JPS6252910B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

（技術分野） 本発明は、機械により印影の一致又は不一致を
判定する印影照合装置に関する。 （背景技術） 従来の印影照合装置を第１図に示す。第１図
は、被検印影を読取部１にて読み取つた被照合印
影パターン２を位置整合部３にて移動及び回転さ
せ、照合比較部４にて登録印影パターン５との一
致度を調べ、一致判定部６にて判定を行ない、必
要に応じて結果を位置整合部３にフイード・バツ
クして一致度が向上する方向に移動及び回転を施
した後、再び照合比較部４にて一致度を調べ、こ
のような工程を繰り返し、一致度の最大値から被
検印影の真偽を判定する装置である。従つて、こ
の装置の場合、判定結果が得られるまでには非常
に多くの回数の「位置整合」と「照合比較」を繰
り返さなければならない。ところで、「照合比
較」は一般にパターン全域にわたつて走査を行な
い、逐一相対応するメツシユ上のドツトの一致、
不一致を調べるわけであるから、かなりの処理時
間を必要とする。それゆえ「照合比較」を多数回
行なうということは、照合に要する時間がとても
長くなるという欠点につながる。 ところで、実際の印影照合業務を考えた場合、
照合目的に応じて次のごとく大別することができ
よう。すなわち、「善意の過失による印鑑の相異
を検出することを主目的とする照合」と「悪意を
もつての印鑑の相異を検出することを主目的とす
る照合」とである。ところで印鑑には必らず外枠
があり、前者の場合には、印鑑外枠のカケなども
好意的に判断して他の部分が同一と判断されれ
ば、「一致」という結論を出しても差し支えない
という場合もあるが、後者の場合には、被照合印
影の外枠にカケがあつた場合には、「押印のやり
直し」を指示するか、あるいは「オペレータによ
るより詳細な照合が必要である旨」を指示する必
要があり、少なくとも印影照合装置が「一致」と
いう結論を出すことは許されない。 しかるに従来の印鑑照合機は、いかなる場合で
も印影パターンの外形特徴と内部特徴を合せたパ
ターン全体を常に照合していることになるから無
駄が多く、照合時間を長びかせているばかりでな
く、不一致の原因がどこにあるかがわからず照合
の正確度も低いという欠点があつた。 （発明の課題） 本発明の目的は、これらの欠点を除去すること
にあり、被照合印影パターンから外枠のカケの有
無を検出し、外枠のカケが検出された場合には、
両印影パターンの「位置整合」や「照合比較」を
行なわずに「不一致」という判定を下すなど、
「外枠のカケ有り」という情報を優先的に「一致
判定」に使用するようにしたものであり、以下詳
細に説明する。 （発明の構成及び作用） 第２図は本発明の第１の実施例であつて、被検
印影を読取部１にて読み取つた被照合印影パター
ン２において、外枠のカケがあるか否かを外枠の
カケ検出部７にて検出し、外枠のカケが検出され
た場合には、位置整合部３及び照合比較部４の動
作を停止させ、一致判定部６を経由して「不一
致」という判定を下し、外枠のカケが検出されな
かつた場合には、従来例と同様、被照合印影パタ
ーン２を位置整合部３にて移動及び回転させ、照
合比較部４にて登録印影パターン５との一致度を
調べ、一致判定部６にて判定を行ない、必要に応
じて結果を位置整合部３にフイード・バツクして
一致度が向上する方向に移動及び回転を施した
後、再び照合比較部４にて一致度を調べ、このよ
うな工程を繰り返し、一致度の最大値から被検印
影の真偽を判定する装置である。 第３図は、本発明第１の実施例における外枠の
カケ検出部７の詳細なブロツク図であり、輪郭追
跡部１０において印影パターンの外枠を公知の８
連結一境界線追跡アルゴリズム〔電子通信学会論
文誌56−Ｄ巻11号667〜668頁（1973年11月）〕等
によつて追跡し、回転量計数部２０において、輪
郭追跡の方向に応じて回転量及び回転量の総和を
計数し、１周分の輪郭追跡が終了した時点で該計
数結果及び計数経過に応じて、判定部３０におい
て外枠のカケの有無を判定するものである。 回転量の計数は、例えば第４図のごとく方向係
数Ｍを定義し、第５図に示した計数規則にのつと
つて回転量_kを計数し、回転量の総和δ_oは

【式】にて求める。 印影パターンの外枠には凹凸の変化がないか
ら、外枠にカケがない場合、回転量の総和は、第
６図Ａのごとく輪郭追跡を進めていくにつれて単
調増加し、１周回つた時点でδ＝７あるいは６と
なり、追跡開始点とオーバーラツプした時点では
じめてδ＝８となる。すなわち、外枠にカケがな
い場合、回転量の総和は「１周の間常に０〜７」
かつ「単調増加」である。。なお、第６図におい
てＳは追跡開始点、矢印は追跡方向、数値はδの
値である。 ところが外枠にカケが生じた場合、例えば第６
図Ｂ〜Ｄのごとくなり、回転量の総和は、１周の
間において「単調増加でない」あるいは「８以上
の値をとることがある」あるいは「負の値をとる
ことがある」などが生じる。なかでも「回転量の
総和は１周の間において、単調増加でない」とい
う条件は、外枠にカケが生じた場合に必らず起こ
る現象であることから、簡単にカケの有無を判定
するためには、この条件を調べるだけで充分であ
る。 それゆえ、判定部３０では、輪郭追跡中の回転
量の総和δの変化が単調増加であるか否かを検出
すればよい。 以上説明したように、第１の実施例では、輪郭
追跡中の回転量の総和の変化が単調増加であるか
否かを検出することによつて簡単に被照合印影パ
ターンの外枠のカケを検出し、外枠のカケが検出
された場合には、登録印影パターンと被照合印影
パターンとの「位置整合」や「照合比較」を行な
わずに不一致という判定を下すようにしたもので
あるから、照合に要する時間が大幅に短縮される
という利点がある。 第１の実施例は、被照合印影パターンの外枠の
カケを検出した場合に、直ちに「不一致」という
判定を下すようにしたものにつき説明したが、第
１の実施例における印影パターンの外枠のカケを
検出する方法は、次のような場合に応用すること
も可能である。すなわち、外枠のカケを検出した
からといつていきなり「不一致」という判定を下
すのではなく、外枠にカケがあるという情報を
「照合比較」の際の重みづけに使用したり、ある
いは外枠のカケ部分に対応する登録印影パターン
の外枠部分は「照合比較」の際に除外するなど、
「外枠にカケ有り」という情報を一致判定に際し
て優先的に使用する方法である。こうすることに
より、外枠にカケのない登録印影パターンと外枠
にカケの生じている被照合印影パターンとをやみ
くもに「照合比較」することにより生ずる照合の
不正確さを防ぎ、照合の正確度を高めると同時に
照合に要する時間を短縮することができる。 （発明の効果） 本発明は、被照合印影パターンから外枠のカケ
の有無を検出する外枠のカケ検出部を有してお
り、外枠のカケを検出した場合に、「カケ有り」
という情報を一致判定に際して優先的に使用する
ため、照合が速い、あるいは照合が正確である印
影照合装置に利用することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の印影照合装置のブロツク図、第
２図は本発明による印影照合装置の一実施例のブ
ロツク図、第３図は本発明の一実施例における外
枠のカケ検出部のブロツク図、第４図は方向係数
の説明図、第５図は回転量の計数規則の説明図、
第６図Ａ〜Ｄは回転量の総和の変化例を示す説明
図である。 １……読取部、２……被照合印影パターン、３
……位置整合部、４……照合比較部、５……登録
印影パターン、６……一致判定部、７……外枠の
カケ検出部、１０……輪郭追跡部、２０……回転
量計数部、３０……判定部、Ｓ……追跡開始点。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 被照合印影を電気信号により読取る読取部
   と、読取部により読取られた被照合印影パターン
   の位置を登録印影パターンに位置整合する位置整
   合部と、両印影パターンの照合比較を行なう照合
   比較部と、その出力の照合結果に従つて両印影パ
   ターンの一致又は不一致の判定及び前記位置整合
   部による位置整合の再調整を指示する一致判定部
   とを有する印影照合装置において、被照合印影パ
   ターンの外枠のカケの有無を検出するカケ検出部
   がもうけられ、該カケ検出部は、外枠を輪郭追跡
   する際の追跡軌跡の回転方向の反転、回転量の総
   和及び回転量が単調増加か否かの条件のうち少な
   くともひとつの条件により外枠のカケを検出し、
   外枠のカケが検出されたときは、前記一致判定部
   はカケ有の情報を照合比較部の出力情報よりも優
   先されるごとく構成されることを特徴とする印影
   照合装置。