JPS6269673A - 固体撮像装置 - Google Patents

固体撮像装置

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Publication number
JPS6269673A
JPS6269673A JP60210602A JP21060285A JPS6269673A JP S6269673 A JPS6269673 A JP S6269673A JP 60210602 A JP60210602 A JP 60210602A JP 21060285 A JP21060285 A JP 21060285A JP S6269673 A JPS6269673 A JP S6269673A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
polycrystalline silicon
silicon layer
solid
light
gate electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60210602A
Other languages
English (en)
Inventor
Shuichi Matsuo
修一 松尾
Hajime Kurihara
一 栗原
Tetsuyoshi Takeshita
竹下 哲義
Kazumasa Hasegawa
和正 長谷川
Hideaki Oka
秀明 岡
Masabumi Kunii
正文 国井
Satoshi Takenaka
敏 竹中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP60210602A priority Critical patent/JPS6269673A/ja
Publication of JPS6269673A publication Critical patent/JPS6269673A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14665Imagers using a photoconductor layer

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、固体撮像装置の構造に関する。
〔発明の概要〕
本発明は、透明基板を用いて光を基板側から入射させる
駆動回路内蔵型固体撮像装置において、駆動回路のゲー
ト電極形成と同一工程中に、該ゲート電極材料(例えば
、ポリシリコン)を、光電変換素子周辺部に設は友こと
により、該ゲート電極材料(ポリシリコンが光吸収層と
なり、光電変換素子周辺の金属配線からの入射光の反射
により生じる迷光の受光素子面への入射を防止できる逢
め、雑音の少ない高精細な画像を得られるようにし几も
のである。
〔従来技術〕
従来の固体撮像装置にけ、8を基板を用いて形成した電
荷結合素子(OOD)の様に基板の素子側から光を入射
するものや1反対に薄膜形成技術により透明基板上に形
成され次固体撮偉装置の中で、光を基板側から入射する
もの(第3図)などがある。
後者は、透明基板としてガラス等を用いることができる
九め、縮小光学系を必要としないチップサイズの大舞い
密着型固体撮像装置が形成できる。
さらに、光を基板側から入射させることにより、素子面
上に容易に透明度に依存しないノくツシペーシ四ン膜を
施すこと六1でき高信頼性の固体撮像装置を得ることが
できる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、従来技術での薄膜形成技術による透明基板に形
成した固体撮像装置において、光を基板側から入射する
ように施し几場合、光電変換素子の周辺に入射した光h
′−1ν等の金属配線により反射して、透明基板内で迷
光となり、光電変換素子に入射して、緒音となり画像の
高精細度が低下するという問題点があった。
そこで本発明はこの様な問題点を解決するためのもので
、その目的とするところは、従来の薄膜トランジスタか
ら成る駆動回路内蔵型固体撮像装置において、同一工程
、同一材料で、固体撮像装置の光電変換素子周辺の金属
配線部等に入射した光の反射を防止するために光電変換
素子周辺に光吸収層を設けるものである。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の透明基板を用いて光を基板側から入射させる駆
動回路内蔵型固体撮像装置において、駆動回路を構成す
るゲート電接の形成と共に、同−1穆で、光を吸収する
該ゲート電極材料を、光電変換素子周辺に設けたことを
特徴とする。
〔作用〕
本発明の作用を述べれば、光電変換素子周辺にゲート電
極と共に同一工程で光の吸収層となるゲート電極材料を
設は比から光電変換素子周辺の金属配線部から入射光の
反射により生じる受光素子面への迷光の入射を防止でき
るため、高精細な画像を得ることができる。
〔実施例〕
以下、本発明について実施例に基イいて詳細に説明する
第1図は、本発明の固体撮像装置の構造図であり、薄膜
トランジスタ3から成る駆動回路と非晶質半導体層から
成る光電変換素子2で構成されている。
第2図は5本発明の実施例を工程順に示す図である。こ
こで、基板側から光を入射させるため透明基板として、
石英基板1を用いる。
まず第2図(IL)の如(1石英基板21上に気相成長
法たよりポリシリコン22 (1000〜2000λ)
を島状に形成し、熱酸化により、ゲート酸化$25を形
成する。さらに、気相成長法によりゲート電極となるポ
リシリコン24 (3000〜aoooX)を形成する
。ここで、ゲート電極以外KMポリシリコンを、金属配
線下となる部分に適当に電気的に分離するように形成す
る。これにより、ポリシリコン層は、光吸収層として作
用する。また、トランジスタのソース・ドレイン部26
を形成するためにイオン注入25を行な)。
次に、第2図(b)の如く、層間絶縁膜27を形成する
。これにより、前述の光吸収層となるポリシリコンは、
完全に′電気的に分離される。さらに、共進1[極とな
る透明導電膜28(工To)を形成し光電変換素子29
どなる非晶質半導体を形成する。
さらに、第2図(C)の如く、コンタクトホールを形成
し、金属配線3Q(At配線)を形成することにより、
固体撮像装置が形成される。
〔発明の効果〕
以上述べ次様に、光吸収層となりえるゲート電極の形成
により、同一工程で該デー11材料を光電変換素子周辺
忙光吸収層として設けたから基板側から光電変換素子面
に光を入射させる場合光電変換素子周辺の金属配線部か
らの光の反射により生じる光電変換素子への迷光を防止
でき、緘音の少ない高精細な光情報を得ることがで炒る
という効果を有する。
特に、光電変換素子周辺に大面積となるa等のポンディ
ング端子を設けたり共通電極となる透明導電膜の配線抵
抗を下げるために、透明導電膜−ヒに金属配線(ht)
を形成することもできるという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は1本発明の一実施例を示す固体撮像装置の構造
図。 第2図(ロ))〜(clは1本発明の固体撮像装置の工
程図。 第3図は、従来の固体撮像装置の構造図。 1.31・・・・・・透明基板 2.29.59・・・・・・光電変換素子3・・・・・
・薄膜トランジスタ 4・・・・・・光吸収層 5.41・・・・・・入射光 21 ・・・・・・石英基板 22.52・・・・・・ポリシリコン 23.33・・・・・・ゲート酸化膜 24.34・・・・・・ゲート電極(ポリシリコン)2
5・・・・・・イオン注入 26.56・・・・・・ソース会ドレイン部27.57
・・・・・・層間絶縁膜 28.38・・・・・・透明導電膜 50.40・・・・・・金属配線(At)42・・・・
・・迷光 以  上 ■為環儀果1..籏覆亘 第1図 ↓↓1j 第2区(α) l仏11東iat、工@邑 第2図(b〕 第2図(C’) 汝3−傷必キu(1,准五昌 第3図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)透明基板を用いて光を基板側から入射させる駆動
    回路内蔵型固体撮像装置において、駆動回路のゲート電
    極の形成と同一工程で、該ゲート電極材料を、光電変換
    素子周辺に設けたことを特徴とする固体撮像装置。
  2. (2)前記ゲート電極材料として、光を吸収するポリシ
    リコン(3000Å〜8000Å)を用いたことを特徴
    とする特許請求の範囲第1項記載の固体撮像装置。
JP60210602A 1985-09-24 1985-09-24 固体撮像装置 Pending JPS6269673A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19535972A1 (de) * 1994-09-28 1996-04-11 Aisin Seiki Druckluftsteuerungsvorrichtung
JP2007300141A (ja) * 2007-08-08 2007-11-15 Semiconductor Energy Lab Co Ltd イメージセンサ

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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US5600953A (en) * 1994-09-28 1997-02-11 Aisin Seiki Kabushiki Kaisha Compressed air control apparatus
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