JPS6269110A - 光学的歪計測方法 - Google Patents
光学的歪計測方法Info
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- JPS6269110A JPS6269110A JP20779585A JP20779585A JPS6269110A JP S6269110 A JPS6269110 A JP S6269110A JP 20779585 A JP20779585 A JP 20779585A JP 20779585 A JP20779585 A JP 20779585A JP S6269110 A JPS6269110 A JP S6269110A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L1/00—Measuring force or stress, in general
- G01L1/24—Measuring force or stress, in general by measuring variations of optical properties of material when it is stressed, e.g. by photoelastic stress analysis using infrared, visible light, ultraviolet
- G01L1/241—Measuring force or stress, in general by measuring variations of optical properties of material when it is stressed, e.g. by photoelastic stress analysis using infrared, visible light, ultraviolet by photoelastic stress analysis
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
- G01N21/45—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length using interferometric methods; using Schlieren methods
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
Ｃｍｍ上上利用分野〕
この発明は、Ｘｅランプ、ハロゲンランプ等の各種管球
のガラス部材等の透光性物体に生ずる光学的歪を計測す
る方法に係り、特に、点灯中のランプの歪の時間的変化
（即ち、動的歪）あるいは管球に生ずる残留歪等を高精
度に計測する方法に関するものである。
のガラス部材等の透光性物体に生ずる光学的歪を計測す
る方法に係り、特に、点灯中のランプの歪の時間的変化
（即ち、動的歪）あるいは管球に生ずる残留歪等を高精
度に計測する方法に関するものである。
超高圧水銀灯、ノ１０ゲンランプ、レーザ管等の各株管
球の製造において、ランプの動的歪′Ｐ残留歪等を迅速
に計測することは、極めて重要な課題である。
球の製造において、ランプの動的歪′Ｐ残留歪等を迅速
に計測することは、極めて重要な課題である。
従来の光学的歪計としては、セナルモン補償法を利用し
たものがめる。第５図は、この歪「［の基本的な構成を
示す図である。試験光は、直線偏光子３１ｔ−介して透
光性物体６２に人ｙ＝ｔされる。山元性物体′ｔ−透過
しｆｃ元は、１７４波長板３３を介して検光子３４に入
射される。もし透光性物体６２に歪が存在しない場合に
は、う光性物体３２は光学的に等方性媒買と見做すこと
ができる。一方、透光性物体５２に蛍がある場合には、
光弾性効果によりＸ方向、ｙ方向で刑折率が異なってく
る。
たものがめる。第５図は、この歪「［の基本的な構成を
示す図である。試験光は、直線偏光子３１ｔ−介して透
光性物体６２に人ｙ＝ｔされる。山元性物体′ｔ−透過
しｆｃ元は、１７４波長板３３を介して検光子３４に入
射される。もし透光性物体６２に歪が存在しない場合に
は、う光性物体３２は光学的に等方性媒買と見做すこと
ができる。一方、透光性物体５２に蛍がある場合には、
光弾性効果によりＸ方向、ｙ方向で刑折率が異なってく
る。
即ち、複屈折を生じる。従って、検光子３４により検出
される光強度は、歪が存在しない場合に対して変化を生
ずる。この検出光強度の変化を検光子回転角として測定
することにより、歪量が計測されることが可能となる（
特開昭５７−１９１５０４等に開示された歪計測方法も
大体これと同様のものである）。
される光強度は、歪が存在しない場合に対して変化を生
ずる。この検出光強度の変化を検光子回転角として測定
することにより、歪量が計測されることが可能となる（
特開昭５７−１９１５０４等に開示された歪計測方法も
大体これと同様のものである）。
このセナルモン補償法等を利用した従来の歪計では、被
測定情報は背散光の影）を大きく受け、点灯中のランプ
の動的歪をリアルタイムで、（Ｑ ６１１１することは
不可能に近くデータ処理、測定操作が複雑である。また
、分解能も低い。
測定情報は背散光の影）を大きく受け、点灯中のランプ
の動的歪をリアルタイムで、（Ｑ ６１１１することは
不可能に近くデータ処理、測定操作が複雑である。また
、分解能も低い。
ところで、各ｔ＊管球の製造においては、ランプ点灯中
の歪の時間的変化を掲精度に計測したり、ランプの残留
歪と迅速に計測しかつデータ処理することは、極めて重
要な課題として求められている。符に、超閥圧水銀灯や
ハロゲンランプの仮装の原因健明には、残留歪の計測だ
けでなく、ランプの点灯高始１寺点からの各部の歪の時
間的変化、即ち、応力の動的キｈを計測し解析すること
が重曹な問題となっている。
の歪の時間的変化を掲精度に計測したり、ランプの残留
歪と迅速に計測しかつデータ処理することは、極めて重
要な課題として求められている。符に、超閥圧水銀灯や
ハロゲンランプの仮装の原因健明には、残留歪の計測だ
けでなく、ランプの点灯高始１寺点からの各部の歪の時
間的変化、即ち、応力の動的キｈを計測し解析すること
が重曹な問題となっている。
この発明は、こうした問題点に鑑みて、点灯中のランプ
の動的歪や残留歪等を迅速かつ高梢度に計測しうる歪、
ｆｒ側方法を提供することを目的とするものである。
の動的歪や残留歪等を迅速かつ高梢度に計測しうる歪、
ｆｒ側方法を提供することを目的とするものである。
この目的を達成するために、この発明では、管球のガラ
ス部材等の透光性物体の歪を計測する方法として、６光
性物体に周波数の異なる２光波を透過させた際に生ずる
光ビート信号が、物体の歪に基づく光弾性効果により、
位相のずれを生ずることを利用して、込元性′吻体の歪
量を検出して計測する。
ス部材等の透光性物体の歪を計測する方法として、６光
性物体に周波数の異なる２光波を透過させた際に生ずる
光ビート信号が、物体の歪に基づく光弾性効果により、
位相のずれを生ずることを利用して、込元性′吻体の歪
量を検出して計測する。
また、特に尚技数のブ（なる２光波会＋する光源として
、ゼーマン・レーザを用いる。
、ゼーマン・レーザを用いる。
第１図は、この発明による光学的歪、ｔｉ ６１１１装
置−ｆｆｉの基本構成を示す図である。１は周波数の異
なる２光波を発生する光源、２は、ＴＦ測すべき透光注
籾体、３はＵ線’Ｍ光子（以Ｆ１１−光子と称す）、４
は光検出器、５．’ｊ：’υられた光ビート信号の位（
旧ずれを読み取る位相ずれ検出回路である。光源１とし
て安定化横ゼーマン・レーザを用いればよいことは菖う
までもない。また光ビート信号の位相ずれを１洸み取る
には、透光性物体２を通過して得られた光検出器４の出
力信号と、透光性物体２を通過しない光源固有の光ビー
ト信号６との間の位相差を位相ずれ検出回路５で読み取
ればよいことも言うまでもないであろう。
置−ｆｆｉの基本構成を示す図である。１は周波数の異
なる２光波を発生する光源、２は、ＴＦ測すべき透光注
籾体、３はＵ線’Ｍ光子（以Ｆ１１−光子と称す）、４
は光検出器、５．’ｊ：’υられた光ビート信号の位（
旧ずれを読み取る位相ずれ検出回路である。光源１とし
て安定化横ゼーマン・レーザを用いればよいことは菖う
までもない。また光ビート信号の位相ずれを１洸み取る
には、透光性物体２を通過して得られた光検出器４の出
力信号と、透光性物体２を通過しない光源固有の光ビー
ト信号６との間の位相差を位相ずれ検出回路５で読み取
ればよいことも言うまでもないであろう。
この発明によれば、被測定情報は、周波数の異なる２光
波から合成される光ビート信号中の位相ずれとして取り
出される。この光ビート信号は交流信号であり、電気信
号の収り扱いが谷易な周波数に設定でき、しかも直流信
号による計６１１１に比べて、外乱の影響を大きく軽減
することが可能となる。
波から合成される光ビート信号中の位相ずれとして取り
出される。この光ビート信号は交流信号であり、電気信
号の収り扱いが谷易な周波数に設定でき、しかも直流信
号による計６１１１に比べて、外乱の影響を大きく軽減
することが可能となる。
また、光源として波長安定化横ゼーマン・レーザ（以下
５ＴＺＬと略称）を用いると、このレーザの出力ビーム
は単−縦モード発振でありながら発振周波数がわずかに
異なる２周波で発振するので、簡単な光学系で計σ１リ
システムを構成することが可能となる。即ち、単一光源
から周波数の異なる２光波全得るためには、光源からの
光をビーム・スプリッタで２光波に分離し、一方のビー
ムを同転格子、超音波ブラッグセル等の周波数シフタを
通過させて、周波数偏移させなければならず、光学系が
複雑になり、取扱いも複雑になる。このような周波数シ
フタ等が不必要となるので、光学系を簡単にすることが
可能となる。
５ＴＺＬと略称）を用いると、このレーザの出力ビーム
は単−縦モード発振でありながら発振周波数がわずかに
異なる２周波で発振するので、簡単な光学系で計σ１リ
システムを構成することが可能となる。即ち、単一光源
から周波数の異なる２光波全得るためには、光源からの
光をビーム・スプリッタで２光波に分離し、一方のビー
ムを同転格子、超音波ブラッグセル等の周波数シフタを
通過させて、周波数偏移させなければならず、光学系が
複雑になり、取扱いも複雑になる。このような周波数シ
フタ等が不必要となるので、光学系を簡単にすることが
可能となる。
なお、透光性物体に歪が存在しない場合には、ｒｓ光性
物体は光学的に等方性物質と見做すことができるので、
透光性物体を通過したことによって光ビート信号の位相
がずれることはない。この場合、光学的歪は０と求めら
れる。−万、透光性物体に歪が存在する場合には、Ｘ方
向と夕方向とで屈折率が異なってくる。このため光ビー
ムはｉｆＬ父成分成分々で光路長が異なってくる。従っ
て、光検出器４からの光ビーＨぎ号の位相と光源１固有
の光ビート信号の位相との間にずれが生じ、このずれが
透光性物体の歪ｆＫ対応する測定はとなる。
物体は光学的に等方性物質と見做すことができるので、
透光性物体を通過したことによって光ビート信号の位相
がずれることはない。この場合、光学的歪は０と求めら
れる。−万、透光性物体に歪が存在する場合には、Ｘ方
向と夕方向とで屈折率が異なってくる。このため光ビー
ムはｉｆＬ父成分成分々で光路長が異なってくる。従っ
て、光検出器４からの光ビーＨぎ号の位相と光源１固有
の光ビート信号の位相との間にずれが生じ、このずれが
透光性物体の歪ｆＫ対応する測定はとなる。
以下、この発明の実施例について説明する。
（光学的歪￥を副装置の実施例）
第２図は、この発明による光学的歪計側装置の最も好ま
しい実施例を示す図である。
しい実施例を示す図である。
この計測装置は、５ＴＺＬ光源２１、試験片としての消
光性物体２２、偏光子２５、レンズ２４、ＮＤフィルタ
２５及び光検出器２６からなる光学系と、オシロスコー
プ２７、位相ｉ￥ｉ２８．及びペンレコーダ２９からな
る記録表示部で構成される。
光性物体２２、偏光子２５、レンズ２４、ＮＤフィルタ
２５及び光検出器２６からなる光学系と、オシロスコー
プ２７、位相ｉ￥ｉ２８．及びペンレコーダ２９からな
る記録表示部で構成される。
Ｓ’Ｉ’ＺＬ光ぶ２１の出力ビームは、透光性物体２２
、偏光子２３を透過し、レンズ２４で集光され、光検出
器２６に入る。なお、ＮＤフィルタ２５は光検出器２６
の利得の飽和を防ぐ減衰器として機能する。光検出器２
６で検波、増幅された光ビート信号は、位相ｆｆ１２８
と波形モニタ用のオシロスコープ２７に入力される。一
方、５ＴＺＬ光源２１それ自体による元ビート信号は、
レーザ管後部からの漏れ光２本体内蔵のｊｔ横出鼎で受
光することによって得られる。この光ビート信号も位相
計２８に参照番号として入力され、また波形モニタ用の
オシロスコープ２７にも入力される。位相計２８は、前
ａｄ ２つの元ビート信号の位４１Ｊ差をパネルメータ
上に直接指示し、かつＤＣ′１１圧に変換し出力する。
、偏光子２３を透過し、レンズ２４で集光され、光検出
器２６に入る。なお、ＮＤフィルタ２５は光検出器２６
の利得の飽和を防ぐ減衰器として機能する。光検出器２
６で検波、増幅された光ビート信号は、位相ｆｆ１２８
と波形モニタ用のオシロスコープ２７に入力される。一
方、５ＴＺＬ光源２１それ自体による元ビート信号は、
レーザ管後部からの漏れ光２本体内蔵のｊｔ横出鼎で受
光することによって得られる。この光ビート信号も位相
計２８に参照番号として入力され、また波形モニタ用の
オシロスコープ２７にも入力される。位相計２８は、前
ａｄ ２つの元ビート信号の位４１Ｊ差をパネルメータ
上に直接指示し、かつＤＣ′１１圧に変換し出力する。
このＤＣ出力は、ペンレコーダ２９に入力され、その時
間変化が記録される。
間変化が記録される。
なお、位相ｆｒＦ２Ｂ自体の精度は±１１°程蜜のもの
でよい。
でよい。
（理論的考察）
以下の説明では、第１図を用いて行うが、その光源ＩＦ
ｉ第２図に＆ける如く５ＴｚＬＩ元源であるとして説明
ｔ−進めて汀くことにする。
ｉ第２図に＆ける如く５ＴｚＬＩ元源であるとして説明
ｔ−進めて汀くことにする。
第１図に示されるような複数個の元学ぶ子を光波が通過
する場合の解析には、ジョーンズベクトルとジョーンズ
行列はｆｔ１Ｋが聞単になるので、よく用いられる。５
ＴＺＬ光源の出力ビームに対するジョーンズベクトルα
は、 で表わされる。ここ釦Δωは Δω＝ω２−ω１ −１１；）
である。また、レーザビームの直交成分のそれぞれは、
座標軸ｘ、ｙに一致しており、その角周波数は、それぞ
れω３．ω、である。さらにまた、計算の便宜上、Ｊ、
ｙ成分の憑＠は、それぞれ１に等しく、成分間で固有位
相差はないとして説明を進める。
する場合の解析には、ジョーンズベクトルとジョーンズ
行列はｆｔ１Ｋが聞単になるので、よく用いられる。５
ＴＺＬ光源の出力ビームに対するジョーンズベクトルα
は、 で表わされる。ここ釦Δωは Δω＝ω２−ω１ −１１；）
である。また、レーザビームの直交成分のそれぞれは、
座標軸ｘ、ｙに一致しており、その角周波数は、それぞ
れω３．ω、である。さらにまた、計算の便宜上、Ｊ、
ｙ成分の憑＠は、それぞれ１に等しく、成分間で固有位
相差はないとして説明を進める。
次に透光性物体２のジョーンズ行列Ｒβ（司は、で表わ
される。ここでδは光学的リタデーションの値、βは進
相軸ＦがＸ軸となす角度とする。
される。ここでδは光学的リタデーションの値、βは進
相軸ＦがＸ軸となす角度とする。
一方、偏光子３のジョーンズ行列Ｐ、ｉｉ、で表わされ
る。Ｓ’ｌ”Ｚｌ、光曽１からのビート６δ１りには１
．偏光子６の方位は、Ｘ軸から４５° （または１３５
°）の角度に保持されなければならない。
る。Ｓ’ｌ”Ｚｌ、光曽１からのビート６δ１りには１
．偏光子６の方位は、Ｘ軸から４５° （または１３５
°）の角度に保持されなければならない。
偏光子５をｒｔｉ遇したレーザ光に対するジョーンズベ
クトルα′は、 α′＝Ｐ４５・Ｒβ（句・α −（
９）で求められる。
クトルα′は、 α′＝Ｐ４５・Ｒβ（句・α −（
９）で求められる。
次に、光検出器４で検波された光強度１′は、工ｌ：玉
詠−ａｌ−Ｑ（１ で与えられる。ここで１株はンの転置共役ベクトルであ
る。具体的に計算すると Ｉ ′＝ｒ １＋ ４．＆２β銑２β凋Δωｔ＋（朗２
β−臂２β）（Ｃ出２β（３）（△ωを一δ）−３−２
β曲（Δωｔ＋δ））−Ｕυ となる。実際の６１１］足においては、応力の方向が容
易に推察されることが多い。従って、応力の方向かは知
であると仮定して議論を進める。例えば、β＝０のとき
、 ■’＝１−）−ｃｍ（Δωを一δ） −（
ｆ２ａ）β＝π／２のとき 工′＝１＋朗（Δωｔ＋δ） −（１２ｂ
）となる。
詠−ａｌ−Ｑ（１ で与えられる。ここで１株はンの転置共役ベクトルであ
る。具体的に計算すると Ｉ ′＝ｒ １＋ ４．＆２β銑２β凋Δωｔ＋（朗２
β−臂２β）（Ｃ出２β（３）（△ωを一δ）−３−２
β曲（Δωｔ＋δ））−Ｕυ となる。実際の６１１］足においては、応力の方向が容
易に推察されることが多い。従って、応力の方向かは知
であると仮定して議論を進める。例えば、β＝０のとき
、 ■’＝１−）−ｃｍ（Δωを一δ） −（
ｆ２ａ）β＝π／２のとき 工′＝１＋朗（Δωｔ＋δ） −（１２ｂ
）となる。
一方、（５）式より、５ＴＺＬ光源目体から得られる光
ビート信号の光強匿工は、 エ＝１−）−２＋臥５（Δωｔ）
−（１３）で与えられる。
ビート信号の光強匿工は、 エ＝１−）−２＋臥５（Δωｔ）
−（１３）で与えられる。
従って、（１２１式とｔ１３）式とを比較すると、光検
出器４で得られる光ビート信号と光源自体からイζすら
れる光ビート信号の位相差は、透光性物体のリタデーシ
ョンδそのものとなることが分かる。
出器４で得られる光ビート信号と光源自体からイζすら
れる光ビート信号の位相差は、透光性物体のリタデーシ
ョンδそのものとなることが分かる。
なお、リタデーションδについて補足すると、δは、
δ＝（２π／λ）Ｃ（σ□−σｙ）ｄ −ＣＩ旬
で与えられる。ここで、Ｃは光弾性定数、σよ。
で与えられる。ここで、Ｃは光弾性定数、σよ。
σｙばｘ、ｙ方向の応力成分、ｄは透光性物体の厚みで
ある。０１式により、δは常にσ、とσｙの差に比例し
て現われる。従って、δを測定することにより、（σよ
−σｙ）を知ることが可能となる。
ある。０１式により、δは常にσ、とσｙの差に比例し
て現われる。従って、δを測定することにより、（σよ
−σｙ）を知ることが可能となる。
以上の説明から明らかなように、この発明によれば、透
光性物体の光学的歪漬を周彼奴の異なる２光波から合成
される光ビート信号中の位相ずれとして（交流信号とし
て）取り出すことにより、機械的歪の屯気的取り汲いが
谷諭となり、背景光の影響等、外乱の影響を犬きく＠減
できる。
光性物体の光学的歪漬を周彼奴の異なる２光波から合成
される光ビート信号中の位相ずれとして（交流信号とし
て）取り出すことにより、機械的歪の屯気的取り汲いが
谷諭となり、背景光の影響等、外乱の影響を犬きく＠減
できる。
また、光源として５ＴＺＬ光源を用いることにより、簡
単な光学系で計測ンステムを構成することが可能となる
。
単な光学系で計測ンステムを構成することが可能となる
。
第１図は、この発明による光学的歪計測装置ｉｔの基本
構成を示す図、第２図は、この発明による光学的歪計測
装置の最も好−ましい実施例を示す図、第３図は、セナ
ルモン補償法を利用した従来の歪計の基本構成を示す図
である。 図において、１Ｖ′ｉ′ｊｔ源、２は透光性物体、５は
偏光子、４は光侠出４．５は位相ずれ検出回路でめる。 代理人 弁理士 ［ロ 北 嵩 晴 第１図 第２図 第３図
構成を示す図、第２図は、この発明による光学的歪計測
装置の最も好−ましい実施例を示す図、第３図は、セナ
ルモン補償法を利用した従来の歪計の基本構成を示す図
である。 図において、１Ｖ′ｉ′ｊｔ源、２は透光性物体、５は
偏光子、４は光侠出４．５は位相ずれ検出回路でめる。 代理人 弁理士 ［ロ 北 嵩 晴 第１図 第２図 第３図
Claims (3)
- （１）周波数の異なる２つの光波を用いて透光性の物体
における歪量を計測する方法において、前記物体の歪量
を、前記物体の歪に基づく光弾性効果により、前記物体
を透過した前記光波によつて生ずる光ビート信号の位相
のずれとして検出して計測することを特徴とする光学的
歪計測方法。 - （２）２つの光波を発生する光源として、ゼーマン・レ
ーザを用いることを特徴とする特許請求の範囲第（１）
項記載の光学的歪計測方法。 - （３）検出した光ビート信号の位相のずれを、電気信号
の位相差に変換して計測することを特徴とする特許請求
の範囲第（１）項または第（２）項記載の光学的歪計測
方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20779585A JPS6269110A (ja) | 1985-09-21 | 1985-09-21 | 光学的歪計測方法 |
| DE19863631959 DE3631959A1 (de) | 1985-09-21 | 1986-09-19 | Verfahren und vorrichtung zur optischen spannungsmessung |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20779585A JPS6269110A (ja) | 1985-09-21 | 1985-09-21 | 光学的歪計測方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6269110A true JPS6269110A (ja) | 1987-03-30 |
Family
ID=16545616
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20779585A Pending JPS6269110A (ja) | 1985-09-21 | 1985-09-21 | 光学的歪計測方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6269110A (ja) |
| DE (1) | DE3631959A1 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3906119C2 (de) * | 1988-04-08 | 1996-06-05 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Anordnung zum Messen polarisationsoptischer Gangunterschiede |
| DD276734A1 (de) * | 1988-11-02 | 1990-03-07 | Zeiss Jena Veb Carl | Verfahren zur gangunterschiedsmessung an anisotropen transparenten objekten |
| GB2265458A (en) * | 1992-03-28 | 1993-09-29 | Rover Group | Multi-wavelength photoelastic stress analysis |
| US7583367B2 (en) * | 2005-05-06 | 2009-09-01 | National University Corporation Nagoya University | Catheter surgery simulation |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60129633A (ja) * | 1983-12-16 | 1985-07-10 | Canon Inc | 光フアイバ−センサ |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5918923A (ja) * | 1982-07-23 | 1984-01-31 | Toshiba Corp | 複屈折測定装置 |
-
1985
- 1985-09-21 JP JP20779585A patent/JPS6269110A/ja active Pending
-
1986
- 1986-09-19 DE DE19863631959 patent/DE3631959A1/de not_active Withdrawn
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60129633A (ja) * | 1983-12-16 | 1985-07-10 | Canon Inc | 光フアイバ−センサ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3631959A1 (de) | 1987-03-26 |
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