JPH0539449Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0539449Y2 JPH0539449Y2 JP1985150347U JP15034785U JPH0539449Y2 JP H0539449 Y2 JPH0539449 Y2 JP H0539449Y2 JP 1985150347 U JP1985150347 U JP 1985150347U JP 15034785 U JP15034785 U JP 15034785U JP H0539449 Y2 JPH0539449 Y2 JP H0539449Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- inspected
- rays
- projector
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 11
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 2
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- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000011888 foil Substances 0.000 claims description 2
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Landscapes
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
本考案は、X線透視検査装置に係わり、特に
は、X線が照射される被検査物のX線被検査個所
の位置を正確に指示できるようにしたX線透視検
査装置に関するものである。
は、X線が照射される被検査物のX線被検査個所
の位置を正確に指示できるようにしたX線透視検
査装置に関するものである。
(ロ) 従来技術とその問題点
一般に鉄鋼材料、自動車部品、ICプリント基
板等の材料内部の欠陥や鋳物のす(金属内部の空
洞部分)などのように被検査物の内部を検査する
には、被検査物にX線を照射して、被検査物に対
してX線透視を行うことが必要となる。
板等の材料内部の欠陥や鋳物のす(金属内部の空
洞部分)などのように被検査物の内部を検査する
には、被検査物にX線を照射して、被検査物に対
してX線透視を行うことが必要となる。
ところで、X線は外部から肉眼では見えないた
めX線の透視個所、つまりX線被検査個所の正確
な位置は不明である。このため、通常、第1図に
示すごとくX線源aから出たX線を被検査物に照
射する際、その照射個所が分かるようにX線照射
位置確認用の光を放射する投光器bを設け、この
投光器bでX線の照射経路から離れた斜方向から
被検査物に対してスポツト的に光を投光し、その
光の照射個所によつてX線被検査個所が確認でき
るようにしている。
めX線の透視個所、つまりX線被検査個所の正確
な位置は不明である。このため、通常、第1図に
示すごとくX線源aから出たX線を被検査物に照
射する際、その照射個所が分かるようにX線照射
位置確認用の光を放射する投光器bを設け、この
投光器bでX線の照射経路から離れた斜方向から
被検査物に対してスポツト的に光を投光し、その
光の照射個所によつてX線被検査個所が確認でき
るようにしている。
そして、被検査物を透過したX線をX線源aに
対向配置されたX線受光装置で受光し、このX線
受光装置で受光されたX線をTVカメラdによつ
て画像信号に変換した後、このTVカメラdから
の画像信号をTVモニタeにX線透過像として表
示するようにしている。
対向配置されたX線受光装置で受光し、このX線
受光装置で受光されたX線をTVカメラdによつ
て画像信号に変換した後、このTVカメラdから
の画像信号をTVモニタeにX線透過像として表
示するようにしている。
ところで、被検査物に投光器bから光を照射す
る場合に問題となる点は、第1図に示すごとく被
検査物gが薄くて、しかも凹凸のない均一な平坦
面を有する場合には、X線源aからのX線の照射
個所に投光器bからの光の投光位置とを簡単に一
致させることができるが、第2図に示すように、
被検査物gがある厚さを有し、しかも表面が均一
でなく凹凸であるような場合には、被検査物gの
X線の照射位置と投光器bによる斜方向からの投
光位置との間にずれΔが生じ、被検査物gのX線
透過位置が正確に把握できなくなる難点がある。
る場合に問題となる点は、第1図に示すごとく被
検査物gが薄くて、しかも凹凸のない均一な平坦
面を有する場合には、X線源aからのX線の照射
個所に投光器bからの光の投光位置とを簡単に一
致させることができるが、第2図に示すように、
被検査物gがある厚さを有し、しかも表面が均一
でなく凹凸であるような場合には、被検査物gの
X線の照射位置と投光器bによる斜方向からの投
光位置との間にずれΔが生じ、被検査物gのX線
透過位置が正確に把握できなくなる難点がある。
本考案はかかる問題点を解消すべくなされたも
ので、上述したごとく被検査物の厚さが異なる場
合においても、常にX線源の透視個所と投光器に
よる投光位置とが一致するようにして、X線によ
る被検査個所を正確に把握できるようにすること
を目的とするものである。
ので、上述したごとく被検査物の厚さが異なる場
合においても、常にX線源の透視個所と投光器に
よる投光位置とが一致するようにして、X線によ
る被検査個所を正確に把握できるようにすること
を目的とするものである。
(ハ) 構成
本考案は、上述の目的を達成するため、被検査
物にX線を照射するX線源と、前記被検査物を透
過したX線を受光するX線受光装置と、このX線
受光装置で受光されたX線を画像信号に変換する
TVカメラと、TVカメラからの画像信号を表示
するTVモニタと、前記被検査物のX線照射位置
確認用の光を投光する投光器とを備えたX線透視
検査装置において、前記X線源と被検査物との間
のX線照射経路上に、X線が透過するとともに前
記投光器からの光をX線照射経路と同軸方向へ反
射する光学反射鏡を設け、かつ、この光学反射鏡
で反射された光の光軸が前記X線照射軸と一致す
るように投光器が設定配置されていることを特徴
としている。
物にX線を照射するX線源と、前記被検査物を透
過したX線を受光するX線受光装置と、このX線
受光装置で受光されたX線を画像信号に変換する
TVカメラと、TVカメラからの画像信号を表示
するTVモニタと、前記被検査物のX線照射位置
確認用の光を投光する投光器とを備えたX線透視
検査装置において、前記X線源と被検査物との間
のX線照射経路上に、X線が透過するとともに前
記投光器からの光をX線照射経路と同軸方向へ反
射する光学反射鏡を設け、かつ、この光学反射鏡
で反射された光の光軸が前記X線照射軸と一致す
るように投光器が設定配置されていることを特徴
としている。
(ニ) 作用
本考案は以上のような構成を有するので、X線
源から放射されたX線は、光学反射鏡を透過して
被検査物にそのまま照射される。また、投光器か
らの光は、光学反射鏡によつてX線照射経路と同
軸方向へ反射される。このため、被検査物上のX
線照射位置に必ず投光器からの光が投光されるこ
とになり、このため、光の照射位置によつてX線
被検査個所を正確に把握できる。
源から放射されたX線は、光学反射鏡を透過して
被検査物にそのまま照射される。また、投光器か
らの光は、光学反射鏡によつてX線照射経路と同
軸方向へ反射される。このため、被検査物上のX
線照射位置に必ず投光器からの光が投光されるこ
とになり、このため、光の照射位置によつてX線
被検査個所を正確に把握できる。
(ホ) 実施例
以下、本考案の実施例を図面に基づいて具体的
に説明する。
に説明する。
1は収納ボツクスで、この収納ボツクス1の上
部1aにはX線源2、中腹部1bには被検査物
3、下部1cには被検査物3を透過したX線を受
光するX線受光装置4およびこのX線受光装置4
で受光されたX線を画像信号に変換するTVカメ
ラ5を夫々配設収納している。そして、このTV
カメラ5に該TVカメラ4からの画像信号を表示
するTVモニタ6が接続されている。そして、被
検査物3を透過したX線をX線受光装置4で受光
し、このX線受光装置4で受光されたX線がTV
カメラ5によつて画像信号に変換された後、TV
カメラ5からの画像信号がTVモニタ6に出力さ
れる。したがつて、TVモニタ6によつて被検査
物3の内部をX線透過像として観察することがで
きる。
部1aにはX線源2、中腹部1bには被検査物
3、下部1cには被検査物3を透過したX線を受
光するX線受光装置4およびこのX線受光装置4
で受光されたX線を画像信号に変換するTVカメ
ラ5を夫々配設収納している。そして、このTV
カメラ5に該TVカメラ4からの画像信号を表示
するTVモニタ6が接続されている。そして、被
検査物3を透過したX線をX線受光装置4で受光
し、このX線受光装置4で受光されたX線がTV
カメラ5によつて画像信号に変換された後、TV
カメラ5からの画像信号がTVモニタ6に出力さ
れる。したがつて、TVモニタ6によつて被検査
物3の内部をX線透過像として観察することがで
きる。
また、前記収納ボツクス1の中腹部1bの前面
には被検査物3の鉛含有ガラスの出入窓7が設け
られており、この出入窓7にはX線透視検査する
場合内部の被検査物3の表面を観察することが可
能である。
には被検査物3の鉛含有ガラスの出入窓7が設け
られており、この出入窓7にはX線透視検査する
場合内部の被検査物3の表面を観察することが可
能である。
8はX線源2と被検査物3との間のX線照射経
路10上の任意位置に設けられた光学反射鏡であ
つて、この光学反射鏡8は、X線が透過するとと
もに後述の投光器9からの光をX線照射経路10
と同軸方向へ反射する。すなわち、この光学反射
鏡8は、実質X線的には透明で、光学的には反射
機能を有するごとく、例えば炭素樹脂材の基板表
面にアルミニウム箔を固着して構成されており、
X線照射経路10に対して45°の角度を向いて配
置されている。また、9は被検査物3のX線照射
位置確認用の光を投光する投光器で、X線照射経
路10に対して直交し、光学反射鏡8とは同一高
さの位置に配置されている。これにより、光学反
射鏡8で反射された光の光軸とX線源2によるX
線照射軸とが互いに一致する。したがつて、この
投光器9から発せられる光線は、第4図に示すご
とく、前記反射鏡8によつて反射された後、X線
照射経路10と一致して被検査物3に向かう。
路10上の任意位置に設けられた光学反射鏡であ
つて、この光学反射鏡8は、X線が透過するとと
もに後述の投光器9からの光をX線照射経路10
と同軸方向へ反射する。すなわち、この光学反射
鏡8は、実質X線的には透明で、光学的には反射
機能を有するごとく、例えば炭素樹脂材の基板表
面にアルミニウム箔を固着して構成されており、
X線照射経路10に対して45°の角度を向いて配
置されている。また、9は被検査物3のX線照射
位置確認用の光を投光する投光器で、X線照射経
路10に対して直交し、光学反射鏡8とは同一高
さの位置に配置されている。これにより、光学反
射鏡8で反射された光の光軸とX線源2によるX
線照射軸とが互いに一致する。したがつて、この
投光器9から発せられる光線は、第4図に示すご
とく、前記反射鏡8によつて反射された後、X線
照射経路10と一致して被検査物3に向かう。
このように、投光器9から発せられた光線は反
射鏡8によつて常にX線照射経路10と同軸方向
に反射されるので、被検査物3のX線照射個所が
凹凸を有したりその高さが変化する場合において
も、必ずX線源2の透視個所と投光器9による投
光位置とが一致し、被検査個所の把握を正確に行
いうるのである。
射鏡8によつて常にX線照射経路10と同軸方向
に反射されるので、被検査物3のX線照射個所が
凹凸を有したりその高さが変化する場合において
も、必ずX線源2の透視個所と投光器9による投
光位置とが一致し、被検査個所の把握を正確に行
いうるのである。
(ヘ) 効果
以上のように、本考案によれば、物体の高さが
変化する場合においても被検査物のX線の照射個
所を正確に把握できるとともに、投光器、X線受
光装置、X線源の系全体の相対位置をそのままの
状態で回転可能に支持することにより被検査物の
異なつた角度から見たい場合にも容易に行い得る
等の利点がある。
変化する場合においても被検査物のX線の照射個
所を正確に把握できるとともに、投光器、X線受
光装置、X線源の系全体の相対位置をそのままの
状態で回転可能に支持することにより被検査物の
異なつた角度から見たい場合にも容易に行い得る
等の利点がある。
第1図、第2図は従来技術を示す説明図、第3
図及び第4図は本考案の一実施例を示すもので、
第3図はX線透視検査装置の構成図、第4図は同
装置の説明図である。 2……X線源、3……被検査物、4……X線受
光装置、5……TVカメラ、6……TVモニタ、
8……光学反射鏡、9……投光器、10……X線
照射経路。
図及び第4図は本考案の一実施例を示すもので、
第3図はX線透視検査装置の構成図、第4図は同
装置の説明図である。 2……X線源、3……被検査物、4……X線受
光装置、5……TVカメラ、6……TVモニタ、
8……光学反射鏡、9……投光器、10……X線
照射経路。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 1 被検査物のX線を照射するX線源と、前記被
検査物を透過したX線を受光するX線受光装置
と、このX線受光装置で受光されたX線を画像
信号に変換するTVカメラと、TVカメラから
の画像信号を表示するTVモニタと、前記被検
査物のX線照射位置確認用の光を投光する投光
器とを備えたX線透視検査装置において、 前記X線源と被検査物との間のX線照射経路
上に、X線が透過するとともに前記投光器から
の光をX線照射経路と同軸方向へ反射する光学
反射鏡を設け、かつ、この光学反射鏡で反射さ
れた光の光軸が前記X線照射軸と一致するよう
に投光器が設定配置されていることを特徴とす
るX線透視検査装置。 2 光学反射鏡は、カーボン樹脂の表面にアルミ
ニユウム箔を固着したものである実用新案登録
請求の範囲第1項に記載のX線透視検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1985150347U JPH0539449Y2 (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1985150347U JPH0539449Y2 (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6258749U JPS6258749U (ja) | 1987-04-11 |
JPH0539449Y2 true JPH0539449Y2 (ja) | 1993-10-06 |
Family
ID=31066408
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1985150347U Expired - Lifetime JPH0539449Y2 (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0539449Y2 (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5836534A (ja) * | 1981-08-26 | 1983-03-03 | 三菱レイヨン株式会社 | X線用グリツド |
JPS5975109A (ja) * | 1982-10-23 | 1984-04-27 | ヘルミユ−ト・フイツシヤ−・ゲ−エムベ−ハ−・ウント・コンパニ−・インステイテユ−ト・フユア・エレクトロニ−ク・ウント・メステヒニ−ク | 薄層の厚さ測定装置 |
JPS6078309A (ja) * | 1983-10-05 | 1985-05-04 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 螢光x線膜厚計 |
-
1985
- 1985-09-30 JP JP1985150347U patent/JPH0539449Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5836534A (ja) * | 1981-08-26 | 1983-03-03 | 三菱レイヨン株式会社 | X線用グリツド |
JPS5975109A (ja) * | 1982-10-23 | 1984-04-27 | ヘルミユ−ト・フイツシヤ−・ゲ−エムベ−ハ−・ウント・コンパニ−・インステイテユ−ト・フユア・エレクトロニ−ク・ウント・メステヒニ−ク | 薄層の厚さ測定装置 |
JPS6078309A (ja) * | 1983-10-05 | 1985-05-04 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 螢光x線膜厚計 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6258749U (ja) | 1987-04-11 |
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