JPH02133656U - - Google Patents

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JPH02133656U
JPH02133656U JP4274789U JP4274789U JPH02133656U JP H02133656 U JPH02133656 U JP H02133656U JP 4274789 U JP4274789 U JP 4274789U JP 4274789 U JP4274789 U JP 4274789U JP H02133656 U JPH02133656 U JP H02133656U
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JP
Japan
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light
inspected
scanning
defect detector
electrical signal
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JP4274789U
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案の一実施例を示す欠陥検出器
の構成図、第2図は従来の表面欠陥検出器を示す
構成図、第3図、第4図は従来装置の説明図であ
る。 図中、1はレーザ装置、2は光学系、3はスキ
ヤナ、4はスキヤナドライバ、6は光ガイド、7
は光電変換器、8は信号処理器、9はエアパージ
装置である。なお、図中同一符号は同一又は相当
部分を示す。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. レーザ等の光源と、この光源から発せられた光
    を適切な大きさにするための光学系及び被検査物
    上に走査するための走査系より構成される照射系
    と、被検査物からの散乱光を受光し電気信号に変
    換する受光系及びこの電気信号を処理し良否判定
    等をする信号処理系を備えた欠陥検出器において
    、上記被検査物と走査系との間に被検査物への光
    照射領域をエアパージする機構を設けたことを特
    徴とする欠陥検出器。
JP4274789U 1989-04-12 1989-04-12 Pending JPH02133656U (ja)

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JP4274789U JPH02133656U (ja) 1989-04-12 1989-04-12

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JP4274789U JPH02133656U (ja) 1989-04-12 1989-04-12

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JPH02133656U true JPH02133656U (ja) 1990-11-06

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ID=31554563

Family Applications (1)

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JP4274789U Pending JPH02133656U (ja) 1989-04-12 1989-04-12

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