JPS6293711A - 電子機器の自己診断方法 - Google Patents
電子機器の自己診断方法Info
- Publication number
- JPS6293711A JPS6293711A JP60232552A JP23255285A JPS6293711A JP S6293711 A JPS6293711 A JP S6293711A JP 60232552 A JP60232552 A JP 60232552A JP 23255285 A JP23255285 A JP 23255285A JP S6293711 A JPS6293711 A JP S6293711A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test voltage
- analog
- output terminal
- input terminal
- outputted
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
- Control Of Voltage And Current In General (AREA)
- Control Or Security For Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野１
本発明は、複写機などアナログ入力端子とアナログ出力
端子とを有する電子機器の自己診断方法に関するもので
ある ［従来の技術］ 例えば、感光ドラムに静電潜像を形成し、この静電潜像
をトナーによって現像した後、記録紙に転写する複写磯
では、静電潜像を形成するための露光ランプの露光出力
の経年変化等による画質劣化の原因を診断するため、主
制御回路のアナログ出力端子から基準の露光電圧を露光
ランプに印加し、さらにこの状態における露光量を検知
して主制御回路のアナログ入力端子に入力し、その検出
出力が基準の露光電圧に一致するか否かにより、露光ラ
ンプ自体に画質劣化の原因があるか否かを診断している
。
端子とを有する電子機器の自己診断方法に関するもので
ある ［従来の技術］ 例えば、感光ドラムに静電潜像を形成し、この静電潜像
をトナーによって現像した後、記録紙に転写する複写磯
では、静電潜像を形成するための露光ランプの露光出力
の経年変化等による画質劣化の原因を診断するため、主
制御回路のアナログ出力端子から基準の露光電圧を露光
ランプに印加し、さらにこの状態における露光量を検知
して主制御回路のアナログ入力端子に入力し、その検出
出力が基準の露光電圧に一致するか否かにより、露光ラ
ンプ自体に画質劣化の原因があるか否かを診断している
。
［発明が解決しようとする問題点］
ところが、上記の様な診断方法においては、主制御回路
の外側の回路の異常については診断できるものの主制御
回路自体の異常については診断できないという問題があ
る。
の外側の回路の異常については診断できるものの主制御
回路自体の異常については診断できないという問題があ
る。
本発明はこのような問題を解決するためになされたもの
で、その目的はアナログ入力端子とアナログ出力端子を
有する主制御回路自体の異常を筒中に診断することがで
きる電子は器の自己診断方法を提供することにある。
で、その目的はアナログ入力端子とアナログ出力端子を
有する主制御回路自体の異常を筒中に診断することがで
きる電子は器の自己診断方法を提供することにある。
［問題点を解決するための手段〕
本発明は、診断対象の主制御回路のアナログ出力端子か
ら複数段階に変化する試験電圧を出力させ、この試験電
圧をアナログ入力端子にフィードバックし、アナログ出
力端子から出力した試験電圧とアナログ入力端子から入
力した試験電圧とを試験電圧の各段階別に比較し、一致
するか否かによって主胴６０回路の異常を診断するよう
にしたものである。
ら複数段階に変化する試験電圧を出力させ、この試験電
圧をアナログ入力端子にフィードバックし、アナログ出
力端子から出力した試験電圧とアナログ入力端子から入
力した試験電圧とを試験電圧の各段階別に比較し、一致
するか否かによって主胴６０回路の異常を診断するよう
にしたものである。
［作用］
診断対象の主制御回路のアナログ出力端子からは複数段
階に亘って変化する試験電圧が出力される。この試験電
圧は主制御回路のアナログ入力端子にフィードバックさ
れ、アナログ出力端子から出力した試験電圧と比較され
る。比較の結果、不一致ならば主制御回路のいずれかの
部位に異常があるものと判定される。
階に亘って変化する試験電圧が出力される。この試験電
圧は主制御回路のアナログ入力端子にフィードバックさ
れ、アナログ出力端子から出力した試験電圧と比較され
る。比較の結果、不一致ならば主制御回路のいずれかの
部位に異常があるものと判定される。
［実施例］
以上、実施例に基づいて本発明を説明する。
第１図は適用した電子機器の主制御回路の一実施例を示
すブロック図であり、ＮピッＩ・のディジタル入出力端
子Ｄ１．ＤＯ（１＞の他に２つのアナログ入力端子ＡＩ
（１）、ＡＩ （２）を有し、さらに第２のディジタル
出力端子Ｄｏ （２）を有する中央処理装置（ＣＰＵ）
１と、このＣＰｔＪ １のアナログ入力端子ＡＩ（１）
に対して外部からの複数のアナログ信号ＡＳ１〜ＡＳｎ
のうち１つを選択しで入力するマルチプレクサ（ＭＰＸ
）２と、第２のディジタル出力端子Ｄｏ（２）から出力
されるディジタル値をアナログ信号に変換するＤＡ変換
器（ＤＡＣ＞３と、このＤＡＣ３の出力信号をディジタ
ル出力端子Ｄｏ（２＞の出力データに基づ１てｎ＋ｉ個
のアナログ出力信号ＡＳＯ１〜ＡＳＯｎおよびＡＸに振
分けて外部に出力す“るマルチプレクサ（ＭＰＸ）４と
から構成されており、これら各回路部は主制御回路５と
して１枚のコントロール基板に実装されている。そして
、ＭＰＸ４のｎ＋１番目のアナログ出力信号ＡＸはＣＰ
ｔＪｌの第２のアナログ入力端子ＡＩ（２＞にフィード
バックされている。
すブロック図であり、ＮピッＩ・のディジタル入出力端
子Ｄ１．ＤＯ（１＞の他に２つのアナログ入力端子ＡＩ
（１）、ＡＩ （２）を有し、さらに第２のディジタル
出力端子Ｄｏ （２）を有する中央処理装置（ＣＰＵ）
１と、このＣＰｔＪ １のアナログ入力端子ＡＩ（１）
に対して外部からの複数のアナログ信号ＡＳ１〜ＡＳｎ
のうち１つを選択しで入力するマルチプレクサ（ＭＰＸ
）２と、第２のディジタル出力端子Ｄｏ（２）から出力
されるディジタル値をアナログ信号に変換するＤＡ変換
器（ＤＡＣ＞３と、このＤＡＣ３の出力信号をディジタ
ル出力端子Ｄｏ（２＞の出力データに基づ１てｎ＋ｉ個
のアナログ出力信号ＡＳＯ１〜ＡＳＯｎおよびＡＸに振
分けて外部に出力す“るマルチプレクサ（ＭＰＸ）４と
から構成されており、これら各回路部は主制御回路５と
して１枚のコントロール基板に実装されている。そして
、ＭＰＸ４のｎ＋１番目のアナログ出力信号ＡＸはＣＰ
ｔＪｌの第２のアナログ入力端子ＡＩ（２＞にフィード
バックされている。
第２図は、このように構成された主制御回路５の自己診
断を行うための処理を示すフローチャートである。自己
診断に際してＣＰＩＪｌはディジタル出力端子Ｄｏ（２
）からｒＯＶＪの試験電圧に対応するデータを出力し、
このデータをＤＡＣ３においてアナログの試験電圧に変
換させる。その後、ｒＯＶＪの試験電圧がｎ＋１番目の
アナログ出力信号ＡＸとしてＭＰＸ４から出力されるよ
うに、ＭＰＸ４に対してｎ＋１番目の出力端子を選択す
るデータを出力する。
断を行うための処理を示すフローチャートである。自己
診断に際してＣＰＩＪｌはディジタル出力端子Ｄｏ（２
）からｒＯＶＪの試験電圧に対応するデータを出力し、
このデータをＤＡＣ３においてアナログの試験電圧に変
換させる。その後、ｒＯＶＪの試験電圧がｎ＋１番目の
アナログ出力信号ＡＸとしてＭＰＸ４から出力されるよ
うに、ＭＰＸ４に対してｎ＋１番目の出力端子を選択す
るデータを出力する。
これによって、ＭＰＸ４のｎ＋１番目の出力端子からｒ
ＯＶＪの試験電圧が出力される（ステップ１０）。
ＯＶＪの試験電圧が出力される（ステップ１０）。
この状態でＣＰＵ １は一定時間待機した後（ステップ
１１）、第２のアナログ入力端子ＡＩ（２）からｒＯＶ
Ｊの試験電圧をを取込み（ステップ１２）、ＡＩ （２
＞からの試Ｍ電圧が「０■」であるか否か、すなわちＡ
Ｘ−△１（２）か否かを調べる（ステップ１３）。この
結果、ＡＸ＝ＡＩ（２）であれば、次にＡＩ＜２）＝５
Ｖであるか否かを調べる。づなわち、この実施例では試
験電圧を「０■」から１■単位で「５■」まで段階的に
変化させ、各段階毎にＡＩ（２）＝ＡＸであるかを検出
している。このため、試験電圧が最終段階の「５Ｖ」に
達したか否かを調べている（ステップ１４）。
１１）、第２のアナログ入力端子ＡＩ（２）からｒＯＶ
Ｊの試験電圧をを取込み（ステップ１２）、ＡＩ （２
＞からの試Ｍ電圧が「０■」であるか否か、すなわちＡ
Ｘ−△１（２）か否かを調べる（ステップ１３）。この
結果、ＡＸ＝ＡＩ（２）であれば、次にＡＩ＜２）＝５
Ｖであるか否かを調べる。づなわち、この実施例では試
験電圧を「０■」から１■単位で「５■」まで段階的に
変化させ、各段階毎にＡＩ（２）＝ＡＸであるかを検出
している。このため、試験電圧が最終段階の「５Ｖ」に
達したか否かを調べている（ステップ１４）。
この結果、試験電圧が「５■」に達していなければ、Ｍ
ＰＸ４から出力させる試験電圧を１■だけ上昇させ（ス
テップ１５）、再びステップ１１〜ステツプ１４の処理
を実行する。このような処理の繰返しの結果、試験電圧
が１５■」に達づるまでの間に、ＡＸ≠ＡＩ（２）とな
る段階があれば、その時点で異常処理を実行しくステッ
プ１７）、主制御回路５の内部に異常があることを表示
などの手段によって告知する。しかし、ＡＸ≠ＡＩく２
）となる段階がなければ、「５■」の試験電圧による診
断を終了した時点で正常処理を実行し（ステップ１６）
、主胴佃回路５は正常であることを表示などの手段によ
って告知する。
ＰＸ４から出力させる試験電圧を１■だけ上昇させ（ス
テップ１５）、再びステップ１１〜ステツプ１４の処理
を実行する。このような処理の繰返しの結果、試験電圧
が１５■」に達づるまでの間に、ＡＸ≠ＡＩ（２）とな
る段階があれば、その時点で異常処理を実行しくステッ
プ１７）、主制御回路５の内部に異常があることを表示
などの手段によって告知する。しかし、ＡＸ≠ＡＩく２
）となる段階がなければ、「５■」の試験電圧による診
断を終了した時点で正常処理を実行し（ステップ１６）
、主胴佃回路５は正常であることを表示などの手段によ
って告知する。
なお、本発明は複写）１に限定されるものではなく、ア
ナログ入力端子とアノ−ログ出力端子を有する電子ま器
の全てに適用することができることは言うまでもない。
ナログ入力端子とアノ−ログ出力端子を有する電子ま器
の全てに適用することができることは言うまでもない。
［冗明の効果］
以上説明したように本発明は、診断対Ａの主制御回路の
アナログ出力端子から複数段階に変化する試験電圧を出
力させ、この試験電圧をアナログ入力端子にフィードバ
ックし、アナログ出力端子から出力した試験電圧とアナ
ログ入力端子から入力した試験電圧とを試験電圧の各段
階別に比較し、一致するか否かによって主制御回路の異
常を診断するようにしたため、主制御回路自体の異常を
極めて簡単に診断することができる。そして、主制御回
路の外部の回路系の診断処理と組合せて使用すれば、別
器全体の中での異常部位が主制御回路内に存在するのか
、あるいはその外部に存在プるのかを簡単に識別するこ
とができるため、保守点検作業を容易にすることができ
るなどの効果が得られる。
アナログ出力端子から複数段階に変化する試験電圧を出
力させ、この試験電圧をアナログ入力端子にフィードバ
ックし、アナログ出力端子から出力した試験電圧とアナ
ログ入力端子から入力した試験電圧とを試験電圧の各段
階別に比較し、一致するか否かによって主制御回路の異
常を診断するようにしたため、主制御回路自体の異常を
極めて簡単に診断することができる。そして、主制御回
路の外部の回路系の診断処理と組合せて使用すれば、別
器全体の中での異常部位が主制御回路内に存在するのか
、あるいはその外部に存在プるのかを簡単に識別するこ
とができるため、保守点検作業を容易にすることができ
るなどの効果が得られる。
第１図は本発明を適用した電子門型の主制御回路の一実
施例を示す図、第２図は自己診断処理を示すフローチャ
ートである。 １・・・中央処理装置、２，４・・・マルチプレクサ、
３・・・ＤＡ変換器、５・・・主制御回路。
施例を示す図、第２図は自己診断処理を示すフローチャ
ートである。 １・・・中央処理装置、２，４・・・マルチプレクサ、
３・・・ＤＡ変換器、５・・・主制御回路。
Claims (1)
- アナログ入力端子とアナログ出力端子を有する電子機器
において、診断対象の主制御回路のアナログ出力端子か
ら複数段階に変化する試験電圧を出力させ、この試験電
圧をアナログ入力端子にフィードバックし、アナログ出
力端子から出力した試験電圧とアナログ入力端子から入
力した試験電圧とを試験電圧の各段階別に比較し、一致
するか否かによって主制御回路の異常を診断する電子機
器の自己診断方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60232552A JPS6293711A (ja) | 1985-10-18 | 1985-10-18 | 電子機器の自己診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60232552A JPS6293711A (ja) | 1985-10-18 | 1985-10-18 | 電子機器の自己診断方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6293711A true JPS6293711A (ja) | 1987-04-30 |
Family
ID=16941113
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60232552A Pending JPS6293711A (ja) | 1985-10-18 | 1985-10-18 | 電子機器の自己診断方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6293711A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6462715A (en) * | 1987-09-03 | 1989-03-09 | Hioki Electric Works | Power unit |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60147552A (ja) * | 1984-01-11 | 1985-08-03 | Nippon Denso Co Ltd | 自己診断機能を有する車両用制御装置 |
-
1985
- 1985-10-18 JP JP60232552A patent/JPS6293711A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60147552A (ja) * | 1984-01-11 | 1985-08-03 | Nippon Denso Co Ltd | 自己診断機能を有する車両用制御装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6462715A (en) * | 1987-09-03 | 1989-03-09 | Hioki Electric Works | Power unit |
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