JPS6299431A - 半導体装置用リードフレーム材 - Google Patents

半導体装置用リードフレーム材

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JPS6299431A
JPS6299431A JP23805385A JP23805385A JPS6299431A JP S6299431 A JPS6299431 A JP S6299431A JP 23805385 A JP23805385 A JP 23805385A JP 23805385 A JP23805385 A JP 23805385A JP S6299431 A JPS6299431 A JP S6299431A
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JP
Japan
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alloy
copper
grain size
average grain
less
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JP23805385A
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Inventor
Kenji Kubozono
久保薗 健治
Kimio Hashizume
橋爪 公男
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分舒) この発明は半導体機器用、特にICリードフレーム用銅
基台金に関するものである。
(従来の技術) 一般に、ニッケル(Ni)及びチタン(Ti)を含有す
る銅(Cu)基合金(よ時効硬化性を有することが知ら
れており、例えば、新制金属講座「非鉄材料■[」(日
本金属学会出版JP166〜167では、0.65 w
 t%Ti。
2、35 w t%Ni、残部Cuからなる銅基合金に
おいて引張強さ74.6 kg f /mm’ 、導電
率471%rAcsが得られることが記されている。
(発明が解決しようとする問題点) 時効硬化性合金においては、先ず溶体化処理、即ち常温
では固溶範囲を超える量の合金成分を高温で固溶させ、
後に熱処理により前記合金成分を析出させる処理を行う
が、前記溶体化処理は不可避的に結晶粒の粗大化を伴う
。結晶粒が粗大である場合、材料の曲げ加工において曲
げ部は肌あれ状態を呈し、特にPLCC(プラスチック
リープイツトチップキャリア)等のように曲げ部が基板
への表面実装となるICパッケージにとっては大きな欠
点となる。
この発明は半導体機器用、特にICリードフレーム用材
料として要求される特性を得るために、前記CI+ −
N i −T i系合金における優れた特性を活かし、
さらに結晶粒を微細化して従来の欠点を解消し、用途開
発を行ったものである。より具体的には、ICリードフ
レーム用材料として要求される高導電性をさらに向上さ
せ、適度の高強度を確保しながら特に曲げ加工性を改善
し、また加工工数の低減をはかったものである。
(問題点を解決するための手段) 本発明において、その第1の発明の銅基合金は、Ti 
0.1〜1.2 wt%及びN i O,4〜4 wt
%を含有し残部がCuからなり、平均結晶粒径が15μ
m以下であることを特徴とする。
また第2の発明の銅基合金は、Ti0.1〜1.2wt
%。
N104〜4wt%及び添加元素を合計量にて0001
〜0.8wt%含有し残部がCuからなり、平均結晶粒
径が15μm以下であることを特徴とする。なお、前記
添加元素はFeO,01〜0.15wt%、 Bo、0
005〜0.01wt%、 Mn 0.05〜0.6 
w t%、 P O,01〜0.3 wt%、Zr0、
01〜0.2 w t%、 Si O,01〜0.35
 wt%の中から1種または2種以上が選択される。
本発明において1よ上記のととく、合金成分含有量をT
 i 0.1〜1.2 w t%、 Ni 0.4−4
 wt%とし、この2つの成分の合計を合金総重量に対
して05〜52wt%の範囲としlコが、その理由は0
.5wt%未満ではN i −T i化合物を材料全体
に均一分散させるのに不充分で、母相の強化が望めない
ためであり、5.2wt%を超えては材料の加工性及び
導電性の劣化をまねくためである。そして特性上、組成
比はTi:N1=1:4が望ましい。
また、添加元素であるr(、Mn、Si及びPは脱酸剤
としての作用を有するものであり、特にT1含有量の安
定化に有効な鉦と(7た。Fe及びZrは材料の耐熱性
向上に寄りするものである。
(作 用) 本発明のCu−Ni−Ti系合金において(よ、Niと
Tiの化合物を均一に分散させは相の強化をはかり、さ
らに該化合物の析t1目こより導電性及び耐熱性を向上
させるとともに、析出処理として比較的低2NtlHo
o〜650℃)での焼鈍後炉冷(炉中徐冷)を行ってい
るため結晶粒の微細化が達成され、よって材料の曲げ加
工性を改善することも可能となる。
(実施例) 以下実施例により、本発明を説明する。
実施例1〜7.比較例1 次の表1は、本発明合金及び従来合金に関し、それらの
化学組成及び特性を示している。表1中の特性は、最終
冷間加工率37%、0.25m++厚に仕上げた試料に
て測定したものである。
ここで実施例1〜7の試料については焼鈍後炉冷とし、
その後に冷間圧延仕上げしたもの、比較例1の試料につ
いては850℃で溶体化処理し、冷間加工後に500℃
、2時間の時効処理を施し′:;゛\ 奢 鼾  耕駅呈く口上 罐″’g CV) FJ 00゜−6,へ1i鎖OQ 
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 ci  111% 萩−へcv)−1ωトー 和呉 圏      圏 口1g        鄭 □ ICリードフレーム用材料として要求される強度は、一
般的に50 kg f / mrn”以上の引張強さが
あれば理想的であるとされており、Cu−Ni−Ti系
合金の時効硬化性を利用すれば充分にその強度を得るこ
とはできるが、本発明合金においては表1からも明らか
なように、前記の時効硬化性を抑制し、逆に過時効的な
焼鈍及び炉冷を行う乙とによって結晶粒を微細化させ、
引張強さを許容範囲内にとどめつつ、導電性が高められ
ている。
(発明の効果) 以上のJ:うに本発明の銅基合金においては、比較的低
温での焼鈍及び炉冷によって平均結晶粒径15μm以下
の微細組織を有するCu−Ni−Ti系合金が得られ、
この本発明合金は特に曲げ加工性及び導電性に顕著な改
善が見られ、半導体機器用材料として新たな用途を切り
拓く効果を有する。
また、従来の時効硬化性合金では必要であった溶体化処
理及びそれに引き続く時効硬化処理を省くことができ、
コストの低減化も達成することができる。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)合金総重量に対してチタン0.1〜1.2wt%
    及びニッケル0.4〜4wt%を含有し残部が銅からな
    り、平均結晶粒径が15μm以下であることを特徴とす
    る銅基合金。
  2. (2)合金総重量に対してチタン0.1〜1.2wt%
    、ニッケル0.4〜4wt%及び添加元素群、鉄0.0
    1〜0.15wt%、ボロン0.0005〜0.01w
    t%、マンガン0.05〜0.6wt%、リン0.01
    〜0.3wt%、ジルコニウム0.01〜0.2wt%
    、シリコン0.01〜0.35wt%より1種あるいは
    2種以上を選択し合計量にて0.001〜0.8wt%
    含有し残部が銅からなり、平均結晶粒径が15μm以下
    であることを特徴とする銅基合金。
JP23805385A 1985-10-24 1985-10-24 半導体装置用リードフレーム材 Granted JPS6299431A (ja)

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JPS6299431A true JPS6299431A (ja) 1987-05-08
JPH0465890B2 JPH0465890B2 (ja) 1992-10-21

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Cited By (2)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH059628A (ja) * 1991-07-09 1993-01-19 Mitsubishi Electric Corp 銅−ニツケル基合金
JP2006144047A (ja) * 2004-11-17 2006-06-08 Dowa Mining Co Ltd Cu−Ni−Ti系銅合金および放熱板

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JPH0465890B2 (ja) 1992-10-21

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