JPS63106003A - 微調サ−ボル−プのル−プゲイン補正方法及びその装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 脂血光１ 本発明は、フォーカスサーボ装置、トラッキングサーボ
装置箋の微調サーボ装置におけるサーボループのループ
ゲイン補正方法及びその装置に関するものである。

１且且ｌ ビデオディスクやディジタルオーディオディスク写の情
報記録ディスク（以下、単にディスクと称する）の再生
をなす例えば光学式再生装置には、情報検出点をディス
クの記録トラックに正確に追従させるためのトラッキン
グサーボ装置や、ディスクの記録面上に常に正確にレー
ザビームを該情報検出点として収束させるためのフォー
カスサーボ装置Ｓのナーボｖ装置が不可欠である。これ
らす−ボ装置は、対物レンズ単体或はこれを含むピック
アップ等の被！ｌ１ｌｔ２Ｉｌ可動物体の目標に対する
相対的偏位を微調可能な鞘囲内に収めるように該可動物
体を大きく変化せしめる粗調をなすスライダーサーボ装
置害の粗調サーボ装置に対して、微調サーボ装置として
分類される。

ところで、この微調サーボ装置では、レーザダイオード
等の光源のパワー、ディスクの反射率及びフォーカスエ
ラー信号の検出系のばらつき等に起因して、各サーボ系
のループゲインに変動が生じることがある。ループゲイ
ンの変動はフォーカスエラーやトラッキングエラー等に
対する追従性の低下或いは発振を起こすことになる。従
って、各サーボ系のループゲインに変動が生じると、安
定なサーボ動作が（りられないことになる。

１ユ立１１ 本発明は、上述した点に鑑みなされたもので、ループゲ
インを最適な値に維持することにより、常に安定したサ
ーボ動作を可能とする微調サーボループのループゲイン
補正方法及びその装置を提供することを目的とする。

本発明による微調サーボループのループゲイン補正方法
及びその装置は、エラーアンプとしてゲイン可変アンプ
を用い、サーボループの開状態において得られる所定エ
ラー信号のｐ−ｐ値を検出し、この検出ｐ−ｐ値に基づ
いてゲイン定数を設定し、このゲイン定数に応じてゲイ
ン可変アンプのゲインを制御することを特徴としている
。

支−凰−１ 以下、本発明の実施例を図に基づいて詳細に説明する。

第１図は、フォーカスサーボ装置に適用された本発明の
一実施例を示すブロック図である。図において、１はピ
ックアップ（図示せず）から発せられかつディスクの記
録面で例えば反射された光ビームに基づいてフォーカス
エラー信号を生成する回路であり、このフォーカスエラ
ー信号の生成には、円筒レンズを用いて光ビームに非点
収差を与え、その光ビームを４分割ディテクタで受光し
、この４分割ディテクタの４つの出力に基づいてエラー
信号を得るいわゆる非点収差法が用いられる。

この非点収差法による・エラー信号の生成方法は周知で
あるので、その具体的な構成及び作用についてはここで
は詳述しない。

フォーカスエラー信号生成回路１で生成されたフォーカ
スエラー信号は、ゲインが可変なエラーアンプ２に供給
されると共に、スイッチ３を介して正、負のピークホー
ルド回路４，５にも供給される。エラーアンプ２で増幅
されたフォーカスエラー信号はイコライザ回路６を経て
ループスイッチ７の一人力となる。ループスイッチ７を
経たフォーカスエラー信号はドライブアンプ８を介して
フォーカスアクチュエータ（図示せず）に供給される。

このフォーカスアクチュエータは、先述したピックアッ
プに内蔵された対物レンズ（図示せず）をその光軸方向
に移動せしめるためのものである。

以上によりフォーカスサーボループが形成され、ループ
スイッチ７がイコライザ回路６の出力を選択していると
きがループクローズ（閉）状態であり、フォーカスエラ
ー信号生成回路１で生成されたフォーカスエラー信号に
基づいてフォーカスアクチュエータを駆動することによ
り、ディスクの記録面上に常に正確に情報読取用光ビー
ムを収束せしめることができるのである。

一方、ランプ（ｒａｍｐ）信号発生回路９で発生される
ランプ信号（傾斜状信号）がループスイッチ７の他人力
となっており、サーボループのオーブン（開）状態では
、このランプ信号が外部からのフォーカススタート指令
に応答して発生され、ドライブアンプ８を介してフォー
カスアクチュエータに供給される。ループスイッチ７の
切換えはスイッチ制御回路１０により行なわれる。この
ランプ信号はフォーカススタート指令に応答′して発生
され、ループオーブン状態で、対物レンズをディスク記
録面から十分に離間した位置から徐々に近づけるべくフ
ォーカスアクチュエータを駆動する。このとき、エラー
アンプ２の出力端に導出されるフォーカスエラー信号は
、対物レンズのディスク記録面からの位置に対して第２
図に示す如きいわゆる８字カーブ特性を示す。

先述したスイッチ３は例えばループスイッチ７に３！ｌ
動じ、ループオーブン時に閉状態となってフォーカスエ
ラー信号を正、負のピークホールド回路４，５に供給す
る。正、負のピークホールド回路４，５は、ランプ信号
発生回路９から発生されるランプ信号による対物レンズ
の駆動時に得られる８字カーブ特性のフォーカスエラー
信号（第２図参照）の正、負のピーク値（波高値）をホ
ールドする。これらホールド値はｐ−ｐ値検出回路１１
に供給され、当該回路１１でｐ−ｐ値（正負の波高値の
差）が検出される。検出されたｐ−ｐ値（以下、検出ｐ
−ｐ値と称する）は比較器１２に供給される。比較器１
２はこの検出ｐ−ｐ値を基準ｐ−ｐｍ設定回路１３ｒ設
定された基準ｐ−ｐ値と比較し、基準ｐ−ｐ値に対する
レベル差に応じた比較出力を発生する。この比較出力は
ゲイン定数設定回路１４に供給される。ゲイン定数設定
回路１４はゲイン定数テーブルを有しており、比較器１
２からの比較出力に対応したゲイン定数を選択してそれ
に応じた出力をゲイン制御回路１５に供給する。ゲイン
制御回路１５はゲイン定数設定回路１４の出力に応じて
エラーアンプ２のゲインを制御する。

次に、かかる構成の回路動作について説明する。

初期状態では、ループスイッチ７はランプ信号発生回路
９の出力を選択する状！Ｉ！（ループオーブン状態）に
あるものとし、この状態ぐフォーカススタート指令を発
すると、これに応答してランプ信号発生回路９がランプ
信号の発生を開始する。

これにより、対物レンズがディスク記録面から十分に離
間した位置から該記録面に近づく方向に徐々に移動する
。このとき、フォーカスエラー信号の信号レベルは第２
図に示す如く合焦位置の前後で正及び負のピーク値を示
す。このフォーカスエラー信号のピーク値は、レーザダ
イオード等の光源のパワー、ディスクの反射率及びフォ
ーカスエラー信号の検出系のばらつき等に起因するルー
プゲインの変動に応じて変化することになる。

このフォーカスエラー信号の正及び負のピーク値はそれ
ぞれ、ピークホールド回路４．５でホールドされ、さら
に次段のｐ−ｐ値検出回路１１が両ピーク値の差、即ち
ｐ−ｐ値が検出される。この検出０−ｐ値は基準ｐ−ｐ
値設定回路１３で基準となるループゲインに対応して予
め設定された基準ｐ−ｐｉとのレベル差が比較器１２で
検出される。このレベル差はループゲインの変動分に対
応したものとなる。ゲイン定数設定回路１４では比較器
１２の比較出力に対応したゲイン定数がゲイン定数テー
ブルから選択される。そして、このゲイン定数に基づい
てゲイン制御回路１５によりエラーアンプ２のゲインの
制御が行なわれる。これにより、検出ｐ−ｐ値が基準ｐ
−ｐ値と一致し、ループゲインが最適値に設定されたこ
とになる。

このように、８字カーブ特性のフォーカスエラー信号の
ｐ−ｐ値を検出し、この検出ｐ−ｐ値が基準ｐ−ρ値と
なるようにエラーアンプ２のゲインを制御することによ
り′、レーザダイオード等の光源のパワー、ディスクの
反射率及びフォーカスエラー信号の検出系のばらつき等
に拘らずループゲインを最適値に維持できるので、常に
安定したフォーカスサーボ動作が得られることになる。

なお、上記実施例では、エラーアンプ２で増幅する前の
フォーカスエラー信号のｐ−ｐ値を検出するようにした
が、増幅後のフォーカスエラー信号のｐ−ｐ値を検出す
るようにしても良い。

また、上記実施例においては、ループゲインの補正をハ
ードウェアで行なった場合について説明したが、第３図
に示すように、マイクロプロセッサを用いてソフトウェ
アで行なうことも可能であり、同様の効果を得ることが
できる。以下、マイクロプロセッサを用いた場合の実施
例について説明する。

第３図中第１図と同等部分は同一符号により示されてお
り、本実施例では、エラ−アンプ２ｒ増幅後のフォーカ
スエラー信号のｐ−ｐ値を検出する場合について説明す
る。図において、エラーアンプ２で増幅されたフォーカ
スエラー信号は△／Ｄ（アナログ／ディジタル）変換器
１６でディジタル信号に変換され、マイクロプロセッサ
１７に供給される。マイクロプロセッサ１７は外部から
供給されるフォーカススタート指令に応答して制ｔｌＤ
動作を開始し、動作状態に応じてランプ信号又はフォー
カスエラー信号を出力すると共に、フォーカスエラー信
号に対しては所定のイコライジングを行ない、またルー
プオープン状態においては、Ａ／Ｄ変換器１６の出力レ
ベルを取り込んで第２図の波形における正及び負のピー
クレベルをＲＡＭ（ランダム・アクセス・メモリ）１８
にホールドすると共にこれらのｐ−ｐ値を検出し、更に
ほこの検出ｐ−ｐ値と予め設定されている基１ｐ−ｐｌ
とのレベル差を求めてそのレベル差に対応したゲイン定
数をＲＯＭ（リード・オンリ・メモリ）１９から読み出
してそれに応じた出力をゲイン制御回路１５に送出する
動作を行なう。ゲイン！ＩＩ御回路１５はマイクロ１０
セツサ１７の出力に応じてエラーアンプ２のゲインを制
御する。マイクロプロセッサ１７から出力されるランプ
信号又はフォーカスエラー信号はＤ／Ａ　（ディジタル
／アナログ）変換器２０でアナログ信号に変換され、ド
ライブアンプ８を介してフォーカスアクチュエータに供
給される。

次に、マイクロプロセッサ−７によって実行されるルー
プゲインの補正動作について第４図のフローチャートに
従って説明する。

マイクロプロセッサ−７は、外部からフォーカススター
ト指令があると（ステップ１　）　、Ａ／Ｄ変換器１６
からの入力ｅｉを取り込み（ステップ２）、これをＲＡ
Ｍ１８の所定のアドレスに正のピーク値ｅ＋とじて記憶
する（ステップ３）、と同時にＤ／Ａ変換器２０に対し
てランプ信号を出力する（ステップ４）。このランプ信
号はりＯツクタイミング毎に信号レベルが一定の割合で
漸次増大するものとする。そして再度、Ａ／Ｄ変換器１
６からの入力ｅ、を取り込み（ステップ５）、この１ｉ
ｎｅ、がＲＡＭ１８に記憶されているピーク値ｅ１より
も小か否かを判定する（ステップ６）。

ｅ・≧０１の場合には、ＲＡＭ１８の正のピーク艙ｅ１
をよき換え（ステップ７）、しかる後ステップ４に移行
し、ステップ６でｅ・くｅ毒と判定するまで、を述の動
作を繰り返す。

ステップ６でｅ・〈ｅ；と判定した段階で最終的に正の
ピーク値ｅ雷が得られ、続いて負のビーク値ｅ門をホー
ルドすべくＡ／Ｄ変換器１６からの入力ｅ、を取り込み
（ステップ８）、これをＲＡＭ１８の所定のアドレスに
負のピーク値ｅ１として記憶する（ステップ９）。さら
にランプ信号を出力して対物レンズを移動せしめ（ステ
ップ１０）、再度Ａ／Ｄ変換器１６からの入力ｅ・を取
り込み（ステップ１１）、この値ｅ、がＲＡＭ１８に記
憶されているピーク値ｅｉよりも人か否かを判定する（
ステップ１２）。ｅ・≦ｅ−の場合ｍ には、ＲＡＭ１８の負のピーク値ｅｉを農き換え（ステ
ップ１３）、しかる後ステラ７１０に移行し、ステップ
１２でｅ・＞ｅｉと判定するまで、著 上述の動作を繰り返す。

ステップ１２でｅ・〉ｅｉと判定した段階で最柊的に負
のピーク値ｅＩ′が得られ、続いて、（ワられた正、負
のピーク値ｅ；、ｅ、−に基づいてフォーカスエラー信
号のｐ−ｐ値を算出しくステップ１４）、更に予め設定
されたＩ準ｐ−ｐＴｔｉとのレベル差を算出する（ステ
ップ１５）。そして、算出したレベル差に対応するゲイ
ン定数を、ＲＯＭ１９に予め記憶されているゲイン定数
テーブルから選択しくステップ１５）、この選択したゲ
イン定数に対応したゲインとなるようにゲイン制御回路
１５を介してエラーアンプ２のゲインを制御する（ステ
ップ１７）。以上の一連の動作により、フォーカスサー
ボループのゲインの補正動作が完了する。

なお、上記各実施例においては、ディスク面に対して対
物レンズを１度だけ接近させ（対物レンズのアップ動作
）、このとき得られるフォーカスエラー信号のｐ−ｐ値
に基づいてループゲインの補正を行なう場合について説
明したが、対物レンズのアップ／グラン動作を数回繰り
返し、このとき得られる複数のフォーカスエラー信号の
ｐ−ｐ値の平均値を求め、この平均値に基づいてループ
ゲインの補正を行なっても良く、より正確な補正が可能
となる。

また、ループゲインの補正を行なう場合には、ピックア
ップをディスク半径方向に移動せしめるスライダーやデ
ィスクを回転駆動するスピンドルモータを動作させた状
態で行なうことも可能である。

第５図は、トラッキングサーボ装置に適用された本発明
の他の実施例を示すブロック図である。

図において、１はピックアップ（図示せず）から発せら
れかつディスクの記録面で例えば反射された光ビームに
基づいてトラッキングエラー信号を生成する回路であり
、このトラッキングエラー信号の生成には、情報検出用
のメインビーム及びこの両側に配されたトラッキング検
出用のりブビームの３ビームを用意し、これらビームを
その中心を結ぶ線がトラック方向に対しであるオフセッ
ト角をもつように配置し、ディスクの記録面で反射され
た２つのりブビームの光量の差に基づいてエラー信号を
得るいわゆる３ビーム法が用いられる。

この３ビーム法によるエラー信号の生成方法は周知であ
るので、その具体的な構成及び作用についてはここでは
詳述しない。

トラッキングエラー信号生成回路２１で生成されたトラ
ッキングエラー信号はループスイッチ２２に供給される
。このループスイッチ２２はスイッチυ制御回路２３に
よって切換え制御され、ａ側にあるときループクローズ
（閉）、ｂ側にあるときループオープン（ｊｆｌ）とな
る。トラッキングエラー信号は、サーボループがクロー
ズ状態にあるときにはゲインが可変なエラーアンプ２４
で増幅された後、イコライザ回路２５及びドライブアン
プ２６を介してトラッキングアクチュエータ（図示せず
）に供給される。このトラッキングアクチュエータは、
先述したピックアップに内蔵されこのピックアップの情
報検出用光スポット（情報検出点）を記録トラック直交
方向くディスク半径方向）に偏倚せしめるためのもので
ある。

以上によりトラッキングサーボループが形成され、トラ
ッキングエラー信号生成回路１で生成されたトラッキン
グエラー信号の信号レベルに基づいてトラッキングアク
チュエータを駆動することにより、情報検出用光スポッ
トを常に正確にディスクの記録トラックに追従せしめる
ことができるのである。

一方、ディスクの立上げ時やサーチ時等に、スイッチ制
御回路２３はループスイッチ２２をｂ側に切り換えてサ
ーボループを一定期間だけオーブン状態にする。サーボ
ループがオープン状態では、トラッキングエラー信号は
第６図に示す如く変化し、このエラー信号は正、負のピ
ークホールド回路２７．２８に供給され、当該回路２７
．２８で正、負のビーク］直ｐρ、ｐＮがホールドされ
る。

これらピークホールド回路５．６の各ホールド出力Ｏｐ
、ｐＮはＬＰＦ　（＋１−バスフィルタ）２９゜３０を
介してｐ−ｐｆｆ１検出回路３１に供給され、当該回路
３１でｐ−ｐ値が検出される。検出されたｐ−ｐ値はゲ
イン設定回路３２に供給される。

ゲイン設定回路３２はゲイン定数ＧＣが検出ｐ−ｐ値に
対して第７図に示す如き関係となるように設定されたゲ
イン定数テーブルを有しており、ｐ−ｐ値検出回路３１
の出力に対応したゲイン定数を選択してそれに応じた出
力をゲイン制御回路３３に供給する。ゲイン１ＩＩｌｔ
１１１回路３３はゲイン設定回路３２に出力に応じてエ
ラーアンプ２４のゲインを制御する。

このように、サーボループのオーブン状態で得られるト
ラッキングエラー信号のｐ−ｐ［ｆｌを検出し、この検
出ｐ−ｐ値に基づいてゲイン定数を設定し、このゲイン
定数に応じてエラーアン７２４のゲインを制御すること
により、レーザダイオード等の光源のパワー、ディスク
の反射率、エラー信号検出系及びエラー信号増幅系のば
らつき等に拘らずループゲインを最適値に維持できるの
で、常に安定したトラッキング動作が得られることにな
る。

ところで、サーボループをオープンしたときのトラッキ
ングエラー信号の波形はディスクの偏芯により周波数変
調され、このとき、ディスクを回転駆動するスピンドル
モータがある回転数に達していないと、変調周波数が低
いので正確にエラー信号のピーク値をホールドするには
長い時間を要することになる。また、トラッキングエラ
ー信号の入力側にノイズ除去用のＬＰＦを挿入しである
場合、ディスクの偏るによって周波数変調され、当該Ｌ
ＰＦによって振幅が変動することになる。

そこで、正、負のピークホールド回路２７．２８におい
て、ディスクの偏芯の数周用に亘ってピークホールドを
行ないその平均値を求めることにより、正確なピークホ
ールドが可能となる。すなわち、スピンドルモータの回
転数が一定回転以上であれば、ピークホールドの時間を
一定とした場合、その中に含まれる偏芯のピークの数が
ある一定数以上となり、正確なピークホールドを行なう
ことができるのである。

なお、上記実施例では、エラーアンプ２４で増幅する前
のトラッキングエラー信号のｐ−ｐ値を検出するように
したが、増幅後のトラッキングエラー信号のｐ−ｐＷｌ
を検出するようにしても良い。

また、上記実施例においては、ループゲインの補正をハ
ードウェアで行なった場合について説明したが、第８図
に示すように、マイクロブ０セツサを用いてソフトウェ
アで行なうことも可能であり、同様の効果を得ることが
できる。

第８図中、第５図と同等部分は同一符号により示されて
おり、本実施例では、エラー７ンプ２４で増幅後のトラ
ッキングエラー信号のｐ−ｐ値を検出する場合について
説明する。図において、エラーアンプ２４で増幅された
トラッキングエラー信号はＡ／Ｄ変換器３４でディジタ
ル信号に変換され、マイクロプロセッサ３５に供給され
る。マイクロブ０セツサノ３５はループクローズ状態で
はトラッキングエラー信号に対して所定のイコライジン
グを行ない、またループオープン状態においては、Ａ／
Ｄ変換器３４の出力レベルを取り込んで正及び負のピー
クレベルをＲＡＭ３６にホールドすると共にこれらに基
づいてｐ−ｐ値を算出し、更にはこのρ−ｐｌｉｆＴに
対応したゲイン定数ＧＣをＲＯＭ３７から読み出してそ
れに応じた出力をゲイン制御回路３３に送出する動作を
行なう。ゲイン制御回路３３はマイクロプロセラ勺３５
の出力に応じてエラーアンプ２４のゲインを制御する。

マイクロプロセッサ３５から出力されるトラッキングエ
ラー信号はＤ／Ａ変換器３８でアナログ信号に変換され
、ドライブアンプ２６を介してトラッキングアクチュエ
ータに供給される。

次に、マイクロプロセッサ１５によって実行されるゲイ
ン定数ＧＯの設定手順について第９図のフローチャート
に従って説明する。なお、この動作はフォーカスサーボ
がロック状態にありかつスピンドルモータの回転数があ
る回転数に達した時点から一定時間、例えば１５０ｍ５
ｅｃの間に行なわれ、サンプリング周波数が例えば３０
ＫＨｚに設定されているものとする。

まず、初期設定により、検出ピーク値ｘｐｐ。

ＸＰＮ及びサンプリング周期に同期してカウントアツプ
するカウンタのカウント値Ｃをそれぞれリセットしくス
テップ５２１）、続いてマイクロプロセッサ３５から出
力されるトラッキングエラー信号の値ｙをＯとしかつサ
ーボループをオーブン状態にしくステップ５２２）、Ｌ
、かる後トラッキングエラー信号Ｘを取り込む（ステッ
プ＄２３）。

続いて、カウントｆｒＩＣをインクリメントしくステッ
プ５２４）、このカウント値Ｃが所定基準値、例えば１
５００以上か否かを判定する（ステップ５２５）。Ｃ＜
１５００の場合には、定数１．Ｅとして例えば“３″を
、Ｃ≧１５００の場合には、定数ＬＥとして例えばｕ　
１　＋ｔを設定する（ステップ３２６．８２７）。

この定数ＬＥは、ピークホールドの際のノイズ対策のた
めに設定される値であり、サンプルホールド期間（１５
０ｍ５ｅＣ”）の最初の例えば５０ｍ５ｅｃ　’（この
５　Ｑ　ｍ　ＳｅＣとサンプリング周波数３０Ｋ　Ｈｚ
とによって基準カウント値１５００が設定される）の間
では、ＬＥ＝３なる設定によりエラー信号のピークの変
化に対して検出ピーク値ＸＰＰ、ＸＰＮの追従を良くし
、それ以降ではＬＥ＝１なる設定によりリークを少なく
し、ホールド特性を向上させる作用をなす。

ステップ８２８でトラッキングエラー信号Ｘが正か否か
の判断を行ない、ｘ＞Ｏの場合には、エラー信号Ｘが前
回までの検出ピーク値Ｘｐｐよりも大か否かを判定する
（ステップ５２９）。Ｘ〉ＸＰＰなる場合には、今回取
り込んだエラー信号Ｘを検出ピーク値ｘｐｐとして設定
しくステップ５３０）、ｘ≦ｘｐｐなる場合には、前回
までの検出ピーク値ｘｐｐから定数ＬＥを差し引いた値
を検出ピーク値ＸＰＰとして設定する（ステップ５３１
）。そして、この検出ピーク（ｉｆｉＸｐｐからフィル
タリング（第５図におけるＬＰＦ２９を通過せしめたこ
とに相当）後の正のピーク値ｐｐを算出する（ステップ
５３２）。

一方、ステップ８２８でＸ≦０と判定した場合には、エ
ラー信号Ｘが前回までの検出ビークｆｌｌｘＰＮ以下か
否かを判定する（ステップ５３３）。

Ｘ≦ｘｐｐなる場合には、今回取り込んだエラー信号Ｘ
を検出ピーク値ＸＰＮとして設定しくステップ８３４）
、Ｘ＞ＸＰＮなる場合には、前回までの検出ピーク値Ｘ
ＰＮに定数ＬＥを加算した値を検出ピーク値ＸＰＮとし
て設定する（ステップ５３５）。続いて、この検出ピー
ク値ＸＰＮからフィルタリング〈第５図におけるり、　
Ｐ　Ｆ　３０を通過せしめたことに相当）後の負のピー
ク値１）Ｎを算出する（ステップ８３６）。そして、こ
のようにして得た正、負のピーク値ｐＰ、ｐＮに基づい
て（ｐｐ−ｐＮ　）なる式からｐ−ｐ値を算出しくステ
ップ５３７）、続いてこのｐ−ｐ値に対応するゲイン定
数ＧＣを、第７図に示す特性に基づいて設定されかつＲ
ＯＭ３７に予め記憶されているゲイン定数テーブルから
選択しくステップ８３８）、このゲイン定数Ｇｃに対応
したゲインとなるようにゲイン制御回路３３を介してエ
ラーアンプ２４のゲインを制御する（ステップ５３９）
。

以上の一連の動作により、トラッキングサーボループの
ゲインの補正動作が完了する。

なお、第３図及び第８図の各実施例では、Ａ／Ｄ変換器
１６．３４の前段にエラーアンプ２．２４を配ａし、マ
イクロプロセッサ１７．３５で求めたゲイン定数に応じ
てゲイン制御回路１５．３３を介してエラーアンプ２，
２４のゲインを制御することによりループゲインをアナ
ログ段階で補正するようにしたが、マイクロプロセッサ
１７゜３５において、求めたゲイン定数とエラー信号の
信号レベルとを掛は口することによってループゲインを
ディジタルデータ段階で補正することも再開である。

１亘立匁」 以上説明したように、本発明によれば、サーボループの
開状態において得られるエラーイｎ＠のｐ−ｐ値を検出
し、この検出ｐ−ｐ（ｉｒＩに基づいてゲイン定数を設
定し、このゲイン定数に応じてゲイン可変アンプのゲイ
ンを制御することにより、サーボループのゲインを常に
最適値に維持できるので、常に安定したサーボ動作を得
ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はフォーカスサーボ装置に適用された本発明の一
実施例を示すブロック図、第２図は対物レンズのディス
ク記録面からの位置に対するフォーカスエラー信号の波
形変化を示す波形図、第３図は第１図の装置をマイクロ
プロセッサを用いて構成した場合を示すブロック図、第
４図は第３図におけるマイクロプロセッサによって実行
される動作手順を示すフローチャート、第５図はトラッ
キングサーボ装置に適用された本発明の他の実施例を示
すブロック図、第６図はサーボループのオープン状態に
おけるトラッキングエラー信号の波形変化を示す波形図
、第７図は検出ｐ−ｐ値とゲイン定数との関係を示す特
性図、第８図は第５図の装置をマイクロプロセッサを用
いて構成した場合を示すブロック図、第９図は第８図に
おけるマイクロプロセッサによって実行される動作手順
を示す７０−チャートである。 主要部分の符号の説明

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）所定エラー信号を増幅するアンプを含む微調サー
   ボループのループゲイン補正方法であつて、前記アンプ
   としてゲイン可変アンプを用い、前記サーボループの開
   状態において得られる前記所定エラー信号の正負の波高
   値の差（ｐ−ｐ値）を検出し、この検出ｐ−ｐ値に基づ
   いてゲイン定数を設定し、このゲイン定数に応じて前記
   ゲイン可変アンプのゲインを制御することを特徴とする
   微調サーボループのループゲイン補正方法。
2. （２）所定エラー信号を増幅するアンプを含む微調サー
   ボループのループゲイン補正装置であつて、前記アンプ
   はゲイン可変アンプであり、前記サーボループの開状態
   において得られる前記所定エラー信号の正負の波高値の
   差（ｐ−ｐ値）を検出する手段と、この検出ｐ−ｐ値に
   基づいてゲイン定数を設定する手段と、前記ゲイン定数
   に応じて前記ゲイン可変アンプのゲインを制御する手段
   とを備えたことを特徴とする微調サーボループのループ
   ゲイン補正装置。