いられる。これらのガスは対応する調整弁(15) (
16) (17) (1B) (19)を開放すること
によって放出され、その流量がマスフローコントローラ
(20) (21) (22) (23) (24)に
より制御され、タンク(10) (11) (12)
(13)からのガスは主管(25)へ、タンり(14)
からのNOガスは主管(26)へ送られる。尚、(27
) (2B)は止め弁である。主管(25) (26)
を通じて流れるガスは反応管(29)へと送り込まれる
が、この反応管(29)の内部には容量結合型放電用電
極(30)が設置されており、それに印加される高周波
電力は50讐乃至3KWが、また周波数はIMHz乃至
10MHzが適当である。反応管(29)の内部にはア
ルミニウムから成る筒状の成膜用基板(31)が試料保
持台(32)の上に載置されており、この保持台(32
)はモーター(33)により回転駆動されるようになっ
ており、そして、基板(31)は適当な加熱手段により
、約200乃至400度、好ましくは約200乃至35
0℃の温度に均一に加熱される。更に反応管(29)の
内部にはa−3iC膜形成時に高度の真空状態(放電時
のガス圧0.1乃至2.0Torr )を必要とするこ
とにより回転ポンプ(34)と拡散ポンプ(35)に連
結されている。
(1,4)にはそれぞれ5jl(t+czllz+B
zHb (Hzガス希釈で0.2%含有)、H2、NO
ガスが密封されており、H2はキャリアガスとしても用
いられる。これらのガスは対応する調整弁(15) (
16) (17) (1B) (19)を開放すること
によって放出され、その流量がマスフローコントローラ
(20) (21) (22) (23) (24)に
より制御され、タンク(10) (11) (12)
(13)からのガスは主管(25)へ、タンり(14)
からのNOガスは主管(26)へ送られる。尚、(27
) (2B)は止め弁である。主管(25) (26)
を通じて流れるガスは反応管(29)へと送り込まれる
が、この反応管(29)の内部には容量結合型放電用電
極(30)が設置されており、それに印加される高周波
電力は50讐乃至3KWが、また周波数はIMHz乃至
10MHzが適当である。反応管(29)の内部にはア
ルミニウムから成る筒状の成膜用基板(31)が試料保
持台(32)の上に載置されており、この保持台(32
)はモーター(33)により回転駆動されるようになっ
ており、そして、基板(31)は適当な加熱手段により
、約200乃至400度、好ましくは約200乃至35
0℃の温度に均一に加熱される。更に反応管(29)の
内部にはa−3iC膜形成時に高度の真空状態(放電時
のガス圧0.1乃至2.0Torr )を必要とするこ
とにより回転ポンプ(34)と拡散ポンプ(35)に連
結されている。
以上のように構成されたグロー放電分解装置において、
例えばa−3iC膜を基板(32)に形成する場合には
、調整弁(15) (16) (18)を開いてそれぞ
れ5it(n、CJz、tlzガスを放出する。放出量
はマスフローコントローラ(20) (21) (23
)により制御され、これらの混合ガスは主管(25)を
介して反応管(29)へと流し込まれる。そして、反応
管(29)の内部が0.1乃至2.0Torr程度の真
空状態、基板温度が200乃至400℃、容量結合型放
電用電極(30)の高周波電力が50讐乃至3KW 、
周波数が1乃至50MHzに設定されていることに相俟
ってグロー放電が起こり、ガスが分解してa−3iC膜
が基板上に高速に形成される。
例えばa−3iC膜を基板(32)に形成する場合には
、調整弁(15) (16) (18)を開いてそれぞ
れ5it(n、CJz、tlzガスを放出する。放出量
はマスフローコントローラ(20) (21) (23
)により制御され、これらの混合ガスは主管(25)を
介して反応管(29)へと流し込まれる。そして、反応
管(29)の内部が0.1乃至2.0Torr程度の真
空状態、基板温度が200乃至400℃、容量結合型放
電用電極(30)の高周波電力が50讐乃至3KW 、
周波数が1乃至50MHzに設定されていることに相俟
ってグロー放電が起こり、ガスが分解してa−3iC膜
が基板上に高速に形成される。
次に本発明の実施例を述べる。
(例1)
第4図に示したグロー放電分解装置を用いて第1表に示
した製作条件によって基板(31)上にキャリア輸送層
(7)、キャリア発生層(8)、表面保護層(9)を順
次形成し、電子写真感光体ドラムを製作した。尚、キャ
リア注入阻止層(6)の形成にN。
した製作条件によって基板(31)上にキャリア輸送層
(7)、キャリア発生層(8)、表面保護層(9)を順
次形成し、電子写真感光体ドラムを製作した。尚、キャ
リア注入阻止層(6)の形成にN。
ガスを用いて酸素と窒素をドープし、基板に対する密着
性を高めている。
性を高めている。
このようにして得られた感光体に対して+5.6KVの
コロナ帯電を行ったところ、表面電位が約900vにな
り、また、この感光体に波長650nmの単色光(露光
量0.3μW/cm” )を照射した結果、光感度が0
.50cm2erg−’になり、残留電位は約20Vに
まで著しく低減化した。そして、この感光体ドラムを超
高速複写機(複写速度70枚)分)に装着して画像を出
したところ、カブリがな(て高濃度且つ高鮮明な画像が
得られた。
コロナ帯電を行ったところ、表面電位が約900vにな
り、また、この感光体に波長650nmの単色光(露光
量0.3μW/cm” )を照射した結果、光感度が0
.50cm2erg−’になり、残留電位は約20Vに
まで著しく低減化した。そして、この感光体ドラムを超
高速複写機(複写速度70枚)分)に装着して画像を出
したところ、カブリがな(て高濃度且つ高鮮明な画像が
得られた。
尚、上記成膜用基板(31)の一部を切り欠いて、ソノ
切り欠き部に3×3c111の矩形のアルミニウム製平
板を装着し、この平板上に上記キャリア輸送層を第1表
に示した条件で成膜し、その膜のCとSiの含有比率を
オージェ電子分光法により分析したところ、1;30で
あった。
切り欠き部に3×3c111の矩形のアルミニウム製平
板を装着し、この平板上に上記キャリア輸送層を第1表
に示した条件で成膜し、その膜のCとSiの含有比率を
オージェ電子分光法により分析したところ、1;30で
あった。
(例2)
本例においては、(例1)中のキャリア注入阻止層(6
)、キャリア輸送層(7)及びキャリア発生層(8)の
形成に当たってSiH4ガス及びC2H2ガスの流量並
びにこれらのガス比率を変えることによっ−17〜 てそれぞれ種々の組成の膜を形成し、そして、表面保護
層(9)は(例1)と同じ条件で形成し、これにより、
10種類の感光体を製作した。
)、キャリア輸送層(7)及びキャリア発生層(8)の
形成に当たってSiH4ガス及びC2H2ガスの流量並
びにこれらのガス比率を変えることによっ−17〜 てそれぞれ種々の組成の膜を形成し、そして、表面保護
層(9)は(例1)と同じ条件で形成し、これにより、
10種類の感光体を製作した。
これらの感光体を、最もカブリが生じ易くなる苛酷な条
件を備えた超高速複写機(複写速度70枚/分)に装着
して画像を出し、これらの画像の濃度、或いはカブリが
生じた場合のそのカブリ濃度を画像濃度計によって測定
したところ、第2表に示す通りの結果が得られた。
件を備えた超高速複写機(複写速度70枚/分)に装着
して画像を出し、これらの画像の濃度、或いはカブリが
生じた場合のそのカブリ濃度を画像濃度計によって測定
したところ、第2表に示す通りの結果が得られた。
また、表中の画質評価は◎印、○印、及びΔ印の三通り
に区分し、◎印は画像濃度が高くてカブリが全く生じな
かった場合を表わし、○印は画像濃度が高く、カブリが
ほとんど見られなく、実質上何ら支障がない程度の場合
を表わし、そして、△印は画像濃度が若干低いか或いは
カブリが幾らか見られた場合を表わす。
に区分し、◎印は画像濃度が高くてカブリが全く生じな
かった場合を表わし、○印は画像濃度が高く、カブリが
ほとんど見られなく、実質上何ら支障がない程度の場合
を表わし、そして、△印は画像濃度が若干低いか或いは
カブリが幾らか見られた場合を表わす。
第2表より明らかな通り、本発明の範囲内である感光体
り、E、F、G及びHは優れた画質が得られており、特
に感光体Fはカブリが全く生じなかった。然るに感光体
A、B、C1■及びJはキャリア輸送層又はキャリア注
入阻止層のC/Si比率が本発明の範囲外であるために
画像濃度が若干低くなるか、或いはカブリが幾らか見ら
れた。
り、E、F、G及びHは優れた画質が得られており、特
に感光体Fはカブリが全く生じなかった。然るに感光体
A、B、C1■及びJはキャリア輸送層又はキャリア注
入阻止層のC/Si比率が本発明の範囲外であるために
画像濃度が若干低くなるか、或いはカブリが幾らか見ら
れた。
以上の通り、本発明の電子写真感光体によれば、a−5
iCキャリア輸送層から成る機能分離型感光体□ ■ を製作するに際してCとSiの原子組成比を所定の
1 範囲内に設定することによって残留電位を小さく
して画像にカブリが生じなくなった。そして、この感光
体によれば、カブリが最も生じ易い高速複写機に装着さ
れた場合、その効果が顕著であり、これによって本発明
の電子写真感光体は高速複写機に好適な感光体として提
供できる。
iCキャリア輸送層から成る機能分離型感光体□ ■ を製作するに際してCとSiの原子組成比を所定の
1 範囲内に設定することによって残留電位を小さく
して画像にカブリが生じなくなった。そして、この感光
体によれば、カブリが最も生じ易い高速複写機に装着さ
れた場合、その効果が顕著であり、これによって本発明
の電子写真感光体は高速複写機に好適な感光体として提
供できる。
また、本発明の電子写真感光体によれば、a−5iCキ
ャリア注入阻止層及びa−3iCキャリア発生層を形成
したことによって表面電位を更に一段と大=20− きくでき、これによって画像濃度を高めると共にカブリ
防止にも有効であり、その結果、上述のような高速複写
機に好適な感光体として提供できる。
ャリア注入阻止層及びa−3iCキャリア発生層を形成
したことによって表面電位を更に一段と大=20− きくでき、これによって画像濃度を高めると共にカブリ
防止にも有効であり、その結果、上述のような高速複写
機に好適な感光体として提供できる。
第1図は本発明の実施例に示した電子写真感光体の層構
成を表わす断面図、第2図は従来周知のアモルファスシ
リコン感光体の層構成を表わす断面図、第3図は従来の
機能分離型感光体を説明する層構成の断面図、そして、
第4図は容量結合型グロー放電分解装置の概略図である
。 1 ・・・導電性基板 2.2a、6・・・キャリア注入阻止層5.7 ・・
・キャリア輸送層 3.3a、8・・・キャリア発生層 4.9 ・・・表面保護層 特許出願人 (663)京セラ株式会社代表者安城欽寿 同 河村 孝夫
成を表わす断面図、第2図は従来周知のアモルファスシ
リコン感光体の層構成を表わす断面図、第3図は従来の
機能分離型感光体を説明する層構成の断面図、そして、
第4図は容量結合型グロー放電分解装置の概略図である
。 1 ・・・導電性基板 2.2a、6・・・キャリア注入阻止層5.7 ・・
・キャリア輸送層 3.3a、8・・・キャリア発生層 4.9 ・・・表面保護層 特許出願人 (663)京セラ株式会社代表者安城欽寿 同 河村 孝夫
Claims (1)
- 基板上に少なくともキャリア注入阻止層、キャリア輸送
層及びキャリア発生層を形成した電子写真感光体におい
て、前記キャリア注入阻止層がアモルファスシリコンカ
ーバイドから成ると共にカーボンとシリコンの原子組成
比を1:9乃至9:1の範囲内に設定し、前記キャリア
輸送層がアモルファスシリコンカーバイドから成ると共
にカーボンとシリコンの原子組成比を1:100乃至1
:9の範囲内に設定し、前記キャリア発生層をアモルフ
ァスシリコンカーバイドにより形成したことを特徴とす
る電子写真感光体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28045786A JPS63133157A (ja) | 1986-11-25 | 1986-11-25 | 電子写真感光体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28045786A JPS63133157A (ja) | 1986-11-25 | 1986-11-25 | 電子写真感光体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63133157A true JPS63133157A (ja) | 1988-06-04 |
Family
ID=17625327
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28045786A Pending JPS63133157A (ja) | 1986-11-25 | 1986-11-25 | 電子写真感光体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63133157A (ja) |
-
1986
- 1986-11-25 JP JP28045786A patent/JPS63133157A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS63135949A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS63133157A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS63132252A (ja) | 電子写真感光体 | |
JP2608401B2 (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS63132253A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS63133159A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS63127248A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS63132254A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS63133158A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS63165857A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS63135954A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS63135950A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS6382417A (ja) | 電子写真感光体の製法 | |
JPS6332558A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS63294569A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS63271356A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS6382416A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS63151960A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS6330855A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS63121057A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS6381439A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPH01271761A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPH0256662B2 (ja) | ||
JPS6329762A (ja) | 電子写真感光体 | |
JPS6381443A (ja) | 電子写真感光体 |