JPS6254177A - 同軸線のコネクタ接続試験方法 - Google Patents
同軸線のコネクタ接続試験方法Info
- Publication number
- JPS6254177A JPS6254177A JP60172064A JP17206485A JPS6254177A JP S6254177 A JPS6254177 A JP S6254177A JP 60172064 A JP60172064 A JP 60172064A JP 17206485 A JP17206485 A JP 17206485A JP S6254177 A JPS6254177 A JP S6254177A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- frequency signal
- coaxial line
- pin
- high frequency
- connector
- Prior art date
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- Granted
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
平行2ピン型コネクタを用いて同軸線の布線を行う場合
、同軸線のシールドと中心導体とが1両端のコネクタで
ともに入れ違いに接続されていると、導通試験のみによ
っては検出できない。このため同軸線のシールドに外側
から高周波信号を結合させ、ピン上で検出することによ
り、ピン接続の良否を判定する。
、同軸線のシールドと中心導体とが1両端のコネクタで
ともに入れ違いに接続されていると、導通試験のみによ
っては検出できない。このため同軸線のシールドに外側
から高周波信号を結合させ、ピン上で検出することによ
り、ピン接続の良否を判定する。
本発明は、同軸線とコネクタとの接続試験方法に関する
ものであり、特に平行2ピン型コネクタに対する同軸線
の誤接続を判定するための試験方法に関する。
ものであり、特に平行2ピン型コネクタに対する同軸線
の誤接続を判定するための試験方法に関する。
大型計算機などの装置では、高速IC基板間を多数のケ
ーブルを用いて結合する場合が少なくない。
ーブルを用いて結合する場合が少なくない。
このような場合、小型化のため、2C2V等の細い同軸
線の両端に小型のコネクタを取り付けたものが多く用い
られる。
線の両端に小型のコネクタを取り付けたものが多く用い
られる。
第3図はこのようなケーブルの1例について外観を示し
たもので、30は同軸線、31.32は平行2ピン型コ
ネクタ、33はコネクタの向きを示す凸起、311.3
21は信号ピンS、312゜322は接地ピンGを表し
ている。
たもので、30は同軸線、31.32は平行2ピン型コ
ネクタ、33はコネクタの向きを示す凸起、311.3
21は信号ピンS、312゜322は接地ピンGを表し
ている。
同軸線30と平行2ピン型コネクタ3132との接続は
第4図に示すように行われる。すなわち、同軸線30の
中心導体301は両方のコネクタの信号ピンSに接続さ
れ、またシールド302は両コネクタの接地ピンGに接
続される。
第4図に示すように行われる。すなわち、同軸線30の
中心導体301は両方のコネクタの信号ピンSに接続さ
れ、またシールド302は両コネクタの接地ピンGに接
続される。
ところで、このような同軸線およびコネクタの間の接続
の良否は、従来、導通試験によって判定していた。
の良否は、従来、導通試験によって判定していた。
第5図はその概念図である。図示のように、平行2ピン
型コネクタ31.32の各外側に、スイッチ36.37
を設け、それぞれが対応して信号ピンSおよび接地ピン
Gの一方を選択できるようにし、スイッチ36から信号
パルスを平行2ピン型コネクタ31の信号ピンSあるい
は接地ピンGの選択された側、たとえば信号ピンSに印
加する。
型コネクタ31.32の各外側に、スイッチ36.37
を設け、それぞれが対応して信号ピンSおよび接地ピン
Gの一方を選択できるようにし、スイッチ36から信号
パルスを平行2ピン型コネクタ31の信号ピンSあるい
は接地ピンGの選択された側、たとえば信号ピンSに印
加する。
ここで他方の平行2ピン型コネクタ32の対応する信号
ピンSから信号パルスが出力されたとき。
ピンSから信号パルスが出力されたとき。
導通しているものとし1次にスイッチ36.37を接地
ピンG側に切り替えて、同様に試験する。
ピンG側に切り替えて、同様に試験する。
以上により、いずれも導通していることが確認されたと
きに、同軸線30と平行2ピン型コネクタ31.32と
の間の接続は正常であると判定するものである。
きに、同軸線30と平行2ピン型コネクタ31.32と
の間の接続は正常であると判定するものである。
第5図で説明した従来の試験方法では、同軸線とコネク
タ間の接続不良は、接続断かあるいは第6図に示すよう
に、一方のコネクタ側で誤って交差接続されているかの
いずれかの状態にあるものしか検出することができず、
第7図に示すように。
タ間の接続不良は、接続断かあるいは第6図に示すよう
に、一方のコネクタ側で誤って交差接続されているかの
いずれかの状態にあるものしか検出することができず、
第7図に示すように。
両方のコネクタがともに誤って交差接続されている場合
には、コネクタの各ピンS、Gのいずれの側においても
導通が得られるため、良品と判定される。
には、コネクタの各ピンS、Gのいずれの側においても
導通が得られるため、良品と判定される。
しかし、このように交差接続された同軸線を用いて高速
IC基板間の布線を実施した場合、正常なものにくらべ
ると、対地インピーダンスが変わり、伝送特性が変化し
、雑音も増加するなど、特性が劣化するという問題があ
った。
IC基板間の布線を実施した場合、正常なものにくらべ
ると、対地インピーダンスが変わり、伝送特性が変化し
、雑音も増加するなど、特性が劣化するという問題があ
った。
本発明は、このため、同軸線のシールドに外部から高周
波信号を結合し、高周波信号がコネクタの接地ピンから
検出されるか否かにより、接続の良否を判定するように
したものである。
波信号を結合し、高周波信号がコネクタの接地ピンから
検出されるか否かにより、接続の良否を判定するように
したものである。
第1図は本発明の原理を示す概念図である。
図において、10は同軸線、101は中心導体。
102はシールド、11.12は平行2ピン型コネクタ
、111,121は信号ピンS、112゜122は接地
ピンG、13は高周波信号発生器。
、111,121は信号ピンS、112゜122は接地
ピンG、13は高周波信号発生器。
14はアンテナ、15は高周波信号検出器を表している
。
。
高周波信号発生器13は、たとえば高周波発振器であり
1発生された高周波信号は、アンテナ14を介して同軸
線10のシールド102に結合される。
1発生された高周波信号は、アンテナ14を介して同軸
線10のシールド102に結合される。
シールド102に誘起された高周波信号電圧は。
両端の平行2ピン型コネクタ11.12が同軸線10と
正しい接続関係にある限り、その接地ピンGに現れ、誤
接続されていれば信号ピンSに現れる。これを高周波信
号検出器15により検出し。
正しい接続関係にある限り、その接地ピンGに現れ、誤
接続されていれば信号ピンSに現れる。これを高周波信
号検出器15により検出し。
接続の良否判定を行う。
本発明は、コネクタのピンに接続されているものが同軸
線の中心導体であるかシールドであるかをコネクタ側か
ら知ることが困難であることから。
線の中心導体であるかシールドであるかをコネクタ側か
ら知ることが困難であることから。
同軸線の外側に高周波信号の電界あるいは電磁界を作用
させ、シールドのみに高周波信号が結合されるようにし
て、シールドと中心導体の識別を可能にする。
させ、シールドのみに高周波信号が結合されるようにし
て、シールドと中心導体の識別を可能にする。
これにより、同軸線と平行2ピン型コネクタとの間の両
端同時の交差接続が確実容易に検出できる。
端同時の交差接続が確実容易に検出できる。
第2図は本発明の1実施例の説明図である。
第2図において、参照番号10ないし15で示される要
素は、第1図と共通のものである。また151は高周波
増幅器、152は検波器、153は表示メータ、16お
よび17はスイッチを表している。
素は、第1図と共通のものである。また151は高周波
増幅器、152は検波器、153は表示メータ、16お
よび17はスイッチを表している。
本実施例では、まず第5図で説明した従来方法により、
スイッチ16および17を用いて、2つの平行2ピン型
コネクタ11.12の各信号ピンS同士と、接地ピンG
同士の間の導通試験を行い。
スイッチ16および17を用いて、2つの平行2ピン型
コネクタ11.12の各信号ピンS同士と、接地ピンG
同士の間の導通試験を行い。
対応するピン間の導通の有無を確認する。ここで導通が
得られない場合には不良品と判定し、導通が確認された
場合にのみ2次の高周波信号を用いた試験を行う。
得られない場合には不良品と判定し、導通が確認された
場合にのみ2次の高周波信号を用いた試験を行う。
高周波信号発生器13は、たとえば数MHzから数10
MHzの範囲の小電力発振器で構成され。
MHzの範囲の小電力発振器で構成され。
アンテナI4も比較的簡単なもので十分である。
アンテナ14と同軸線10とは、相互の距離を長くとっ
て、輻射電界(いわゆる電波)により結合しても、ある
いはアンテナ14を同軸線10の中間部に近接させて、
容量結合させることも可能である。
て、輻射電界(いわゆる電波)により結合しても、ある
いはアンテナ14を同軸線10の中間部に近接させて、
容量結合させることも可能である。
いずれにしても、同軸線10のシールド102に高周波
信号電圧が誘起され、シールド102が接続されている
コネクタピンS、Gの一方に高周波信号が現れる。
信号電圧が誘起され、シールド102が接続されている
コネクタピンS、Gの一方に高周波信号が現れる。
高周波信号検出器15は、スイッチ17を介してコネク
タ12の接地ピンGに結合してあり、このとき接地ピン
G上で高周波信号を検出できなかった場合には、交差接
続状態にあるものと判定する。
タ12の接地ピンGに結合してあり、このとき接地ピン
G上で高周波信号を検出できなかった場合には、交差接
続状態にあるものと判定する。
高周波信号検出器15は、高周波増幅器151で入力信
号を増幅し、検波器152で検波する。
号を増幅し、検波器152で検波する。
もしも高周波信号が存在していれば直流信号が出力され
1表示メータ153によって検出することができる。
1表示メータ153によって検出することができる。
本発明によれば、同軸線のシールドに高周波信号を確実
に結合できるため、簡単にシールドに接続されているコ
ネクタピンを識別することができ。
に結合できるため、簡単にシールドに接続されているコ
ネクタピンを識別することができ。
従来の導通試験による方法と組み合わせることにより、
能率的に高い信頼性の検査を行うことができる。
能率的に高い信頼性の検査を行うことができる。
第1図は本発明の原理を示す概念図、第2図は本発明の
1実施例の説明図、第3図は本発明が対象とするケーブ
ルの外観図、第4図は同軸線とコネクタの接続方法を示
す説明図、第5図は従来の試験方法の説明図、第6図は
一端が交差接続されている例の試験の説明図、第7図は
両端が交差接続されている例の試験の説明図である。 第1図中。 10:同軸線 101:中心導体 102:シールド 11.12:平行2ピン型コネクタ 111.121:信号ピン 112.122:接地ピン 13:高周波信号発生器 14:アンテナ 15:高周波信号検出器
1実施例の説明図、第3図は本発明が対象とするケーブ
ルの外観図、第4図は同軸線とコネクタの接続方法を示
す説明図、第5図は従来の試験方法の説明図、第6図は
一端が交差接続されている例の試験の説明図、第7図は
両端が交差接続されている例の試験の説明図である。 第1図中。 10:同軸線 101:中心導体 102:シールド 11.12:平行2ピン型コネクタ 111.121:信号ピン 112.122:接地ピン 13:高周波信号発生器 14:アンテナ 15:高周波信号検出器
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 両端にそれぞれ平行2ピン型コネクタ(11、12)を
取り付けた同軸線(10)のコネクタ接続試験において
、 高周波信号発生器(13)と、この高周波信号発生器(
13)により駆動されるアンテナ(14)と、高周波信
号検出器(15)とを設け、 上記アンテナ(14)から高周波信号を送信し、この信
号を同軸線(10)のシールド(102)に結合させた
状態で、高周波信号検出器(15)により、平行2ピン
型コネクタ(11、12)の所定のピン上における高周
波信号の有無を検出して、同軸線(10)と平行2ピン
型コネクタ(11、12)との接続誤りを判定すること
を特徴とする同軸線のコネクタ接続試験方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60172064A JPS6254177A (ja) | 1985-08-05 | 1985-08-05 | 同軸線のコネクタ接続試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60172064A JPS6254177A (ja) | 1985-08-05 | 1985-08-05 | 同軸線のコネクタ接続試験方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6254177A true JPS6254177A (ja) | 1987-03-09 |
JPH0357425B2 JPH0357425B2 (ja) | 1991-09-02 |
Family
ID=15934863
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60172064A Granted JPS6254177A (ja) | 1985-08-05 | 1985-08-05 | 同軸線のコネクタ接続試験方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6254177A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012052992A (ja) * | 2010-09-03 | 2012-03-15 | Yazaki Corp | ケーブル検査用アダプタ |
CN103076534A (zh) * | 2013-01-04 | 2013-05-01 | 常州机电职业技术学院 | 条形连接器电气通断测试方法及其测试电路 |
-
1985
- 1985-08-05 JP JP60172064A patent/JPS6254177A/ja active Granted
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012052992A (ja) * | 2010-09-03 | 2012-03-15 | Yazaki Corp | ケーブル検査用アダプタ |
CN103076534A (zh) * | 2013-01-04 | 2013-05-01 | 常州机电职业技术学院 | 条形连接器电气通断测试方法及其测试电路 |
CN103076534B (zh) * | 2013-01-04 | 2015-04-01 | 常州机电职业技术学院 | 条形连接器电气通断测试方法及其测试电路 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0357425B2 (ja) | 1991-09-02 |
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