JPH0357425B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0357425B2 JPH0357425B2 JP60172064A JP17206485A JPH0357425B2 JP H0357425 B2 JPH0357425 B2 JP H0357425B2 JP 60172064 A JP60172064 A JP 60172064A JP 17206485 A JP17206485 A JP 17206485A JP H0357425 B2 JPH0357425 B2 JP H0357425B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- high frequency
- frequency signal
- pin
- coaxial line
- connector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
平行2ピン型コネクタを用いて同軸線の布線を
行う場合、同軸線のシールドと中心導体とが、両
端のコネクタでともに入れ違いに接続されている
と、導通試験のみによつては検出できない。この
ため同軸線のシールドに外側から高周波信号を結
合させ、ピン上で検出することにより、ピン接続
の良否を判定する。
行う場合、同軸線のシールドと中心導体とが、両
端のコネクタでともに入れ違いに接続されている
と、導通試験のみによつては検出できない。この
ため同軸線のシールドに外側から高周波信号を結
合させ、ピン上で検出することにより、ピン接続
の良否を判定する。
本発明は、同軸線とコネクタとの接続試験方法
に関するものであり、特に平行2ピン型コネクタ
に対する同軸線の誤接続を判定するための試験方
法に関する。
に関するものであり、特に平行2ピン型コネクタ
に対する同軸線の誤接続を判定するための試験方
法に関する。
大型計算機などの装置では、高速IC基板間を
多数のケーブルを用いて結合する場合が少なくな
い。
多数のケーブルを用いて結合する場合が少なくな
い。
このような場合、小型化のため、2C2V等の細
い同軸線の両端に小型のコネクタを取り付けたも
のが多く用いられる。
い同軸線の両端に小型のコネクタを取り付けたも
のが多く用いられる。
第3図はこのようなケーブルの1例について外
観を示したもので、30は同軸線、31,32は
平行2ピン型コネクタ、33はコネクタの向きを
示す凸起、311,321は信号ピンS、31
2,322は接地ピンGを表している。
観を示したもので、30は同軸線、31,32は
平行2ピン型コネクタ、33はコネクタの向きを
示す凸起、311,321は信号ピンS、31
2,322は接地ピンGを表している。
同軸線30と平行2ピン型コネクタ31,32
との接続は第4図に示すように行われる。すなわ
ち、同軸線30の中心導体301は両方のコネク
タの信号ピンSに接続され、またシールド302
は両コネクタの接地ピンGに接続される。
との接続は第4図に示すように行われる。すなわ
ち、同軸線30の中心導体301は両方のコネク
タの信号ピンSに接続され、またシールド302
は両コネクタの接地ピンGに接続される。
ところで、このような同軸線およびコネクタの
間の接続の良否は、従来、導通試験によつて判定
していた。
間の接続の良否は、従来、導通試験によつて判定
していた。
第5図はその概念図である。図示のように、平
行2ピン型コネクタ31,32の各外側に、スイ
ツチ36,37を設け、それぞれが対応して信号
ピンSおよび接地ピンGの一方を選択できるよう
にし、スイツチ36から信号パルスを平行2ピン
型コネクタ31の信号ピンSあるいは接地ピンG
の選択された側、たとえば信号ピンSに印加す
る。ここで他方の平行2ピン型コネクタ32の対
応する信号ピンSから信号パルスが出力されたと
き、導通しているものとし、次にスイツチ36,
37を接地ピンG側に切り替えて、同様に試験す
る。
行2ピン型コネクタ31,32の各外側に、スイ
ツチ36,37を設け、それぞれが対応して信号
ピンSおよび接地ピンGの一方を選択できるよう
にし、スイツチ36から信号パルスを平行2ピン
型コネクタ31の信号ピンSあるいは接地ピンG
の選択された側、たとえば信号ピンSに印加す
る。ここで他方の平行2ピン型コネクタ32の対
応する信号ピンSから信号パルスが出力されたと
き、導通しているものとし、次にスイツチ36,
37を接地ピンG側に切り替えて、同様に試験す
る。
以上により、いずれも導通していることが確認
されたときに、同軸線30と平行2ピン型コネク
タ31,32との間の接続は正常であると判定す
るものである。
されたときに、同軸線30と平行2ピン型コネク
タ31,32との間の接続は正常であると判定す
るものである。
第5図で説明した従来の試験方法では、同軸線
とコネクタ間の接続不良は、接続断かあるいは第
6図に示すように、一方のコネクタ側で誤つて交
差接続されているかのいずれかの状態にあるもの
しか検出することができず、第7図に示すよう
に、両方のコネクタがともに誤つて交差接続され
ている場合には、コネクタの各ピンS,Gのいず
れの側においても導通が得られるため、良品と判
定される。
とコネクタ間の接続不良は、接続断かあるいは第
6図に示すように、一方のコネクタ側で誤つて交
差接続されているかのいずれかの状態にあるもの
しか検出することができず、第7図に示すよう
に、両方のコネクタがともに誤つて交差接続され
ている場合には、コネクタの各ピンS,Gのいず
れの側においても導通が得られるため、良品と判
定される。
しかし、このように交差接続された同軸線を用
いて高速IC基板間の布線を実施した場合、正常
なものにくらべると、対地インピーダンスが変わ
り、伝送特性が変化し、雑音も増加するなど、特
性が劣化するという問題があつた。
いて高速IC基板間の布線を実施した場合、正常
なものにくらべると、対地インピーダンスが変わ
り、伝送特性が変化し、雑音も増加するなど、特
性が劣化するという問題があつた。
本発明は、このため、同軸線のシールドに外部
から高周波信号を結合し、高周波信号がコネクタ
の接地ピンから検出されるか否かにより、接続の
良否を判定するようにしたものである。
から高周波信号を結合し、高周波信号がコネクタ
の接地ピンから検出されるか否かにより、接続の
良否を判定するようにしたものである。
第1図は本発明の原理を示す概念図である。
図において、10は同軸線、101は中心導
体、102はシールド、11,12は平行2ピン
型コネクタ、111,121は信号ピンS、11
2,122は接地ピンG、13は高周波信号発生
器、14はアンテナ、15は高周波信号検出器を
表している。
体、102はシールド、11,12は平行2ピン
型コネクタ、111,121は信号ピンS、11
2,122は接地ピンG、13は高周波信号発生
器、14はアンテナ、15は高周波信号検出器を
表している。
高周波信号発生器13は、たとえば高周波発振
器であり、発生された高周波信号は、アンテナ1
4を介して同軸線10のシールド102に結合さ
れる。
器であり、発生された高周波信号は、アンテナ1
4を介して同軸線10のシールド102に結合さ
れる。
シールド102に誘起された高周波信号電圧
は、両端の平行2ピン型コネクタ11,12が同
軸線10と正しい接続関係にある限り、その接地
ピンGに現れ、誤接続されていれば信号ピンSに
現れる。これを高周波信号検出器15により検出
し、接続の良否を行う。
は、両端の平行2ピン型コネクタ11,12が同
軸線10と正しい接続関係にある限り、その接地
ピンGに現れ、誤接続されていれば信号ピンSに
現れる。これを高周波信号検出器15により検出
し、接続の良否を行う。
本発明は、コネクタのピンに接続されているも
のが同軸線の中心導体であるかシールドであるか
をコネクタ側から知ることが困難であることか
ら、同軸線の外側に高周波信号の電界あるいは電
磁界を作用させ、シールドのみに高周波信号が結
合されるようにして、シールドと中心導体の識別
を可能にする。
のが同軸線の中心導体であるかシールドであるか
をコネクタ側から知ることが困難であることか
ら、同軸線の外側に高周波信号の電界あるいは電
磁界を作用させ、シールドのみに高周波信号が結
合されるようにして、シールドと中心導体の識別
を可能にする。
これにより、同軸線と平行2ピン型コネクタと
の間の両端同時の交差接続が確実容易に検出でき
る。
の間の両端同時の交差接続が確実容易に検出でき
る。
第2図は本発明の1実施例の説明図である。
第2図において、参照番号10ないし15で示
される要素は、第1図と共通のものである。また
151は高周波増幅器、152は検波器、153
は表示メータ、16および17はスイツチを表し
ている。
される要素は、第1図と共通のものである。また
151は高周波増幅器、152は検波器、153
は表示メータ、16および17はスイツチを表し
ている。
本実施例では、まず第5図で説明した従来方法
により、スイツチ16および17を用いて、2つ
の平行2ピン型コネクタ11,12の各信号ピン
S同士と、接地ピンG同士の間の導通試験を行
い、対応するピン間の導通の有無を確認する。こ
こで導通が得られない場合には不良品と判定し、
導通が確認された場合にのみ、次の高周波信号を
用いた試験を行う。
により、スイツチ16および17を用いて、2つ
の平行2ピン型コネクタ11,12の各信号ピン
S同士と、接地ピンG同士の間の導通試験を行
い、対応するピン間の導通の有無を確認する。こ
こで導通が得られない場合には不良品と判定し、
導通が確認された場合にのみ、次の高周波信号を
用いた試験を行う。
高周波信号発生器13は、たとえば数MHzから
数10MHzの範囲の小電力発振器で構成され、アン
テナ14も比較的簡単なもので十分である。
数10MHzの範囲の小電力発振器で構成され、アン
テナ14も比較的簡単なもので十分である。
アンテナ14と同軸線10とは、相互の距離を
長くとつて、幅射電界(いわゆる電波)により結
合しても、あるいはアンテナ14を同軸線10の
中間部に近接させて、容量結合させることも可能
である。
長くとつて、幅射電界(いわゆる電波)により結
合しても、あるいはアンテナ14を同軸線10の
中間部に近接させて、容量結合させることも可能
である。
いずれにしても、同軸線10のシールド102
に高周波信号電圧が誘起され、シールド102が
接続されているコネクタピンS,Gの一方に高周
波信号が現れる。
に高周波信号電圧が誘起され、シールド102が
接続されているコネクタピンS,Gの一方に高周
波信号が現れる。
高周波信号検出器15は、スイツチ17を介し
てコネクタ12の接地ピンGに結合してあり、こ
のとき接地ピンG上で高周波信号を検出できなか
つた場合には、交差接続状態にあるものと判定す
る。
てコネクタ12の接地ピンGに結合してあり、こ
のとき接地ピンG上で高周波信号を検出できなか
つた場合には、交差接続状態にあるものと判定す
る。
高周波信号検出器15は、高周波増幅器151
で入力信号を増幅し、検波器152で検波する。
もしも高周波信号が存在していれば直流信号が出
力され、表示メータ153によつて検出すること
ができる。
で入力信号を増幅し、検波器152で検波する。
もしも高周波信号が存在していれば直流信号が出
力され、表示メータ153によつて検出すること
ができる。
本発明によれば、同軸線のシールドに高周波信
号を確実に結合できるため、簡単にシールドに接
続されているコネクタピンを識別することがで
き、従来の導通試験による方法と組み合わせるこ
とにより、能率的に高い信頼性の検査を行うこと
ができる。
号を確実に結合できるため、簡単にシールドに接
続されているコネクタピンを識別することがで
き、従来の導通試験による方法と組み合わせるこ
とにより、能率的に高い信頼性の検査を行うこと
ができる。
第1図は本発明の原理を示す概念図、第2図は
本発明の1実施例の説明図、第3図は本発明が対
象とするケーブルの外観図、第4図は同軸線とコ
ネクタの接続方法を示す説明図、第5図は従来の
試験方法の説明図、第6図は一端が交差接続され
ている例の試験の説明図、第7図は両端が交差接
続されている例の試験の説明図である。 第1図中、10:同軸線、101:中心導体、
102:シールド、11,12…平行2ピン型コ
ネクタ、111,121:信号ピン、112,1
22:接地ピン、13:高周波信号発生器、1
4:アンテナ、15:高周波信号検出器。
本発明の1実施例の説明図、第3図は本発明が対
象とするケーブルの外観図、第4図は同軸線とコ
ネクタの接続方法を示す説明図、第5図は従来の
試験方法の説明図、第6図は一端が交差接続され
ている例の試験の説明図、第7図は両端が交差接
続されている例の試験の説明図である。 第1図中、10:同軸線、101:中心導体、
102:シールド、11,12…平行2ピン型コ
ネクタ、111,121:信号ピン、112,1
22:接地ピン、13:高周波信号発生器、1
4:アンテナ、15:高周波信号検出器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 両端にそれぞれ平行2ピン型コネクタ11,
12を取り付けた同軸線10のコネクタ接続試験
において、 高周波信号発生器3と、この高周波信号発生器
13により駆動されるアンテナ14と、高周波信
号検出器15とを設け、 上記アンテナ14から高周波信号を送信し、こ
の信号を同軸線10のシールド102に結合させ
た状態で、高周波信号検出器15により、平行2
ピン型コネクタ11,12の所定のピン上におけ
る高周波信号の有無を検出して、同軸線10と平
行2ピン型コネクタ11,12との接続誤りを判
定することを特徴とする同軸線のコネクタ接続試
験方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60172064A JPS6254177A (ja) | 1985-08-05 | 1985-08-05 | 同軸線のコネクタ接続試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60172064A JPS6254177A (ja) | 1985-08-05 | 1985-08-05 | 同軸線のコネクタ接続試験方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6254177A JPS6254177A (ja) | 1987-03-09 |
JPH0357425B2 true JPH0357425B2 (ja) | 1991-09-02 |
Family
ID=15934863
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60172064A Granted JPS6254177A (ja) | 1985-08-05 | 1985-08-05 | 同軸線のコネクタ接続試験方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6254177A (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012052992A (ja) * | 2010-09-03 | 2012-03-15 | Yazaki Corp | ケーブル検査用アダプタ |
CN103076534B (zh) * | 2013-01-04 | 2015-04-01 | 常州机电职业技术学院 | 条形连接器电气通断测试方法及其测试电路 |
-
1985
- 1985-08-05 JP JP60172064A patent/JPS6254177A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6254177A (ja) | 1987-03-09 |
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