JPS628212A - バツテリ−電圧検出回路 - Google Patents
バツテリ−電圧検出回路Info
- Publication number
- JPS628212A JPS628212A JP60147865A JP14786585A JPS628212A JP S628212 A JPS628212 A JP S628212A JP 60147865 A JP60147865 A JP 60147865A JP 14786585 A JP14786585 A JP 14786585A JP S628212 A JPS628212 A JP S628212A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- battery
- voltage
- emitting diode
- light emitting
- comparators
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Power Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、バッテリーの電圧の低下を検出するバッテリ
ー電圧検出回路に関し、特にメモリーのバックアップシ
ステムにおけるバッテリーのためのバッテリー電圧検出
回路に関する。
ー電圧検出回路に関し、特にメモリーのバックアップシ
ステムにおけるバッテリーのためのバッテリー電圧検出
回路に関する。
従来この種のメモリーのバックアップシステムにおける
バッテリーの電圧検ｄ回路に、バッテリーがある一定の
電圧を下回っ九ことを検出し、何らかの方法で電圧低下
をシステムに通知していたが、この検出電圧のしきい値
に１つのみであり、低電圧検出後も一定期間は、メモリ
ー内容の保証をしていた。
バッテリーの電圧検ｄ回路に、バッテリーがある一定の
電圧を下回っ九ことを検出し、何らかの方法で電圧低下
をシステムに通知していたが、この検出電圧のしきい値
に１つのみであり、低電圧検出後も一定期間は、メモリ
ー内容の保証をしていた。
従来、メモリーバックアップシステムでニ通常メモリー
ＩＣニバックアップに適した低消費電力の素子が使用さ
れ、かつ歩容量のメモリー容量である為バックアップ中
の単位時間当りの電圧降下量も微少であり、バッテリー
の一定官圧以下の低電圧検出後のメモリー内容の保証期
間も長くとることができた。
ＩＣニバックアップに適した低消費電力の素子が使用さ
れ、かつ歩容量のメモリー容量である為バックアップ中
の単位時間当りの電圧降下量も微少であり、バッテリー
の一定官圧以下の低電圧検出後のメモリー内容の保証期
間も長くとることができた。
しかし低消費電力の素子に一般に高価であり、かつメモ
リーの大容量化も進んだ為、本来バックアップには適さ
ないが、大容量化に向く素子をメモリーに使用せざるを
得なかったり、またバックアップ用メモリーヲ使用して
も単に大容量化された為にバックアップ時の消費電力が
大幅に増加し、単位時間当りのバッテリーの電圧降下量
が大きくなり低電圧検出後のメモリー内容の保証期間も
短期間となってしまっている。
リーの大容量化も進んだ為、本来バックアップには適さ
ないが、大容量化に向く素子をメモリーに使用せざるを
得なかったり、またバックアップ用メモリーヲ使用して
も単に大容量化された為にバックアップ時の消費電力が
大幅に増加し、単位時間当りのバッテリーの電圧降下量
が大きくなり低電圧検出後のメモリー内容の保証期間も
短期間となってしまっている。
このように大容量のメモリーシステムの場合に上述した
従来のバッテリー電圧検出回路は、電源投入時に低電圧
検出通知された時点ですでに保証期間をすぎている場合
も有り得るが、電源投入時が保証期間内であるのか否か
判別できず、メモリー内容の保証がされているのが判別
できないという欠点があっ九。
従来のバッテリー電圧検出回路は、電源投入時に低電圧
検出通知された時点ですでに保証期間をすぎている場合
も有り得るが、電源投入時が保証期間内であるのか否か
判別できず、メモリー内容の保証がされているのが判別
できないという欠点があっ九。
本発明のバッテリー電圧検出回路に、バッテリーの電圧
ｔ−ｗ、１お工び第２のしきい値と比較する比較器と、
この比較器から信号を受け前記バッテリーの電圧と前記
第１お工びｌ！２のしきい値との関係を表示する表示手
段とを含んでｓ収される。
ｔ−ｗ、１お工び第２のしきい値と比較する比較器と、
この比較器から信号を受け前記バッテリーの電圧と前記
第１お工びｌ！２のしきい値との関係を表示する表示手
段とを含んでｓ収される。
次に本発明について回置を参照して説明する。
第１図は本発明の一実施例の回路図である。比較器１．
２にバッテリー５の電圧を入力し、比較器１ｉしきい値
υ１ｔ−もち、比較器２はしきい値υｚｋもち、比較器
１，２各々の出力ａ、ｂｉ正極性とする。トランジスタ
３のエミッタは抵抗Ｒ５を介して低電圧検出表示用発光
ダイオード４（他瑞に接地）が接続され、また抵抗Ｒ４
を介して接地されている。トランジスタ３のコレクタは
抵抗と、および抵抗凡１ｔ−介して電源■ｃｃＴＩｃ接
続されている。電源ＶＣＣと地気の間に抵抗Ｒ６，ツェ
ナーダイオード６．７が直列ＶＣ接続され、抵抗１（＋
６とツェナーダイオード６の接続点およびツェナーダイ
オード６．７の接続点それぞれが比較器１゜２ｖｃ接続
されている。ツェナーダイオード６．７それぞれのツェ
ナー電圧を■１．■２ とすると、ししきい値ｔ！
’１＝Ｖ１＋Ｖ１．１）ｚｘＶ２となＬ ｕｌ）ｕ２と
なる。
２にバッテリー５の電圧を入力し、比較器１ｉしきい値
υ１ｔ−もち、比較器２はしきい値υｚｋもち、比較器
１，２各々の出力ａ、ｂｉ正極性とする。トランジスタ
３のエミッタは抵抗Ｒ５を介して低電圧検出表示用発光
ダイオード４（他瑞に接地）が接続され、また抵抗Ｒ４
を介して接地されている。トランジスタ３のコレクタは
抵抗と、および抵抗凡１ｔ−介して電源■ｃｃＴＩｃ接
続されている。電源ＶＣＣと地気の間に抵抗Ｒ６，ツェ
ナーダイオード６．７が直列ＶＣ接続され、抵抗１（＋
６とツェナーダイオード６の接続点およびツェナーダイ
オード６．７の接続点それぞれが比較器１゜２ｖｃ接続
されている。ツェナーダイオード６．７それぞれのツェ
ナー電圧を■１．■２ とすると、ししきい値ｔ！
’１＝Ｖ１＋Ｖ１．１）ｚｘＶ２となＬ ｕｌ）ｕ２と
なる。
バッテリー５の電圧ｉＥとし、Ｅ）υ１のとき比較器１
の出力ａｎ”ｏ−ｈ同様に比較器２の出力すも′″０＃
であるからトランジスタ３のベースに出力ａｖｃぶり接
地され、トランジスタ３はカットオフになり発光ダイオ
ード４に消灯している。υＸ ＞Ｅ＞ ｕ２のとき出力
ａ「１１出力／ｂに１０′となＯｋ電゛源ｖｃｃの電圧
が抵抗Ｒ１と几２で分圧された電圧がトランジスタ３の
ベースに加わり発光ダイオード４框点灯する。υ１〉ｕ
雪＞Ｅとなると出力ｂｕ”ｌ”となり抵抗Ｒ２が浮き、
トランジスタ３のベースには抵抗ａｌ ｔ−通した電源
ＶＣＣの電圧が加わり、発光ダイオード４ｒｉさらに明
るく点灯する。
の出力ａｎ”ｏ−ｈ同様に比較器２の出力すも′″０＃
であるからトランジスタ３のベースに出力ａｖｃぶり接
地され、トランジスタ３はカットオフになり発光ダイオ
ード４に消灯している。υＸ ＞Ｅ＞ ｕ２のとき出力
ａ「１１出力／ｂに１０′となＯｋ電゛源ｖｃｃの電圧
が抵抗Ｒ１と几２で分圧された電圧がトランジスタ３の
ベースに加わり発光ダイオード４框点灯する。υ１〉ｕ
雪＞Ｅとなると出力ｂｕ”ｌ”となり抵抗Ｒ２が浮き、
トランジスタ３のベースには抵抗ａｌ ｔ−通した電源
ＶＣＣの電圧が加わり、発光ダイオード４ｒｉさらに明
るく点灯する。
バッテリー５の電圧Ｅがしきい値υ意まで降下 。
してもバッテリー５によりバックアップされるメモリー
の内容が保証できるふうにしきＶｈＫｕｓ ｋ設定し
ておくことに工す、発光ダイオード４が暗く点灯してい
る間に速やかにバッテリー５の交換を行なえばメモリー
内容は保証される。−万発光ダイオード４が明るく点灯
していたら、すでにバッテリー５はほぼ完全に放電して
しまっていることになり、メモリー内容は保証されてい
ないことになる。この工うに発光ダイオード４の明るさ
のみでバッテリー５を交換すべきか否かおよびメモリー
内容が保証されているか否かを判別できる。
の内容が保証できるふうにしきＶｈＫｕｓ ｋ設定し
ておくことに工す、発光ダイオード４が暗く点灯してい
る間に速やかにバッテリー５の交換を行なえばメモリー
内容は保証される。−万発光ダイオード４が明るく点灯
していたら、すでにバッテリー５はほぼ完全に放電して
しまっていることになり、メモリー内容は保証されてい
ないことになる。この工うに発光ダイオード４の明るさ
のみでバッテリー５を交換すべきか否かおよびメモリー
内容が保証されているか否かを判別できる。
以上説明したように本発明は、バッテリーの電圧を第１
お工びＷＬ２のしきい値と比較することにＬす、バッテ
リーを交換すべき魯バッテリーの電圧が低くなっている
か否か、およびバックアップが十分に出来ないほどバッ
テリーの電圧が降下しているか否かを判別できるという
効果がある。
お工びＷＬ２のしきい値と比較することにＬす、バッテ
リーを交換すべき魯バッテリーの電圧が低くなっている
か否か、およびバックアップが十分に出来ないほどバッ
テリーの電圧が降下しているか否かを判別できるという
効果がある。
ｇ１図は本発明の一実施例の回路図である。
１．２・・・・・・比較器、３・・・・・・トランジス
タ、４・・・・・・発光ダイオード、５・・・・・・パ
ラ５’ｌＪ＋、６．７・・・・・・ツェナーダイオード
。 ・ゝ）
タ、４・・・・・・発光ダイオード、５・・・・・・パ
ラ５’ｌＪ＋、６．７・・・・・・ツェナーダイオード
。 ・ゝ）
Claims (1)
- バッテリーの電圧を第１および第２のしきい値と比較す
る比較器と、この比較器から信号を受け前記バッテリー
の電圧と前記第１および第２のしきい値との関係を表示
する表示手段とを含むことを特徴とするバッテリー電圧
検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60147865A JPS628212A (ja) | 1985-07-04 | 1985-07-04 | バツテリ−電圧検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60147865A JPS628212A (ja) | 1985-07-04 | 1985-07-04 | バツテリ−電圧検出回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS628212A true JPS628212A (ja) | 1987-01-16 |
Family
ID=15439991
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60147865A Pending JPS628212A (ja) | 1985-07-04 | 1985-07-04 | バツテリ−電圧検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS628212A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0218130U (ja) * | 1988-07-22 | 1990-02-06 | ||
| US5007027A (en) * | 1988-05-16 | 1991-04-09 | Fujitsu Limited | Data protection system in a data processing system |
| US5016127A (en) * | 1988-03-23 | 1991-05-14 | Sony Corporation | Mechanism for transporting and receiving large and small tape cassettes |
| KR100416374B1 (ko) * | 2001-04-26 | 2004-01-31 | 삼성전자주식회사 | 마이크로 컨트롤러용 저전압 리셋 회로 |
| JP2010507869A (ja) * | 2006-10-27 | 2010-03-11 | ヒューレット−パッカード デベロップメント カンパニー エル．ピー． | コンピュータ装置電力管理システム及び方法 |
| WO2011154781A1 (en) * | 2010-06-11 | 2011-12-15 | Nokia Corporation | Method for battery removal detection |
-
1985
- 1985-07-04 JP JP60147865A patent/JPS628212A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5016127A (en) * | 1988-03-23 | 1991-05-14 | Sony Corporation | Mechanism for transporting and receiving large and small tape cassettes |
| US5007027A (en) * | 1988-05-16 | 1991-04-09 | Fujitsu Limited | Data protection system in a data processing system |
| JPH0218130U (ja) * | 1988-07-22 | 1990-02-06 | ||
| KR100416374B1 (ko) * | 2001-04-26 | 2004-01-31 | 삼성전자주식회사 | 마이크로 컨트롤러용 저전압 리셋 회로 |
| JP2010507869A (ja) * | 2006-10-27 | 2010-03-11 | ヒューレット−パッカード デベロップメント カンパニー エル．ピー． | コンピュータ装置電力管理システム及び方法 |
| WO2011154781A1 (en) * | 2010-06-11 | 2011-12-15 | Nokia Corporation | Method for battery removal detection |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TWI312869B (en) | Power level detector | |
| US4709172A (en) | Input-voltage detector circuit for CMOS integrated circuit | |
| US3838339A (en) | Logic test probe and indicator circuit | |
| US6411544B1 (en) | Circuit for detecting and recording a voltage surge | |
| JPS628212A (ja) | バツテリ−電圧検出回路 | |
| JPH05262B2 (ja) | ||
| US5586077A (en) | Circuit device and corresponding method for resetting non-volatile and electrically programmable memory devices | |
| US3553658A (en) | Active storage array having diodes for storage elements | |
| JP3460233B2 (ja) | バッテリー装置 | |
| JPS6142174Y2 (ja) | ||
| JPH03222215A (ja) | スイッチ状態検出回路 | |
| US3594585A (en) | Pulse recognition circuit | |
| JPH0544716B2 (ja) | ||
| JPH02264316A (ja) | Ｉｃメモリカード | |
| CN205051775U (zh) | 一种防断电数据损坏的摄像机 | |
| KR880002679Y1 (ko) | 축전지 감시장치 | |
| JP2657829B2 (ja) | バックアップ電池の電圧検知方式 | |
| JPS60207430A (ja) | モニタ−回路 | |
| GB2330275A (en) | Intermittent reception and voltage monitoring for receiver | |
| JPS62241016A (ja) | デ−タ破壊検出装置 | |
| JPH059812B2 (ja) | ||
| JPS61271473A (ja) | 記憶保持用バツテリの電圧低下検出回路 | |
| JPS58146099A (ja) | メモリ保護装置 | |
| JPS61167347A (ja) | ピ−ク検出回路 | |
| JPS61213909A (ja) | メモリバツクアツプ装置 |