JPS6258749U - - Google Patents

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JPS6258749U
JPS6258749U JP15034785U JP15034785U JPS6258749U JP S6258749 U JPS6258749 U JP S6258749U JP 15034785 U JP15034785 U JP 15034785U JP 15034785 U JP15034785 U JP 15034785U JP S6258749 U JPS6258749 U JP S6258749U
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JP
Japan
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ray
rays
inspected
camera
fluoroscopic inspection
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  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第１図、第２図は従来技術を示す説明図、第３
図及び第４図は本考案の一実施例を示すもので、
第３図はＸ線透視検査装置の構成図、第４図は同
装置の説明図である。 ２……Ｘ線源、３……被検査物、４……Ｘ線受
光装置、５……ＴＶカメラ、６……ＴＶモニタ、
８……光学反射鏡、９……投光器、１０……Ｘ線
照射経路。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 被検査物にＸ線を照射するＸ線源と、前記
    被検査物を透過したＸ線を受光するＸ線受光装置
    と、このＸ線受光装置で受光されたＸ線を画像信
    号に変換するＴＶカメラと、ＴＶカメラからの画
    像信号を表示するＴＶモニタと、前記被検査物の
    Ｘ線照射位置確認用の光を投光する投光器とを備
    えたＸ線透視検査装置において、 前記Ｘ線源と被検査物との間のＸ線照射経路上
    に、Ｘ線が透過するとともに前記投光器からの光
    をＸ線照射経路と同軸方向へ反射する光学反射鏡
    を設けたことを特徴とするＸ線透視検査装置。 (2) 光学反射鏡は、カーボン樹脂の表面にアル
    ミニユウム箔を固着したものである実用新案登録
    請求の範囲第１項に記載のＸ線透視検査装置。
JP1985150347U 1985-09-30 1985-09-30 Expired - Lifetime JPH0539449Y2 (ja)

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JPS6258749U true JPS6258749U (ja) 1987-04-11
JPH0539449Y2 JPH0539449Y2 (ja) 1993-10-06

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ID=31066408

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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5836534A (ja) * 1981-08-26 1983-03-03 三菱レイヨン株式会社 Ｘ線用グリツド
JPS5975109A (ja) * 1982-10-23 1984-04-27 ヘルミユ−ト・フイツシヤ−・ゲ−エムベ−ハ−・ウント・コンパニ−・インステイテユ−ト・フユア・エレクトロニ−ク・ウント・メステヒニ−ク 薄層の厚さ測定装置
JPS6078309A (ja) * 1983-10-05 1985-05-04 Seiko Instr & Electronics Ltd 螢光ｘ線膜厚計

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5836534A (ja) * 1981-08-26 1983-03-03 三菱レイヨン株式会社 Ｘ線用グリツド
JPS5975109A (ja) * 1982-10-23 1984-04-27 ヘルミユ−ト・フイツシヤ−・ゲ−エムベ−ハ−・ウント・コンパニ−・インステイテユ−ト・フユア・エレクトロニ−ク・ウント・メステヒニ−ク 薄層の厚さ測定装置
JPS6078309A (ja) * 1983-10-05 1985-05-04 Seiko Instr & Electronics Ltd 螢光ｘ線膜厚計

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Publication number Publication date
JPH0539449Y2 (ja) 1993-10-06

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