JPS63114972A - 光化学反応利用装置 - Google Patents
光化学反応利用装置Info
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- JPS63114972A JPS63114972A JP26028686A JP26028686A JPS63114972A JP S63114972 A JPS63114972 A JP S63114972A JP 26028686 A JP26028686 A JP 26028686A JP 26028686 A JP26028686 A JP 26028686A JP S63114972 A JPS63114972 A JP S63114972A
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- 238000006552 photochemical reaction Methods 0.000 title claims abstract description 12
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 42
- 239000002985 plastic film Substances 0.000 claims abstract description 17
- 229920006255 plastic film Polymers 0.000 claims abstract description 17
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 claims abstract description 12
- 229920006289 polycarbonate film Polymers 0.000 claims description 3
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 13
- 238000005530 etching Methods 0.000 abstract description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 4
- 239000010408 film Substances 0.000 description 24
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 22
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 2
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 229910021419 crystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- -1 light source Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 230000009257 reactivity Effects 0.000 description 1
- 238000006557 surface reaction Methods 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
C発明の属する技術分野〕
本発明は、光を利用して化学反応を誘起する装置に関す
る。
る。
この種の光化学反応装置として、従来より第2図に示す
ような装置が知られている。すなわち、この装置は内部
に半導体基板1を設置した反応チャンバ2と、レーザ光
源3、ミラー4、レンズ5より成り半導体基板1上をレ
ーザ光6で照射するための光学系と、反応チャンバ2を
排気するための真空ポンプ7と、ガスボンベ8〜lO、
マスフローメータ11より成り反応チャンバ2に反応性
ガスを供給するガス系とから構成されている。ガスボン
ベ9.10より反応チャンバ2内に導入された反応性ガ
スは反応チャンバ2の上部の光入射窓部12より照射さ
れるレーザ光6のエネルギーを吸収して分解゛し、例え
ばガスボンベ10より供給されたS i’ H4ガスと
ガスボンベ9より供給されたN2゛0ガスとよりS i
02を生成し、半導体基板1の表面上に堆積する。この
装置を使用すると、半導体基板1の温度が100〜20
0℃と極めて低くても、成長速度を低下させることなく
良質の薄膜を得ることができる。
ような装置が知られている。すなわち、この装置は内部
に半導体基板1を設置した反応チャンバ2と、レーザ光
源3、ミラー4、レンズ5より成り半導体基板1上をレ
ーザ光6で照射するための光学系と、反応チャンバ2を
排気するための真空ポンプ7と、ガスボンベ8〜lO、
マスフローメータ11より成り反応チャンバ2に反応性
ガスを供給するガス系とから構成されている。ガスボン
ベ9.10より反応チャンバ2内に導入された反応性ガ
スは反応チャンバ2の上部の光入射窓部12より照射さ
れるレーザ光6のエネルギーを吸収して分解゛し、例え
ばガスボンベ10より供給されたS i’ H4ガスと
ガスボンベ9より供給されたN2゛0ガスとよりS i
02を生成し、半導体基板1の表面上に堆積する。この
装置を使用すると、半導体基板1の温度が100〜20
0℃と極めて低くても、成長速度を低下させることなく
良質の薄膜を得ることができる。
しかし上記化学反応が表面反応でない場合、レーザ光6
の通過する領域では反応が進行し、反応生成物が堆積す
る。すなわち、反応チャンバ2の光入射窓部12におい
てチャンバ内部に反応生成物が付着し、時間の経過とと
もにレーザ光6を遮蔽するようになり、半導体基板1上
の反応を押さえてしまうことになる。したが−ってレー
ザ光入射窓部の反応生成物付着防止は、光化学反応利用
装置にとって必要不可欠な技術である。このため従来は
、反応チャンバ2内の光入射窓部12に向は曇り防止ノ
ズル13を開口させ、ガスボンベ8より窒素等の不活性
ガスを光入射窓部12にのみ局所的に吹き付け、反応性
ガスが光入射窓部12の近傍に流れ込まないようにする
方法が考えられている。しかしこのような単純な方法で
は、気体の乱流が発生し、反応性ガスを光入射窓部から
完全に除去することは困難である。したがって、長時間
のレーザ光照射後には光入射窓部に曇りが生じ始め、膜
の成長速度の経時変化を押さえることはできないという
問題点があった。
の通過する領域では反応が進行し、反応生成物が堆積す
る。すなわち、反応チャンバ2の光入射窓部12におい
てチャンバ内部に反応生成物が付着し、時間の経過とと
もにレーザ光6を遮蔽するようになり、半導体基板1上
の反応を押さえてしまうことになる。したが−ってレー
ザ光入射窓部の反応生成物付着防止は、光化学反応利用
装置にとって必要不可欠な技術である。このため従来は
、反応チャンバ2内の光入射窓部12に向は曇り防止ノ
ズル13を開口させ、ガスボンベ8より窒素等の不活性
ガスを光入射窓部12にのみ局所的に吹き付け、反応性
ガスが光入射窓部12の近傍に流れ込まないようにする
方法が考えられている。しかしこのような単純な方法で
は、気体の乱流が発生し、反応性ガスを光入射窓部から
完全に除去することは困難である。したがって、長時間
のレーザ光照射後には光入射窓部に曇りが生じ始め、膜
の成長速度の経時変化を押さえることはできないという
問題点があった。
本発明の目的は、光入射窓部の曇りを長時間にわたって
防止し、基板表面上の化学反応を安定に進行させること
が可能な光化学反応利用装置を提供することにある。
防止し、基板表面上の化学反応を安定に進行させること
が可能な光化学反応利用装置を提供することにある。
本発明は、反応チャンバの光入射窓部の内側に、入射光
を透過させ得るプラスチックフィルムを光入射窓部が被
われるように且つ一方向に移動可能なように配置し、プ
ラスチックフィルムの表面に付着した反応生成物を除去
する手段を反応チャンバの外側に設けることにより、光
入射窓部および光入射窓部に対向するフィルム表面を反
応生成物がほとんど付着しない状態に保つとともに、フ
ィルムに若干付着した反応生成物は除去することにより
フィルムを再使用し得るようにするものである。
を透過させ得るプラスチックフィルムを光入射窓部が被
われるように且つ一方向に移動可能なように配置し、プ
ラスチックフィルムの表面に付着した反応生成物を除去
する手段を反応チャンバの外側に設けることにより、光
入射窓部および光入射窓部に対向するフィルム表面を反
応生成物がほとんど付着しない状態に保つとともに、フ
ィルムに若干付着した反応生成物は除去することにより
フィルムを再使用し得るようにするものである。
次に本発明の実施例を図面について説明する。
第1図はシリコン基板上の酸化シリコン膜表面にn型多
結晶シリコン膜パターンを形成する場合について本発明
の実施例を示すものである。
結晶シリコン膜パターンを形成する場合について本発明
の実施例を示すものである。
21は反応チャンバで、下部に底板22)上部に光入射
窓部23を有し、光入射窓部23の内側にはプラスチッ
クフィルム24が配置され、このフィルム24は反応チ
ャンバ21の外側に置かれた送り出しロール25から反
応チャンバ21のスリット26を通して反応チャンバ2
1内に送り込まれ、スリット27を通して反応チャンバ
21外に導き出されるようになっている。フィルム24
はさらにエツチングチャンバ28内に送り込まれ、巻き
取りロール29に巻取られる。エツチングチャンバ28
内には、高周波電源30に接続されたプラズマ電極31
が配置されている。32はレーザ光源、33はミラー、
34はレンズで、反応チャンバ21内での光化学反応に
必要な光を照射するための光学系を形成している0反応
チャンバ21にはさらに、反応チャンバ21を排気する
ための真空ポンプ35と、反応チャンバ21にマスフロ
ーメータ36を介して反応性ガスを供給するためのガス
ボンベ37.38.39.40とが接続されている。
窓部23を有し、光入射窓部23の内側にはプラスチッ
クフィルム24が配置され、このフィルム24は反応チ
ャンバ21の外側に置かれた送り出しロール25から反
応チャンバ21のスリット26を通して反応チャンバ2
1内に送り込まれ、スリット27を通して反応チャンバ
21外に導き出されるようになっている。フィルム24
はさらにエツチングチャンバ28内に送り込まれ、巻き
取りロール29に巻取られる。エツチングチャンバ28
内には、高周波電源30に接続されたプラズマ電極31
が配置されている。32はレーザ光源、33はミラー、
34はレンズで、反応チャンバ21内での光化学反応に
必要な光を照射するための光学系を形成している0反応
チャンバ21にはさらに、反応チャンバ21を排気する
ための真空ポンプ35と、反応チャンバ21にマスフロ
ーメータ36を介して反応性ガスを供給するためのガス
ボンベ37.38.39.40とが接続されている。
次に本装置の動作を説明する。
反応チャンバ21内の底板22上に、lIJm厚さの酸
化シリコン膜を被着したシリコン基板41を置き、反応
チャンバ21内を真空ポンプ35で排気し、マスフロー
メータ36により流量制御された1500mJ/min
のSiH+ガスをボンベ37から、200mj!/mi
nのPH3ガスをボンベ38から、700 m l /
m * nのHeガスをボンベ39から導入し、反応
チャンバ21内の圧力を10To r r前後に保つ。
化シリコン膜を被着したシリコン基板41を置き、反応
チャンバ21内を真空ポンプ35で排気し、マスフロー
メータ36により流量制御された1500mJ/min
のSiH+ガスをボンベ37から、200mj!/mi
nのPH3ガスをボンベ38から、700 m l /
m * nのHeガスをボンベ39から導入し、反応
チャンバ21内の圧力を10To r r前後に保つ。
レーザ光源32よりAr +レーザ5144人の発振光
42をミラー33により変向させレンズ34に入射する
。レンズ34により絞り込まれたレーザ光は反応チャン
バ21の光入射窓部23、その真下に配置されたブスチ
ックフィルム24を通ってシリコン基板41の表面上の
焦点を結ぶ、シリコン基板41の表面上でのレーザパワ
ー密度は直径2μmの領域内でIOMW/−に達し、レ
ーザ光42又はチャンバ底板22を制御して動かすこと
により、微細なn型多結晶シリコン膜のパターンを直接
描画することができる。
42をミラー33により変向させレンズ34に入射する
。レンズ34により絞り込まれたレーザ光は反応チャン
バ21の光入射窓部23、その真下に配置されたブスチ
ックフィルム24を通ってシリコン基板41の表面上の
焦点を結ぶ、シリコン基板41の表面上でのレーザパワ
ー密度は直径2μmの領域内でIOMW/−に達し、レ
ーザ光42又はチャンバ底板22を制御して動かすこと
により、微細なn型多結晶シリコン膜のパターンを直接
描画することができる。
プラスチックフィシレム24としては例えばポリカーボ
ネートフィルムを使用することができるが、ポリカーボ
ネートフィルムは波長3000Å以上の光に対して90
%以上の透過率を示すから、反応を起させる上になんら
問題はない、また、プラスチックフィルム24は連続的
又は断続的に矢印方向に移動させることができるから、
フィルムの表面に付着した多結晶シリコン薄膜で光を遮
蔽されるごともなく、反応チャンバの光入射窓部はプラ
スチックフィルムで遮蔽されているからその内面に反応
生成物が付着することはない、多結晶シリコン薄膜が付
着したプラスチックフィルム24はエツチングチャンバ
28に導かれ、例えばCF今プラズマで表面多結晶シリ
コンi膜を連続的にエツチング除去され、巻取りロール
29に巻き取られ、再生使用することができる。
ネートフィルムを使用することができるが、ポリカーボ
ネートフィルムは波長3000Å以上の光に対して90
%以上の透過率を示すから、反応を起させる上になんら
問題はない、また、プラスチックフィルム24は連続的
又は断続的に矢印方向に移動させることができるから、
フィルムの表面に付着した多結晶シリコン薄膜で光を遮
蔽されるごともなく、反応チャンバの光入射窓部はプラ
スチックフィルムで遮蔽されているからその内面に反応
生成物が付着することはない、多結晶シリコン薄膜が付
着したプラスチックフィルム24はエツチングチャンバ
28に導かれ、例えばCF今プラズマで表面多結晶シリ
コンi膜を連続的にエツチング除去され、巻取りロール
29に巻き取られ、再生使用することができる。
本発明装置は上述のn型多結晶シリコン膜パターンの堆
積に限られることなく、例えばアルミニウム膜パターン
の堆積にも通用することができる。
積に限られることなく、例えばアルミニウム膜パターン
の堆積にも通用することができる。
すなわち、第1図の装置において、反応チャンバ21に
lomjl/minのAtt (CHI)sガスをボン
ベ40から、2500 m l / m i nのHe
ガスをボンベ39から供給し、反応チャンバ内を100
Torr前後の圧力に設定する。レーザ光源32として
、周波数逓倍されたAr+レーザ2572人光を使用し
、0.5MW/−のパワー密度で照射すると、アルミニ
ウム膜パターンを直接描画できる。この場合プラスチッ
クフィルム24として紫外光用アクリルフィルムを用い
ると、波長2572人は充分透過させることが可能であ
る。
lomjl/minのAtt (CHI)sガスをボン
ベ40から、2500 m l / m i nのHe
ガスをボンベ39から供給し、反応チャンバ内を100
Torr前後の圧力に設定する。レーザ光源32として
、周波数逓倍されたAr+レーザ2572人光を使用し
、0.5MW/−のパワー密度で照射すると、アルミニ
ウム膜パターンを直接描画できる。この場合プラスチッ
クフィルム24として紫外光用アクリルフィルムを用い
ると、波長2572人は充分透過させることが可能であ
る。
本発明は、上述の実施例にとどまらず、使用ガス、光源
、プラスチックフィルムを変えることにより、酸化シリ
コン膜などの絶縁膜から、鉄、タングステン、モリブデ
ン等の金属膜まで、種々の薄膜を生成する光化学反応利
用装置に通用することができる。
、プラスチックフィルムを変えることにより、酸化シリ
コン膜などの絶縁膜から、鉄、タングステン、モリブデ
ン等の金属膜まで、種々の薄膜を生成する光化学反応利
用装置に通用することができる。
本発明によれば、光化学反応利用装置の光入射窓部の内
側に窓部を被うようにして光透過性のフィルムを配置し
、このフィルムを連続的または断続的に一方向に移動さ
せ、光入射部分のフィルム表面に反応生成物がほとんど
付着しない状態に保つものであるから、光入射窓部の反
応による曇りを長時間にわたって防止し、基板表面上の
化学反応を安定に進行させることができ、さらにフィル
ム表面に付着した反応生成物はエツチングにより連続的
に除去できるようにしたので、装置の稼動率を著しく向
上させることが可能となる。
側に窓部を被うようにして光透過性のフィルムを配置し
、このフィルムを連続的または断続的に一方向に移動さ
せ、光入射部分のフィルム表面に反応生成物がほとんど
付着しない状態に保つものであるから、光入射窓部の反
応による曇りを長時間にわたって防止し、基板表面上の
化学反応を安定に進行させることができ、さらにフィル
ム表面に付着した反応生成物はエツチングにより連続的
に除去できるようにしたので、装置の稼動率を著しく向
上させることが可能となる。
第1図は本発明の一実施例の構成配置図、第2図は従来
装置の構成配置図である。 21・・・反応チャンバ、 23・・・光入射窓部、2
4・・・プラスチックフィルム、 25・・・送出しロ
ール、 28・・・エツチングチャンバ、 29・・・
巻取りロール、 32・・・レーザ光源、 33・・・
ミラー、 34・・・レンズ、 35・・・真空ポン
プ、 37〜41・・・ガスボンベ、 41・・・シ
リコン基板。 、rillM)代理人ノ「Jλ上冨村 溜第1図 4U J′−/ J己 ご/ ガスボ〉公 第2図 tu ’−Z a
装置の構成配置図である。 21・・・反応チャンバ、 23・・・光入射窓部、2
4・・・プラスチックフィルム、 25・・・送出しロ
ール、 28・・・エツチングチャンバ、 29・・・
巻取りロール、 32・・・レーザ光源、 33・・・
ミラー、 34・・・レンズ、 35・・・真空ポン
プ、 37〜41・・・ガスボンベ、 41・・・シ
リコン基板。 、rillM)代理人ノ「Jλ上冨村 溜第1図 4U J′−/ J己 ご/ ガスボ〉公 第2図 tu ’−Z a
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)反応チャンバの光入射窓部の内側に、入射光を透過
させ得るプラスチックフィルムを光入射窓部が被われる
ように且つ一方向に移動可能なように配置し、プラスチ
ックフィルムの表面に付着した反応生成物を除去する手
段を反応チャンバの外側に設けたことを特徴とする光化
学反応利用装置。 2)特許請求の範囲第1項記載の装置において、プラス
チックフィルムがポリカーボネートフィルムであること
を特徴とする光化学反応利用装置。 3)特許請求の範囲第1項記載の装置において、プラス
チックフィルムが紫外光用アクリルフィルムであること
を特徴とする光化学反応利用装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26028686A JPS63114972A (ja) | 1986-10-31 | 1986-10-31 | 光化学反応利用装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26028686A JPS63114972A (ja) | 1986-10-31 | 1986-10-31 | 光化学反応利用装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63114972A true JPS63114972A (ja) | 1988-05-19 |
JPH0558071B2 JPH0558071B2 (ja) | 1993-08-25 |
Family
ID=17345933
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26028686A Granted JPS63114972A (ja) | 1986-10-31 | 1986-10-31 | 光化学反応利用装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63114972A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06168897A (ja) * | 1992-11-30 | 1994-06-14 | Agency Of Ind Science & Technol | 光励起化学蒸着式薄膜形成装置 |
-
1986
- 1986-10-31 JP JP26028686A patent/JPS63114972A/ja active Granted
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06168897A (ja) * | 1992-11-30 | 1994-06-14 | Agency Of Ind Science & Technol | 光励起化学蒸着式薄膜形成装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0558071B2 (ja) | 1993-08-25 |
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