JPS63121077A - マトリクス表示装置 - Google Patents
マトリクス表示装置Info
- Publication number
- JPS63121077A JPS63121077A JP61266946A JP26694686A JPS63121077A JP S63121077 A JPS63121077 A JP S63121077A JP 61266946 A JP61266946 A JP 61266946A JP 26694686 A JP26694686 A JP 26694686A JP S63121077 A JPS63121077 A JP S63121077A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- display device
- matrix display
- substrate
- conductor layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 title claims description 24
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 42
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 39
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims description 29
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 23
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 claims description 14
- RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N arsenic atom Chemical compound [As] RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims description 13
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims description 13
- 239000011669 selenium Substances 0.000 claims description 11
- 239000011651 chromium Substances 0.000 claims description 10
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 9
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 9
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 6
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 6
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 claims description 6
- PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N tellurium atom Chemical compound [Te] PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical group [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 claims description 4
- ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L magnesium fluoride Chemical compound [F-].[F-].[Mg+2] ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims description 4
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 claims description 4
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 claims description 3
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 claims description 2
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims description 2
- SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoyttriooxy)yttrium Chemical group O=[Y]O[Y]=O SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229940065287 selenium compound Drugs 0.000 claims description 2
- 150000003343 selenium compounds Chemical class 0.000 claims description 2
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 description 11
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 8
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 8
- CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L Sodium Carbonate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]C([O-])=O CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 6
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 4
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 4
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- WBFMCDAQUDITAS-UHFFFAOYSA-N arsenic triselenide Chemical compound [Se]=[As][Se][As]=[Se] WBFMCDAQUDITAS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 2
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 2
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 2
- 229910000967 As alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001370 Se alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- -1 diarsenic selenide Chemical class 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 229910001635 magnesium fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ta+5].[Ta+5] BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RUDFQVOCFDJEEF-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);yttrium(3+) Chemical class [O-2].[O-2].[O-2].[Y+3].[Y+3] RUDFQVOCFDJEEF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001936 tantalum oxide Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は映像機器や情報機器などに用いて有効な、高コ
ントラスト等の高表示品位を有する簡易な構成の低コス
ト非直線二端子素子からなるマトリクス表示装置に関す
るものである。
ントラスト等の高表示品位を有する簡易な構成の低コス
ト非直線二端子素子からなるマトリクス表示装置に関す
るものである。
従来の技術
近年、特に液晶表示装置に代表されるマトリクス表示装
置は、コンピュータを中心とする情報機器分野および映
像機器分野において、大容量表示、特に画像表示に向け
てのアプローチが活発であり、低価格デバイスが実現出
来るディスプレイとして注目されている。非直線二端子
素子とは、電流−電圧特性が非直線性を示し、比較的大
電圧領域において近似的に定電圧特性を示すような二端
子素子をいう。以下図面を参照しながら従来の提案され
た非直線二端子素子を用いた液晶表示装置の一例につい
て説明する。
置は、コンピュータを中心とする情報機器分野および映
像機器分野において、大容量表示、特に画像表示に向け
てのアプローチが活発であり、低価格デバイスが実現出
来るディスプレイとして注目されている。非直線二端子
素子とは、電流−電圧特性が非直線性を示し、比較的大
電圧領域において近似的に定電圧特性を示すような二端
子素子をいう。以下図面を参照しながら従来の提案され
た非直線二端子素子を用いた液晶表示装置の一例につい
て説明する。
第2図(alは非直線二端子素子(MIM素子:Met
al−Insulator−Metal素子)を各絵素
ごとに具備した液晶表示パネルの片側の基板の絵素近辺
の断面図の一例であり、第2図(b)はその配置図であ
る。
al−Insulator−Metal素子)を各絵素
ごとに具備した液晶表示パネルの片側の基板の絵素近辺
の断面図の一例であり、第2図(b)はその配置図であ
る。
基板41、タンタルN42、陽極酸化クンタル層43、
絵素電極層44、クロム層45、から非直線二端子素子
46を形成しており、バス・バー47、引出し端子48
、絵素電極層49をもって非直線二端子プレイとする。
絵素電極層44、クロム層45、から非直線二端子素子
46を形成しており、バス・バー47、引出し端子48
、絵素電極層49をもって非直線二端子プレイとする。
例えば〔アイトリプルイー、トランザクション、オン、
エレクトロン、デバイシズ、イーディー、28巻−6号
−1981(IEEE TRANSACTION 0N
ELECTORON DEVICES、 VOL、
ED−28,NO,6,1981) ) 、〔情報
表示学会(S I D : 5ociety For
Informa−tion Display)の198
4年国際シンポジウム技術論文集(S I D Int
ernational Sya+pojium Dig
estOf Technical Papers)P2
O3−305)。
エレクトロン、デバイシズ、イーディー、28巻−6号
−1981(IEEE TRANSACTION 0N
ELECTORON DEVICES、 VOL、
ED−28,NO,6,1981) ) 、〔情報
表示学会(S I D : 5ociety For
Informa−tion Display)の198
4年国際シンポジウム技術論文集(S I D Int
ernational Sya+pojium Dig
estOf Technical Papers)P2
O3−305)。
また第3図はPINダイオードをリング状に連結し非直
線二端子素子とした例であり、第3図(a)はPINダ
イオードの構成断面図、第3図(b)はこのPINダイ
オードを使った液晶表示パネルの片側の基板の配置図で
ある。第3図(blにおいてPINダイオードは通常の
PNダイオード記号で示されている。基板51上には第
一電極層52、N型非晶質硅素53、■型非晶質硅素5
4、N型非晶質硅素55、クロム層56、絶縁体からな
る保ii層57、第二電極層58が形成されており、リ
ング状に連結したPINダイオード59、バス・バー6
0、絵素電極61をもって非直線二端子アレイとする。
線二端子素子とした例であり、第3図(a)はPINダ
イオードの構成断面図、第3図(b)はこのPINダイ
オードを使った液晶表示パネルの片側の基板の配置図で
ある。第3図(blにおいてPINダイオードは通常の
PNダイオード記号で示されている。基板51上には第
一電極層52、N型非晶質硅素53、■型非晶質硅素5
4、N型非晶質硅素55、クロム層56、絶縁体からな
る保ii層57、第二電極層58が形成されており、リ
ング状に連結したPINダイオード59、バス・バー6
0、絵素電極61をもって非直線二端子アレイとする。
例えば〔テレビジョン学会技術報告、昭和59年5月2
5日発表〕通常の液晶表示パネルではデユーティ比が1
/200程度が限度であるが、これらの非直線抵抗素子
を用いることにより、デユーティ比が1/1000の高
品位な液晶表示特性を得ることが可能となる。
5日発表〕通常の液晶表示パネルではデユーティ比が1
/200程度が限度であるが、これらの非直線抵抗素子
を用いることにより、デユーティ比が1/1000の高
品位な液晶表示特性を得ることが可能となる。
第4図は非直線二端子素子を用いた液晶表示パネルの等
価回路図である。このパネルが正常に動作する為には、
電流が主に非直線抵抗70、液晶層の容量73という経
路を流れる必要がある。非直線二端子素子が正常に機能
するためには、非直線抵抗並列容量71を小さくしなけ
ればならない。尚72は液晶層の抵抗、74は非直線抵
抗素子、75は液晶層を示す。
価回路図である。このパネルが正常に動作する為には、
電流が主に非直線抵抗70、液晶層の容量73という経
路を流れる必要がある。非直線二端子素子が正常に機能
するためには、非直線抵抗並列容量71を小さくしなけ
ればならない。尚72は液晶層の抵抗、74は非直線抵
抗素子、75は液晶層を示す。
第5図は非直線二端子素子を用いたマトリクス表示パネ
ルの構成を示す図である。帯状電極を有する基板80と
、非直線二端子素子アレイ基板81のそれぞれ表示媒体
82と接する面に配向膜83を形成し、ガラスファイバ
ー或いは樹脂微粒子を散布しスペーサー84を設けた後
シール材85にて貼り合せ、スペーサー84により形成
された間隙に表示媒体82を充填しマトリクス表示装置
とする。
ルの構成を示す図である。帯状電極を有する基板80と
、非直線二端子素子アレイ基板81のそれぞれ表示媒体
82と接する面に配向膜83を形成し、ガラスファイバ
ー或いは樹脂微粒子を散布しスペーサー84を設けた後
シール材85にて貼り合せ、スペーサー84により形成
された間隙に表示媒体82を充填しマトリクス表示装置
とする。
発明が解決しようとする問題点
非直線二端子素子を用いた例えば液晶表示装置を駆動す
るためには、非直線素子に充分な電圧を印加する必要が
ある。それには非直線素子の電気容量を液晶層の電気容
量の1710程度以下に設計しなければならない。従来
の技術による第1のものについては、酸化タンタルの厚
みを約500人にすると闇値電圧は7〜llvで非直線
特性も著しく好適であるが、酸化タンタルの比誘電率が
20以上あり非直線素子の電気容量が大きくなる。従っ
てデューティが1)500〜1/1000の高品位な液
晶表示特性を得るためにはやや不利となり、そのため非
直線素子の形状を微細にしているが、このことはアレイ
の歩留りを著しく悪化させる原因となっており、さらに
複雑で時間を要するフォトリソグラフィー工程が少なく
とも3回以上含まれるため作業効率が悪化するだけでな
く大幅なコストアップの原因ともなっている。また第2
のものについては、フォトリソグラフィー工程が少なく
とも5回〜6回含まれることになり、このことは作業効
率の悪化、歩留りの悪化、さらにはコストアップの原因
となっている。
るためには、非直線素子に充分な電圧を印加する必要が
ある。それには非直線素子の電気容量を液晶層の電気容
量の1710程度以下に設計しなければならない。従来
の技術による第1のものについては、酸化タンタルの厚
みを約500人にすると闇値電圧は7〜llvで非直線
特性も著しく好適であるが、酸化タンタルの比誘電率が
20以上あり非直線素子の電気容量が大きくなる。従っ
てデューティが1)500〜1/1000の高品位な液
晶表示特性を得るためにはやや不利となり、そのため非
直線素子の形状を微細にしているが、このことはアレイ
の歩留りを著しく悪化させる原因となっており、さらに
複雑で時間を要するフォトリソグラフィー工程が少なく
とも3回以上含まれるため作業効率が悪化するだけでな
く大幅なコストアップの原因ともなっている。また第2
のものについては、フォトリソグラフィー工程が少なく
とも5回〜6回含まれることになり、このことは作業効
率の悪化、歩留りの悪化、さらにはコストアップの原因
となっている。
問題点を解決するための手段
前記問題点を解決するために本発明のマトリクス表示装
置は、基板上に順次間隙を有する第一導体層、前記導体
層の各々について複数個ずつ設けられた第二導体層、前
記第一導体層、第二導体層との間に介在し、電気的に縦
続接続された樹脂層と砒素(As)とセレン(Se)と
の化合物からなる半導体層の複合層を存し、前記樹脂層
が前記基板に接してなり、さらに絶縁体層を有するよう
な非直線二端子素子アレイと、帯状電極を有する第二の
基板との間に表示媒体を挟み込んだものである。
置は、基板上に順次間隙を有する第一導体層、前記導体
層の各々について複数個ずつ設けられた第二導体層、前
記第一導体層、第二導体層との間に介在し、電気的に縦
続接続された樹脂層と砒素(As)とセレン(Se)と
の化合物からなる半導体層の複合層を存し、前記樹脂層
が前記基板に接してなり、さらに絶縁体層を有するよう
な非直線二端子素子アレイと、帯状電極を有する第二の
基板との間に表示媒体を挟み込んだものである。
作用
本発明は前記した構成によって、前記半導体層、すなわ
ち導体層−樹脂層一半導体層一導体層一絶縁体層構造か
らなる非線形素子部によって、非線形的な電流−電圧特
性を実現している。現在ではこの非線形性はかなりの部
分、半導体層に原因があるように推定される。現実の素
子の電流−電圧特性を測定すると、 1=A−V“ の形で近似出来る特性を示す。ここでAとαは定数であ
る。この素子をリード配線と表示電極との間に介在させ
ることにより、絵素部分に印加されるオン電圧とオフ電
圧との比を大きくすることが出来、コントラスト特性を
向上させることが可能となる。また半導体層を形成する
砒素(As)とセレン(Se)の化合物の比誘電率が1
0以下と比較的小さいことにより、非線形素子の形状は
比較的大きく出来、歩留りの向上が望める。例えば、基
板上にパターン化された第一導体層(通常これはリード
配線)の上に半導体層、次に第二導体層(通常これは絵
素電極の一部、或いは前記半導体層と絵素電極を接続す
る接続配線)、絶縁体層を積層させることは、三度の被
膜形成、及び二度のフォト・リソグラフィー工程で可能
である。しかし非線形素子の形状は比較的大きくするこ
とが出来ることと、前記半導体層、を蒸着法で形成する
場合には基板加熱を必要としないことを考える゛と、本
発明による表示装置に用いる非線形素子の製法は簡易で
あることがわかる。すなわち、基板上にパターン化され
た第一導体層の上の半導体層の形成はメタルマスクを用
い、マスク合せ一蒸着の過程で容易に達成される。また
前記第二導体層もこれを構成するものによっては、引続
きマスク蒸着で容易に形成される。
ち導体層−樹脂層一半導体層一導体層一絶縁体層構造か
らなる非線形素子部によって、非線形的な電流−電圧特
性を実現している。現在ではこの非線形性はかなりの部
分、半導体層に原因があるように推定される。現実の素
子の電流−電圧特性を測定すると、 1=A−V“ の形で近似出来る特性を示す。ここでAとαは定数であ
る。この素子をリード配線と表示電極との間に介在させ
ることにより、絵素部分に印加されるオン電圧とオフ電
圧との比を大きくすることが出来、コントラスト特性を
向上させることが可能となる。また半導体層を形成する
砒素(As)とセレン(Se)の化合物の比誘電率が1
0以下と比較的小さいことにより、非線形素子の形状は
比較的大きく出来、歩留りの向上が望める。例えば、基
板上にパターン化された第一導体層(通常これはリード
配線)の上に半導体層、次に第二導体層(通常これは絵
素電極の一部、或いは前記半導体層と絵素電極を接続す
る接続配線)、絶縁体層を積層させることは、三度の被
膜形成、及び二度のフォト・リソグラフィー工程で可能
である。しかし非線形素子の形状は比較的大きくするこ
とが出来ることと、前記半導体層、を蒸着法で形成する
場合には基板加熱を必要としないことを考える゛と、本
発明による表示装置に用いる非線形素子の製法は簡易で
あることがわかる。すなわち、基板上にパターン化され
た第一導体層の上の半導体層の形成はメタルマスクを用
い、マスク合せ一蒸着の過程で容易に達成される。また
前記第二導体層もこれを構成するものによっては、引続
きマスク蒸着で容易に形成される。
また、樹脂層は基板と半導体層との応力の緩和に起因し
ており、特性の均一化に貢献し、より安定な非直線二端
子素子が得られる。
ており、特性の均一化に貢献し、より安定な非直線二端
子素子が得られる。
さらに絶縁体層は上下基板間のショートを防止するだけ
でなく、保護膜の役割をも果す為、導体層及び半導体層
に支障を来すことなくパネルの製造工程を経てより安定
な非直線二端子素子が得られ、以上のようなことから、
歩留りの低下をきたさずに、低コストで表示品位の高い
液晶表示装置の実現が可能となる。
でなく、保護膜の役割をも果す為、導体層及び半導体層
に支障を来すことなくパネルの製造工程を経てより安定
な非直線二端子素子が得られ、以上のようなことから、
歩留りの低下をきたさずに、低コストで表示品位の高い
液晶表示装置の実現が可能となる。
実施例
以下、本発明の代表的な一実施例のマトリクス表示装置
について、図面を参照しながら説明する。
について、図面を参照しながら説明する。
前記したように、第一導体層はリード配線、またはリー
ド配線から分岐したそれの一部であり、第二導体層は絵
素電極の一部、または絵素電極への接続を目的とする接
続配線である。どのような場合にも本発明の効果は発揮
されることを確認したが、本実施例では以下に、第一導
体層をリード配線、第二導体層は絵素電極の一部である
場合について述べるものとする。
ド配線から分岐したそれの一部であり、第二導体層は絵
素電極の一部、または絵素電極への接続を目的とする接
続配線である。どのような場合にも本発明の効果は発揮
されることを確認したが、本実施例では以下に、第一導
体層をリード配線、第二導体層は絵素電極の一部である
場合について述べるものとする。
第1図fa)は構成断面図、第1図(blは平面図を示
す。第1図において1は基板であり、基板I上に形成さ
れた第一導体層2をバタンニングし、引出し端子部を除
く基板の全面にポリイミド被膜3を形成した後、厚さ約
30μmの磁性ステンレス鋼板製の所定の穴が開けられ
たマスクとアライナ−を用いて位置合せを行ない、基板
裏面よりサマリウム・コバルト磁石を置いて密着させ、
その後これを蒸着用真空槽内に設置し、抵抗加熱法によ
って基板上に半導体層4、さらに同様の方法により第二
導体層5を形成し、その後引き出し端子部を除く基板の
全面に絶縁体層6をEB蒸着により形成する。基板1は
石英ガラス、ソーダガラス等、第一導体層2は錫を含ん
だ酸化インジウム(ITO)、アンチモンを含んだ酸化
錫、クロム、アルミニウム、チタン等、半導体層4は砒
素とセレンとの合金からそれぞれ形成されている。また
第二導体層5はテルル、クロム、アルミニウム等、絶縁
体層6は酸化インドリウム(Y2O,)、酸化アルミニ
ウム(A 120:+ ) 、フン化マグネシウム(M
gF2)等から形成されている。以上のようにして得ら
れた非直線二端子素子アレイの素子の電流−電圧特性を
測定し、非直線二端子素子アレイと透明を有する帯状電
極付基板のそれぞれの表面に配向処理を施した後、前記
2枚の基板を貼り合せてパネルとし表示媒体を注入し液
晶表示パネルとした。
す。第1図において1は基板であり、基板I上に形成さ
れた第一導体層2をバタンニングし、引出し端子部を除
く基板の全面にポリイミド被膜3を形成した後、厚さ約
30μmの磁性ステンレス鋼板製の所定の穴が開けられ
たマスクとアライナ−を用いて位置合せを行ない、基板
裏面よりサマリウム・コバルト磁石を置いて密着させ、
その後これを蒸着用真空槽内に設置し、抵抗加熱法によ
って基板上に半導体層4、さらに同様の方法により第二
導体層5を形成し、その後引き出し端子部を除く基板の
全面に絶縁体層6をEB蒸着により形成する。基板1は
石英ガラス、ソーダガラス等、第一導体層2は錫を含ん
だ酸化インジウム(ITO)、アンチモンを含んだ酸化
錫、クロム、アルミニウム、チタン等、半導体層4は砒
素とセレンとの合金からそれぞれ形成されている。また
第二導体層5はテルル、クロム、アルミニウム等、絶縁
体層6は酸化インドリウム(Y2O,)、酸化アルミニ
ウム(A 120:+ ) 、フン化マグネシウム(M
gF2)等から形成されている。以上のようにして得ら
れた非直線二端子素子アレイの素子の電流−電圧特性を
測定し、非直線二端子素子アレイと透明を有する帯状電
極付基板のそれぞれの表面に配向処理を施した後、前記
2枚の基板を貼り合せてパネルとし表示媒体を注入し液
晶表示パネルとした。
本発明の一実施例は、第1図に示した基板1には、ソー
ダガラス上に二酸化硅素(SiO2)を被覆したものを
、第一導体層2には約2000人の厚みのITOlまた
はチタン(Ti)の2種類を形成した。その各々につい
て半導体層4は砒素とセレンの化合物で、砒素が1原子
%、5原子%、10原子%、25原子%、40原子%、
50原子%、60原子%、80原子%、85原子%の計
9種類のものをそれぞれ蒸着し、第二導体層5は厚さ約
500人のテルル被膜を形成した。また絶縁体層6には
酸化イツトリウム(YzOl)を約2500人蒸着した
。非直線二端子素子の電流−電圧特性の非直線性は著し
く大きく、またその容量も液晶層の容量と比べて充分に
小さいものであった。これらの基板を用いて液晶表示パ
ネルを製作したところ、デユーティ−比1/1000、
バイアス比1/7のマトリクス駆動時において、l0=
1以上のコントラストでの表示が確認出来た。
ダガラス上に二酸化硅素(SiO2)を被覆したものを
、第一導体層2には約2000人の厚みのITOlまた
はチタン(Ti)の2種類を形成した。その各々につい
て半導体層4は砒素とセレンの化合物で、砒素が1原子
%、5原子%、10原子%、25原子%、40原子%、
50原子%、60原子%、80原子%、85原子%の計
9種類のものをそれぞれ蒸着し、第二導体層5は厚さ約
500人のテルル被膜を形成した。また絶縁体層6には
酸化イツトリウム(YzOl)を約2500人蒸着した
。非直線二端子素子の電流−電圧特性の非直線性は著し
く大きく、またその容量も液晶層の容量と比べて充分に
小さいものであった。これらの基板を用いて液晶表示パ
ネルを製作したところ、デユーティ−比1/1000、
バイアス比1/7のマトリクス駆動時において、l0=
1以上のコントラストでの表示が確認出来た。
ところでパネルの製作工程において、配向膜の形成や、
液晶材料の注入時には基板の温度を少なくとも90℃以
上に加熱する必要があるが、半導体層4を構成する砒素
とセレンの化合物について砒素の成分比が10原子%未
溝のものは、そのガラス化温度がかなり低くなることに
より熱処理時に素子が破壊された。また砒素の成分比が
85原子%の素子では砒素の析出が見られ実用的ではな
かった。
液晶材料の注入時には基板の温度を少なくとも90℃以
上に加熱する必要があるが、半導体層4を構成する砒素
とセレンの化合物について砒素の成分比が10原子%未
溝のものは、そのガラス化温度がかなり低くなることに
より熱処理時に素子が破壊された。また砒素の成分比が
85原子%の素子では砒素の析出が見られ実用的ではな
かった。
以上のことから砒素とセレンの化合物において砒素が1
0原子%以上80原子%以下であれば、液晶表示用の非
直線二端子素子として満足し得る特性を備えていること
が確認出来た。
0原子%以上80原子%以下であれば、液晶表示用の非
直線二端子素子として満足し得る特性を備えていること
が確認出来た。
本発明の他の実施例は、第1図に示した基板1には、ソ
ーダガラス上に二酸化硅素(Sin2)を被覆したもの
を、第一導体層2には約1500人の厚みのITO,ま
たはチタン(Ti)の2種類を形成した。その各々につ
いて第二導体層5にテルル被膜を膜厚200人、300
人、500人、1000人、2000人、3000人、
4000人、5000人、8000人としたものを計9
種類それぞれ蒸着した。半導体層4は、3セレン化2砒
素(AszSe3)を約100人蒸着し、絶縁体層6は
酸化アルミニウム(Al□03)を約1500人蒸着し
た。以上のようにして得られた非直線二端子素子の電流
−電圧特性の非直線性は著しく大きく、またその容量も
液晶層の容量と比べて充分に小さいものであった。これ
らの基板を用いて液晶表示パネルを製作したところ、デ
ユーティ−比1/1000、バイアス比1/7のマトリ
クス駆動時において、10:1以上のコントラストでの
表示が確認出来た。
ーダガラス上に二酸化硅素(Sin2)を被覆したもの
を、第一導体層2には約1500人の厚みのITO,ま
たはチタン(Ti)の2種類を形成した。その各々につ
いて第二導体層5にテルル被膜を膜厚200人、300
人、500人、1000人、2000人、3000人、
4000人、5000人、8000人としたものを計9
種類それぞれ蒸着した。半導体層4は、3セレン化2砒
素(AszSe3)を約100人蒸着し、絶縁体層6は
酸化アルミニウム(Al□03)を約1500人蒸着し
た。以上のようにして得られた非直線二端子素子の電流
−電圧特性の非直線性は著しく大きく、またその容量も
液晶層の容量と比べて充分に小さいものであった。これ
らの基板を用いて液晶表示パネルを製作したところ、デ
ユーティ−比1/1000、バイアス比1/7のマトリ
クス駆動時において、10:1以上のコントラストでの
表示が確認出来た。
本発明の他の実施例は、第1図に示した基板1には、ソ
ーダガラス上に二酸化硅素(SiO2)を被覆したもの
を、第一導体層2には約2500人の厚みのITOlま
たはチタン(Ti)の2種類を形成した。その各々につ
いて第二導体層5にクロム(Cr)及びアルミニウム(
Al)被膜を膜厚500人、1000人、2000人と
したものを計6種類それぞれ蒸着し半導体層4は、3セ
レン化2砒素(AsZ Sez )約2500人、また
絶縁体層には酸化イツトリウム(YzOl)を約150
0人蒸着した。
ーダガラス上に二酸化硅素(SiO2)を被覆したもの
を、第一導体層2には約2500人の厚みのITOlま
たはチタン(Ti)の2種類を形成した。その各々につ
いて第二導体層5にクロム(Cr)及びアルミニウム(
Al)被膜を膜厚500人、1000人、2000人と
したものを計6種類それぞれ蒸着し半導体層4は、3セ
レン化2砒素(AsZ Sez )約2500人、また
絶縁体層には酸化イツトリウム(YzOl)を約150
0人蒸着した。
以上のようにして得られた非直線二端子素子の電流−電
圧特性の非直線性は著しく大きく、またその容量も液晶
層の容量と比べて充分に小さいものであった。これらの
基板を用いて液晶表示パネルを製作したところ、デユー
ティ−比1/1000、バイアス比1/7のマトリクス
駆動時において、10:1以上のコントラストでの表示
が確認出来た。
圧特性の非直線性は著しく大きく、またその容量も液晶
層の容量と比べて充分に小さいものであった。これらの
基板を用いて液晶表示パネルを製作したところ、デユー
ティ−比1/1000、バイアス比1/7のマトリクス
駆動時において、10:1以上のコントラストでの表示
が確認出来た。
本発明の他の実施例は、第1図に示した基板1には、ソ
ーダガラス上に二酸化硅素(StO□)を被覆したもの
を、第一導体層2には約1500人の厚みのクロム(C
r)、アルミニウム(At)、またはアンチモン(Sb
)を含んだ酸化錫(Sn02)を形成しポリイミド被膜
形成後、半導体層4(3セレン化2砒素(AstSe=
))を2000人蒸着し第二導体層5(テルル)を5
00人順に抵抗加熱法により蒸着した。その後に絶縁体
層として約1500人のフッ化マグネシウム(MgF2
)をEB蒸着により形成した。以上のようにして得られ
た非直線二端子素子の電流−電圧特性の非直線性は著し
く大きく、またその容量も液晶層の容量と比べて充分に
小さいものであった。これらの基板を用いて液晶表示パ
ネルを製作したところ、デユーティ−比1/1000、
バイアス比1/7のマトリクス駆動時において、10:
1以上のコントラストでの表示が確認出来た。
ーダガラス上に二酸化硅素(StO□)を被覆したもの
を、第一導体層2には約1500人の厚みのクロム(C
r)、アルミニウム(At)、またはアンチモン(Sb
)を含んだ酸化錫(Sn02)を形成しポリイミド被膜
形成後、半導体層4(3セレン化2砒素(AstSe=
))を2000人蒸着し第二導体層5(テルル)を5
00人順に抵抗加熱法により蒸着した。その後に絶縁体
層として約1500人のフッ化マグネシウム(MgF2
)をEB蒸着により形成した。以上のようにして得られ
た非直線二端子素子の電流−電圧特性の非直線性は著し
く大きく、またその容量も液晶層の容量と比べて充分に
小さいものであった。これらの基板を用いて液晶表示パ
ネルを製作したところ、デユーティ−比1/1000、
バイアス比1/7のマトリクス駆動時において、10:
1以上のコントラストでの表示が確認出来た。
本発明の他の実施例は、第1図に示した基板1には、ソ
ーダガラス上に二酸化硅素(SiO2)を被覆したもの
を、第一導体層2には約2000人の厚みのITOlま
たはチタン(Ti)の2種類を形成し、その各々につい
て半導体層4は、3セレン化2砒素(AszSi)を膜
厚300人、500人、1000人、2000人、30
00人、4000人、5000人、6000人としたも
のを計8種類それぞれ蒸着した。第二導体層5には40
0人のテルル被膜を形成した。また絶縁体層は約500
人のフッ化マグネシウム(MgF2)をEB蒸着により
形成した。以上のようにして得られた非直線二端子素子
の電流−電圧特性の非直線性は著しく大きく、またその
容量も液晶層の容量と比べて充分に小さいものであった
。
ーダガラス上に二酸化硅素(SiO2)を被覆したもの
を、第一導体層2には約2000人の厚みのITOlま
たはチタン(Ti)の2種類を形成し、その各々につい
て半導体層4は、3セレン化2砒素(AszSi)を膜
厚300人、500人、1000人、2000人、30
00人、4000人、5000人、6000人としたも
のを計8種類それぞれ蒸着した。第二導体層5には40
0人のテルル被膜を形成した。また絶縁体層は約500
人のフッ化マグネシウム(MgF2)をEB蒸着により
形成した。以上のようにして得られた非直線二端子素子
の電流−電圧特性の非直線性は著しく大きく、またその
容量も液晶層の容量と比べて充分に小さいものであった
。
これらの基板を用いて液晶表示パネルを製作したところ
、デユーティ−比1/1000、バイアス比1/7のマ
トリクス駆動時において、10:1以上のコントラスト
での表示が確認出来た。尚絶縁体層は、その膜厚が20
00Å以上になると駆動電圧が高くなってしまい、30
0Å以下になるとピンホール等が発生し易くなり均一な
被膜を形成することが困難となる。従って絶縁体層の膜
厚としては、400人〜1900人位が好適である。
、デユーティ−比1/1000、バイアス比1/7のマ
トリクス駆動時において、10:1以上のコントラスト
での表示が確認出来た。尚絶縁体層は、その膜厚が20
00Å以上になると駆動電圧が高くなってしまい、30
0Å以下になるとピンホール等が発生し易くなり均一な
被膜を形成することが困難となる。従って絶縁体層の膜
厚としては、400人〜1900人位が好適である。
本発明の実施例は半導体層及び第二導体層をバタンニン
グする方法としてメタルマスクを用いる方法で実施した
が、フォトレジストを用いたリフト・オフ法を用いても
、また表示媒体として液晶組成物以外の例えば電気泳動
表示素子(EPID)電場発光表示素子(EL)、エレ
クトロクロミック表示素子(ECD)等を用いた場合に
も同様のものが得られることはいうまでもない。
グする方法としてメタルマスクを用いる方法で実施した
が、フォトレジストを用いたリフト・オフ法を用いても
、また表示媒体として液晶組成物以外の例えば電気泳動
表示素子(EPID)電場発光表示素子(EL)、エレ
クトロクロミック表示素子(ECD)等を用いた場合に
も同様のものが得られることはいうまでもない。
発明の効果
以上のように本発明のマトリクス表示装置は、基板上に
順次間隙を有する第一導体層、樹脂層、砒素(As)と
セレン(Se)との化合物からなる半導体層、第二導体
層、さらに絶縁体層を積層するという構成を備えたこと
により、例えば実施例で示したようなフォトリソグラフ
ィー工程、リフト・オフ・プロセスを用いない簡易なプ
ロセスで剥離等の不良を生起しないより安定な特性を示
すマトリクス表示用非直線二端子アレイが得られ、作業
効率及び歩留りが大幅に向上しただけでなく、表示品位
の高いマトリクス表示装置を低コストで実現する供とが
出来た。
順次間隙を有する第一導体層、樹脂層、砒素(As)と
セレン(Se)との化合物からなる半導体層、第二導体
層、さらに絶縁体層を積層するという構成を備えたこと
により、例えば実施例で示したようなフォトリソグラフ
ィー工程、リフト・オフ・プロセスを用いない簡易なプ
ロセスで剥離等の不良を生起しないより安定な特性を示
すマトリクス表示用非直線二端子アレイが得られ、作業
効率及び歩留りが大幅に向上しただけでなく、表示品位
の高いマトリクス表示装置を低コストで実現する供とが
出来た。
第1図(a)は本発明による液晶表示用非直線二端子素
子の構成断面図、第1図(b)はその平面図、第2図(
a)及び第3図(a)は従来の非直線二端子素子の構成
断面図、第2図(bl及び第3図(blは従来の非直線
二端子素子の配置図、第4図は非直線二端子素子付き液
晶表示パネルの等価回路図、第5図は非直線二端子素子
を用いたマトリクス表示パネルの構成図である。 1・・・・・・基板、2・・・・・・第一導体層、3・
・・・・・ポリイミド層、4・・・・・・半導体層、5
・・・・・・第二導体層、6・・・・・・絶縁体層。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか1名第2図
子の構成断面図、第1図(b)はその平面図、第2図(
a)及び第3図(a)は従来の非直線二端子素子の構成
断面図、第2図(bl及び第3図(blは従来の非直線
二端子素子の配置図、第4図は非直線二端子素子付き液
晶表示パネルの等価回路図、第5図は非直線二端子素子
を用いたマトリクス表示パネルの構成図である。 1・・・・・・基板、2・・・・・・第一導体層、3・
・・・・・ポリイミド層、4・・・・・・半導体層、5
・・・・・・第二導体層、6・・・・・・絶縁体層。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか1名第2図
Claims (7)
- (1)基板上に順次間隙を有する第一導体層、前記導体
層の各々について複数個ずつ設けられた第二導体層、前
記第一導体層、第二導体層との間に介在し、電気的に縦
続接続された樹脂層と砒素(As)とセレン(Se)と
の化合物からなる半導体層の複合層を有し、前記樹脂層
が前記基板に接してなり、さらに絶縁体層を有するよう
な非直線二端子素子アレイと、帯状電極を有する第二の
基板との間に表示媒体を挟み込んだことを特徴とするマ
トリクス表示装置。 - (2)半導体層を構成する砒素とセレンの化合物につい
て、砒素の成分比が10原子%以上80原子%以下であ
ることを特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載のマ
トリクス表示装置。 - (3)第一導体層が錫(Sn)を含んだ酸化インジウム
(In_2O_3)、アンチモン(Sb)を含んだ酸化
錫(SnO_2)、クロム(Cr)、アルミニウム(A
l)、チタン(Ti)の何れかからなることを特徴とす
る特許請求の範囲第(1)項または第(2)項のいずれ
かに記載のマトリクス表示装置。 - (4)第二導体層が錫(Sn)を含んだ酸化インジウム
(In_2O_3)、テルル(Te)、アルミニウム(
Al)、クロム(Cr)、チタン(Ti)の何れかから
なることを特徴とする特許請求の範囲第(1)項または
第(2)項のいずれかに記載のマトリクス表示装置。 - (5)樹脂層をポリイミドから形成することを特徴とす
る特許請求の範囲第(1)項または第(2)項のいずれ
かに記載のマトリクス表示装置。 - (6)絶縁体層は酸化イットリウム(Y_2O_3)、
酸化アルミニウム(Al_2O_3)、及びフッ化マグ
ネシウム(MgF_2)の何れかからなることを特徴と
する特許請求の範囲第(1)項または第(2)項のいず
れかに記載のマトリクス表示装置。 - (7)表示媒体は液晶組成物、電気泳動表示素子、電場
発光表示素子、エレクトロクロミック表示素子の何れか
からなることを特徴とする特許請求の範囲第(1)項ま
たは第(2)項のいずれかに記載のマトリクス表示装置
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61266946A JPS63121077A (ja) | 1986-11-10 | 1986-11-10 | マトリクス表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61266946A JPS63121077A (ja) | 1986-11-10 | 1986-11-10 | マトリクス表示装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63121077A true JPS63121077A (ja) | 1988-05-25 |
Family
ID=17437881
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61266946A Pending JPS63121077A (ja) | 1986-11-10 | 1986-11-10 | マトリクス表示装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63121077A (ja) |
-
1986
- 1986-11-10 JP JP61266946A patent/JPS63121077A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS63121077A (ja) | マトリクス表示装置 | |
JPS63121082A (ja) | マトリクス表示装置 | |
JPS63109492A (ja) | マトリクス表示装置 | |
JPS63187280A (ja) | マトリクス表示装置 | |
JPS63121081A (ja) | マトリクス表示装置 | |
JPS63121078A (ja) | マトリクス表示装置 | |
JPS63121079A (ja) | マトリクス表示装置 | |
JPS63187281A (ja) | マトリクス表示装置 | |
JPS63110484A (ja) | マトリクス表示装置 | |
JPS63173027A (ja) | マトリクス表示装置 | |
JPS63121080A (ja) | マトリクス表示装置 | |
JPS63173021A (ja) | マトリクス表示装置 | |
JPS63186291A (ja) | マトリクス表示装置 | |
JPS62253191A (ja) | マトリクス型表示装置 | |
JPS63106786A (ja) | マトリクス型表示装置 | |
JPS6358487A (ja) | マトリクス表示装置 | |
JPS6358491A (ja) | マトリクス表示装置 | |
JPS63173026A (ja) | マトリクス表示装置 | |
JPS62260188A (ja) | マトリクス表示装置 | |
JPS62260187A (ja) | マトリクス型表示装置 | |
JPS62253189A (ja) | マトリクス型表示装置 | |
JPS62253190A (ja) | マトリクス表示装置 | |
JPS6358489A (ja) | マトリクス表示装置 | |
JPS62253188A (ja) | マトリクス表示装置 | |
JPS6358488A (ja) | マトリクス表示装置 |