JPS63119323A - Insulated gate type output buffer circuit - Google Patents

Insulated gate type output buffer circuit

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JPS63119323A
JPS63119323A JP61265032A JP26503286A JPS63119323A JP S63119323 A JPS63119323 A JP S63119323A JP 61265032 A JP61265032 A JP 61265032A JP 26503286 A JP26503286 A JP 26503286A JP S63119323 A JPS63119323 A JP S63119323A
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JP
Japan
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output
channel transistor
high level
level
output node
Prior art date
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JP61265032A
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Japanese (ja)
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Yuichi Miyazawa
宮沢 祐一
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/0008Arrangements for reducing power consumption
    • H03K19/0013Arrangements for reducing power consumption in field effect transistor circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/01Modifications for accelerating switching
    • H03K19/017Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits
    • H03K19/01707Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits in asynchronous circuits

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Abstract

PURPOSE:To reduce the charging/discharging current of the parasitic capacitance of an output signal line and to improve the response speed and to reduce the current consumption by limiting the potential in the high level of an output node to a prescribed value. CONSTITUTION:If a data signal D rises to the high level when an output enable signal OE is in the high level, a P-channel transistor TR TP is turned on because the outout of a NAND gate 2 goes to the low level, and an output node NO starts rising to the high level. When the level of the output node NO exceeds the logical threshold of an inverter 4 on the way of this rise, the output of the inverter 4 goes to the low level and the output of a NAND gate 2 goes to the high level, therefore, the P-channel TR TP is turned off. Thus, the response speed is improved and the current consumption is reduced because the output node NO is stabilized in the logical threshold level of the inverter 4 and the charging/discharging current of the parasitic capacitance of the output signal line is reduced.

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的コ (産業上の利用分野) 本発明は、半導体集積回路の出力バッファ回路に係シ、
特に0MO8(絶縁ゲート)を寺出力パッ7ア回路に関
する。
[Detailed Description of the Invention] [Object of the Invention (Industrial Application Field) The present invention relates to an output buffer circuit of a semiconductor integrated circuit.
In particular, it relates to the 0MO8 (insulated gate) output passer circuit.

(従来の技術) CMO8型O8回路における従来の出力バッファ回路は
第3図に示すように構成されている。即ち、vDD電源
ノードとv0電源ノード(接地端)との間I/cPチャ
ネルトランジスタT、bよびNチャネルトランジスタT
Nが直列に接続されておシ、この両トランジスタT、 
、 THのドレイン相互接続点(出力ノードN0)は低
抵抗R′t−介して出力ノクツド31に接続されている
。上記PチャネルトランジスタTPのr−)入力として
、データ信号りおよび出力イネーブル信号OEが入力す
るナンドr−ト32の出力が導かれている。また、前記
NチャネルトランジスタTNのゲート入力として、前記
oE信号がインバータ33によシ反転されたOF倍信号
前記データ信号りとが入力するノアゲート34の出力が
導かれてい為。
(Prior Art) A conventional output buffer circuit in a CMO8 type O8 circuit is configured as shown in FIG. That is, between the vDD power supply node and the v0 power supply node (ground terminal), I/cP channel transistors T, b and N channel transistor T
N are connected in series, and both transistors T,
, TH (output node N0) is connected to the output node 31 via a low resistance R't-. The output of a NAND 32 to which the data signal and output enable signal OE are input is led as the r-) input of the P-channel transistor TP. Further, as the gate input of the N-channel transistor TN, the output of a NOR gate 34 to which the OF multiplied signal obtained by inverting the oE signal and the data signal is input is led.

上記出力バッファ回路において、OK倍信号低レベルの
トキは、ナンドe−) 32の出力が高レベルになり、
ノアゲート34の出力が低レベルになるので、Pチャネ
ルトランジスタT、およびNチャネルトランジスタTN
は共にオフ状態になシ、出カノードN。は高インピーダ
ンス状態になる。これに対して、OE倍信号高レベルの
ときは、データ信号りによシ出力ノードN0のレベルが
決まる。即ち、データ信号りが高レベルのときは、ナン
ドゲート32の出力およびノアゲート34の出力は共に
低レベルになシ、PチャネルトランジスタT、がオン状
態、NチャネルトランジスタT0がオフ状態になり、出
力ノードN0は高レベルになる。上記とは逆に、データ
信号りが低レベルのときは、ナントゲート32の出力お
よびノアゲート34の出力は共に高レベルになシ、Pチ
ャネルトランジスタT、がオフ状態、Nチャネルトラン
ジスタTNがオン状態になシ、出力ノードN。は低レベ
ルになる。
In the above output buffer circuit, when the OK double signal is low level, the output of NAND e-) 32 becomes high level,
Since the output of the NOR gate 34 becomes low level, the P channel transistor T and the N channel transistor TN
Both are in the off state, output node N. becomes a high impedance state. On the other hand, when the OE times signal is at a high level, the level of the output node N0 is determined by the data signal. That is, when the data signal is at a high level, the output of the NAND gate 32 and the output of the NOR gate 34 are both at a low level, the P-channel transistor T is on, the N-channel transistor T0 is off, and the output node N0 becomes high level. Contrary to the above, when the data signal is at a low level, both the output of the Nant gate 32 and the output of the NOR gate 34 are at a high level, the P-channel transistor T is in the off state, and the N-channel transistor TN is in the on state. None, output node N. will be at a low level.

ところで、上記CMO8型出力パッファ回路によシ外部
のTTL ()ランジスタ・トランジスタ・ロジック)
回路t−駆動する場合、次に述べるような問題がある。
By the way, the above CMO8 type output buffer circuit has an external TTL (transistor, transistor, logic)
When the circuit is t-driven, there are problems as described below.

即ち、TTL回路の入力電圧の高レベル(V□)は2.
Ovであるが、0M08回・路の出力電圧の高レベルは
PチャネルトランジスタT、によシ5Vまで上がる。こ
のため、出力信号線の寄生容量を不必要に多く充放電す
ることてなシ、応答速度の低下、消費電流の増大を招い
ていた。
That is, the high level (V□) of the input voltage of the TTL circuit is 2.
However, the high level of the output voltage of the 0M08 circuit is increased to 5V by the P-channel transistor T. Therefore, the parasitic capacitance of the output signal line is unnecessarily charged and discharged, resulting in a decrease in response speed and an increase in current consumption.

(発明が解決しようとする問題点) 本発明は、上記したようにTTL回路を駆動するときに
出力信号線の寄生容量に不必要に多くの充放電電流が流
れるという問題点を解決すべくなされたもので、上記寄
生容量の充放電電流を削減することが可能であシ、応答
速度の向上、消費電流の低減を図シ得る絶縁ゲート型番
出力パラフッ回路を提供することを目的とする。
(Problems to be Solved by the Invention) The present invention has been made in order to solve the problem that an unnecessarily large amount of charge/discharge current flows through the parasitic capacitance of the output signal line when driving a TTL circuit as described above. It is an object of the present invention to provide an insulated gate type output parallel circuit that can reduce the charging and discharging current of the parasitic capacitance, improve response speed, and reduce current consumption.

[発明の構成コ (問題点を解決するための手段) 本発明のCMO8型古出型片出力2777回路電位側電
源ノードと低電位側電源ノードとの間に直列に接続され
、それぞれのr−)入力が別々に与えられるぞ PチャネルトランジスタおよびNチャネルトランジスタ
と、この両トランジスタのドレイン相互が接続された出
力ノードの出力電圧が所定の閾値電圧よシ高くなったこ
とを検知して前記Pチャネルトランジスタをオフ状態に
制御する回路とを具備することを特徴とする。
[Configuration of the Invention (Means for Solving the Problems)] The CMO8 type old-fashioned single output 2777 circuit of the present invention is connected in series between the potential side power supply node and the low potential side power supply node, and each r- ) Inputs are applied separately to the P-channel transistor and N-channel transistor, and when it is detected that the output voltage of the output node to which the drains of both transistors are connected to each other has become higher than a predetermined threshold voltage, the P-channel transistor The present invention is characterized by comprising a circuit that controls the transistor to be in an off state.

(作用) 出力ノードの高レベル電位が所定の閾値電圧に制限され
るようになシ、出力信号線の寄生容量の充放電電流が小
さくなシ、応答速度の向上、消費電流の低減が可能にな
る。
(Function) The high level potential of the output node is limited to a predetermined threshold voltage, the charging/discharging current of the parasitic capacitance of the output signal line is reduced, the response speed is improved, and current consumption is reduced. Become.

(実施例) 以下、図面を参照して本発明の一実施例を詳細に説明す
る。
(Example) Hereinafter, an example of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

第1図はたとえばCMO8型集積画集積回路られた0M
O8H1ieP出力パッファ回路を示しており、高電位
側のvK、D電源ノードと低電位(接地電位)側のv0
電源ノードとの間にPチャネルトランジスタT、および
NチャネルトランジスタTNが直列に接続されている。
Figure 1 shows, for example, a CMO8 type integrated circuit.
The O8H1ieP output buffer circuit is shown, with vK and D power supply nodes on the high potential side and v0 on the low potential (ground potential) side.
A P-channel transistor T and an N-channel transistor TN are connected in series between the power supply node and the power supply node.

上記両トランジスタT、 I TNのドレイン相互接続
点(出力ノードN。)は低抵抗Rを介して出力パッド1
に接続されている。上記PチャネルトランジスタT、の
r−)には3人力のナントゲート2の出力が導かれ、N
チャネルトランジスタTHのゲートには2人力のノアe
−)、?の出力が導かれている。上記ナンドf−)2は
、データ信号りと出力イネーブル信号OEとインバータ
4の出力とが入力するものであシ、前記ノアff −)
 3は、前記OE倍信号インノZ−夕5によシ反転され
九〇E信号と前記データ信号りとが入力するものである
。前記インバータ4の入力端は前記出力ノードN0に接
続されてお夛、上記インバータ4の論理閾値はTTL回
路の入力電圧の高レベル(VZH=2.0V)に余裕分
1. OV i加えた3、0V程度に設定されている。
The drain interconnection point (output node N) of both the transistors T and ITN is connected to the output pad 1 through a low resistance R.
It is connected to the. The output of the three-power Nantes gate 2 is led to the r-) of the P-channel transistor T, and N
The gate of the channel transistor TH is equipped with a two-man Noah e.
−),? The output of is derived. The above NAND f-)2 is input with the data signal, the output enable signal OE, and the output of the inverter 4, and the NAND f-)
3, the 90E signal which is inverted by the OE double signal input 5 and the data signal RI are inputted. The input terminal of the inverter 4 is connected to the output node N0, and the logic threshold of the inverter 4 is set at a margin of 1. It is set to about 3.0V plus OV i.

次に、上記出力バッファ回路の動作を説明する。Next, the operation of the output buffer circuit will be explained.

先ず、OE倍信号低レベルのときは、ナンドゲート2の
出力が高レベルになり、ノアr −) 3の出力が低レ
ベルになるので、Pチャネルトランジスタで およびN
チャネルトランジスタTやは共にオフ状態に表シ、出力
ノードN0は高インピーダンス状態になる。これに対し
て、OE倍信号高レベルのときは、データ信号りに応じ
たレベルが出力ノードN0に現われる。即ち、データ信
号りが低レペルのときは、ノアゲート3の出力が高レベ
ルになるのでNチャネルトランジスタTNがオン状態に
なシ、出力ノードN0は低レベルになる。次に、データ
信号りが高レベルに上昇すると、ナンドゲート2の出力
が低レベルになるのでPチャネルトランジスタT、がオ
ン状態になシ、出力ノードN。は高レベルに向って上昇
を始める。この上昇の過程で出力ノードN。のレベルが
インバータ4の論理閾値(本例では3.0 V )を越
えると、このインバータ4の出力が低レベルになってナ
ンドゲート、?の出力が高レベルになるので、Pチャネ
ルトランジスタT、がオフ状態になる。これによって、
出力ノードN0のレベルはインバータ4の論理閾値レベ
ルで安定するようになる。さらに、データ信号りが再び
低レベルに下降すると、PチャネルトランジスタT、が
オフ状態のままでNチャネルトランジスタT8がオン状
態になるので、出力ノードN0は低レベルに下降する。
First, when the OE times signal is low level, the output of NAND gate 2 becomes high level and the output of NAND gate 2 becomes low level, so the P-channel transistor and N
Both channel transistors T and T are turned off, and the output node N0 is placed in a high impedance state. On the other hand, when the OE times signal is at a high level, a level corresponding to the data signal appears at the output node N0. That is, when the data signal is at a low level, the output of the NOR gate 3 is at a high level, so the N-channel transistor TN is not turned on, and the output node N0 is at a low level. Next, when the data signal rises to a high level, the output of the NAND gate 2 becomes a low level, so that the P-channel transistor T is not turned on and the output node N is turned on. begins to rise towards a higher level. In the process of this rise, the output node N. When the level of ? exceeds the logic threshold of inverter 4 (3.0 V in this example), the output of this inverter 4 becomes low level and the NAND gate, ? Since the output of T becomes high level, the P-channel transistor T is turned off. by this,
The level of the output node N0 becomes stable at the logic threshold level of the inverter 4. Further, when the data signal falls to a low level again, the P-channel transistor T remains off and the N-channel transistor T8 turns on, so that the output node N0 falls to a low level.

即ち、上記出力バッファ回路は、データ信号りが接地電
位からvDD電源電位の間を上下したとき、出力ノード
N0のレベルは接地電位からインバータ4の論理閾値レ
ベルの間を上下する。したがって、上記出力バッファ回
路によシCMO8型集積回路外部のTTL回路’t−f
f1動する場合、出力信号線の寄生容、量の充放電電流
が従来例に比べて削減されるので、応答速度の向上およ
び消費電流の低減が可能になる。
That is, in the output buffer circuit, when the data signal fluctuates between the ground potential and the vDD power supply potential, the level of the output node N0 fluctuates between the ground potential and the logic threshold level of the inverter 4. Therefore, due to the above output buffer circuit, the TTL circuit 't-f' outside the CMO8 type integrated circuit is
In the case of f1 movement, the parasitic capacitance of the output signal line and the amount of charging/discharging current are reduced compared to the conventional example, so it is possible to improve response speed and reduce current consumption.

なお、本発明は上記実施例に限るものではなく、要はC
MO8型今出方今出力2277おいて、出力ノードのレ
ベルが所定の闇値電圧よシ高くなったことを検知して出
力段Pチャネルトランジスタをオフ状態に制御する回路
を設ければよい。第2図に示す0MO8FIL−II)
出力パッフ、子回路は、出力イネーブル信号OEによる
制御が行なわれない(トライステートの機能を有さない
)ものであシ、前述した第1図の出力バッファ回路に比
べてOK信号系が削除されたものである。即ち、データ
信号りがインバータ21により反転されてNチャネルト
ランジスタTNのr−)に入力し、データ信号りとイン
バータ4の出力とが入力する2人力ナンドゲート22の
出力がPチャネルトランジスタT、のf−)に入力する
ように構成されておシ、低抵抗Rおよび出カッ母ツド1
はそのままである。
It should be noted that the present invention is not limited to the above embodiments;
In the MO8 type Imadeka Ima output 2277, a circuit may be provided to detect that the level of the output node has become higher than a predetermined dark value voltage and to control the output stage P-channel transistor to the OFF state. 0MO8FIL-II shown in Figure 2)
The output puff and child circuits are not controlled by the output enable signal OE (do not have a tri-state function), and the OK signal system has been removed compared to the output buffer circuit shown in Fig. 1 described above. It is something that That is, the data signal is inverted by the inverter 21 and input to the r-) of the N-channel transistor TN, and the output of the two-man NAND gate 22 to which the data signal and the output of the inverter 4 are input is the f of the P-channel transistor T. -), low resistance R and output motherboard 1.
remains as is.

上記第2図の出力バッファ回路の動作は、前述した第1
図の出力バッファ回路においてOE倍信号高レベルのと
きの動作と同様である。
The operation of the output buffer circuit shown in FIG.
The operation is similar to the operation when the OE multiplied signal is at a high level in the output buffer circuit shown in the figure.

[発明の効果] 上述したように本発明のCMO8型$出型片出力277
7よれば、出力ノードの高レベル電位を所定値に制限す
るようにしたので、出力信号線の寄生容量の充放電電流
を小さくすることができる。
[Effects of the Invention] As described above, the CMO8 type of the present invention has a single output of 277
According to No. 7, since the high level potential of the output node is limited to a predetermined value, the charging/discharging current of the parasitic capacitance of the output signal line can be reduced.

したがって、応答速度の向上、消費電流の低減を図るこ
とができる。
Therefore, it is possible to improve response speed and reduce current consumption.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明のCMO8型拳出力パッファ回路の一実
施例を示す回路図、第2図は他の実施例を示す回路図、
第3図は従来のCMO8型珍出力パッファ回路の一実施
例を示す回路図である。 T、・・・Pチャネルトランジスタ、TN・・・Nチャ
ネルトランジスタ、No・・・出力ノード、1・・・出
力パッド、2,22・・・ナンドr−)、3・・・ノア
r−)、4.5.21・・・インバータ。
FIG. 1 is a circuit diagram showing one embodiment of the CMO8 type fist output puffer circuit of the present invention, FIG. 2 is a circuit diagram showing another embodiment,
FIG. 3 is a circuit diagram showing an embodiment of a conventional CMO8-type rare output buffer circuit. T,...P channel transistor, TN...N channel transistor, No...output node, 1...output pad, 2, 22...Nand r-), 3...Nor r-) , 4.5.21... Inverter.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 高電位側電源ノードと低電位側電源ノードとの間に直列
に接続され、それぞれのゲート入力が別々に与えられる
PチャネルトランジスタおよびNチャネルトランジスタ
と、この両トランジスタのドレイン相互が接続された出
力ノードの出力電圧が所定の閾値電圧より高くなったこ
とを検知して前記Pチャネルトランジスタをオフ状態に
制御する回路とを具備することを特徴とする絶縁ゲート
型出力バッファ回路。
A P-channel transistor and an N-channel transistor are connected in series between a high-potential side power supply node and a low-potential side power supply node, and each gate input is given separately, and an output node where the drains of both transistors are connected to each other. an insulated gate type output buffer circuit, comprising: a circuit for detecting that the output voltage of the P-channel transistor has become higher than a predetermined threshold voltage and controlling the P-channel transistor to an OFF state.
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Cited By (3)

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