JPS6310806A - 酸化亜鉛薄膜を用いた圧電装置 - Google Patents
酸化亜鉛薄膜を用いた圧電装置Info
- Publication number
- JPS6310806A JPS6310806A JP15463886A JP15463886A JPS6310806A JP S6310806 A JPS6310806 A JP S6310806A JP 15463886 A JP15463886 A JP 15463886A JP 15463886 A JP15463886 A JP 15463886A JP S6310806 A JPS6310806 A JP S6310806A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thin film
- zinc oxide
- oxide thin
- oxide layer
- bismuth oxide
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 90
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 46
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 title claims abstract description 45
- 229910000416 bismuth oxide Inorganic materials 0.000 claims abstract description 26
- TYIXMATWDRGMPF-UHFFFAOYSA-N dibismuth;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Bi+3].[Bi+3] TYIXMATWDRGMPF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 26
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 15
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 15
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 24
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 238000007789 sealing Methods 0.000 abstract description 9
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 6
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 abstract description 6
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 abstract description 6
- 239000010408 film Substances 0.000 abstract description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 abstract 1
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 16
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 12
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 12
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 7
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N nickel Substances [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 4
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000003378 silver Chemical class 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 description 1
- 150000001721 carbon Chemical class 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 1
- 238000009751 slip forming Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は酸化亜鉛薄膜を用いた圧電装置に関し、特に
素子本体がガラス管内に封止された酸化薄膜を用いた圧
電装置に関する。
素子本体がガラス管内に封止された酸化薄膜を用いた圧
電装置に関する。
(従来技術)
従来、この種の酸化亜鉛薄膜を用いた圧電素子としては
、たとえば恒弾性金属板にNiやMnを添加した酸化亜
鉛薄膜が形成、され、さらに、この酸化亜鉛薄膜に電極
が形成された素子本体を、窒素ガスあるいはアルゴンな
ど不活性ガス雰囲気中でガラス管内に封止したものが用
いられていた。
、たとえば恒弾性金属板にNiやMnを添加した酸化亜
鉛薄膜が形成、され、さらに、この酸化亜鉛薄膜に電極
が形成された素子本体を、窒素ガスあるいはアルゴンな
ど不活性ガス雰囲気中でガラス管内に封止したものが用
いられていた。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、そのような酸化亜鉛薄膜を用いた圧電装
置では、ガラス封止の際に、電極の金属が酸化亜鉛薄膜
中に拡散したり、酸化亜鉛薄膜が電極の金属に酸素を奪
われたりして、酸化亜鉛薄膜は導電性を示すようになり
、素子としての信頼性が低下し、さらに、圧電体として
機能しなくなる場合も生じるという問題点を有していた
。そこで、発明者は素子本体を酸素ガス雰囲気または乾
燥空気中で封止する方法を特願昭61−24989号で
提案した。しかし、この方法で製造される素子でも、そ
の抵抗値は109Ω前後であり、それ以上の抵抗値の向
上は望めなかった。
置では、ガラス封止の際に、電極の金属が酸化亜鉛薄膜
中に拡散したり、酸化亜鉛薄膜が電極の金属に酸素を奪
われたりして、酸化亜鉛薄膜は導電性を示すようになり
、素子としての信頼性が低下し、さらに、圧電体として
機能しなくなる場合も生じるという問題点を有していた
。そこで、発明者は素子本体を酸素ガス雰囲気または乾
燥空気中で封止する方法を特願昭61−24989号で
提案した。しかし、この方法で製造される素子でも、そ
の抵抗値は109Ω前後であり、それ以上の抵抗値の向
上は望めなかった。
それゆえに、この発明の主たる目的は、さらに高い抵抗
値を有する、酸化亜鉛薄膜を用いた圧電装置を提供する
ことである。
値を有する、酸化亜鉛薄膜を用いた圧電装置を提供する
ことである。
(問題点を解決するための手段)
この発明は、酸素ガス雰囲気または乾燥空気中で素子本
体がガラス管内に封止された酸化亜鉛薄膜を用いた圧電
装置であって、恒弾性金属板、恒弾性金属板の一方主面
に形成される酸化亜鉛薄膜、酸化亜鉛薄膜上に形成され
る酸化ビスマス層、および酸化ビスマス層上に形成され
る電極を含む、酸化亜鉛薄膜を用いた圧電装置である。
体がガラス管内に封止された酸化亜鉛薄膜を用いた圧電
装置であって、恒弾性金属板、恒弾性金属板の一方主面
に形成される酸化亜鉛薄膜、酸化亜鉛薄膜上に形成され
る酸化ビスマス層、および酸化ビスマス層上に形成され
る電極を含む、酸化亜鉛薄膜を用いた圧電装置である。
(作用)
酸化亜鉛薄膜は、その表面を酸化ビスマス層で被覆され
ており、この酸化ビスマス層は、酸化亜鉛薄膜の保護膜
として働く。
ており、この酸化ビスマス層は、酸化亜鉛薄膜の保護膜
として働く。
(発明の効果)
この発明によれば、酸化亜鉛薄膜は酸化ビスマス層によ
って保護されるため、電極の金属が酸化亜鉛薄膜中に拡
散したり、酸化亜鉛薄膜が電極の金属に酸素を奪われた
りしないので従来よりもその抵抗値は高くなる。
って保護されるため、電極の金属が酸化亜鉛薄膜中に拡
散したり、酸化亜鉛薄膜が電極の金属に酸素を奪われた
りしないので従来よりもその抵抗値は高くなる。
この発明の上述の目的、その他の目的、特徴および利点
は、図面を参照して行う以下の実施例の詳細な説明から
一層明らかとなろう。
は、図面を参照して行う以下の実施例の詳細な説明から
一層明らかとなろう。
(実施例)
第1A図および第1B図はこの発明の一実施例の素子本
体を示し、第1A図はその平面図であり、第1B図はそ
の断面図である。
体を示し、第1A図はその平面図であり、第1B図はそ
の断面図である。
この素子本体10は、たとえばエリンバなどの恒弾性金
属板で形成された長方形の振動板12を含む。この振動
板12は対向する2組の辺の中央部で振動板12より幅
の狭い接続部14aおよび14bによって、リング状の
支持台16に接続されている。したがって、振動板12
は、リング状の支持台16内に振動可能に支持される。
属板で形成された長方形の振動板12を含む。この振動
板12は対向する2組の辺の中央部で振動板12より幅
の狭い接続部14aおよび14bによって、リング状の
支持台16に接続されている。したがって、振動板12
は、リング状の支持台16内に振動可能に支持される。
なお、振動板12.接続部14a、14bおよび支持台
16は、たとえば1枚の恒弾性金属板の打ち抜きあるい
はエツチング処理によって一体的に形成される。
16は、たとえば1枚の恒弾性金属板の打ち抜きあるい
はエツチング処理によって一体的に形成される。
振動板12の一方主面には、長方形の形状に酸化亜鉛薄
膜18が形成されている。この酸化亜鉛薄膜18の表面
には、連続的に酸化ビスマス層20が形成されている。
膜18が形成されている。この酸化亜鉛薄膜18の表面
には、連続的に酸化ビスマス層20が形成されている。
したがって、酸化亜鉛薄膜18は酸化ビスマス層20に
よって被覆され、封止の際の高温や高濃度酸素によって
、後述する電極の金属が酸化亜鉛薄膜18中に拡散した
り、酸化亜鉛薄膜18が電極の金属に酸素を奪われたり
することを防がれる。
よって被覆され、封止の際の高温や高濃度酸素によって
、後述する電極の金属が酸化亜鉛薄膜18中に拡散した
り、酸化亜鉛薄膜18が電極の金属に酸素を奪われたり
することを防がれる。
また、酸化ビスマス層20の表面には、蒸着によって銀
電極22が連続的に支持台16上に円弧状に延びて形成
されている。この銀電極22のうち、振動板12上に形
成された部分は、酸化亜鉛薄膜18を振動させるための
電極として働き、支持台16上に形成された部分は、後
述するスペーサを介して外部電極となるジュメット線に
接続され、引き出し電極として働く。なお、この実施例
では銀電極22を用いたが、これは金、白金あるいはニ
ッケルなどで電極を形成してもよい。
電極22が連続的に支持台16上に円弧状に延びて形成
されている。この銀電極22のうち、振動板12上に形
成された部分は、酸化亜鉛薄膜18を振動させるための
電極として働き、支持台16上に形成された部分は、後
述するスペーサを介して外部電極となるジュメット線に
接続され、引き出し電極として働く。なお、この実施例
では銀電極22を用いたが、これは金、白金あるいはニ
ッケルなどで電極を形成してもよい。
酸化ビスマスJW20は絶縁層であるが、その層厚が薄
いので、酸化亜鉛薄膜18と銀電極22とは容量性結合
をし、このため銀電極22から酸化亜鉛薄膜18に電圧
を印加することができる。
いので、酸化亜鉛薄膜18と銀電極22とは容量性結合
をし、このため銀電極22から酸化亜鉛薄膜18に電圧
を印加することができる。
このような素子本体10は、第2図および第3図で示す
ように、その両生面に素子本体10と同じ直径で、振動
板12の振動を許容する空間を形成するために断面矩形
の収納部24aおよび26aを有し、たとえばニッケル
などで形成された円板状のスペーサ24および26の一
方主面が重ねられる。この際、収納部24aおよび26
aは対向して重ねられるため、振動板12は収納部24
aおよび26a内に収納される。このうち、スペーサ2
4の収納部24aの周囲は、凹凸が形成され、スペーサ
24と支持台16との間の対向面積を小さくして、その
間の静電容量が小さくなるように形成されている。
ように、その両生面に素子本体10と同じ直径で、振動
板12の振動を許容する空間を形成するために断面矩形
の収納部24aおよび26aを有し、たとえばニッケル
などで形成された円板状のスペーサ24および26の一
方主面が重ねられる。この際、収納部24aおよび26
aは対向して重ねられるため、振動板12は収納部24
aおよび26a内に収納される。このうち、スペーサ2
4の収納部24aの周囲は、凹凸が形成され、スペーサ
24と支持台16との間の対向面積を小さくして、その
間の静電容量が小さくなるように形成されている。
スペーサ24および26の他方主面には、それぞれ円柱
状の頭部28aおよび30aが形成されたシュメツ)4
5i28および30が、それぞれ接続される。
状の頭部28aおよび30aが形成されたシュメツ)4
5i28および30が、それぞれ接続される。
このように、頭部28a、スペーサ24.素子本体10
.スペーサ26および頭部30aがこの順に重ねられた
積層体は、円筒状のガラス管32内に収納され、ガラス
管32の両開口端を酸素ガス雰囲気または乾燥空気中で
封止されて、酸化亜鉛薄膜を用いた圧電装置34が構成
されている。
.スペーサ26および頭部30aがこの順に重ねられた
積層体は、円筒状のガラス管32内に収納され、ガラス
管32の両開口端を酸素ガス雰囲気または乾燥空気中で
封止されて、酸化亜鉛薄膜を用いた圧電装置34が構成
されている。
次に、この酸化亜鉛薄膜を用いた圧電装置34の製造方
法を詳しく説明する。
法を詳しく説明する。
まず、円板状の恒弾性金属板を打ち抜くかあるいはエツ
チング処理で、振動板12.接続部14a、14bおよ
び支持台16を一体的に形成する。
チング処理で、振動板12.接続部14a、14bおよ
び支持台16を一体的に形成する。
こうして形成した振動板12の一方主面に、たとえばス
パッタ法によって、結晶をC軸が振動板12に対して垂
直に配向にした酸化亜鉛薄膜18を形成する。
パッタ法によって、結晶をC軸が振動板12に対して垂
直に配向にした酸化亜鉛薄膜18を形成する。
また、酸化亜鉛薄膜18の表面に、たとえばスパッタ法
によって酸化ビスマス層20を形成する。
によって酸化ビスマス層20を形成する。
たとえば、この実施例では、酸化ビスマスを直径4嘗l
、厚さ5flにホットプレスしてターゲットとし、スパ
ッタ電力150W、 スパッタ圧力1×10 ””T
orrの条件で、スパッタガスとしてAr:02==5
o:5oの混合ガスを用い、R’F・マグネトロンスパ
ッタ方式で酸化ビスマスヲ厚さ2000人にし、これを
大気中で600’C,40分間熱処理して酸化ビスマス
層20を形成した。また、酸化ビスマス層20は、P
b O,Bz Oz 、 S iO□および酸化ビス
マスからなるガラスのフリットを溶融してターゲットと
し、スパッタを行ったもので形成してもよい。
、厚さ5flにホットプレスしてターゲットとし、スパ
ッタ電力150W、 スパッタ圧力1×10 ””T
orrの条件で、スパッタガスとしてAr:02==5
o:5oの混合ガスを用い、R’F・マグネトロンスパ
ッタ方式で酸化ビスマスヲ厚さ2000人にし、これを
大気中で600’C,40分間熱処理して酸化ビスマス
層20を形成した。また、酸化ビスマス層20は、P
b O,Bz Oz 、 S iO□および酸化ビス
マスからなるガラスのフリットを溶融してターゲットと
し、スパッタを行ったもので形成してもよい。
さらに、酸化ビスマス層20の表面には、たとえばスパ
ッタ法で銀層を形成して銀電極22を形成する。なお、
この実施例では、銀層の厚さを4000人とした。ただ
し、この銀電極22は酸化ビスマス層20の全面に形成
するほうが好ましい。
ッタ法で銀層を形成して銀電極22を形成する。なお、
この実施例では、銀層の厚さを4000人とした。ただ
し、この銀電極22は酸化ビスマス層20の全面に形成
するほうが好ましい。
これは、もし、銀電極22を酸化ビスマス層20の全面
に形成しないと、酸化亜鉛薄膜18に電圧を印加できる
面積が小さくなり、圧電体としての特性が悪くなるため
である。
に形成しないと、酸化亜鉛薄膜18に電圧を印加できる
面積が小さくなり、圧電体としての特性が悪くなるため
である。
こうして形成された素子本体10にスペーサ24および
26を、振動板12がこれらの収納部24aおよび26
aで形成される空間に収納されるように重ねる。さらに
、スペーサ24にはジュメット線28の頭部28aを、
また、スペーサ26にはジュメット線30の頭部30a
をそれぞれ重ねる。
26を、振動板12がこれらの収納部24aおよび26
aで形成される空間に収納されるように重ねる。さらに
、スペーサ24にはジュメット線28の頭部28aを、
また、スペーサ26にはジュメット線30の頭部30a
をそれぞれ重ねる。
こうして、積層物を、第2図に示したように、ガラス管
32内に収納する。
32内に収納する。
次に、このガラス管32内に収納されたジュメット線2
8.30の頭部28a、30aに、ガラス管32の両開
口端を溶着するために、第3図に示したように、カーボ
ン治具38に形成された孔38aに収納する。このカー
ボン治具38には、具体的に図示はしないが、孔38a
と同様の孔がマトリックス状に多数形成され、一度に多
数のガラス封1止が行えるようになっている。
8.30の頭部28a、30aに、ガラス管32の両開
口端を溶着するために、第3図に示したように、カーボ
ン治具38に形成された孔38aに収納する。このカー
ボン治具38には、具体的に図示はしないが、孔38a
と同様の孔がマトリックス状に多数形成され、一度に多
数のガラス封1止が行えるようになっている。
そして、第4図に示したようなダイアグラムに従って、
加熱と酸素ガスの導入を行い、ガラス管32を封止する
。
加熱と酸素ガスの導入を行い、ガラス管32を封止する
。
これは、まず、ロータリポンプ(図示せず)により、前
述の封止層を0.0ITorr以下に排気する。
述の封止層を0.0ITorr以下に排気する。
そして、この状態でカーボン治具38に電流を流してこ
れを発熱させ、ガラス管32の加熱を開始する。ガラス
管32の加熱開始と同時に、前述の封止槽内に酸素ガス
を導入する。酸素ガスの導入量は5fl分程度である。
れを発熱させ、ガラス管32の加熱を開始する。ガラス
管32の加熱開始と同時に、前述の封止槽内に酸素ガス
を導入する。酸素ガスの導入量は5fl分程度である。
また、ガラス管32は6分間に約600℃まで加熱し、
この温度で1分間保持する。
この温度で1分間保持する。
ここで、ガラス管32が溶解してジュメット線28およ
び30の頭部28aおよび30aに溶着し始めるので、
酸素ガスの圧力を20Torr程度に急激に上昇させ、
この状態を約30秒間保持した後、酸素ガス51/分の
流量に保ち、温度が室温になるまで放置する。これによ
り、ガラス管32の内部に酸素ガスが封入された状態で
、ガラス管32内に素子本体lOが封止される。
び30の頭部28aおよび30aに溶着し始めるので、
酸素ガスの圧力を20Torr程度に急激に上昇させ、
この状態を約30秒間保持した後、酸素ガス51/分の
流量に保ち、温度が室温になるまで放置する。これによ
り、ガラス管32の内部に酸素ガスが封入された状態で
、ガラス管32内に素子本体lOが封止される。
なお、この封止の過程では、常に、ジュメット線28.
30の頭部28a、30aは逆方向に向けられ、これら
頭部28a、30aの先端面がスペーサ24および26
に圧接した状態で封止がなされる。
30の頭部28a、30aは逆方向に向けられ、これら
頭部28a、30aの先端面がスペーサ24および26
に圧接した状態で封止がなされる。
こうして製造された10個の実施例について、抵抗値を
測定したところ、第5図に示すように、10個の実施例
のそれぞれの抵抗値はばらつきが少なく、その平均値は
、特願昭61−24989号で提案したものの抵抗値の
平均値109Ωより1ケタ高い約1010Ωであった。
測定したところ、第5図に示すように、10個の実施例
のそれぞれの抵抗値はばらつきが少なく、その平均値は
、特願昭61−24989号で提案したものの抵抗値の
平均値109Ωより1ケタ高い約1010Ωであった。
また、酸素ガスに代えて乾燥空気を用いても同様に封止
が可能であった。
が可能であった。
なお、上述の実施例では、ジュメ71・線28および3
0の頭部28aおよび30aにスペーサ24および26
に向かって互いに向き合う方向に50グラム以上の荷重
を加えながら、素子本体10をガラス管内に封止した。
0の頭部28aおよび30aにスペーサ24および26
に向かって互いに向き合う方向に50グラム以上の荷重
を加えながら、素子本体10をガラス管内に封止した。
このようにすれば、ジュメット線28および30の頭部
28aおよび30aの端面がスペーサ24および26に
圧着し、この圧着面の酸化が防止される。したがって、
ジュメット線28および30とスペーサ24および2”
6との導通は完全に確保される。同様に、スペーサ26
と素子本体10の支持台16との導通、スペーサ24と
銀電極22との導通も確保される。
28aおよび30aの端面がスペーサ24および26に
圧着し、この圧着面の酸化が防止される。したがって、
ジュメット線28および30とスペーサ24および2”
6との導通は完全に確保される。同様に、スペーサ26
と素子本体10の支持台16との導通、スペーサ24と
銀電極22との導通も確保される。
【図面の簡単な説明】
第1A図および第1B図はこの発明の一実施例の素子本
体を示し、第1A図はその平面図であり、第1B図は第
1A図のA−A断面の断面図である。 第2図はこの実施例の組み立て斜視図である。 第3図はこの実施例を封止する状態を示す断面図である
。 第4図はこの実施例の素子本体のガラス封止における加
熱と酸素ガス供給のダイアグラムを示すグラフである。 第5図はこの実施例および従来の素子における抵抗値の
平均値およびばらつきを示すグラフである。 図において、10は素子本体、12は振動板、18は酸
化亜鉛薄膜、20は酸化ビスマス層、22は銀電極、3
2はガラス管、34は酸化亜鉛薄膜を用いた圧電装置を
示す。 第1A図 四 218図 榎
体を示し、第1A図はその平面図であり、第1B図は第
1A図のA−A断面の断面図である。 第2図はこの実施例の組み立て斜視図である。 第3図はこの実施例を封止する状態を示す断面図である
。 第4図はこの実施例の素子本体のガラス封止における加
熱と酸素ガス供給のダイアグラムを示すグラフである。 第5図はこの実施例および従来の素子における抵抗値の
平均値およびばらつきを示すグラフである。 図において、10は素子本体、12は振動板、18は酸
化亜鉛薄膜、20は酸化ビスマス層、22は銀電極、3
2はガラス管、34は酸化亜鉛薄膜を用いた圧電装置を
示す。 第1A図 四 218図 榎
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 酸素ガス雰囲気または乾燥空気中で素子本体がガラ
ス管内に封止された酸化亜鉛薄膜を用いた圧電装置であ
って、 恒弾性金属板、 前記恒弾性金属板の一方主面に形成される酸化亜鉛薄膜
、 前記酸化亜鉛薄膜上に形成される酸化ビスマス層、およ
び 前記酸化ビスマス層上に形成される電極を含む、酸化亜
鉛薄膜を用いた圧電装置。 2 前記酸化ビスマス層は酸化ビスマスを含むガラス層
で形成される、特許請求の範囲第1項記載の酸化亜鉛薄
膜を用いた圧電装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15463886A JPS6310806A (ja) | 1986-07-01 | 1986-07-01 | 酸化亜鉛薄膜を用いた圧電装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15463886A JPS6310806A (ja) | 1986-07-01 | 1986-07-01 | 酸化亜鉛薄膜を用いた圧電装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6310806A true JPS6310806A (ja) | 1988-01-18 |
Family
ID=15588583
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15463886A Pending JPS6310806A (ja) | 1986-07-01 | 1986-07-01 | 酸化亜鉛薄膜を用いた圧電装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6310806A (ja) |
-
1986
- 1986-07-01 JP JP15463886A patent/JPS6310806A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR970705012A (ko) | 온도센서 소자와 그것을 가지는 온도센서 및 온도센서 소자의 제조방법 | |
JPH04333295A (ja) | 電歪効果素子およびその製造方法 | |
KR100349780B1 (ko) | 칩 서미스터 | |
JPS6310806A (ja) | 酸化亜鉛薄膜を用いた圧電装置 | |
US5450273A (en) | Encapsulated spark gap and method of manufacturing | |
JPS6310805A (ja) | 酸化亜鉛薄膜を用いた圧電装置 | |
JPS62183147A (ja) | 電子部品の封止方法 | |
JPH061667B2 (ja) | 螢光表示管 | |
JP2910007B2 (ja) | サージアブソーバ | |
JP3134905B2 (ja) | サージアブソーバ | |
JP2910006B2 (ja) | サージアブソーバ | |
JPH02263402A (ja) | ガラス封入サーミスタ | |
JPH06267424A (ja) | プラズマディスプレイパネルの製造方法 | |
JPS63246802A (ja) | サ−ミスタ | |
US6307150B1 (en) | Vacuum seal for FEA's | |
JP2639033B2 (ja) | ガラス封入形サーミスタの製造方法 | |
JPH10247578A (ja) | 放電型サージ吸収素子の製造方法 | |
JPH1021860A (ja) | フィールド・エミッション・ディスプレイ | |
JP2640070B2 (ja) | サージ吸収素子及びその製造方法 | |
JPH09162451A (ja) | 圧電積層体 | |
JPH05242951A (ja) | 封止電極及びこれを用いたサージアブソーバ | |
JPH01235307A (ja) | ガラス封入サーミスタの製造法 | |
JPH07335368A (ja) | サージ吸収素子及びその製造方法 | |
JPH07154187A (ja) | 圧電振動子の電極構造および電極形成方法 | |
JPH04359829A (ja) | 電子管用陰極およびそのヒータ |