JPS6294627U - - Google Patents

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JPS6294627U
JPS6294627U JP1985187597U JP18759785U JPS6294627U JP S6294627 U JPS6294627 U JP S6294627U JP 1985187597 U JP1985187597 U JP 1985187597U JP 18759785 U JP18759785 U JP 18759785U JP S6294627 U JPS6294627 U JP S6294627U
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JP
Japan
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mounting table
semiconductor wafer
polishing
semiconductor
wafer
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JP1985187597U
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【図面の簡単な説明】
第1図a及び第1図bは、各々この考案の一実
施例による半導体製造装置のウエハ処理部を示す
断面図と平面図、第2図はこの考案の一実施例に
よる半導体製造装置を示す正面図、第3図は従来
の半導体製造装置を示す断面図である。 図において、1は半導体ウエハ、10は第1載
置台、11は研磨装置、18は第2載置台、23
,24はウエハ移動用アームである。なお、各図
中同一符号は同一または相当部分を示すものであ
る。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 半導体ウエハを吸着して固定する真空吸着
    手段を有した第1載置台、この第1載置台上に設
    けられ、上記固定された半導体ウエハを研磨する
    研磨装置、上記第1載置台の周辺に設けられた第
    2載置台、上記真空吸着手段により上記半導体ウ
    エハを吸着し上記第1載置台から上記第2載置台
    へ或いはその逆へ上記半導体ウエハを移動させる
    ウエハ移動用アームを備えたことを特徴とする半
    導体製造装置。 (2) 第2載置台は研磨装置での研磨前の半導体
    ウエハを載置する待機用載置台と、研磨後の半導
    体ウエハを載置してこの半導体ウエハを洗浄する
    半導体ウエハ洗浄用載置台とからなることを特徴
    とする実用新案登録請求の範囲第1項記載の半導
    体製造装置。
JP1985187597U 1985-12-04 1985-12-04 Pending JPS6294627U (ja)

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JPS6294627U true JPS6294627U (ja) 1987-06-17

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Family Applications (1)

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JP (1) JPS6294627U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003220556A (ja) * 1993-09-21 2003-08-05 Toshiba Corp ポリッシング装置及び方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003220556A (ja) * 1993-09-21 2003-08-05 Toshiba Corp ポリッシング装置及び方法

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