JPS6312964A - デイスクリート自動分析方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ディスクリート方式の分析動作を行う自動分
析方法および自動分析装置に係り、特に１回の測定で正
しい測定結果が得られない場合に用いるに好適な分析方
法および分析装置に関する。

〔従来の技術〕

従来の自動分析装置では、測定結果が異常な場合に、異
常であることを知らせるマークがデータアラームとして
測定結果と共に出力させることが多い。

ディスクリートタイプの自動分析装置は、臨床検査用を
はじめとして各種の試料に広く適用されている。ディス
クリート分析装置におけるデータアラームに関する従来
技術は、例えば、特開昭５６−１０８９４１および特開
昭６０−１９６６６９に示されている。

前者は、レート分析をする場合に検体毎に限界吸光度を
設定し、測定値が正常かどうかを判定する方法を示して
いる。また、後者は、免疫反応においてプロゾーンの影
響があるときに検体量を変更して再測定を行うことを示
している。

〔発明が解決しようとする問題点〕

従来の自動分析装置では、各分析項目毎に必要な標準物
質と管理用コントロール検体を測定することによって、
各項目毎の検量線を補正すると同時に装置と試薬及び標
準物質などがチェックされる。

このチェックが全て良好であることを確認した後に始め
て検体の検査が開始されるが、検体測定の途中において
も、適当な間隔で管理用コントロール検体が測定され、
装置及び試薬などが最初の良好な状態を保持し続けてい
るかどうかがチェックされる。検体の検査結果の信頼性
を失すせる現象をトラブルと称すると、この種のトラブ
ルは主として分析装置の動作不良に基づくトラブルであ
り、システマチックトラブルと呼称する。

これに対して、試料固有の原因に基づくトラブルおよび
反応液状態や液流路系に起因する突発的なければならな
いものがあり、オペレータが経験的に用手法で対処して
いた。そのため、再検査を必要とする試料数が全体のわ
ずか数％であるにもかかわらず、その再検査処理のため
多大の時間と人手を要することが、現在の検査室の省力
化を妨げる重大な要因となっている。

本発明の目的は、各試料の主たる測定の測定結果不良の
原因に応じて当該試料の再処理を自動的に行うことがで
きるディスクリート自動分析方法および分析装置を提供
することにある。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明の自動分析方法では、試料容器から所定量の試料
を反応容器に移し、上記反応容器内で試料と試薬を反応
させ、反応液を測定すること、上記測定に際して分析装
置の動作および測定データを制御装置によって監視し、
基準をはずれた測定値の原因を判別すること、上記原因
に応じて当該試料の再処理を先の測定と同様条件で行う
か試料を希釈して行うかを類別すること、上記試料容器
から新たに試料を採取し、上記類別に従って試料を処理
し、再測定すること、を含むことを特徴とする。

本発明の自動分析装置では、試料を収容した試料容器を
吸入位置に位置づけるように動作する試料容器移送装置
と、反応容器を試料添加位置、試薬添加位置および測定
位置を通るように移送する反応容器移送装置と１分析装
置の各部の動作を制御し、各試料の測定結果に基づいて
再処理の必要性を判別する制御装置と、上記制御装置の
指示に基づいて上記反応容器移送装置上の特定の反応容
器に希釈液を供給する希釈液供給装置と、当初の試料処
理時には、上記吸入位置の試料容器から上記試料添加位
置の反応容器へ試料を移す動作を行い、再処理時には、
上記制御装置の指示に基づいて、上記吸入位置の試料容
器から上記試料添加位置の反応容器へ試料を移す動作と
、上記特定の反応容器から別の反応容器へ希釈済試料を
移す動作とを、選択的に行うサンプリング装置と、を備
えたことを特徴とする。

〔作用〕

検査結果の不良の原因は、次の２群のトラブルに大別で
きる。

（１）装置、試薬、標準物質などに基づくトラブルで一
般的にある測定項目の結果が連続して不良になる場合で
、換言すればシステマチックトラブルと言える。

（２）システマチックトラブルに含まれず、特定の検体
の特定の項目の結果が突発的に不良となる場合で、換言
すわばランダムトラブルと言える。

システマチックトラブルは前述の測定開始前と測定途中
のチェックを確実に行うことによって防止できる。また
自動装置、試薬及び標準物質などの技術的進歩によって
、オペレーターが前述のチェックを怠らない限りほとん
ど問題とならない。

検査室において問題となるのは（２）のランダムトラブ
ルである。ランダムトラブルの内容を解１祈すると以下
の（Ａ）、（Ｂ）の２種に大別でき二、−２ る。

（Ａ）測光時の気泡や異物などによるポカ的異常、フィ
ブリンなどの流路詰まりによるサンプリングミスなと、
どちらかと言えば装置サイドのポカ的不具合によるトラ
ブルである。

（Ｂ）特定の検体の特定の項目が装置および試薬の適用
範囲を越えるほど高濃度あるいは高活性である場合で、
どちらかと言えば検体の特性によるトラブルである。

いずれにしてもこのようなランダムトラブルに関しては
再検査して正しい結果を得ることが必要である。同一の
ランダムトラブルであっても、上述の（Ａ）群と（Ｂ）
群はこの再検査時の条件が全く異なる。すなわち（Ａ）
群のランダムトラブルはその検体のその項目について、
１回目の検査と全く同じ条件で再検査するのみで充分で
ある。

一方（Ｂ）群のランダム誤差はその検体を適当に希釈し
てからその項目について再検しなければならない。

上述の（Ａ）群のデータアラームは、次のように５種類
に分類できる。

（ｉ）試料不足、又は試料吸入不良 （ｉｔ）吸光度オーバー （ｎｉ）ノイズ （ｔｖ）直線性異常 （ｖ）試薬添加不良 また、（Ｂ）群のデータアラームは、次の３種類に分類
できる。

（ｉ）反応限界オーバー（基質不足） （五）吸光度オーバー （迅）プロゾーン（抗原過剰） 自動分析装置によって多項目の分析動作を実行する場合
の例を、第１図のフローチャートを参照して説明する。

まず、第１次測定までは、従来と同様の方法で実行され
る。ステップ１００では、分析の必要なすべての検体に
ついて、分析項目選択情報を入力する。ステップ１０１
では、標準物質とコントロ、−−ル試料を測定して、各
分析項目のシステムチェ制御装置によって判断される。

トラブルがあれば、処理される（ステップ１０３）、ト
ラブルがなければ、各検体の各項目について第１次測定
が実行される（ステップ１０４，１０５）。

この第１次測定では、試料容器から所定量の試料を反応
容器に移し、反応容器に試薬を添加して試料と試薬を反
応させ、反応液に直接光を照射するか反応液をフローセ
ルに導いて光を照射し光学的に測定する。この１次測定
に際して分析装置の動作および測定データをコンピュー
タを備えた制御装置によってランダムトラブルを監視す
る。

第１次測定中にデータアラームが発生すれば（ステップ
１０６）、再検（再処理）の必要なランダムトラブルを
自動的に抽出し、これを前述の（Ａ）群と（Ｂ）群に分
別する。データアラームが発生しなくても、ステップ１
０８で再送リミット外が判断される。

量１次測定と同一の条件で再検測定する（ステップ１０
９）、ステップ１０９の再検測定では、ランダムトラブ
ルを生じた分析項目の試料を、そのトラブルの検知の都
度第１次測定継続の途中に割り込ませて測定する。これ
に伴い該当試料を収容した試料容器は、サンプリング位
置（ピペットノズルによる吸入位Ｉりに位置づけられる
。このような再検測定は、試料容器移送装置（サンプル
テーブル）上に配列されている総ての試料の第１次測定
が完了した後に、データアラームが発生した各試料につ
いてまとめて実行することも可能である。

ランダムトラブルが（Ａ）群の場合は、第１次測定と同
量の試料を反応容器に採取して再検測定すればよい。し
かし、ランダムトラブルが（Ｂ）群の場合は、ステップ
１１０，１１１へ進み、サンプリング位置に位置づけら
れた試料容器から特定の反応容器に一旦試料を移し、そ
こで適正な倍率となるように希釈液を加えて混合して自
動希釈をした後、希釈された試料の所定量（一般的には
第１次測定の場合と同量）を新たな反応容器に採取して
、再検測定する。

ランダムトラブルが（Ｂ）群の場合は、ステップ１１０
で最適希釈倍率が計算される。これは、第１次測定の測
定結果を解析して各分析項目毎に最適の希釈倍率を自動
的に決定する。この希釈倍率をもってステップ１１１で
試料が希釈され、その希釈試料について再検測定が行わ
れる。希釈倍率は、各分析項目毎に測定できる上限濃度
と、重症疾患時にその分析項目が上昇し得るおよその濃
度を考慮して、オペレータがあらかじめ分析項目毎に入
力しておくことも可能である。

次に、再検測定された結果が判定され処置される。ステ
ップ１１２は前述したステップ１０６と同様であり、ス
テップ１１３は前述したステップ１０７と同様である。

再検測定の結果について、各種ランダムトラブルに対応
するデータアラームが発生しなければ、再検測定結果は
信頼し得るので１次以降の試料に対する第１次測定を継
続するようにステップ１１７を経てステップ１０５へ戻
る。ステップ１１７で残検体無しであれば、ステップ１
１８により分析装置の動作が終了する。

（Ａ）群ランダムトラブルが再び再検測定時に発生する
可能性は極めて希れである。但しサンプル不足に対する
アラームは再発する可能性がある。

これはオペレータの検体試料の採取ミスやセットミスに
よるもので、第１次測定と再検時測定の両方にこのアラ
ームが出力された場合は再々検を行わずＣＲＴ画面など
によってオペレータに警告を発する（ステップ１１４）
。

（Ｂ）群ランダムトラブルに関しては、まれに再検測定
結果にも再び同一アラームを発生することがある。この
場合は、ステップ１１３からステップ１１５へ動作が進
む、すなわち、重症疾患時にその項目が上昇し得る最大
限度を考慮して前述のよう再検時の希釈倍率を決定して
も１例外的に異常な高濃度（高活性）を呈することもま
れにある。この場合希釈倍率を再検測定時のさらに例え
ば５倍して再々検測定を実行する。この場合も再検測定
時の場合と同様に試料を希釈し、割込測定処理をする（
ステップ１１５）。

ステップ１１５のあと、ステップ１１７で残検体の有無
が判断され、有ればステップ１０５へ戻る。残検体が無
ければステップ１１８で分析装置の動作が終了すること
になる。

再測定、再々測定の結果に必要に応じて希釈率を乗じて
第１回目の測定結果を修正して最終報告書を出力するな
ど結果の自動処理を行なう。

再検及び再々検の測定データの内、（Ａ）群に属するも
のはそのままで良いが、（Ｂ）群に属するものは測定結
果に希釈倍率を乗じて最終濃度を出力しなければならな
い、また測定を終了後、報告書をプリントアウトする場
合は、再検及び再々検のデータを第１回目の他の項目の
結果合成して報告書を作成するデータ編集機を有するこ
とが望ましい。またあらかじめ項目別に、ある上下の範
囲を定め１例えデータアラームは発生しなくても測定値
が該上下の範囲外のものについても（Ａ）群ランダムト
ラブルとして再検するようにプログラムすることも可能
である。但しこの範囲を余り狭ばめると（例えば正常値
と一致させるなど）不必要な再検が多くなり不利となる
。

〔実施例〕

本発明の一実施例の概略構成を第２図に示す。

この第２図の自動分析装置によって第１図に示した方法
が実行される。この装置は、両方向に回動可能なサンプ
ルテーブル２と反応テーブル８を有し１反応容器１８の
列は、試料添加位置、試薬添加位置、測定位置および洗
浄位置を通るように移送される。第１試薬添加後からの
各試料の各分析項目の反応過程は、全領域にわたって一
定間隔で順次測光される。各部の動作を制御し結果を判
別する制御装置は、制御部２４とコンピュータ２８を備
えている。

第２図の装置は、被検試料や標準試料を採取した所定数
の検体容器１をセットでき、正転あるいは逆転して任意
の位置で停止し得るサンプルテーブル２を備え、透光性
の測光セルを兼ねた所定数の反応容器１８を装着でき、
正転あるいは逆転して任意の位置で停止できる反応テー
ブル８を備え、試料シリンジ機構１６と配管で連通され
ており、サンプルテーブルの一定位ｉ！（内、外の２ケ
所の場合もある）の試料容器から所定量の試料液を吸入
し反応テーブルの一定位置にある反応容器中に吐出する
か、または該位置の所定の反応器中に。

ノズル４内に吸入した試料液を希釈液（脱イオン水また
は生理食塩水）で希釈吐出した後、その希釈済試料の一
定量を再吸入し、該位置にて別な反応容器中に吐出する
試料ピペッティング機構６を備え、吸入吐出ノズル４と
、所定量の試料又は希釈試料が採取された各反応容器が
所定の位置に進行停止した時に、試薬分注用シリンジ機
構２１と配管で連通された第１試薬分注機構９及び試薬
吸入吐出ノズル５と第２試薬分注機構１０及び試薬吸入
吐出ノズル１１とによって、保冷庫２７中にセットされ
た第１試薬群２２と第２試薬群２３の中から必要な試薬
を反応容器に選択的に分注する試薬分注システムを備え
ている。

また、この装置は、各反応容器の内容液を撹拌する撹拌
機構１９と、光源１３と回折格子１４と複数のシリコン
光半導体１５を含む分光部１２とが反応テーブル８を挟
む形でセットされた光度計を有し１反応テーブル８が回
転する時に全ての反応容器の吸光度を測定項目（各容器
）毎に予め入力された所定の主波長及び副波長で測定す
ることができる。さらに、その測光系の波長選択や信号
の処理をするマルチプレクサ−１ＬＯＧアンプ、Ａ／Ｄ
変換器等を含む測光系制御部２４と、洗浄用性廃水機構
２０と配管で連通され測定を終了した各反応容器を洗浄
して再使用に供するための洗浄機構１７と、反応テーブ
ル８の下部に設置され各反応容器を一定温度例えば３７
℃に保つ恒温槽３及びこれに連通ずる恒温水循環器７と
、分析装置各部の機構系を制御しまた測定結果の演算や
前記の再検判別をしたり、オペレータが各種測定条件を
入力したりするための主制御装置２８と、入出力用プリ
ンタ２５と、ＣＲＴスクリーン２６を備えている。

第２図の実施例装置は、各サイクル毎に反応テーブル８
が１回転と１反応容器（１ピツチと称する）回転して停
止するのに連動して、試料採取、第１試薬及び第２試薬
の添加、撹拌、洗浄と測光（測光は回転時に実行される
）の各動作が行なわれる。

この装置では、前述の自動再検を可能ならしめるため、
反応テーブル、試料採取用ピペッティング機構、洗浄機
構及びサンプルテーブルの動作が従来の装置とは異なる
ように構成されている。

反応テーブルと試料ピペッティング機構及び洗浄機構の
動作の詳細を第２図と第３図を参照して説明する。この
反応テーブル８は、１サイクル中に本来の試料採取のた
めと必要に応じてその試料を希釈するためとの２回の停
止時を有する特徴がある。

第３図（Ａ）に示すように、あるｎサイクル目の第１停
止時には、そのサイクルで測定すべき検体の必要量が試
料ピペッティング機構６のノズル４内に採取されている
が、この測定が第１回目の測定あるいは（Ａ）群ランダ
ムトラブルの再検測定なら試料をそのままノズル４内に
保持し、（Ｂ）群ランダムトラブルの再検または再々検
なら反応テーブル８上のＮａ　５の反応容器中に所定倍
率をもたらす量の希釈水（脱イオン水や生食水）と共に
一旦希釈吐出し、その後希釈済試料の一定量をノズル４
内に再吸入する６すなわち各サイクルの第１停止時には
反応テーブルはそのサイクルで本来試料が採取されるべ
き−１の反応容器より少くとも洗浄に必要な容器数分（
本例では４ケ）手前の容器がノズル下部にあるように停
止している。この第１停止時には既に測定の終了した（
本例では１サイクル２０秒で３１サイクルで終了する・
・・反応時間１０分）反応容器４ケが洗浄機構下にあり
。

洗浄される（全ての使用済み反応容器は４サイクル間に
４回洗浄される）。

次いで、反応テーブル８は４容器分逆転し、第３図（Ｂ
）の第２停止時にはピペッティング機構ノズル４内の所
定量の試料又は希釈試料が、＆１の反応容器中に採取さ
れる。この時同時に希釈に使用された可能性のある反応
容器５は洗浄機構下−＋：・２ 洗浄されて本来の試料採取に供される。またこの第２停
止時には同図り、Ｆに示すように第１試薬。

第２試薬の添加や撹拌も実行される。

次いで反応テーブルは、１回転と逆転した容器数＋１容
器分正転して、第３図（Ｃ）のような次のサイクル、ｎ
＋１サイクル目の第１停止時の状態になる。この回転時
にすべての反応容器の吸光度がｉＴＪ述のように各々に
適した２波長法で測定され、制御部では必要な容器の吸
光度が記憶され、濃度演算に供される。

すなわち上記の動作が各サイクル毎に繰返され第３図（
Ａ）〜（Ｆ）・・・のように進行するが、これに伴って
前記サンプルテーブル８は必要に応じて再検あるいは再
々検すべき検体がノズル４下に来るように逆転したり、
再び第１回目の測定を継続すべき検体がノズル４下に来
るように正転したり°、任意に制御される。

９．　なお第２図の装置は、１サイクルを２０秒で、は
硬質硝子で形成し、光路長６ｍのものを４８個装着し、
３１個を常に測定に（１０分反応）、４個を測定終了後
の洗浄に、５個を試料希釈とその後の洗浄に、１個を試
料又は希釈試料の採取位置に使用している。残り７個は
測定終了から洗浄までの間の予備とした。

すなわち第２図の装置は、各サイクル毎にその停止位置
によって１反応テーブル８を試料の希釈からその容器の
洗浄工程と、該希釈した試料あるいは希釈しない試料を
採取して必要な試薬を添加して測定を行い、測定終了後
の容器を洗浄する工程との２つの工程を単一の機構系で
実行できる。

もちろん、洗浄機構を２ケ所に設けたり、希釈するため
のピペッティング機構と最終採取のピペッティング機構
を別々に設けるなどの変形も可能である。

次にランダムトラブルの監視例について説明する。（Ａ
）群に属するランダムトラブルは、前述しないように５
種類ある。

（Ａ）群ランダムトラブルの内、最初の「試料不足又は
試料吸入不良」は、従来の既存の技術で検知される。そ
の代表的な例は電気抵抗（導電率）を測定する方法であ
る。一般的には試料を吸入、吐出するサンプリングノズ
ルと他の導電性センサの間に適当な電圧（交流でも直流
でも可能）を印加し、サンプリングノズルがサンプルカ
ップ中に下降した時点で該ノズルと該センサの間の抵抗
（導電率）を測定する方法が用いられている。好ましく
は抵抗値が小さくなったらすなわちノズルとセンサーの
両方が試料中に挿入されたらノズルセンサーの下降を停
止し、必要な試料量をノズル内に吸引する。センサーは
ノズル先端が適度の深さで試料中に入るように、その先
端がノズル先端より２〜３０１上方に位置するように調
整される。

さらに好ましくは、試料を吸入した後にノズルとセンサ
ー間の抵抗値を再度確認して、ノズル先端が確実に試料
中に入っていることを確めることが有効である。いずれ
にしても、血清試料の表面のするデータアラームを一括
してサンプリング不良アラームとして（Ａ）群に分別で
きる。

次に（Ａ）群ランダムトラブルの「吸光度オーバー」を
説明する。

特定の検体の特定の項目の測定時に、その吸光度が異常
に高くなった場合、すなわちその吸光度が装置の測光系
の測定限界である吸光度２．０　よりも高くなった場合
に、その原因は（Ａ）群に厘するものと（Ｂ）群に属す
るものとの両方のランダムトラブルがある。すなわち、
測定中の反応容器に気泡や異物が存在した場合、インキ
ュベータを含む測定光路のどこかに気泡や異物が存在し
た場合などは（Ａ）群に属する。一方、検体中の目的物
質（被測定物質）の濃度が著しく高いため。

測定不能となるほど吸光度が上昇する（Ｂ）群に属する
ランダムトラブルもある。故にこの（Ａ）群と（Ｂ）群
の区別が必要である。

この両群のトラブルは、２波長測光法において、Ａ、主
波長を目的物質の吸収のピーク附近に設定し、ニル」波
長をその吸収帯のできるだけ近くでかつその吸収が全く
無いかほとんど無い領域に設定し、２波長吸光度と共に
主波長と副波長の各々単独の吸光度をチェックすること
によって、簡単に効率良く分類することができる。その
方法を第４図で説明する。第４図の吸収波形４１のよう
に測定時に主波長λ１の吸光度が測定限界の２．０を越
えた時。

副波器λ２の吸光度も増大している場合は、（Ａ）群ラ
ンダムトラブルであると判定できる。このような吸収波
形４１は、測定容器の透光部分に気泡が付着した場合に
現れる。

第４図における副波長λ２が限界値２．０　の約半分の
１．０　　を越えたら（Ａ）群とするというようこの判
定はかなりラフでも良いが、好ましくは各測定項目毎に
（Ａ）群ランダムトラブルとする副波長の限界値を入力
することが理想的である。

一方、目的物質が本来高濃度（高活性）のために主波長
λｌの吸光度が測定限界の２．０　を越える場合には、
第４図の吸収波形４２のように副波長λ２の吸光度は上
昇せず、副波長が限界値を越：′ えることは全く無い。

次に（Ａ）群ランダムトラブルの「ノイズ」と「直線異
常」の監視例を説明する。これら２つのランダムトラブ
ルは、レートアッセイにおいて発生するデータアラーム
で、吸光度の変化量を測定中に、気泡、異物、電気的ノ
イズ、撹拌の不良、急激な温度変動などの理由によって
発生するものである。

第５図を参照して、この種のランダムトラブルの検知法
を説明する。ノイズの検知法としては種種の方法が考え
られるが、その代表的な方法は、各測定値から最小２乗
法によって近似直線を求め。

次式に基づいて単位時間当りの吸光度変化を求める。曲
りＥは。

１ΔＡＦ−ΔＡａｌＸ２ ここで、ΔＡＦおよびΔＡＢは、第５図のようにして求
められる。この場合、各測定値から近似直線への偏差の
２乗和の平方根（σと表示する）が各測定項目別に予め
入力されたノイズレベル許容鍍゛を越えた場合にノイズ
アラームが測定値と共に、イ・　　・ノ こ出□力される。この他に各測光値間の移動差を算出し
、最大移動差と最小移動差の差分と平均移動差の比が例
えば±１０％を越えたらノイズアラームを出力するなど
の方法がある。

直線性異常の検知の代表的な方法は、各項目毎に予め入
力された全領域で単位時間当りの吸光度変化量を求める
と同時に、第５図で示したようにその領域の前半部分と
後半部分で単独に単位時間当りの吸光度変化ΔＡ　Ｆ　
、ΔＡＢを求め、その差が予め項目別に入力された限界
値を越えた場合に直線性異常のデータアラームが測定値
と共に出力されるものである。

次に（Ａ）群ランダムトラブルの「試薬添加不良」の検
知法を説明する。

また、試薬添加不良の検知は、最近の半導体応用の小形
圧力センサーを試薬ピペッティング流路の一部分に適用
し、シリンジの吸入時と吐出時の圧力をチェックするこ
とによって確実にできる。

第６＠（イ）、（ロ）に示したようにシリンジのストロ
ーク動作の全領域に亙って負圧（吸入時）声たは陽圧（
吐出時）がほぼ一定値を保つ場合は正常（実線６１）で
あるが、空気混入の場合やっまりのある場合は一定値を
保たないため、異常（破線６２）となり、データアラー
ムが出力される。

（Ｂ）群に属するランダムトラブルは、前述したように
３種類ある。

第１は、基質などの反応物質の不足に基づく「反応限界
オーバー」である。これはレートアッセイの場合のアラ
ームであり、さらに吸光度減少法の場合を吸光度上昇法
あ場合がある。いずれも各測定項目毎に限界吸光度を予
め入力し、さらに各検体別に含まれる妨害成分によって
限界吸光度を補正し、検体測定時の終点吸光度が上記補
正済み限界吸光度以下（吸光度減少法の場合）または以
上（吸光度上昇法の場合）になった場合に、反応限界オ
ーバーのアラームを出力する。なお第２図のようにター
ンテーブル方式の反応テーブルを用いて反応開始後の広
い領域に亙って多点測光を後で単位時間当りの吸光度変
化を求めるのに必要な最短時間における吸光度を言う。

レートアッセイにおいて基質不足、反応限界値オーバー
が発生した場合、反応開始から反応限界値に達するまで
の時間と活性値測定に必要な最短時間の比より最適希釈
倍率が求められる。これについて、第７図を参照して説
明する。第７図は吸光度減少法の場合を示しており、所
定時間間隔で測光データを得ている６反応開始後２回目
の測定点でほぼ限界吸光度りに達し、３回目で反応限界
オーバーとなる。計算に必要な最短時間を得るには４点
の測定点が少なくとも必要である。再検測定時の希釈倍
率は、必要な測定点の最小数４と有効測定点数２との関
係より、計算（（４−１）／（２−１）＝３）して希釈
倍率を３倍にすることが決定される。

次に（Ｂ）群ランダムトラブルの「吸光度オーバー」に
ついて説明する。

゛　吸光度オーバーは吸光度上昇法を用いるエンドポイ
ントアッセイにおけるデータアラームである。

吸光度上昇法を用いるレートアッセイにおいては限界吸
光度が測光系の測定限界以下に設定されるので吸光度オ
ーバーのデータアラームは出力されない。

気泡や異物による（Ａ）群の吸光度オーバーとは第４図
のように副波長の吸光度も上昇しているかどうかで判別
できる。副波長は前述のように（Ａ）群と（Ｂ）群の判
別のためには無吸収帯で充分であるが、（Ｂ）群ランダ
ムトラブルの再検時の至適希釈率を算定するためには、
わずかの吸収のある例えば最大吸収帯の１／１０〜１／
２０程度の吸収を有する波長域に設定するのが好ましい
。

第８図に示すようにエンドポイントアッセイにおける吸
光度オーバーに対しては、主波長は目的物質の吸収スペ
クトルの最大吸収帯に、副波長を主波長の１７１０〜１
／２０の吸収を有する吸収帯に設定し、主波長が吸光度
オーバーになった（８群ランダムトラブル）場合、副波
長の最終到達吸光度より希釈率を求めることが可能であ
る。

測定途中の反応曲線上で主波長が例えば吸光度２．５　
を越えて測定不能となった場合、副波長の最終到達吸光
度りから再検測定時のための適正希釈率を求める。第８
図の例では、Ｄが０．５　であり、主波長による吸光度
値を２．０以下にするには、希釈率を３〜４倍にす九ば
よい。

次に（Ｂ）群ランダムトラブルの「プロゾーン」につい
て説明する。これは、免疫血清検査を自動分析装置に適
用した場合の抗原過剰に起因するデータアラームである
。すなわち、このトラブルは、試料中の抗原濃度が試薬
中の抗体物質に比較して高いために生ずるもので、本来
は前述の基質不足によって生ずる反応限界値オーバーと
同一のものであるが、その検知法が全く異なるため別な
ランダムトラブルとして処理する方が好ましい。

プロゾーンが生じた場合の最適希釈率は、第９図に示す
ように、第１試薬で試料中の抗原濃度を測定した後、第
２試薬として一定濃度の抗原を添加した後の測定値の差
（プロゾーンが発生するとこの差は負になる）の大きさ
より決定される。この場合予め各項目毎に誤差と最適希
釈倍率の関係を入力しておくことが必要である。

次に、第２図の自動分析装置に適用する測定条件入力方
法を説明する０例えば、ＧＯＴ、ＧＰＴ。

ＡＬＰ、ＴＰ、ＡＬＢ等の各分析項目が各試料毎に入力
され、測定条件が入力される。第１０図には、グルタメ
ート・オキザロアセテート・トランスアミナーゼ（Ｇ　
ＯＴ）の条件入力例を示す。

測定方式と演算に使用する測光点の範囲（ＡＳＳＡＹＣ
ＯＤＥ）　、検体採取量（ＳＡＭＰＬＥ　ＶＯＬＵＭＥ
）　、　試１ｉｍ加ｉ　（Ｒ１、Ｒ２ＶＯＬＵＭＥ）主
波長と副波長（ＷＡＶＥＬＥＮＧＴＨ１、’　２）試薬
ブランクト標準液ノ濃度（ＢＬＫ−５ＴＤ−ＣＯＮＧ、
）、にファクター、正常値範囲（ＮＯＲＭＡＬ　ＲＡＮ
ＧＥ　Ｌ、’　Ｈ）などが従来とほぼ同じように入力さ
れる。但し検体採取量は従来と異なり、実際の採取量の
他に再検時及び再々検時の希釈倍率が入力される。第１
０図のＧＯＴの例で言えば測定時の検体（第１回目は検
体そのまま、再検及び再々検では希釈された検体）の採
取量は２０μΩであり、再検時には検体が５倍に、゛再
々検時には２０倍に自動希釈される。こ７の他に、（Ａ
）群データアラームの限界値として、Ｎ０ＩＳＥ　ＬＩ
ＭＩＴ、ＬＩＮＥＡＲＬＩＭＩＴ、ＲＥＡＣＴＩＯＮ　
ＬＩＭＩＴ（反応限界）が入力できる。さらに、データ
アラームが出力されなくても、その測定値が正常範囲を
大きく越えたものを（Ａ）群ランダムトラブルと同一条
件で再検するため、ＲＥＲＵＮ　ＬＩＭＩＴの低（Ｌ）
と高（Ｈ）が入力できる。

第１１図には、試料の自動希釈ピペッティングを行うた
めの試料ピペッティング機構と試料採取シリンジ機構と
の図を示した。すなわち本機構は、前述したピペッティ
ング機構６及びそのノズル４が配管によって試料用マイ
クロシリンジ２９と希釈用シリンジ３２に連通されてい
る。希釈用シリンジ３２は３方切換弁３１を有し、瓶３
６中の希釈液（脱イオン水又は生食水）を吸入して、前
述した試料の希釈を行うが、ピペッティング動作終了後
のノズル４内に残溜する試料の汚れの洗浄にも利用され
る１両方のシリンジは各々ラックピニオン駆動部３０．
３３と駆動用パルスモータ３４゜３５によって動作する
。マイクロシリンジは最大量２０μΩで０．１μＱ　単
位で、希釈シリンジは最大値５００μΩで１μＱ単位で
動作する。

試料希釈の場合のマイクロシリンジの吸入量は最大量２
０μΩに制御される。したがって本機構による再検、再
々検時の最大希釈量は２６倍である。すなおち、第１０
図で示したＧＯＴの測定条件を例にすると、通常の第１
回目測定や（Ａ）群トラブルの再検ではマイクロシリン
ジのみが動作して２０μａの試料を採取し、（Ｂ）群ラ
ンダムトラブルの再検では希釈シリンジも動作して２０
μΩの試料を８０μＱの希釈液で希釈した後その２０μ
氾が最終的に採取される。同再々検では２０μＱの試料
を４８０μΩの希釈液で希釈した後その２０μａが採取
される。最終採取量はＧＯＴでは２０μΩであったが、
項目別に入力された第１０図のＳａ’ｍｐｌｅ　ｖｏｌ
、で制御されることは言うまでもない。

なお、第１０図で入力される（Ｂ）群ランダム／Ｑから
２５，０００　Ｉ　Ｕ　／　ｆｌまでを測定でき、尿素
窒素１　ｇ／ｄ　１２を測定できる。再々検時の最大希
釈率２６倍は酵素類で１００，０００　Ｉ　Ｕ　／　Ｑ
尿素窒素で５ｇ／ｄＲまで測定でき、これを越えるよう
な検体は存在しない。

第１２図は本装置のモニタリングチャートの一部を示し
た。３５番の検体のＬＤＨの測定結果には、直線性異常
のＬｉｎａａｒのデータアラームが、また３６番のＬＤ
ＨとＨＢＤは測定不能で反応限界オーバーのデータアラ
ームが出力されている。これらに対する再検は自動的に
前述の如く６６番のサンプルの後に割込み測定されて、
再検結果（いずれも正常）として出力されている。もち
ろん、測定後の報告書出力ではこれらの再検データは本
来の３５番、３６番の位置に編集されて出力されること
は言うまでもない。

次に第２図の実施例によってもたらされる効果算で２０
２件を数えた。その内容は（Ａ）群ランダムトラブル１
４０件で、その内データアラームは出力されないが測定
値が第１０図のＲＥＲＵＮ　ＬＩＭＩＴをオーバーした
ものが１２５件、残りの１５件がデータアラームによる
ものであった。（Ｂ）群ランダムトラブルは６２件で、
ＬＤＨ，ＣＰＫ。

ＡＭＹ、ＧＯＴ、ＧＰＴなどの酵素と尿素窒素。

クリアチニン、尿酸で６０件を占めた。

再検結果は全て良好で再々検は無く、再検を含めた所要
時間は５時間であった。これを従来の機種で実行すると
、第１次測定結果をオペレータがチェックし、必要な検
体を選別して再セットし、また必要に応じて用手法で検
体の希釈を行なったりするので所要時間は８〜１０時間
を要する。すなわち、この実施例によれば、検査室のル
ーチンワークの人手と所要時間を半減できる。

〔発明の効果〕

本発明によれば、各試料に主たる測定の測定結果の内、
不良なものの原因に応じて当該試料の再処理を自動的に
行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例で実行される動作のフローチ
ャートの例を示す図、第２図は本発明の一実施例の概略
構成を示す図、第３図は試料自動希釈の動作説明図、第
４図は吸光度オーバーのランダムトラブル検知法の説明
図、第５図は直線性異常の検知法の説明図、第６図は試
薬添加不良の検知法の説明図、第７図は反応限界オーバ
一時の希釈倍率の求め方の説明図、第８図は吸光度オー
バ一時の希釈倍率の求め方の説明図、第９図はプロゾー
ン発生時の希釈倍率の求め方の説明図、第１０図は測定
条件の入力例を示す図、第１１図は試料採取機構の動作
説明図、第１２図はデータアラームが出力された出力例
と試料再処理後のモニタリングチャートの例を示す図で
ある。 １・・・試料容器、２・・・サンプルテーブル、４・・
・試料用ノズル、６・・・試料ピペッティング機構、８
・・・反応テーブル、１８・・・反応容器、２４．２８
・・・制御第　１　　図 奉　２　目 早　、５　コ 第　４　口 第　６　　目 第　９　凹 畢造征状ｆ＠牢 第　７　図 第８図 −１（時間つ 第　１１　　目 第　７２　　図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、試料容器から所定量の試料を反応容器に移し、上記
   反応容器内で試料と試薬を反応させ、反応液を測定する
   こと、上記測定に際して分析装置の動作および測定デー
   タを制御装置によつて監視し、基準をはずれた測定値の
   原因を判別すること、上記原因に応じて当該試料の再処
   理を先の測定と同様条件で行うか試料を希釈して行うか
   を類別すること、上記試料容器から新たに試料を採取し
   、上記類別に従つて試料を処理し、再測定すること、を
   含むディスクリート自動分析方法。 ２、試料を収容した試料容器を吸入位置に位置づけるよ
   うに動作する試料容器移送装置と、反応容器を試料添加
   位置、試薬添加位置および測定位置を通るように移送す
   る反応容器移送装置と、分析装置の各部の動作を制御し
   、各試料の測定結果に基づいて再処理の必要性を判別す
   る制御装置と、上記制御装置の指示に基づいて上記反応
   容器移送装置上の特定の反応容器に希釈液を供給する希
   釈液供給装置と、当初の試料処理時には、上記吸入位置
   の試料容器から上記試料添加位置の反応容器へ試料を移
   す動作を行い、再処理時には、上記制御装置の指示に基
   づいて、上記吸入位置の試料容器から上記試料添加位置
   の反応容器へ試料を移す動作と、上記特定の反応容器か
   ら別の反応容器へ希釈済試料を移す動作とを、選択的に
   行うサンプリング装置と、を備えたことを特徴とするデ
   ィスクリート自動分析装置。