JPS6312437A - 密封包装品のシ−ル不良検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈発明の利用分野〉 この発明は、合成樹脂製の袋体内に被包装物とともに不
活性ガスを充填して密封シールした密封包装品のシール
不良（この明細書に於いてシール不良とは、シール部分
に皺ができたり気泡や被包装物が挟まる等によって生じ
るシール部分のシール強度不足を意味するものとする）
を検査する方法に関するものである。

〈従来の技術〉 従来、本発明者の知る限りこの種のシール不良を自動的
に検査する方法は知られておらず、人間の目視によって
検査されていた。

〈発明が解決しようとする問題点〉 しかし、人間の「１視では、人件費もさる、二となから
、検査ミスが避はデ「いものであった。特に、僅かなシ
ール不良については、その発児が殆ど不可能といえる。

そ、二で、この発明では、密１４包装品のシール不良を
自動的に、しかも密↑、Ｉ性を促進的Ｑ、＝検査するこ
とによって僅かなシール不良をも確実に検出しうる密１
・１包装品のシール不良検査方法を提イ１（することを
目的としている。

〈問題点を解決するだめの手段〉 一１記の目的を達成するための手段とし２て、第１発明
〔特許請求の範囲第（１）型開１ｒ＝ｖ発明、以下同じ
〕では、密封包装品を減圧チャンバ内で−・定時間減圧
雰囲気下に置き、この減圧チャンバ内で、減圧雰囲気に
よる密封包装品の膨張の程度を一定の膨張程度に対応す
る付勢力を与えられた測定器によって測定し、設定値Ｉ
ソ下の膨張程度の密封包装品をシール不良品として検出
ずろことを要旨とし、 第２発明〔特許請求の範囲第（２）項記載発明、以下同
し〕では、密１、ｌ包装品を減圧チャンバ内で一定時間
減圧雰囲気下に置き、そして、減圧チャンバより密」、
１包装品を取り出して密１”・ｌ包装品に大気圧をイ・
］ＩＪシた後、この密封包装品の厚さを測定し、設定値
１す下の厚さの密１．１包装品をシール不良品として検
出することを要旨としている。

〈作　用〉 次に、この発明〔第１発明及び第２発明〕におけろ作用
を、この発明の一実施例を示す第１図及び第２図を参１
１７ｔ　シて説明する。尚、以下の説明でＣよ、第１発
明を主体として説明し、第２発明乙こついてＣ１、第１
発明と同一ないし類似する部分は同一・符号を以て示し
、重複する説明は省略し必要な部分εこついてのみ述べ
るものとする。

蒸」−発明（第１図参照） 被包装物１と共に不活↑７１ガスが充填された密↑、１
包装品２は一定の［内圧−１を有するので、これを減圧
チャンバ３内で一定時間減圧雰囲気下にｉηくと、シー
ル良品は、「内圧」と「外圧（減圧雰囲気）１の差が大
きくなった分膨張し、一定の膨張１１１度に対応する付
勢力を与えられた測定器４を作動さ一υることＱこなる
。他方、シール不良品は、そのシール不良が大きいとこ
のシール不良部分から内部の不活性ガスがすぐ逃げ出す
ので膨張・Ｉ！゛ず、測定器４は作動しない。また、シ
ール不良が僅か２Ｈものにあっては、一時的に膨張する
が、測定器４には一定の付勢力が与えられているので１
、−のイ・１勢力の抵抗によってすくに「パンク」して
しま・う。従って、測定器４は、作動しないことになる
。

即ち、測定器４の作動の有無によって密１，１包装晶２
のシール不良の有無が識別・検出されることになる。し
かも、減圧雰囲気下での膨張によりシール部分５に［負
荷−１を与えながら検査するので、いわば［促進的−Ｊ
にシール不良を検査し得ることになる。

第一？−光叫（第２図参照） 密１４包装晶２を減圧チャンバ３３内の凋■−「雰囲気
下に一定時間置くと、シール良品は、「内圧」と１り■
圧（減圧雰囲気）−１の差が大きくなった分膨張するが
、その不活性ガスを喪失することばない。他方、シール
不良品は、そのシール不良が大きいとこのシール不良部
分からすくに内部の不活性ガスを喪失する。また、シー
ル不良が僅かなものにあっては、一時的に膨張するが、
膨張によりシール部分５に生じる「負荷」に耐えられな
くなって結局「パンク」し、その内部の不活性ガスを喪
失することになる。

このような過程を経た密封包装品２を減圧チャンバ３３
内から取り出し、これに大気圧を与えると、シール良品
はもとの厚みに戻るが、シール不良品は不活性ガスを喪
失した分その厚みが減少する。

そこで、この密封包装品２の厚みを適宜な手段で測定し
、設定値以下の厚さの密封包装品２を不良品として識別
・検出する。

〈実　施　例〉 以下、この発明（第１発明及び第２発明）に係る密封包
装品のシール不良検査方法の実施例を、第１Ｆ２１〜第
３図の方法に用いる装置例を参照して説明する。

第１−発叫（第１１ｍ参照） ストッカー６にストックされた密封包装品２は、曲ｉ１
Ｕ　Ｌ、−（きた吸着アーノ、７に３Ｌ、って吸着・保
持され、吸着アー１．７の後進によって減圧チャンバ３
１−に移動−ロしめられ、減圧チャンバ３内・＼落下・
移動−ｕしめらねる。この時、減圧チャンバの上蓋８は
、［開−１となってお幻、下顎９は、「閉」となってい
る。

次いで、−１−益８が閉じられ、図示−ＩＪぬ真空ポン
プに接続された脱気孔ＩＯより減圧チャンバ３内が脱気
・減圧される。

この状態に−・定時間置かれると、被包装物１と共に不
活性ガスが充填され−・定の１内圧１を有す、ｉ′１密
月包装晶２は、シール不良がなｌれば、「内圧１と［夕
）圧（減圧雰囲気）ｊの差が大きくなった分膨張し、ス
プリング１１によって−・”ｊｌｌの膨張程度に対応す
る付勢力を与えられた測定器４を作動させることになる
。他方、シール不良重心３Ｆ、そのシール不良が大きい
とこのシール不良部分から内部の不活性ガスがすく逃げ
出すので膨張せず、測定器４　ｉ；１′作動しない。ま
た、シール不良が僅かなものにあっては、一時的に膨張
するが、測定器４にし４−・定の（＝Ｊ勢力か５えられ
ているので、この付勢力の抵抗によってすくに「バンク
」してしまう。（１ｔ、って、測定器４は、作動しない
ことになる。

ここで、測定器４ば、密封包装品２の膨張力を受しする
当接プレート１２、この当接プレート１２に接続し減圧
チャンバ３の側壁１３を前後動自在に貫ｊｍシて設ジノ
られるスライドブツシュ１４、及びこのスライドブツシ
ュ１４の前後動をヒンジ１５を支点にしてリミットスイ
ッチ１６に伝えると共にスプリング１１の付勢力をスラ
イドブツシュＩ４に与えるレバ１７とから成っている。

そして、当接プレー１・１２が密１・１包装品２の膨張
力を受ｉすると、スライドブツシュ１４が第１図中左方
に後退し、レバ１７のヒンジ１５より上側を左方に、下
側を右方にヒンジ１５を支点にして回転させ、レバ１７
の下方に設けられたリミットスイッチ１６を働かせる。

次に、下蓋９を開いてこの密↑・ｊ包装品２を分別プｌ
／−１−１８１−に落下させる。分別プレート１８は、
リミットスイッチ１６と適宜の手段で連動−１！し７め
られており、密封包装品２がシール良品の場合６二は、
排出コンヘア１９側へ、密封包装品２かシール不良の場
合には、不良品ストッカ２０側へ、各々密封包装品２を
分別し振り分けるようにされでいる。

以上の如くして密封包装品２のシール不良の有無が識別
・検出されるとともに、シール良・不良品が分別される
ことになる。しかも、減圧雰囲気下での膨張によりシー
ル部分５にｒ　ｆｔ　石ｉ−１をり、えなから検査する
ので、いわば［促進的−１にシール不良を検査し得るこ
とになる。

面、以上の説明では、密封包装品２を１個ずつ処理する
場合についって説明してきたが、これに限られず複数同
時に処理することが可能なのは勿論である。

第−鼾発−明（第２図及び第３図参照）第２図において
、図示せぬ包装機から排出された密ｊ−・ｌ包装品２は
、一定数に達するまでガイｌプ１／−１−３０で支えら
れらがらス１−ツク１ンヘア３１＋に送り込まれる。

ストック−１ンヘア３１＋の密１・ｌ包装品２が一定数
に達すると、ガイドプレート３０がその下辺を軸にして
図中右側下方ａ、Ｚ倒れ、密↑・ｌ包装品２か戚工千ヤ
ンハ３３内に落下・移動する。ここで、′ｌす圧チャン
バ３３は、回動目つ開閉自在とした左右一対のケーシン
グ３２ルび［閉−１時このケーシング３２の底部を形成
し１間４時密１・１包装品２を掛出せしめろ開閉１１在
なホｌ−，／、３４とかこ赴ｉコに形成され、密１゛、
１包装品２が減圧チャンバ３３に落下・移動する時には
、ゲージング３２ば「開」となっておりボ１−Ｊ、３４
　Ｌ、ｌ：　ｒ閉」となっている。次いで、図示−Ｕぬ
真空ポンプに接続された脱気孔１０より減圧チャンバ３
３内が排気・減圧される。

密封包装品２がこの状態に一定時間置かれると、シール
良品は、「内圧」と「外圧（減圧雰囲気）−１の差が大
きくなった分膨張するが、その不活＋＋１ガスを喪失す
ることばない。他方、シール不良品ＬＪ゛、そのシール
不良か大きいとこのシール不良部分からすくに内部の不
活性ガスを喪失する。また、シール不良が僅かなものに
あっては一時的に膨張するが、膨張によ幻シール部分５
に生じる［負荷−１に耐えられなくなって結局［パンク
１し、その内部の不活性ガスを喪失することになる。

次いで、減圧チャンバ３３の十トノ、３４を開い７密１
，１包装晶２をｔＪ）出コンベア３５上に落下・移動さ
せる。すると、密封包装品２ば、大気圧下に置かれるこ
とになるので、シール良品ばもとの厚みに戻るが、シー
ル不良品は不活性ガスを喪失した分その厚みが減少する
。

排出コンベア３５には、線状体より成る支持コヘ７３６
が左右一対設けられており、この支持コヘ７３６により
直立するよう支持された密封包装品２は、測定器３７の
前まで移動してゆき、その厚みが各々測定される。尚、
本装置例では、測定器３７として赤外線センサーを用い
ている。最も、これに限定されることのないのは勿論で
ある。そして、設定値以下の厚みの密封包装品２は、測
定器３７に連動せしめられた適宜の分別手段によって分
別・排除される。

尚、この装置例によると、複数の密封包装品２を同時に
上下方向で処理することになるが、同様に複数の密封包
装品２を同時に水平方向で処理することも可能であるこ
とは勿論である。

第３図は、第２発明に係る他の実施例に用いる装置例で
ある。尚、以下の説明では、」二記両実施例と同一ない
し類似する部分は同一符号を以て示し、共Ｊないし類似
する部分の説明Ｇよ省略し必要な部分についてのみ述べ
るものとする。

図示せぬ包装機に接続されたＩ射入コンヘア４０により
搬送されてきた密封包装品２は、シュウター４１にガイ
ドされて減圧チャンバ４２に投入せしめられる。そして
、一定時間減圧処理され、排出コンベア４３上に排出さ
れる。次いで、排出コンヘア４３上で移動して行く密封
包装品２は、排出コンベア４３−１−に設けられた測定
器４４によってその厚みを検査される。尚、測定器４４
は、検知レバー４５、ヒンジ４６、支持スプリング４７
及びリードスイッチ４８から主に構成され、密封包装品
２によって検知レバー４５が押し上げられるとリードス
イッチ４８が働くようにされている。

第４図は、ト記第１発明の実施例で示した測定器４及び
減圧チャンバ３の他の実施例を示すものである。

この測定器５０は、主に減圧チャンバ３の側壁１３に設
けられたネジ部５１に螺合・固定される弁箱５２、この
弁箱５２の内面に摺接し進退動自在である弁５３、この
弁５３及び弁箱５２を貫通ずるロット５４及びこのロッ
ド５４の減圧チャンバ３の室内側先端に設けられた当接
プレート１２より成り、その作φ１１機構は、減圧チャ
ンバ３内が減圧されると、弁箱５２の残圧千ヤンハ３接
読側、即ち弁箱５２の底板５５に設けた通孔５６を介し
て弁５３で仕切られた弁箱５２の法用チャンバ３側空間
が減圧されることにより弁５３が減圧チャンバ３　（！
Ｉ！Ｉに、当接プレート１２が密１・１包装品２に当接
ずろまで、前進し、そして当接した状態でロット５４は
図中右方へと移動しているので、ロット５４の他・瑞に
設けられた検知部５７を介してりミツトスイッチ１６が
作動し、密封包装品２のシール不良の有無が識別・検出
されるものである。

尚、図中５８は弁５３後退用のスプリングであり、５９
は調整孔で、−１−配弁５３で仕切られた弁箱５２他方
側空間を適度な空気圧に調整している。また、この減圧
チャンバ３の特徴は、密封包装品２による脱気口１０の
封鎖を防止するための添板６０を設けた点にある。その
他の構成及び作用は、先の実施例と略同様なので、共ｊ
ｍ乃至類似する部分は同一符号を以て示し共通する説明
は省略するものとする。

尚、以」二の第１発明及び第２発明に関する説明では、
不活性ガスを充填した密封包装品２に関して述べて来た
が、不活性ガスに替わって液体が封入された「密封包装
品］についてもこの発明を適用し得ることは勿論である
。

〈発明の効果〉 この発明に係る密封包装品のシール不良検査方法は、以
」二説明してきた如く、被包装物とともに不活性ガスを
充填した密封包装品を一定時間減圧処理し、この減圧処
理による密１・ｌ包装品の膨張の程度を／１ｌｌｌ定し
、設定値以下の膨張程度の密［，１包装品をシール不良
品とＬ７て検出するものであり　（第１発明）、また、
この残圧処理後大気圧下に置いた時の密封包装品の厚み
の変化を測定し、設定値Ｉ以下のの厚さの密封包装品を
シール不良品として検出するものである（第２発明）か
ら、密封包装品のシール不良を自動的に目つ、確実に検
査し得るという効果があり、さらに、「促進的」に検査
し得るので、密封包装品の包装品質の安定↑）Ｉのよ幻
一層の向」−を図れるという効果もある。

【図面の簡単な説明】

第１Ｍは、第１発明に係る一実施例を示す検査装置の一
部断面を含む概略正面図、 第２図は、第２発明に係る一実施例を示す検査装置の概
略斜視間、 第３図は、第２発明に係る他の実施例を示す検査装置の
一部破断面を含む概略正面図、そして第４図は、第１発
明の実施例に用いる測定器及び減圧チャンバの他の実施
例を示ず概１１１１Ｍ　Ｚ４而面である。 １−−−−−被包装物 ２−−−−−−密封包装品

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）合成樹脂製の袋体内に被包装物とともに不活性ガ
   スを充填して密封シールした密封包装品のシール不良検
   査方法であって、 上記密封包装品を減圧チャンバ内で一定時間減圧雰囲気
   下に置き、 この減圧チャンバ内で、減圧雰囲気による密封包装品の
   膨張の程度を、一定の膨張程度に対応する付勢力を与え
   られた測定器によって測定し、設定値以下の膨張程度の
   密封包装品をシール不良品として検出することを特徴と
   する密封包装品のシール不良検査方法。
2. （２）合成樹脂製の袋体内に被包装物とともに不活性ガ
   スを充填して密封シールした密封包装品のシール不良検
   査方法であって、 上記密封包装品を減圧チャンバ内で一定時間減圧雰囲気
   下に置き、 そして、減圧チャンバより密封包装品を取り出して密封
   包装品に大気圧を付与した後、 この密封包装品の厚さを測定し、設定値以下の厚さの密
   封包装品をシール不良品として検出することを特徴とす
   る密封包装品のシール不良検査方法。