JPS63119098A - センスアンプ - Google Patents
センスアンプInfo
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- JPS63119098A JPS63119098A JP62196550A JP19655087A JPS63119098A JP S63119098 A JPS63119098 A JP S63119098A JP 62196550 A JP62196550 A JP 62196550A JP 19655087 A JP19655087 A JP 19655087A JP S63119098 A JPS63119098 A JP S63119098A
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- Japan
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- transistor
- coupled
- sense amplifier
- transistors
- line
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Links
- 230000004044 response Effects 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000003491 array Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- TVEXGJYMHHTVKP-UHFFFAOYSA-N 6-oxabicyclo[3.2.1]oct-3-en-7-one Chemical compound C1C2C(=O)OC1C=CC2 TVEXGJYMHHTVKP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/06—Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
- G11C7/067—Single-ended amplifiers
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C17/00—Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards
- G11C17/14—Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards in which contents are determined by selectively establishing, breaking or modifying connecting links by permanently altering the state of coupling elements, e.g. PROM
- G11C17/18—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
Landscapes
- Read Only Memory (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は固定メモリ・セル・アレー用のセンスアンプに
関する。
関する。
従来の技術及び問題点
VLSI技術で集積回路に設ける回路部品の数が増大し
たことにより、設計技術者には回路を出来るだけ単純に
する圧力が加えられている。更に、設計の配置規則が段
々小さくなる傾向により、回路は一層高速になった。こ
の為、比較的簡単な配置を持ち、現在のVLSI技術の
速度に合う位に速いセンスアンプの設計が要求されてい
る。
たことにより、設計技術者には回路を出来るだけ単純に
する圧力が加えられている。更に、設計の配置規則が段
々小さくなる傾向により、回路は一層高速になった。こ
の為、比較的簡単な配置を持ち、現在のVLSI技術の
速度に合う位に速いセンスアンプの設計が要求されてい
る。
問題点を解 する の 及び
従って、本発明の目的は、固定メモリ・セル・アレー用
の改良されたセンスアンプを提供することである。
の改良されたセンスアンプを提供することである。
本発明では、複数個のビット線及びビット線プリチャー
ジ回路を持つ形式の固定メモリ・セル・アレー用センス
アンプが、前記アレーの夫々のビット線に結合された高
インピーダンス入力を持つ1次論理回路を有する。出力
バッファ回路の入力が1次論理回路の出力に結合される
。各々のビット線に結合された高入力インピーダンス装
置を使うことにより、センスアンプが速い応答時間を持
つことが保証される。
ジ回路を持つ形式の固定メモリ・セル・アレー用センス
アンプが、前記アレーの夫々のビット線に結合された高
インピーダンス入力を持つ1次論理回路を有する。出力
バッファ回路の入力が1次論理回路の出力に結合される
。各々のビット線に結合された高入力インピーダンス装
置を使うことにより、センスアンプが速い応答時間を持
つことが保証される。
1次論理回路は、そのゲートを対応するビット線に結合
した複数個の直列接続のPチトンネル・トランジスタを
持つダイナミック・ノア回路であることが好ましい。高
圧ノア・スイッチ手段が高圧源とPチャンネル・トラン
ジスタの高圧側の端の聞に接続され、ノア・アース・ス
イッチ手段がアースと直列接続されたトランジスタのア
ース側の端の間に結合される。高圧スイッチが、N2F
2信号の補数に応答して、1端に高圧を印加し、アース
・スイッチ手段がNOE 1信号に応答して、@端にア
ースを印加する。
した複数個の直列接続のPチトンネル・トランジスタを
持つダイナミック・ノア回路であることが好ましい。高
圧ノア・スイッチ手段が高圧源とPチャンネル・トラン
ジスタの高圧側の端の聞に接続され、ノア・アース・ス
イッチ手段がアースと直列接続されたトランジスタのア
ース側の端の間に結合される。高圧スイッチが、N2F
2信号の補数に応答して、1端に高圧を印加し、アース
・スイッチ手段がNOE 1信号に応答して、@端にア
ースを印加する。
本発明に特有と考えられる新規な特徴は、特許請求の範
囲に記載しであるが、本発明自体及びその他の特徴及び
利点は、以下図面について詳しく説明する所から最もよ
く理解されよう。
囲に記載しであるが、本発明自体及びその他の特徴及び
利点は、以下図面について詳しく説明する所から最もよ
く理解されよう。
実 施 例
第1図には、複数個のビット線106,108゜110
・・・112と交差する複数mの行WO,Wl。
・・・112と交差する複数mの行WO,Wl。
W2.W3を持つ普通のデコード及びセンス方式が示さ
れている。行及びビット線の選ばれた交点に、対応する
アレー・トランジスタioo、i。
れている。行及びビット線の選ばれた交点に、対応する
アレー・トランジスタioo、i。
2.104等があり、そのゲートが対応する打線に接続
される。アレー・トランジスタのソースがアースに結合
される。ある交点にトランジスタがあるかないかが、ア
レーのプログラミングを表ゎす。16個のプリチャージ
Pチャンネル・トランジスp116.118・・・12
2及びトランジスタ136のゲートが、NPRECHG
線に結合され、そのソースが夫々ビット6106.10
8・・・112及び線137に結合される。これらのト
ランジスタは、NPRECHGが低になる時にターンオ
ンし、高い電圧■cCを対応するビット線106゜io
8,1io−・・112及び線137に印加して、これ
らの線をチャージする。
される。アレー・トランジスタのソースがアースに結合
される。ある交点にトランジスタがあるかないかが、ア
レーのプログラミングを表ゎす。16個のプリチャージ
Pチャンネル・トランジスp116.118・・・12
2及びトランジスタ136のゲートが、NPRECHG
線に結合され、そのソースが夫々ビット6106.10
8・・・112及び線137に結合される。これらのト
ランジスタは、NPRECHGが低になる時にターンオ
ンし、高い電圧■cCを対応するビット線106゜io
8,1io−・・112及び線137に印加して、これ
らの線をチャージする。
各々のワード線WO,W1.W2.W3がデコーダ出力
(図面に示してない)に結合され、これからワード線電
圧が前述のワード線の内の選ばれた7つに印加される。
(図面に示してない)に結合され、これからワード線電
圧が前述のワード線の内の選ばれた7つに印加される。
選ばれたワード線に結合された任意のアレー・トランジ
スタが、そのワード線の選択電圧によってターンオンし
、それが結合されているビット線をアースに向かって駆
動する。
スタが、そのワード線の選択電圧によってターンオンし
、それが結合されているビット線をアースに向かって駆
動する。
そのビット線のC0LDECN (N−0,1,2・・
・15)が高になる時、対応するビット線が列トランジ
スタ124.126・・・130の内の選ばれた1つを
介して線137に結合される。線137は、Pチャンネ
ル・トランジスタ134のゲートに結合されているが、
ビット線選択トランジスタ124.126−・・130
の16個全部のドレインとPチャンネル・トランジスタ
136のソースにも結合されている。ビット線が選ばれ
た1つのトランジスタ124.126・・・130を介
して結合されると、センスアンプ150のトランジスタ
134がターンオンして、vcCを8138に結合する
まで、それが線137を低に駆動する。線138の高信
号により、インバータ140がらは、ノア回路142に
対する2人力の内の一方に低出力が出る。l1l146
の他方の入力NH4が低になって、回路142から高の
出力を発生させ、トランジスタ144をターンオンする
。プリチャージの間、トランジスタ132はm138が
アース又はその近くに保たれることを保証する。
・15)が高になる時、対応するビット線が列トランジ
スタ124.126・・・130の内の選ばれた1つを
介して線137に結合される。線137は、Pチャンネ
ル・トランジスタ134のゲートに結合されているが、
ビット線選択トランジスタ124.126−・・130
の16個全部のドレインとPチャンネル・トランジスタ
136のソースにも結合されている。ビット線が選ばれ
た1つのトランジスタ124.126・・・130を介
して結合されると、センスアンプ150のトランジスタ
134がターンオンして、vcCを8138に結合する
まで、それが線137を低に駆動する。線138の高信
号により、インバータ140がらは、ノア回路142に
対する2人力の内の一方に低出力が出る。l1l146
の他方の入力NH4が低になって、回路142から高の
出力を発生させ、トランジスタ144をターンオンする
。プリチャージの間、トランジスタ132はm138が
アース又はその近くに保たれることを保証する。
第1図の回路では、トランジスタ124.126・・・
130の全てのドレインによる線137の大ωの静電容
量がこの線に結合されている為に、1つの問題がある。
130の全てのドレインによる線137の大ωの静電容
量がこの線に結合されている為に、1つの問題がある。
この静電容量が、選択されたビット線と、トランジスタ
134,132、インバータ140、ノア・ゲート14
2及びトランジスタ144で表わされるセンスアンプ1
50との間に存在する。トランジスタ124,126・
・・130は何れも、センスアンプ150に結合された
時にそれが持込む抵抗値を最小限に抑える為に、夫々ア
レー・トランジスタ100,102.104・・・等の
寸法の約5乃至10倍でなければならない。
134,132、インバータ140、ノア・ゲート14
2及びトランジスタ144で表わされるセンスアンプ1
50との間に存在する。トランジスタ124,126・
・・130は何れも、センスアンプ150に結合された
時にそれが持込む抵抗値を最小限に抑える為に、夫々ア
レー・トランジスタ100,102.104・・・等の
寸法の約5乃至10倍でなければならない。
上に述べた抵抗値及び静電容量の組合せが、センスアン
プ150の応答を遅くする様に作用する。
プ150の応答を遅くする様に作用する。
第2図には、本発明の好ましい1実施例による、ROM
アレーと組合されるセンスアンプの回路図が示されてい
る。センスアンプはトランジスタ32.34.36,3
7.38.56で構成される。
アレーと組合されるセンスアンプの回路図が示されてい
る。センスアンプはトランジスタ32.34.36,3
7.38.56で構成される。
トランジスタ34.36,37.38の各々はPチャン
ネル装置であって、そのゲートがROMアレーの夫々の
列10,12.13.14に接続され、そのソース・ド
レイン通路が何れも直列に接続されている。Pチャンネ
ル・トランジスタ32及びNチャンネル・トランジスタ
40も、ソース・ドレイン通路がトランジスタ34.3
6,37゜38のソース・ドレイン通路と直列に接続さ
れている。トランジスタ32のソースが高圧源vCcに
結合され、トランジスタ40のソースがアース電位■s
sに接続される。トランジスタ40のドレインがNチャ
ンネル・トランジスタ56のゲートに接続される。
ネル装置であって、そのゲートがROMアレーの夫々の
列10,12.13.14に接続され、そのソース・ド
レイン通路が何れも直列に接続されている。Pチャンネ
ル・トランジスタ32及びNチャンネル・トランジスタ
40も、ソース・ドレイン通路がトランジスタ34.3
6,37゜38のソース・ドレイン通路と直列に接続さ
れている。トランジスタ32のソースが高圧源vCcに
結合され、トランジスタ40のソースがアース電位■s
sに接続される。トランジスタ40のドレインがNチャ
ンネル・トランジスタ56のゲートに接続される。
各々ノ列$1110.12,13.14と直列に対応す
るPチヤンネル・トランジスタ41,42゜44.46
が入っており、これらのトランジスタのソースがV。C
に接続されていて、信号N0OLDECO1NOOLD
EC1、N0OLDEC2、N0OLDEC3によって
駆動される。これらのトランジスタは列線10,12,
13.14をブリチャジする為に使われる。これらの死
線は、そのドレインがgQ″aする死線に接続され且つ
そのソースがアースに結合された夫々のトランジスタ2
4.26.28.30によりアースに放電する。
るPチヤンネル・トランジスタ41,42゜44.46
が入っており、これらのトランジスタのソースがV。C
に接続されていて、信号N0OLDECO1NOOLD
EC1、N0OLDEC2、N0OLDEC3によって
駆動される。これらのトランジスタは列線10,12,
13.14をブリチャジする為に使われる。これらの死
線は、そのドレインがgQ″aする死線に接続され且つ
そのソースがアースに結合された夫々のトランジスタ2
4.26.28.30によりアースに放電する。
これらのトランジスタのゲートは何れもDISROMi
i!31に結合される。
i!31に結合される。
行WO,Wl、W2.W3と列10,12,13.14
の選ばれた交点に、Nチャンネル・トランジスタ16.
17,18.20があり、そのゲートが対応するワード
線に接続され、そのドレインが対応する列線又はビット
線に接続され、そのソースがアースに接続されている。
の選ばれた交点に、Nチャンネル・トランジスタ16.
17,18.20があり、そのゲートが対応するワード
線に接続され、そのドレインが対応する列線又はビット
線に接続され、そのソースがアースに接続されている。
これらのトランジスタがROMアレーのプログラミング
を表わす。
を表わす。
破線の囲み77の中にある回路が、ブロック76.78
.80′″r−繰返されている。同様に、Nチャンネル
・トランジスタ58,60.62のゲートが、夫々ブロ
ック76.78.80から線84゜86.88に結合さ
れる。各々のトランジスタ56.58.60.62のソ
ース・ドレイン通路が直列に接続されている。トランジ
スタ56のドレインにPチャンネル・トランジスタ54
のドレインが接続され、トランジスタ54のソースがv
ccに接続される。トランジスタ62のドレインにNチ
ャンネル・トランジスタ66のドレインが接続され、ト
ランジスタ66のソースがアースに接続される。両方の
トランジスタ54.66のゲートがOE2線72に接続
される。更にトランジスタ56のドレインにノア・ゲー
ト68の一2方の入力が接続されている。ノア・ゲート
68の他方の入カフ0がN1−(4線である。ゲート6
8の出力がトランジスタ74のゲートを駆動する。トラ
ンジスタ74のソースがアースに接続され、そのドレイ
ンがプリチャージされたW(図に示してない)に接続さ
れている。ブロック90は、ブロック77゜76.78
.80に含まれていないアレーの残りの部分を表わす。
.80′″r−繰返されている。同様に、Nチャンネル
・トランジスタ58,60.62のゲートが、夫々ブロ
ック76.78.80から線84゜86.88に結合さ
れる。各々のトランジスタ56.58.60.62のソ
ース・ドレイン通路が直列に接続されている。トランジ
スタ56のドレインにPチャンネル・トランジスタ54
のドレインが接続され、トランジスタ54のソースがv
ccに接続される。トランジスタ62のドレインにNチ
ャンネル・トランジスタ66のドレインが接続され、ト
ランジスタ66のソースがアースに接続される。両方の
トランジスタ54.66のゲートがOE2線72に接続
される。更にトランジスタ56のドレインにノア・ゲー
ト68の一2方の入力が接続されている。ノア・ゲート
68の他方の入カフ0がN1−(4線である。ゲート6
8の出力がトランジスタ74のゲートを駆動する。トラ
ンジスタ74のソースがアースに接続され、そのドレイ
ンがプリチャージされたW(図に示してない)に接続さ
れている。ブロック90は、ブロック77゜76.78
.80に含まれていないアレーの残りの部分を表わす。
第1図と共に第3図の時間線図を参照して説明すると、
Q2の間、DISROM線31の信号が高になり、トラ
ンジスタ24,26,28.30をターンオンし、これ
らのトランジスタがビット線10,12.13.14を
放電させる。この放電の後、Pチャンネル・トランジス
タ34.36゜37.38が全てターンオンする。N0
E1線の信号が最初高であるから、トランジスタ40が
トランジスタ34,36,37.38のソース及びドレ
インをアースする。その後DISROMが02の終りに
低になり、トランジスタ24.26゜28.30をター
ン71”7する。N0OLDECO。
Q2の間、DISROM線31の信号が高になり、トラ
ンジスタ24,26,28.30をターンオンし、これ
らのトランジスタがビット線10,12.13.14を
放電させる。この放電の後、Pチャンネル・トランジス
タ34.36゜37.38が全てターンオンする。N0
E1線の信号が最初高であるから、トランジスタ40が
トランジスタ34,36,37.38のソース及びドレ
インをアースする。その後DISROMが02の終りに
低になり、トランジスタ24.26゜28.30をター
ン71”7する。N0OLDECO。
N0OLDECI・N0OLDEC15(7)内(7)
31ばれた1つが低になって、1つのブロック77゜7
6.78.80にある対応する1つのトランジスタ41
.42,44.46をオンに駆動し、こうしてそのビッ
ト線をvccにプリチャージする。
31ばれた1つが低になって、1つのブロック77゜7
6.78.80にある対応する1つのトランジスタ41
.42,44.46をオンに駆動し、こうしてそのビッ
ト線をvccにプリチャージする。
例えばその線が列線13であり、W3行線の信号がトラ
ンジスタ18をターンオンする場合、このトランジスタ
が列線13をvCCからアースへ放電する。この時、線
13がV。Cに駆動されることによってターンオフした
1〜ランジスタ37がターンオンする。N0E1がアー
スに下がって、Pチャンネル・トランジスタ32をター
ンオンすると共にトランジスタ40をターンオフする時
、アースにあったj〜ランジスタ34.36.37.3
8の全てのソース及びドレインが■。0になる。Vco
にあるトランジスタ38のソースがトランジスタ56を
オンに駆動する。
ンジスタ18をターンオンする場合、このトランジスタ
が列線13をvCCからアースへ放電する。この時、線
13がV。Cに駆動されることによってターンオフした
1〜ランジスタ37がターンオンする。N0E1がアー
スに下がって、Pチャンネル・トランジスタ32をター
ンオンすると共にトランジスタ40をターンオフする時
、アースにあったj〜ランジスタ34.36.37.3
8の全てのソース及びドレインが■。0になる。Vco
にあるトランジスタ38のソースがトランジスタ56を
オンに駆動する。
N0E1が低になる時に、ブロック76.78゜80に
あるどの列線も高でない時、すなわち、どれも選択され
ていない時、■ccがトランジスタ58.60.62の
ゲートに伝達され、これらの全てをターンオンする。ト
ランジスタ56.58゜60.62が全部オンであると
、−旦OE2の信号が上昇する時、トランジスタ66が
ターンオンし、トランジスタ54がターンオフし、ノア
・ゲート68の入力線55は低である。この為、一方の
入力が低であると、2番目のマシン・サイクルのQ4に
、NH4線70の信号が低になる時、ノア・ゲート68
の出力が高になり、トランジスタ74をターンオンする
。何れか1つの線82,84.86.88が低であると
、高信号レベルが入力線55に送られ、この結果、出力
が低になり、トランジスタ74がオフに保たれる。トラ
ンジスタ74のドレインがプリチャージ出力節に接続さ
れているから、これによって高の出力信号になる。
あるどの列線も高でない時、すなわち、どれも選択され
ていない時、■ccがトランジスタ58.60.62の
ゲートに伝達され、これらの全てをターンオンする。ト
ランジスタ56.58゜60.62が全部オンであると
、−旦OE2の信号が上昇する時、トランジスタ66が
ターンオンし、トランジスタ54がターンオフし、ノア
・ゲート68の入力線55は低である。この為、一方の
入力が低であると、2番目のマシン・サイクルのQ4に
、NH4線70の信号が低になる時、ノア・ゲート68
の出力が高になり、トランジスタ74をターンオンする
。何れか1つの線82,84.86.88が低であると
、高信号レベルが入力線55に送られ、この結果、出力
が低になり、トランジスタ74がオフに保たれる。トラ
ンジスタ74のドレインがプリチャージ出力節に接続さ
れているから、これによって高の出力信号になる。
従って、アレー内の特定の行及び列に対し、その接続点
にトランジスタがあれば、その時トランジスタ74がタ
ーンオンし、出力節(図に示してない)をアースに放電
する。その接続点にトランジスタがなければ、出力節は
放電しない。
にトランジスタがあれば、その時トランジスタ74がタ
ーンオンし、出力節(図に示してない)をアースに放電
する。その接続点にトランジスタがなければ、出力節は
放電しない。
本発明のセンスアンプは簡単な構成により、単純な配置
に適していると共に、高速で動作することの出来る構造
になる。トランジスタ34.36゜37.38は比較的
小さく、大体アレー・トランジスタ16.17.18.
20の寸法の約2.5倍に作ることが出来る。同様に、
トランジスタ56.58.60.62はトランジスタ3
4.36゜37.38の寸法の大体2.5倍に作ること
が出来る。こういうことが可能なのは、各々のビット線
とセンスアンプの間の各々の節に於ける相互接続の静電
容ωが比較的小さい為である。
に適していると共に、高速で動作することの出来る構造
になる。トランジスタ34.36゜37.38は比較的
小さく、大体アレー・トランジスタ16.17.18.
20の寸法の約2.5倍に作ることが出来る。同様に、
トランジスタ56.58.60.62はトランジスタ3
4.36゜37.38の寸法の大体2.5倍に作ること
が出来る。こういうことが可能なのは、各々のビット線
とセンスアンプの間の各々の節に於ける相互接続の静電
容ωが比較的小さい為である。
本発明を実施例について説明したが、この説明は本発明
を制約するものと解してはならない。以上の説明から、
当業者には本発明の実施例の種々の変更が考えられよう
。従って、特許請求の範囲は、本発明の範囲内に含まれ
る全ての変更を包括するものであることを承知されたい
。
を制約するものと解してはならない。以上の説明から、
当業者には本発明の実施例の種々の変更が考えられよう
。従って、特許請求の範囲は、本発明の範囲内に含まれ
る全ての変更を包括するものであることを承知されたい
。
以上の説明に関連して更に下記の項をn示する。
(1) 複数個のビット線及びビット線プリチャージ
回路を持つ形式の固定メモリ・セル・アレー用のセンス
アンプに於て、夫々のビット線に結合された高インピー
ダンス入力を持つ1次論理回路と、該1次論理回路の出
力に結合された出力バッフ1回路とを有するセンスアン
プ。
回路を持つ形式の固定メモリ・セル・アレー用のセンス
アンプに於て、夫々のビット線に結合された高インピー
ダンス入力を持つ1次論理回路と、該1次論理回路の出
力に結合された出力バッフ1回路とを有するセンスアン
プ。
(2) 第(1)項に記載したセンスアンプに於て、
前記1次論理回路がノア回路であるセンスアンプ。
前記1次論理回路がノア回路であるセンスアンプ。
(3) 第(2)項に記載したセンスアンプに於て、
前記1次論理回路が、そのゲートが夫々のビット線に結
合された複数個のPチャンネル電界効果トランジスタで
あるセンスアンプ。
前記1次論理回路が、そのゲートが夫々のビット線に結
合された複数個のPチャンネル電界効果トランジスタで
あるセンスアンプ。
(4) 複数個のビット線及びピッ1〜線プリチヤー
ジ回路を持つ形式の固定メモリ・セル・アレー用のセン
スアンプに於て、1組のビット線の内の夫々のビット線
に結合された高インピーダンス入力を持つダイナミック
・ノア回路と、該ダイナミック・ノア回路の出力に結合
された入力を持つインバータ回路と、該インバータ回路
の出力に結合された入力を持つ出力バッファ回路とを有
するセンスアンプ。
ジ回路を持つ形式の固定メモリ・セル・アレー用のセン
スアンプに於て、1組のビット線の内の夫々のビット線
に結合された高インピーダンス入力を持つダイナミック
・ノア回路と、該ダイナミック・ノア回路の出力に結合
された入力を持つインバータ回路と、該インバータ回路
の出力に結合された入力を持つ出力バッファ回路とを有
するセンスアンプ。
(5) 第(4)項に記載したセンスアンプに於て、
前記ダイナミック・ノア回路が、前記1組のビット線の
内の夫々のビット線に結合されたゲートを持つ複数個の
Pチャンネル・トランジスタを有するセンスアンプ。
前記ダイナミック・ノア回路が、前記1組のビット線の
内の夫々のビット線に結合されたゲートを持つ複数個の
Pチャンネル・トランジスタを有するセンスアンプ。
(6) 第(5)項に記載したセンスアンプに於て、
前記Pチャンネル・トランジスタのソース−ドレイン通
路が直列に結合されており、高圧ノア・スイッチ手段が
その高圧側の端に結合されていて、N OE 1 ft
、制御信号に応答して高圧側の端に高圧をrFlI閑し
、ツアーアース・スイッチ手段がそのアース側の端に結
合されていて、N0E1制御信号に応答してアース側の
端にアース電位をl#l閉じ、出力線が直列接続された
Pチャンネル・トランジスタのアース側の端に結合され
ているセンスアンプ。
前記Pチャンネル・トランジスタのソース−ドレイン通
路が直列に結合されており、高圧ノア・スイッチ手段が
その高圧側の端に結合されていて、N OE 1 ft
、制御信号に応答して高圧側の端に高圧をrFlI閑し
、ツアーアース・スイッチ手段がそのアース側の端に結
合されていて、N0E1制御信号に応答してアース側の
端にアース電位をl#l閉じ、出力線が直列接続された
Pチャンネル・トランジスタのアース側の端に結合され
ているセンスアンプ。
(7) 複数個のビット線及びビット線プリチャージ
回路を持つ形式の固定メモリ・セル・アレー用のセンス
アンプに於て、対応する1組のビット線の夫々のビット
線に何れも結合された高インピーダンス入力を持つ複数
個のダイナミック・ノア回路と、該ダイナミック・ノア
回路の夫々の出力に結合された入力を持つナンド回路と
、該ナンド回路の出力に結合された入力を持つ出力バッ
ファ回路とを有するセンスアンプ。
回路を持つ形式の固定メモリ・セル・アレー用のセンス
アンプに於て、対応する1組のビット線の夫々のビット
線に何れも結合された高インピーダンス入力を持つ複数
個のダイナミック・ノア回路と、該ダイナミック・ノア
回路の夫々の出力に結合された入力を持つナンド回路と
、該ナンド回路の出力に結合された入力を持つ出力バッ
ファ回路とを有するセンスアンプ。
(8) 第(7)項に記載したセンスアンプに於て、
各々のダイナミック・ノア回路が、夫々のビット線にゲ
ートが結合されたli数個のPチャンネル・トランジス
タを含むセンスアンプ。
各々のダイナミック・ノア回路が、夫々のビット線にゲ
ートが結合されたli数個のPチャンネル・トランジス
タを含むセンスアンプ。
(9) 第(8)項に記載したセンスアンプに於て、
前記Pチャンネル・トランジスタのソース・ドレイン通
路が直列に結合されており、その高圧側の端に高圧ノア
・スイッチ手段が結合されていて、N0E1t、til
l信号に応答して前記高圧側の端に高圧を開開し、その
アース側の端にノア・アース・スイッチ手段が結合され
ていて、N0E111Jill信号に応答して前記アー
ス側の端にアース電位を開開し、前記直列接続されたP
チャンネル・トランジスタのアース側の端に出力線が結
合されているセンスアンプ。
前記Pチャンネル・トランジスタのソース・ドレイン通
路が直列に結合されており、その高圧側の端に高圧ノア
・スイッチ手段が結合されていて、N0E1t、til
l信号に応答して前記高圧側の端に高圧を開開し、その
アース側の端にノア・アース・スイッチ手段が結合され
ていて、N0E111Jill信号に応答して前記アー
ス側の端にアース電位を開開し、前記直列接続されたP
チャンネル・トランジスタのアース側の端に出力線が結
合されているセンスアンプ。
(10) 第(9)項に記載したセンスアンプに於て
、前記ノア・アース・スイッチ手段がNチャンネル・ト
ランジスタであって、そのソース・ドレイン通路が前記
直列接続されたPチヤンネル・トランジスタのアース側
の端及びアースの間に結合されていると共に、そのゲー
トがN0E1信@源に結合出来る様になっているセンス
アンプ。
、前記ノア・アース・スイッチ手段がNチャンネル・ト
ランジスタであって、そのソース・ドレイン通路が前記
直列接続されたPチヤンネル・トランジスタのアース側
の端及びアースの間に結合されていると共に、そのゲー
トがN0E1信@源に結合出来る様になっているセンス
アンプ。
(11)第(9)項に記載したセンスアンプに於て、前
記ノア高圧スイッチ手段がPチャンネル壷トランジスタ
であって、そのソース・ドレイン通路が高圧源と前記直
列接続されたPチャンネル・トランジスタの高圧側の端
との間に接続されているセンスアンプ。
記ノア高圧スイッチ手段がPチャンネル壷トランジスタ
であって、そのソース・ドレイン通路が高圧源と前記直
列接続されたPチャンネル・トランジスタの高圧側の端
との間に接続されているセンスアンプ。
(12) 第(1)項に記載したセンスアンプに於て
、前記ナンド回路が複数個のNチャンネル・トランジス
タを持ち、その各々のゲートが対応するノア回路の出力
に結合されると共に、そのソース・ドレイン通路が、N
チャンネル・トランジスタ・スイッチを介してアースに
結合されたアース側の端、及びPチャンネル・トランジ
スタ・スイッチを介して高圧に結合された高圧側の端と
直列に接続されており、前記トランジスタ・スイッチの
ゲートが共にOE2信号源に結合されているセンスアン
プ。
、前記ナンド回路が複数個のNチャンネル・トランジス
タを持ち、その各々のゲートが対応するノア回路の出力
に結合されると共に、そのソース・ドレイン通路が、N
チャンネル・トランジスタ・スイッチを介してアースに
結合されたアース側の端、及びPチャンネル・トランジ
スタ・スイッチを介して高圧に結合された高圧側の端と
直列に接続されており、前記トランジスタ・スイッチの
ゲートが共にOE2信号源に結合されているセンスアン
プ。
(13)第(12)項に記載したセンスアンプに於て、
前記直列接続されたNチャンネル・トランジスタの高圧
側の端に結合された1つの入力、及びN 84制御信号
源に結合された別の入力を持っていて、前記ノア・ゲー
トを付能及び不作動にするノア・ゲートを有するセンス
アンプ。
前記直列接続されたNチャンネル・トランジスタの高圧
側の端に結合された1つの入力、及びN 84制御信号
源に結合された別の入力を持っていて、前記ノア・ゲー
トを付能及び不作動にするノア・ゲートを有するセンス
アンプ。
第1図は従来のセンスアンプの回路図、第2図はROM
アレーと共に示した本発明のセンスアンプの回路図、第
3図は第1図の回路の時間線図である。
アレーと共に示した本発明のセンスアンプの回路図、第
3図は第1図の回路の時間線図である。
Claims (1)
- 複数個のビット線及びビット線プリチャージ回路を持
つ形式の固定メモリ・セル・アレー用のセンスアンプに
於て、夫々のビット線に結合された高インピーダンス入
力を持つ1次論理回路と、該1次論理回路の出力に結合
された出力バッファ回路とを有するセンスアンプ。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US894988 | 1986-08-08 | ||
US06/894,988 US4754436A (en) | 1986-08-08 | 1986-08-08 | Sense amplifier for a read only memory cell array |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63119098A true JPS63119098A (ja) | 1988-05-23 |
Family
ID=25403789
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62196550A Pending JPS63119098A (ja) | 1986-08-08 | 1987-08-07 | センスアンプ |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4754436A (ja) |
JP (1) | JPS63119098A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0745090A (ja) * | 1993-07-26 | 1995-02-14 | Nec Corp | 半導体記憶集積回路 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5577091A (en) * | 1978-12-01 | 1980-06-10 | Nec Corp | Read-only memory circuit |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4627032A (en) * | 1983-11-25 | 1986-12-02 | At&T Bell Laboratories | Glitch lockout circuit for memory array |
-
1986
- 1986-08-08 US US06/894,988 patent/US4754436A/en not_active Expired - Lifetime
-
1987
- 1987-08-07 JP JP62196550A patent/JPS63119098A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5577091A (en) * | 1978-12-01 | 1980-06-10 | Nec Corp | Read-only memory circuit |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0745090A (ja) * | 1993-07-26 | 1995-02-14 | Nec Corp | 半導体記憶集積回路 |
US5515322A (en) * | 1993-07-26 | 1996-05-07 | Nec Corporation | Semiconductor memory device equipped with sense amplifiers selectively activated with column address decoded signals |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4754436A (en) | 1988-06-28 |
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