JPS6311886A - Ect装置の散乱線補正法 - Google Patents

Ect装置の散乱線補正法

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JPS6311886A
JPS6311886A JP61180624A JP18062486A JPS6311886A JP S6311886 A JPS6311886 A JP S6311886A JP 61180624 A JP61180624 A JP 61180624A JP 18062486 A JP18062486 A JP 18062486A JP S6311886 A JPS6311886 A JP S6311886A
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JP
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scattering
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scattered radiation
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Shoji Amano
昌治 天野
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、放射性同位体(RI)で標識された化合物
を、I、!!者に投与して、その2次元的な分布を断層
像として得るECT装置(エミッション型コンピュータ
断層撮影装置)に関し、とくにその散乱線によって誤差
を生じたデータを補正する方法に関する。
従来の技術 18者に投与された標識化合物から放出される放射線は
、患者身体内を通過して外部に出るため、身体内で吸収
されて減衰したり、散乱されて誤った情報を提供したり
することにもなる。これらを補正するための方法が種々
模索されているが、なかでも散乱線の補正法は確立され
ていす、いろいろと試みられている。
たとえば、PET(ポジトロンECT)の場合、第10
図Aに示すようにリング状検出器配列lの中に、RIを
含む部分7と含まない部分8とを有するファントム6を
配置したときの中心を通るX軸上のプロファイルデータ
をとってみると第10図Bのようになり、本来RIが存
在しない部分にも散乱線のためにX(って得られたデー
タが存在していることが分る。そこで、ファントム6外
の部分9のデータが散乱線による誤ったデータのみであ
るとして、この部分9の平均値を求め、この平均値をプ
ロファイルデータの全体から差し引き演算して散乱線の
補正をしようというのである。
発明が解決しようとする問題点 しかしながら、lL記の従来の一例として示した補1[
:v、では ?11.に一定値を一律に差し引くという
だけであるから精度が悪いという問題がある。
他の従来の種々の補正法についても、補正用データの収
集に時間や手間がかかったり、特別な装置を必要として
コストが嵩んだり、あるいは補正精度が悪いとか、補正
用データを用いて実際の被写体のデータを補正するデー
タ処理に時間がかかる等の問題がある。
この発明は、補正用データ収集に時間や手間がかからず
、そのために特別な装置を必要とすることもなく安価で
、補(E精度も高くて、補正用データを用いて実際の被
写体のデータを補正するデータ処理を上り時間で行なう
ことができる、ECT装置の散乱線補正法を提供するこ
とを目的とする。
問題点を解決するための手段 この発明によるECT9fflの散乱線補正法では、断
層像を得ようとする面内で1点を占めるようにvi源を
配置し、この線源のデータを、周囲に散乱体がある状y
g%とない状態とについて収集し、これらのデータの間
の関係から散乱線補正用フィルタ関数を求め、実際の被
写体について得られたデータに対してこのフィルタ関数
を作用させて散乱線の補正を行なうことが特徴となって
いる。
作    用 点線源のデータを、周囲に散乱体がある状態とない状I
Eとについて収集すると、散乱体がある場合は散乱線に
よってぼけた像が得られるため、プロファイルデータも
散乱線がない場合に比べてなまったものとなる。これら
両データの比をとってみると、それを散乱線によってぼ
けたデータを本来のデータに戻すためのデータとして使
えることが分る。
そこで、この両データの比をある関数で近似し、この関
数をフィルタ関数として実際の被写体のデータに作用さ
せれば、散乱線の補正をすることができる。
そして1通常、プロファイルデータを逆投影して画像を
再構成する際に、各プロファイルデータに対してフィル
タリングを行なうので、このとき同時に上記の散乱線補
正用フィルタ関数を作用させることができるため、補正
のために必要な時間が少なくて済む。
実施例 PETに適用した一実施例について説明する。
まず、第1図Aのようにリング型検出器配列lの中にラ
イン状線源2を断層面に暇直に配置する。
すると、実質的に、断層面に点状線源を置いたのと同じ
になる。そしてこの状態でデータ収集を行なう。X方向
のプロファイルデータは第1図Bのようになる。
つぎに第2図Aのようにこのライン線源2の周囲に散乱
体3を置く。この散乱体3は、人体に似冬散乱特性を有
する木やアクリルにより構成される。この状yE;でデ
ータ収集を行なうと、線源2より放出された放射線の一
部が散乱体3で散乱するためデータにぼけが加わり、同
じX方向のプロファイルデータは第2図Bのように散M
l、体3がないときのデータ(第1図B)とほとんど同
じであるがそれに比較して多少なまって広がったものと
なる。
これら第1図Bおよび第2図Bのプロファイルデータを
フーリエ変換したものも、それぞれ第3図および第4図
のようにほとんど同じになり、適\になスケーリングを
行なった後重ね合せればほとんど屯なり、低周波部分で
散乱線成分による差異が表われているに過ぎない、そこ
で、これらフーリエ変換後のデータの比をとってみると
、第5図Aのようなデータが得られる。
ところで、この第5図Aのデータは、散乱線によって誤
差を含むようになったデータを元の誤差のない状態に戻
すための補正データとして考えることができる。そこで
、第5図Aのデータをある関数で近似すれば、第5図B
のような関数が得られ、この関数は散乱線補正用フィル
タ関数として使用できる。なお、第1図Bで示した散乱
体のない場合のデータは、第2図Bで示した散乱体3の
ある場合のデータから曲線近似によって作成することも
できる。
このようにして散乱線補正用フィルタ関数が得られたら
、実際の被写体に関して収集されたプロファイルデータ
にこの関数を作用させてフィルタリングすれば、散乱線
の補正ができる0画像再構成は、通常、プロファイルデ
ータに対してフィルタリングした後プロファイルデータ
を逆投影して行なわれるので、そのフィルタリングに際
して同時に1−記の散乱線補正用フィルタ関数を作用さ
せればよく、こうすることによって補正のために必要な
データ処理に要する面間を短縮することができる。
なお、この散乱線補正用フィルタ関数は、中央の1つの
位置に点状線源を置いたときに得られるデータから求め
ているが、この散乱線補正用フィルタ関数は他の位置に
関して収集したデータから求めてもあまり変らないもの
と思われる。しかしより正確を期するならば、いくつか
の位置について求めることも望ましい。
ところで、」−記の散乱線補正方法では、断層面以外か
らの散乱線の影響が無視できない場合には精度が悪くな
る。このような場合には、断層面外からの散乱線成分を
見積って上記の補正用フィルタ関数を修正すればよい。
これには、たとえば、従来の散乱線補正方法で用いた第
1O図Aのようなファントム6を用いる。前述のように
、このファントム6は、RIを含む部分7と含まない部
分8とを有し、そのX軸上のプロファイルデータは第1
O図Bのようになるので、本来RIの存在しない部分9
のデータが散乱線成分のデータということになる。そこ
で、この部分9のデータによって断層面外からの散乱線
成分を見積り、上記の散乱線補正用フィルタ関数を修正
する。たとえば、部分9のデータ量に応じて修正するこ
とにより第5図Cのような補正用フィルタ関数を得る。
上記では、実際の被写体のデータにつき散乱線補正を行
なう場合を説明したが、吸収補正用データを収集する際
にも散乱線の影響が現われるので、吸収補正用データか
ら散乱線による誤差を除くことにも利用できる。すなわ
ち、吸収補正用データは、まず、第6図に示すようにリ
ング状線If、j 4をリング型検出器配列lの中に置
いてデータ収集し、つぎに第7図に示すようにリング状
線源4中に実際の被写体5を入れてデータ収集し、それ
らの比を求めて得る。すなわち、第6図の場合のデータ
には被写体5による吸収の影響が現われず、第7図の場
合のデータにはその吸収の影響が現われているので、そ
れらの比を求めればそれが吸収補正用データとなるから
である。ところが、この第7図の場合のデータには、リ
ング状線源4から放出された放射線が被写体5で散乱す
ることの影響がある。そこで第8図、第9図のようにラ
イン状線源2の、被写体5がない場合とある場合とのデ
ータを収集し、上記と同様に、これらのデータをフーリ
エ変換しその比から散乱線補正用フィルタ関数を作成す
る。このフィルタ関数を第7図で得たデータに作用させ
てフィルタリングすれば、散乱線の補正ができる。こう
して、散乱線の影響を除いた吸収補正用データを(IJ
ることができる。
発明の効果 この発明にがかるECT装置の散乱線補正V:によれば
、補11:、川データは1度だけ収集しておけばよく、
各被写体毎に、その都度補正用データ収集するという時
間や=L間がかかることがない、また、そのために特別
な装置を必要とすることもなく安価で、簡便に補正用デ
ータを?’)ることができる。さらに、巾に一定値を一
律にXニジ引くことに比較して補iEの精度を向上させ
ることができる。
また、補正用データを用いて実際の被写体のデータを補
正するデータ処理を短時間で行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
第1i:A乃至第5図はこの発明の一実施例を説1!1
1するためのもので、第1図Aはライン状線源の散乱体
のない状jEでのデータを収集することを示す模式図、
第1図Bは第1[i4Aで得られた1つのプロファイル
データを示すグラフ、第2図Aはライン状線源の散乱体
のある状態でのデータを収集することを示す模式図、第
2図Bは第2図Aで得られた1つのプロファイルデータ
を示すグラ乙第3図及び第4図は第1図B及び第2図B
のデータをフーリエ変換したデータを示すグラフ、第5
図Aは第3図および第4図のデータの比を示すグラフ、
第5図B、Cは補正用フィルタ関数をそれぞれ表わすグ
ラフ、第654、第7図、第8図および第9図はこの発
明を吸収補正用データの散乱線補IEに適用することを
説明するための、線源や被写体の配置をそれぞれ示す模
式図、第10図は従来の散乱線補正法を説明するための
もので、第10図Aはファントムの配置を示す模式図、
第1O図Bは第1O図Aで得られた1つのプロファイル
データを示すグラフである。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)断層像を得ようとする面内で1点を占めるように
    線源を配置し、この線源のデータを、周囲に散乱体があ
    る状態とない状態とについて収集し、これらのデータの
    間の関係から散乱線補正用フィルタ関数を求め、実際の
    被写体について得られたデータに対してこのフィルタ関
    数を作用させて散乱線の補正を行なうことを特徴とする
    ECT装置の散乱線補正法。
  2. (2)上記フィルタ関数は、上記断層像を得ようとする
    面内に線源を置いたときの、該線源が存在しない領域で
    得られるデータにより修正されることを特徴とする特許
    請求の範囲第1項記載のECT装置の散乱線補正法。
JP61180624A 1986-03-27 1986-07-31 Ect装置の散乱線補正法 Expired - Lifetime JPH06105295B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61-69418 1986-03-27
JP6941886 1986-03-27

Publications (2)

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JPS6311886A true JPS6311886A (ja) 1988-01-19
JPH06105295B2 JPH06105295B2 (ja) 1994-12-21

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JP61180624A Expired - Lifetime JPH06105295B2 (ja) 1986-03-27 1986-07-31 Ect装置の散乱線補正法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111257377A (zh) * 2020-02-17 2020-06-09 青岛理工大学 一种ect传感器标定方法

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