JPS626161A - 漏洩磁束測定による探傷方法 - Google Patents
漏洩磁束測定による探傷方法Info
- Publication number
- JPS626161A JPS626161A JP14451185A JP14451185A JPS626161A JP S626161 A JPS626161 A JP S626161A JP 14451185 A JP14451185 A JP 14451185A JP 14451185 A JP14451185 A JP 14451185A JP S626161 A JPS626161 A JP S626161A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sensor
- magnetic flux
- detected
- leakage magnetic
- axis direction
- Prior art date
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
この発明は漏洩磁束を測定することにより欠陥部の探傷
を行う方法に関する。
を行う方法に関する。
〈従来の技術〉
鋼やその他の金属等磁性材料の欠陥等を検査する非破壊
検査法として、磁粉探傷法が知られている。この方法は
被探傷材を磁化した場合に表面付近に割れや介在物等に
よる不連続部があると、磁束の方向に乱れを生じ、その
一部が空中に漏洩するという現象を利用したものである
。即ち、この方法においては、被探傷材を通常磁気飽和
の８０優前後磁化した上、磁粉を被探傷材上に散布し、
不連続部即ち欠陥部において漏洩する磁束により磁粉が
吸着するのを、磁粉パターンの目視により検知するもの
である。
検査法として、磁粉探傷法が知られている。この方法は
被探傷材を磁化した場合に表面付近に割れや介在物等に
よる不連続部があると、磁束の方向に乱れを生じ、その
一部が空中に漏洩するという現象を利用したものである
。即ち、この方法においては、被探傷材を通常磁気飽和
の８０優前後磁化した上、磁粉を被探傷材上に散布し、
不連続部即ち欠陥部において漏洩する磁束により磁粉が
吸着するのを、磁粉パターンの目視により検知するもの
である。
この探傷法は原理的には検出感度は非常に高いが、パタ
ーンの差異を目視により検知することから測定者による
個人差が大きく出る上、磁粉塗布やパターンの転写等に
時間がかかり、測定時間が長くなる欠点があった。
ーンの差異を目視により検知することから測定者による
個人差が大きく出る上、磁粉塗布やパターンの転写等に
時間がかかり、測定時間が長くなる欠点があった。
〈発明の概要〉
本発明は上記した従来の磁粉探傷法の欠点を有しない、
新たな探傷法を提供しようきするもので、漏洩磁束を利
用することにより原理的な高検出感度を維持しつつ、測
定者の個人差の解消及び測定時間の短縮化を図ったもの
である。
新たな探傷法を提供しようきするもので、漏洩磁束を利
用することにより原理的な高検出感度を維持しつつ、測
定者の個人差の解消及び測定時間の短縮化を図ったもの
である。
本発明においては、磁化せしめた被探傷材上に磁気セン
サを複数個並列させ、この磁気センサ群を走査する。欠
陥部があると、センサ群の１又は複数がこれを検知し、
その欠陥部の存在を知ることができる。
サを複数個並列させ、この磁気センサ群を走査する。欠
陥部があると、センサ群の１又は複数がこれを検知し、
その欠陥部の存在を知ることができる。
第１図は本発明の詳細な説明図であり、（Ａ）は被探傷
材、（１３）は付与された平行磁界である。複数の磁気
センサ（１）をＹ軸方向に並列に配置させ、このセンサ
群をＸ軸方向に走査することによりセンサ群の幅分の領
域を一回の探傷で行なう。欠陥部（Ｆ）がある上第２図
に示すように漏洩磁束Ｂが表われるが、センサ（１）は
この水平成分ＢＸのみを検知する。第３図に示すように
このＢｘはＸ軸方向において欠陥部Ｆで特異的な値を示
すから、これをセンサ（１１により検知すれば、他の値
や或いは平均値との比較で欠陥部Ｆの存在を推定するこ
とができる。
材、（１３）は付与された平行磁界である。複数の磁気
センサ（１）をＹ軸方向に並列に配置させ、このセンサ
群をＸ軸方向に走査することによりセンサ群の幅分の領
域を一回の探傷で行なう。欠陥部（Ｆ）がある上第２図
に示すように漏洩磁束Ｂが表われるが、センサ（１）は
この水平成分ＢＸのみを検知する。第３図に示すように
このＢｘはＸ軸方向において欠陥部Ｆで特異的な値を示
すから、これをセンサ（１１により検知すれば、他の値
や或いは平均値との比較で欠陥部Ｆの存在を推定するこ
とができる。
磁気センサ（１）としてはどのようなものでも曳く、例
えば磁気抵抗素子等を用いることができる。
えば磁気抵抗素子等を用いることができる。
この方法により、ば−回の走査で磁気センサの並列幅分
の探傷が可能であり、またセンサからの信号により欠陥
を検知できるから、目視の場合のように測定者による個
人差が生じない。また探傷の自動化も容易である。
の探傷が可能であり、またセンサからの信号により欠陥
を検知できるから、目視の場合のように測定者による個
人差が生じない。また探傷の自動化も容易である。
〈実施例〉
以下図面に基づいて、本発明法の一実施例を説明する。
第４図と第５図において、被探傷材（Ａ）を磁化するた
めのヨーク（２）が配設され、これにより平行磁界Ｂが
形成されている。このヨーク間を複数の磁気センサ（１
）がＸ軸方向に移動し、走査するようになっている。セ
ンサ（１）はＳＯからＳ＋Ｉｓまであり、千鳥状に２列
配設されている。このセンサ（１ンのＸ軸方向位置はポ
テンショメータやエンコーダ或いはシンクロ等の位置検
出器により検出するものとする。
めのヨーク（２）が配設され、これにより平行磁界Ｂが
形成されている。このヨーク間を複数の磁気センサ（１
）がＸ軸方向に移動し、走査するようになっている。セ
ンサ（１）はＳＯからＳ＋Ｉｓまであり、千鳥状に２列
配設されている。このセンサ（１ンのＸ軸方向位置はポ
テンショメータやエンコーダ或いはシンクロ等の位置検
出器により検出するものとする。
このセンサ（１）及びヨーク（２）は全体がＹ軸方向に
シフトできるようになっており、Ｘ軸方向の走査が終っ
たら％ＹＹ軸方向シフトさせ、被探傷材（Ａ）の全面探
傷を行なうようになっている。
シフトできるようになっており、Ｘ軸方向の走査が終っ
たら％ＹＹ軸方向シフトさせ、被探傷材（Ａ）の全面探
傷を行なうようになっている。
センサ（１）として、この実施例では磁気抵抗素子を用
いており、各素子を直列に接続し電流の変化と各素子間
毎に電圧降下を測定するようになっている。
いており、各素子を直列に接続し電流の変化と各素子間
毎に電圧降下を測定するようになっている。
いま、図示する位置に欠陥部Ｆがあるとするさ、センサ
（１）を走査していけば、欠陥部Ｆ位置で素子Ｓ２！の
磁気抵抗値が変化し、電流値が変るから、この時走査を
停止し、各素子Ｓの端子電圧を測定、記憶させる。また
同時にセンサ（１３のＸ方向の位置を記憶する。この時
素子Ｓｕの端子電圧が他のものとは異っているこ♂から
欠陥部Ｆを検出できる。この欠陥部Ｆの位置は前記Ｘ軸
方向の位置検出値と、Ｓ２ｇのＹ軸方向の配設位置とか
ら知ることができる１これにより、欠陥部Ｆのｘ、ｙ位
置を推定することができる。
（１）を走査していけば、欠陥部Ｆ位置で素子Ｓ２！の
磁気抵抗値が変化し、電流値が変るから、この時走査を
停止し、各素子Ｓの端子電圧を測定、記憶させる。また
同時にセンサ（１３のＸ方向の位置を記憶する。この時
素子Ｓｕの端子電圧が他のものとは異っているこ♂から
欠陥部Ｆを検出できる。この欠陥部Ｆの位置は前記Ｘ軸
方向の位置検出値と、Ｓ２ｇのＹ軸方向の配設位置とか
ら知ることができる１これにより、欠陥部Ｆのｘ、ｙ位
置を推定することができる。
次いで再び走査を開始し同じ動作を繰返す。
走査が終了したら全体をＹ軸方向ｔこシフトさせ、再び
平行磁界をかけ同じ操作を繰返す。
平行磁界をかけ同じ操作を繰返す。
なお、漏洩磁束Ｂｘの平均値或いは積分値を求める等し
て統計的な処理を加えても良い。
て統計的な処理を加えても良い。
また°（Ｂｘ）ｚ、Ｆと（Ｂｘ）ｚ、−ｙとの比較、或
いはこれらの積分値との比較をして欠陥部Ｘの対称性の
検討を加えること等も可能である。
いはこれらの積分値との比較をして欠陥部Ｘの対称性の
検討を加えること等も可能である。
〈発明の効果〉
以上説明したように１本発明法は漏洩磁束を利用するた
め高感度の欠陥検出が可能であり、しかも目視等によら
ず磁気センサを用いているため測定者により測定誤差が
少なく、高精度の探傷が可能である。また磁粉散布等の
手間が不要であるから、測定時間の短縮が可能であり、
更に測定の自動化１機械化が可能で省力化を図れる等の
効果がある。
め高感度の欠陥検出が可能であり、しかも目視等によら
ず磁気センサを用いているため測定者により測定誤差が
少なく、高精度の探傷が可能である。また磁粉散布等の
手間が不要であるから、測定時間の短縮が可能であり、
更に測定の自動化１機械化が可能で省力化を図れる等の
効果がある。
第１図は本発明法の概念図、第２図と第３図は欠陥部の
漏洩磁束の説明図、第４図は本、 発明法の一実施例を
示す平面図、第５図は側面図である。 （１）・・・磁気センサ、（２）・・・ヨーク。 第 １ 図 第 ２ 図 第 ３ 図 日ソ 第 ４ 図 第 ５ 図 ？
漏洩磁束の説明図、第４図は本、 発明法の一実施例を
示す平面図、第５図は側面図である。 （１）・・・磁気センサ、（２）・・・ヨーク。 第 １ 図 第 ２ 図 第 ３ 図 日ソ 第 ４ 図 第 ５ 図 ？
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 被探傷材を磁化し、該被探傷材上に複数 の磁気センサを並列に配設し、該磁気セン サ群を走査して漏洩磁束を測定し、該測定 値の変化により欠陥部を検知することを特 徴とする漏洩磁束測定による探傷方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14451185A JPS626161A (ja) | 1985-07-03 | 1985-07-03 | 漏洩磁束測定による探傷方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14451185A JPS626161A (ja) | 1985-07-03 | 1985-07-03 | 漏洩磁束測定による探傷方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS626161A true JPS626161A (ja) | 1987-01-13 |
Family
ID=15364057
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14451185A Pending JPS626161A (ja) | 1985-07-03 | 1985-07-03 | 漏洩磁束測定による探傷方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS626161A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63208701A (ja) * | 1987-02-24 | 1988-08-30 | Nec Corp | 金属板刻印パタ−ン読取り方法及びその装置 |
| JPS63279185A (ja) * | 1987-04-16 | 1988-11-16 | シーメンス、アクチエンゲゼルシヤフト | 部品の固有応力検出方法 |
| WO2007116884A1 (ja) * | 2006-04-04 | 2007-10-18 | Tokyo Rope Manufacturing Co., Ltd. | ワイヤロープの遠隔監視システム |
| WO2019054158A1 (ja) * | 2017-09-13 | 2019-03-21 | コニカミノルタ株式会社 | 非破壊検査装置、非破壊検査システム及び非破壊検査方法 |
| US10456302B2 (en) | 2006-05-18 | 2019-10-29 | Curt G. Joa, Inc. | Methods and apparatus for application of nested zero waste ear to traveling web |
-
1985
- 1985-07-03 JP JP14451185A patent/JPS626161A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63208701A (ja) * | 1987-02-24 | 1988-08-30 | Nec Corp | 金属板刻印パタ−ン読取り方法及びその装置 |
| JPS63279185A (ja) * | 1987-04-16 | 1988-11-16 | シーメンス、アクチエンゲゼルシヤフト | 部品の固有応力検出方法 |
| WO2007116884A1 (ja) * | 2006-04-04 | 2007-10-18 | Tokyo Rope Manufacturing Co., Ltd. | ワイヤロープの遠隔監視システム |
| JP5044545B2 (ja) * | 2006-04-04 | 2012-10-10 | 東京製綱株式会社 | ワイヤロープの遠隔監視システム |
| US10456302B2 (en) | 2006-05-18 | 2019-10-29 | Curt G. Joa, Inc. | Methods and apparatus for application of nested zero waste ear to traveling web |
| WO2019054158A1 (ja) * | 2017-09-13 | 2019-03-21 | コニカミノルタ株式会社 | 非破壊検査装置、非破壊検査システム及び非破壊検査方法 |
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