JPS629443A - 診断制御装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、データ処理装置に使用される診断制御装置に
関し、特に、スキャンパスデータと状態履歴情報を保持
するためのデータバッファの構成と制御に関するもので
ある。

〔概　要〕

本発明は、データ処理装置のスキャンパスデータの入出
力と状態履歴情報記憶を制御する診断制御装置において
、 状態履歴記憶バッファとスキャンデータバッファを一つ
のデータバッファで共用することにより、金物量の削減
を図ったものである。

〔従来の技術〕

従来、この種の診断制御装置では、スキャンデータを保
持するためのスキャンデータバッファと状態履歴情報を
保持するためのデータバッファは個別に設ける構成とな
っていた。第２図は従来方式の診断制御装置における概
略を示すブロック構成図である。

第２図において、診断制御装置４にはスキャンパス１１
と論理回路１２とを含んだデータ処理装置１とサービス
プロセッサ３とが接続され、データ処理システムの一部
が構成されている。第２図に示す診断制御装置４におい
て、４１は論理回路１２から出力される状態情報１２１
を一時保持するための状態情報保持レジスタである。４
２は状態履歴記憶バッファであり、状態情報を逐次記憶
するためのバッファであり、例えばＰビット×Ｑワード
のＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）で構成されている
。

４３は状ｆｉ暦歴記憶バ７ファ４２の書込み／続出しワ
ードアドレスを指示するためのアドレスカウンタであり
、４４は状態情報の履歴記憶を制御する状態履歴記憶制
御回路である。４５は選択回路でスキャンパス１１から
のスキャンアウトデータ１１１とサービスプロセッサ３
からのスキャンインデータ３１とを選択する。４６はス
キャンイン／アウトデータを保持するスキャンデータバ
ッファで１ピント×ＲワードのＲＡＭで構成されている
。４７はスキャンデータバッファ４６の書込み／続出し
ワードアドレスを指示するためのアドレスカウンタであ
る。４８はスキャンパスへのスキャンイン、スキャンア
ウトを制御するスキャンパス制御回路である。４９は選
択回路で状態履歴記憶バッファ４２の出力とスキャンデ
ータバッファ４６の出力を切替える。

次に、本従来例の動作について説明する。状態履歴情報
およびスキャンデータの使用目的はともに保守、診断お
よびデバグ等である。しかしその機能的違いから同時に
動作させることはない。つまり、状態履歴機能はデータ
処理装置がデータ処理動作をしている動作状態を逐次記
憶するためのものであり、スキャンパス機能は何らかの
要因でデータ処理装置が停止した場合、そのときの装置
の内部状態を出力するスキャンアウト機能、停止状態中
に装置内部へデータを入力するスキャンイン機能のもの
である。したがって、データ処理中においては状態履歴
機能のみ動作し、スキャンパス機能は動作しない。

まず、状態履歴機能を説明する。データ処理装置動作中
その論理回路１２の状態情報１２１は、いったん状態情
報保持レジスタ４１に保持される。このレジスタ４１の
出力は状態履歴記憶バッファ４２への書込みデータとし
て入力される。アドレスカウンタ４３は状態情報が状態
履歴記憶バッファ４２へ書込まれるごとに１ワード歩進
し、最終ワードまで到達すると先頭ワードに戻るという
リングカウンタで構成される。状態履歴記憶バッファ４
２への書込みタイミングおよび書込みの停止条件指定は
サービスプロセッサ３から任意に設定可能なように構成
され、状態履歴記憶制御回路４４が各回路の制御を行う
。書込みタイミングは例えばクロックごと、命令実行ご
と等に設定し、停止条件は例えば障害発生時等に設定す
ることができる。停止条件が成立すると状態履歴記憶バ
ッファ４２への書込みが止まる。その後サービスプロセ
ッサ３は任意のワードから選択回路４９を介して状態履
歴情報を読出すことができる。

次にスキャンパス機能について説明する。スキャンパス
１１を動作させるためにはデータ処理装置ｌは停止して
いる必要がある。サービスプロセッサ３からスキャンア
ウト指示があると、スキャンパス制御回路４８はアドレ
スカウンタ４７を初期状態にする０次にスキャンパス１
１から読出したスキャンアウトデータ１１１をアドレス
カウンタ４７が示すアドレスのスキャンデータバッファ
４６に１ビツトずつ書込む。１ピント書込みが終わると
スキャンパス１１に対してスキャンクロックを送出し１
ビツトシフトさせ、アドレスカウンタを１ワ一ド歩進さ
せる。このようにしてスキャンバス１１全体をスキャン
アウトすると、サービスプロセッサ３はアドレスカウン
タ４７を初期状態に戻し１ビツトずつ選択回路４９を介
してスキャンデータバッファ４６の内容を読出す。

次にスキャンインについて説明する。まずサービスプロ
セッサ３はスキャンインデータ３１を選択回路４５を介
してスキャンデータバッファ４６に書込む、書込みアド
レスはアドレスカウンタ４７に設定する。すべてのスキ
ャンインデータをスキャンデータバッフ１４６に書込ん
だらスキャンイン指示をスキャンパス制御回路４８に対
して指示する。まずアドレスカウンタ４７を初期状態に
し、スキャンパス１１の入力にスキャンインデータ３１
をアドレスカウンタ４７が示す番地から読出し送出する
。スキャンパス１１に対して、スキャンクロシフを送出
しスキャンパス１１を１ビツトシフトする。このように
してスキャンデータバッファ４６の内容をすべてスキャ
ンパス１１に入力したらスキャンイン動作は完了する。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上述した従来の診断制御装置は、状態履歴記憶バッファ
とスキャンデータバッファは動作するタイミングが互い
に排他的であるにもかかわらず、別々に設けるために金
物量の増大を招く欠点があった。

本発明の目的は、上記の欠点を除去することにより、金
物量を削減した診断制御装置を提供することにある。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明は、複数のフリップフロップが直列に接続されク
ロックが供給されるごとに格納されたデータの全体が接
続順にしたがってシフトするスキャンパスと、データ処
理装置の状態情報を逐次記憶するための状態履歴記憶と
を制御する診断制御装置において、上記スキャンパスか
ら出力されたスキャンアウトデータと上記スキャンパス
へ一人力されるスキャンインデータと上記データ処理装
置の状態情報とを格納するためのデータバッファ手段と
、このデータバッファ手段を介して、上記データ処理装
置の状態履歴記憶動作、上記スキャンパスのスキャン動
作およびスキャンイン動作をそ机ぞれ個別に行う手段と
を備えたことを特徴とする。

〔作　用〕

本発明は、一つのデータバッファ手段を介して≦データ
処理装置の状態履歴記憶動作、スキャンパスのスキャン
動作およびスキャンイン動作をそれぞれ個別に、例えば
、選択回路、書込みレジスタ続出しレジスタ、アドレス
カウンタ、スキャンパス制御回路および状態履歴記憶制
御回路からなる手段により行うことが可能である。かく
して、従来必要とした状態履歴記憶バッファとスキャン
データバッファの二つのバッファが一つでもよいことに
なり金物量の削減が図られる。

〔実施例〕

次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。

第１図は本発明の一実施例を示すブロック構成図である
。第１図において、診断制御装置２にはスキャンパス１
１と論理回路１２とを含んだデータ処理装置１とサービ
スプロセッサ３とが接続され、データ処理システムの一
部が構成されている。そして診断制御装置２は次の構成
要素からなっている。すなわち、２１は論理回路１２か
ら出力される状態情報１２１とサービスプロセッサ３か
らの入力データを選択する選択回路である。２２は選択
回路２１からの出力信号とスキャンパス１１の出力であ
るスキャンアウトデータ１１１とをデータバッファ２３
への書込むために一時的に保持する書込みレジスタで、
選択回路２１の出力をパラレルに入力゛し、１ワ一ド分
保持する機能とスキャンパス１１からのスキャンアウト
データを１ビツトずつシフトアウト順にシフトしながら
１ワ一ド分保持する機能とを有する。

書込みレジスタ２２はパラレル入出力とシリアル入力が
可能なレジスタの一種である。２３はスキャンインデー
タ３１．スキャンアウトデータ１１１および状態情報１
２１を保持するためのデータバッファで、例えばｍビッ
ト×ｎワードのＲＡＭにより構成することができる。２
５はデータバッファ２３に対する書込み／続出しワード
アドレスを指示するためのアドレスカウンタであり、書
込み／続出し動作を行うごとに歩進する機能を有してい
る。２４はデータバッファ２３からの読出しデータを１
ワ一ド分だけ保持するための読出しレジスタであり、サ
ービスプロセッサ３に対してワード単位にデータを送出
するための機能と、スキャンインデータを１ビツトずつ
スキャンパス１１に送出するための機能とを有する。読
出しレジスタ２４はパラレル入出力とシリアル出力が可
能なレジスタである。２６はスキャンイン動作とスキャ
ンアウト動作を制御するためのスキャンパス選択回路で
あり、２７は状態情報の履歴記憶を制御する状態履歴記
憶制御回路′　　である。

本発明の特徴は、第１図において、データバッファ２３
一つで、従来例の第２図に示す状態履歴記憶バッファ４
２およびスキャンデータバッファ４６の二つのバッファ
を共用した点にある。

次に、本実施例の動作について説明する。従来の技術で
も説明したように、状態履歴記憶動作とスキャンインお
よびスキャンアウト動作は同時期使用されることはない
。

まず、状態履歴記憶動作について説明する。データ処理
装置１が動作中その論理回路１２の状態情報（例えば命
令コード、命令実行アドレス等でｍビット以下でなけれ
ばならない、）は選択回路２１を経由して書込みレジス
タ２２に一時保持される。

この書込みレジスタ２２の出力はデータバッファ２３へ
の書込みデータとして入力される。アドレスカウンタ２
５は状態情報がデータバッファ２３へ書込まれるごとに
ｌワード歩進し、最終ワードまで到達すると先頭ワード
に戻るというリングカウンタ形式に制御される。データ
バッファ２３への書込みタイミングおよび書込み停止指
示は従来の技術と同様にサービスプロセッサ３から任意
に設定可能なように構成され、状態履歴記憶制御回路２
７が各回路に指示を行う、停止指示があるとデータバッ
ファ２３への書込みが止まる。その後サービスプロセッ
サ３は任意のワードから読出しレジスタ２４を経由して
状態履歴情報を読出すことができる。状態履歴情報の読
出し動作はデータ処理装置１が動作中においても可能で
ある。

次にスキャン動作について説明する。データ処理装置１
が停止状態のときサービスプロセッサ３からスキャンア
ウト指示があると、アドレスカウンタ２５を初期設定す
る。スキャンパス１１の内容がクロック供給ごとに１ビ
ツトずつシフトされ、スキャンパス１１の先頭から書込
みレジスタ２２に対してシリアルに入力される。書込み
レジスタ２２にスキャンアウトデータが１ワード分揃う
とデータバッファ２３に対して１ワ一ド分のスキャンア
ウトデータを書込む、書込みが終了するとアドレスカウ
ンタ２５が歩進して次のワードに移る。このように１ワ
ードごとにデータバッファ２３への書込み動作と、スキ
ャンパス１１に対するシフトアウト動作との完了後に、
データバッファの内容がサービスプロセッサ３に対して
取り出される。そこで、再びアドレスカウンタ２５を初
期設定し、データバッファ２３の内容を読出しレジスタ
２４に対して１ワードだけ読出し、次に説明するプロセ
ッサ３へ送出する。このあとアドレスカウンタ２５の歩
道が行われる０以上のことを制御するのがスキャンパス
制御回路２６である。

次にスキャンイン動作について説明する。アドレスカウ
ンタ２５を初期設定した後に、サービスプロセッサ３か
らスキャンインすべきデータが１ワ一ド単位に選択回路
２１を介して書込みレジスタ２２にセットされる。書込
みレジスタ２２の内容はアドレスカウンタ２５により指
示されるアドレスでデータバッファ２３に対して書込ま
れてアドレスカウンタ２５が歩進される。このようにし
てスキャンインデータがすべてセットされると、次にス
キャンパス１１に対するシフトイン動作が実行される。

再びアドレスカウンタ２５が初期設定されてデータバッ
ファ２３の内容が１ワードずつ読出しレジスタ２４に読
出され、アドレスカウンタ２５の歩道が行われる。

読出しレジスタ２４に読出されたデータは１ビツトずつ
順次スキャンパス１１の入力端にシフトインデータとし
て送出される。スキャンパス１１にクロックを供給する
ごとにシフトインデータが１ビツトずつシフトされ、１
ワ一ド分だけシフトされるごとにデータバッファ２３か
ら新たなスキャンインデータが読出しレジスタ２４に読
出される。

なお、上記実施例においては、データバッファへの書込
み／続出しは内部で行う場合を取り上げたが、これは他
部装置からでも同様に可能である。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明は、状態履歴記憶バソファと
スキャンデータバッファを一つのデータバッファで共用
化することによ、り金物量の削減が達成できる効果があ
る。

【図面の簡単な説明】

第１°図は本発明の一実施例を示すブロック構成図。 第２図は従来例のを示すブロック構成図。 １・・・データ処理装置、２．４・・・診断制御装置、
３・・・サービスプロセッサ、１１・・・スキャンパス
、１２・・・論理回路、２１．４５．４９・・・選択回
路、２２・・・書込みレジスタ、２３・・・データバッ
ファ、２４・・・読出しレジスタ、２５．４３．４７・
・・アドレスカウンタ、２６．４８・・・スキャンパス
制御回路、２７．４４・・・状態履歴記憶制御回路、３
１・・・スキャンインデータ、４１・・・状態情報保持
レジスタ、４２・・・状態履歴記憶バッファ、４６・・
・スキャンデータバッファ、１１１・・・スキャンアウ
トデータ、１２１・・・状態情報。 特許出願人　日本電気株式会社・ 代理人　　弁理士　井　出　直　筆。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）複数のフリップフロップが直列に接続されクロッ
   クが供給されるごとに格納されたデータの全体が接続順
   にしたがってシフトするスキャンパスと、 データ処理装置の状態情報を逐次記憶するための状態履
   歴記憶と を制御する診断制御装置において、 上記スキャンパスから出力されたスキャンアウトデータ
   と上記スキャンパスへ入力されるスキャンインデータと
   上記データ処理装置の状態情報とを格納するためのデー
   タバッファ手段と、 このデータバッファ手段を介して、上記データ処理装置
   の状態履歴記憶動作、上記スキャンパスのスキャン動作
   およびスキャンイン動作をそれぞれ個別に行う手段と を備えたことを特徴とする診断制御装置。