JPS6289346A - 半導体装置用ソケツト - Google Patents

半導体装置用ソケツト

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Publication number
JPS6289346A
JPS6289346A JP23019885A JP23019885A JPS6289346A JP S6289346 A JPS6289346 A JP S6289346A JP 23019885 A JP23019885 A JP 23019885A JP 23019885 A JP23019885 A JP 23019885A JP S6289346 A JPS6289346 A JP S6289346A
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JP
Japan
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semiconductor device
substrate
socket
guide holes
lead pins
Prior art date
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Pending
Application number
JP23019885A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Okino
沖野 博
Kan Kawanaka
河中 敢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
Priority to JP23019885A priority Critical patent/JPS6289346A/ja
Publication of JPS6289346A publication Critical patent/JPS6289346A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0266Marks, test patterns or identification means
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/11Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/14Structural association of two or more printed circuits
    • H05K1/141One or more single auxiliary printed circuits mounted on a main printed circuit, e.g. modules, adapters

Landscapes

  • Connecting Device With Holders (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、ピン・グリッド・アレイ型パッケージ(以下
、PGAパッケージという)等に収納された半導体装置
を装着する半導体装置用ソケットに関するものである。
(従来の技術) 従来、このような分野の技術としては、特公昭60−1
8750号公報に記・成されるものがあった。以下、そ
の構成を図を用いて説明する。
第2図は従来のPGA型等の半導体装置用ソケットの一
構成例を示す側面図である。
このソケットは、プリン]・基板、テスト用ボード等の
取付板1」二に取付けられる固定部材2を具え、その固
定部材2にはその下方向に突出するコンタクト3が装着
されている。さらに、固定部材2には、その」−に摺動
自在にノ、(板4が取イ・1けられると共に、操作レバ
ー5が軸着されている。
基板4は、複数本のリードピン6aがF方向に突出され
たPGA型半導体装置6を載質してそれを固定するもの
であり、操作レバー5を横に倒すことによりXa力方向
前進し、その操作し八−5を立てることによりXb力方
向後進する 第3図は第2図の平面図である。固定部材2の両側部に
は固定孔10が形成され、この固定孔lOにねじ等を挿
入することによって該固定部材2が取伺板1に固定され
る。基板4には、複数個の案内孔11が穿設されている
。この案内孔11はリードピン6aをコンタクト3に接
触させる際の案内をするもので、リードピン6aの太さ
よりも大きく形成されている。
第4図は第3図のA−A線断面拡大図、および第5図は
第4図のB−B線方向の平面図である。
固定部材2には、案内孔11と対応する位置に複数個の
取付孔2aが形成され、その取付孔2a内にコンタクト
3が装着されている。コンタクト3は、取伺孔2a内に
収納され半導体装置6のリードピン6aと接触する接触
部3aと、取付孔2aから下方向へ突出する端子部3b
とで構成され、バネ性を有する導電部材で作られている
以上のように構成されるソケットの使用方法を説明する
先ず、ソケット固定部材2を取伺板1に固定し、コンタ
クト3の端子部3bと取イ」板lに設けられた端子とを
接続する。
次に、第2図のように操作レバー5を立てると、基板4
がxb力方向移動し、その基板4の案内孔11が固定部
材2に設けられた取伺孔2aの真りに位置する。そこで
、半導体装置6を基板4J−の所定位置に載せれば、リ
ードピン6aが案内孔11を案内として固定部材2の取
付孔2a内に挿入される。
その後、第2図の操作レバー5を倒すと、基板4がXa
力方向移動し、リードピン6aをXa力方向押圧する。
これにより、リードピン6aがコンタクト3の接触部3
aに圧接され、両者が電気的に接続される。
半導体装置6をソケットから取りすすには、操作レバー
5を立て、半導体装置6を持ち」−げればよい。
この種のソケットでは、接続するリードピン6aを取付
孔2aへ挿入し、操作レバー5の操作によって、リード
ピン6dをコンタクト3に圧接する構造であるため、直
接コンタクl−3に押し込む構造のものに比べて大きな
挿入力を必要とせず、それによってリードピン6aの折
れ曲りによる接触不良等が少ないという利点を有してい
る。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、上記構成のソケットでは、次のような問
題点があった。
すなわち、半導体装置6を装着してその性能の評価、解
析等のモニタ作業を行なう場合、固定部材2の裏面に突
出するコンタクト3にモニタ用配線を接続しなければな
らないため、取付板l裏面からの操作が増えてモニタ作
業が煩雑になるという問題点があった。
そこで、予めモニタ用配線をコンタクト3に接続してお
く方法もあるが、コンタクト3の数が多くなると、接続
部の配線が混んでモニタ作業がしずらくなる。また、モ
ニタ用配線が絡んで操作性が悪くなると共に、その電気
的特性により測定精度が低下してしまうという問題点が
あった。
本発明は、前記従来技術が持っていた問題点として、モ
ニタ作業時の操作性が悪く、測定精度等が低い点につい
て解決した半導体装置用ソケットを提供するものである
(問題点を解決するための手段) 本発明は、前記問題点を解決するために、半導体装置を
装着する半導体装置用ソケッI・を、下方向に複数本の
リードピンを突設した半導体装置を搭載するための基板
と、この基板に形成され前記リードピンが挿入される複
数個の案内孔と、この案内孔の壁面に形成された導電部
材と、前記基板上における半導体装置が搭載される領域
外に設けられ前記導電部材と接続された複数個のモニタ
端子とで、少なくとも構成したものである。
(作 用) 本発明によれば、以上のように半導体装置用ソケットを
構成したので、基板上に設けられたモニタ端子を介して
半導体装置とのモニタ用信号の授受を行え、これによっ
てモニタ作業の操作性が向上する。さらに、モニタ端子
に雑音除去のためのフィルタ等を接続した各種の基板を
用意しておき、モニタすべき半導体装置に応じた基板に
半導体装置を装着すれば、精度よく半導体装置のモニタ
作業が行なえるのである。したがって、前記問題点を除
去できるのである。
(実施例) 第1図は本発明の第1の実施例を示すPCM型等の半導
体装置用ソケットの平面図である。なお、従来の第2図
から第5図中の要素には同一の符号が付されている。
この実施例が従来のソケットと異なる点は、固定部材2
上に搭載される基板20の構造を変えたことと、この基
板20を着脱自在に固定部材2に取付けたことである。
すなわち、基板20は、固定部材2に設けた図示しない
案内レール等によってXa、Xb力方向摺動自在で、か
つ取外し自在にその固定部材2に取付けられている。さ
らに基板20にはこれに搭載される半導体装置6のリー
ドピン8aに対応してそのり−ドビン径よりも大きな複
数個の案内孔21が穿設され、さらにその案内孔21の
外周部でかつ半導体装置搭載領域外に複数本のピン形モ
ニタ端子22が北方に突設されている。案内孔21とモ
ニタ端子22とは、基板2 Ofに形成された銅箔等の
導体23で連結されている。導体23はその表面に絶縁
用コーティングが施されている。
第6図は第1図のC−C線断面拡大図である。案内孔2
1内にはその壁面に銅箔等の導電部材24が形成され、
その導電部材24が導体23によってモニタ端子22と
接続されている。
次に、以上のように構成されるソケットの使用方法につ
いて説明する。
先ず、基板20の側面に軸着された操作レバー5を立て
て、基板20を第1図のxb力方向前進させる。すると
、案内孔21が固定部材2に設けられた取付孔2aの真
」−にくる。そして半導体装置6を基板20の所定位置
に載置すれば、その半導体装置6のリードピンBaが案
内孔21で案内されて取付孔2a内に挿入される。
次に、前記操作レバー5を横に倒して、基板20をXa
力方向前進させる。すると、基板20によってリードピ
ン6aがXa力方向押圧され、これによってリードピン
6aが導電部材24に圧接されると共に。
取付孔2a内に設けられたコンタクト3の接触部3aに
圧接される。
半導体装置6をソケットから取りはずすには、操作レバ
ー5を立てて、その半導体装置6を持ち」二げればよい
このような構成、作用を持つソケットによれば、基板2
0の表面にモニタ端子22を設けたので、このモニタ端
子22を用いてモニタ作業を行なえば、その操作性が向
上すると共に、モニタすべきモニタ端子22を探しやす
く、的確なモニタ作業が行なえる。この際、リードピン
6aに触れないので、そのリードピン6aの損傷や摩耗
が防止できる。しかもモニタ端子22が基板20の表面
に設けられているため、雑音除去のためのフィルタ等が
接続じやすい。さらに、基板20は固定部材2に着脱自
在に取付けられているため、モニタ端子22に雑音除去
のためのフィルタ等を接続した各種の基板20を用意し
ておき、モニタすべき半導体装置6に応じた基板20を
、取付板1に固定された固定部材2に取付ければ、精度
よく半導体装M6のモニタ作業が行なえる。
第7図は本発明の第2の実施例に係るソケットの部分斜
視図である。
この実施例では、導体23が基板20の内部に形成され
ている。このような構造にすれば、導体23が露出しな
いので短絡事故が防止できる。
第8図は本発明の第3の実施例に係るソケットの部分斜
視図である。この実施例では、導体23が基板20の裏
面に形成されている。そのため、第2の実施例の効果に
加え、導電性部材21とモニタ端子22との接続関係を
調べたいときは、目視で確認することができる。
第9図は本発明の第4の実施例に係るソケットの部分斜
視図である。この実施例では、パッド形状のモニタ端子
32が基板20」−に設けられていることである。その
ため、雑音除去等に用いられるフィルタ等を容易に接続
できる。
第1O図は本発明の第5の実施例に係るソケットの部分
斜視図である。この実施例では、輪状のモニタ端子42
が基板20の外縁部に設けられている。
そのため、オシロスコープ等に使用されているフック式
の電極ビンとの接続が容易となる。
第11図は本発明の第6の実施例に係るソケットの部分
斜視図である。この実施例では、スルーホールの内壁に
銅箔等のメッキを被着したモニタ端子52を、基板20
の外縁部付近に設けている。そのため、抵抗やキャパシ
タ等のリードを直接、挿着することができる。
なお、本発明は図示の実施例に限定されず、種々の変形
かり能である。その変形例としては、例えば次のような
ものがある。
■ 第1の実施例では、ビン形のモニタ端子22を基板
20の外縁部にすべて配設しているが、最外周位置のモ
ニタ端子20は直接にモニタ用配線等を行なうことが可
能であるため、なくてもよい。
■ モニタ端子20は、すべてビン形状のものとする必
要はなく、前記実施例に示したパッド形状、輪状、スル
ーホール形状等のモニタ端子を組合せて配設してもよい
■ 第1の実施例では、基板20が固定部材2に対して
摺動自在の構造になっているが、該基板20を固定部材
2に着脱自在に固定し、その両者間に操作レバー5によ
り摺動する板体を介装し、その板体によってリードピン
6aを押圧するようにしてもよい。
■ 上記実施例では、固定部材2−1−に搭載される基
板20にモニタ端子22,32,42.52を設けた構
造であるが、該固定部材2を取付ける取付板1等の汎用
基板側に、1−記実施例を適用することも可能である。
すなわち、汎用基板に、導電部材24が形成された案内
孔21.モニタ端子22,32,42,52.及び導体
23を設ける。これにより、この汎用基板上に直接、半
導体装置6を装着してモニタ作業を行なう場合、上記実
施例と同様の効果が得られる。
(発明の効果) 以上詳細に説明したように、本発明によれば、基板上に
モニタ端子を設けたので、モニタ作業の操作性を向上さ
せることができる。さらに、モニタ端子に雑音除去のた
めのフィルタ等を接続した各種の基板を用意しておき、
モニタすべき半導体装置に応じた基板に半導体装置を装
着すれば、容易かつ高精度に各種のモニタ作業を行なう
ことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例に係る半導体装置用ソケ
ットの平面図、第2図は従来の半導体装置用ソケットの
側面図、第3図は第2図の平面図、第4図は第3図のA
−A @断面拡大図、第5図は第4図のB−B線方向の
平面図、第6図は第1図のC−C線断面拡大図、第7図
〜第11図は本発明の他の実施例を示すもので、第7図
は第2の実施例の部分斜視図、第8図は第3の実施例の
部分斜視図、7B9図は第4の実施例の部分斜視図、第
10図は第5の実施例の部分斜視図、第11図は第6の
実施例の部分斜視図である。 2・・・・・・固定部材、3・・・・・・コンタクト、
6・旧・・半導体装置、6a・・・・・・リードピン、
20・・団・基板、21・・・・・・案内孔、22,3
2,42.52・・・・・・モニタ端子、23・旧・・
導体、24・旧・・導電部材・

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 下方向に複数本のリードピンを突設した半導体装置を搭
    載するための基板と、 前記基板に形成され前記リードピンが挿入される複数個
    の案内孔と、 前記案内孔の壁面に形成された導電部材と、前記基板上
    における半導体装置が搭載される領域外に設けられ前記
    導電部材と接続された複数個のモニタ端子とを備えた半
    導体装置用ソケット。
JP23019885A 1985-10-16 1985-10-16 半導体装置用ソケツト Pending JPS6289346A (ja)

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JP23019885A JPS6289346A (ja) 1985-10-16 1985-10-16 半導体装置用ソケツト

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JP23019885A JPS6289346A (ja) 1985-10-16 1985-10-16 半導体装置用ソケツト

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JPS6289346A true JPS6289346A (ja) 1987-04-23

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ID=16904118

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JP23019885A Pending JPS6289346A (ja) 1985-10-16 1985-10-16 半導体装置用ソケツト

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5521427A (en) * 1992-12-18 1996-05-28 Lsi Logic Corporation Printed wiring board mounted semiconductor device having leadframe with alignment feature
US5729894A (en) * 1992-07-21 1998-03-24 Lsi Logic Corporation Method of assembling ball bump grid array semiconductor packages
US11815751B2 (en) 2018-05-22 2023-11-14 Ngk Insulators, Ltd. Composite substrate for electro-optic element and method for manufacturing the same

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5729894A (en) * 1992-07-21 1998-03-24 Lsi Logic Corporation Method of assembling ball bump grid array semiconductor packages
US5521427A (en) * 1992-12-18 1996-05-28 Lsi Logic Corporation Printed wiring board mounted semiconductor device having leadframe with alignment feature
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