JPH02133656U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH02133656U JPH02133656U JP4274789U JP4274789U JPH02133656U JP H02133656 U JPH02133656 U JP H02133656U JP 4274789 U JP4274789 U JP 4274789U JP 4274789 U JP4274789 U JP 4274789U JP H02133656 U JPH02133656 U JP H02133656U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- inspected
- scanning
- defect detector
- electrical signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000010926 purge Methods 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
第1図はこの考案の一実施例を示す欠陥検出器
の構成図、第2図は従来の表面欠陥検出器を示す
構成図、第3図、第4図は従来装置の説明図であ
る。 図中、1はレーザ装置、2は光学系、3はスキ
ヤナ、4はスキヤナドライバ、6は光ガイド、7
は光電変換器、8は信号処理器、9はエアパージ
装置である。なお、図中同一符号は同一又は相当
部分を示す。
の構成図、第2図は従来の表面欠陥検出器を示す
構成図、第3図、第4図は従来装置の説明図であ
る。 図中、1はレーザ装置、2は光学系、3はスキ
ヤナ、4はスキヤナドライバ、6は光ガイド、7
は光電変換器、8は信号処理器、9はエアパージ
装置である。なお、図中同一符号は同一又は相当
部分を示す。
Claims (1)
- レーザ等の光源と、この光源から発せられた光
を適切な大きさにするための光学系及び被検査物
上に走査するための走査系より構成される照射系
と、被検査物からの散乱光を受光し電気信号に変
換する受光系及びこの電気信号を処理し良否判定
等をする信号処理系を備えた欠陥検出器において
、上記被検査物と走査系との間に被検査物への光
照射領域をエアパージする機構を設けたことを特
徴とする欠陥検出器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4274789U JPH02133656U (ja) | 1989-04-12 | 1989-04-12 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4274789U JPH02133656U (ja) | 1989-04-12 | 1989-04-12 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02133656U true JPH02133656U (ja) | 1990-11-06 |
Family
ID=31554563
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4274789U Pending JPH02133656U (ja) | 1989-04-12 | 1989-04-12 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02133656U (ja) |
-
1989
- 1989-04-12 JP JP4274789U patent/JPH02133656U/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2758947B2 (ja) | 物体の壁の内側の検査装置 | |
JPH02133656U (ja) | ||
IL116717A (en) | Optical tracing system | |
JP3360429B2 (ja) | 外観検査用照明装置 | |
JPH03130545U (ja) | ||
JP2818687B2 (ja) | ヒューズ配列検査装置 | |
JPS6314150U (ja) | ||
JPH0252149U (ja) | ||
JPS6358738U (ja) | ||
JPS62140442U (ja) | ||
JPS63145158U (ja) | ||
JP3095820B2 (ja) | 表面状態検出装置 | |
JPS6423145A (en) | Optical appearance inspection device | |
JP3056552B2 (ja) | 表面状態検査方法 | |
JPS61186806A (ja) | 透明体の欠点検出装置 | |
JPS61265513A (ja) | 部品形状検知法および部品形状検知装置 | |
JPS63170705U (ja) | ||
JPH0327343U (ja) | ||
JPS62145144U (ja) | ||
JPS57201839A (en) | Inspection method of bottles | |
JPH06214290A (ja) | 明暗視野照明方法 | |
JPS59113707U (ja) | 鏡面体の表面検査装置 | |
JPS62167157U (ja) | ||
JPH0529147U (ja) | Icパツケージ外視検査装置 | |
JPH0441651U (ja) |