JPS58106661A - 印影照合装置 - Google Patents
印影照合装置Info
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- JPS58106661A JPS58106661A JP56205113A JP20511381A JPS58106661A JP S58106661 A JPS58106661 A JP S58106661A JP 56205113 A JP56205113 A JP 56205113A JP 20511381 A JP20511381 A JP 20511381A JP S58106661 A JPS58106661 A JP S58106661A
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- Japan
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 7
- 238000012795 verification Methods 0.000 claims description 24
- 239000012634 fragment Substances 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V30/00—Character recognition; Recognising digital ink; Document-oriented image-based pattern recognition
- G06V30/10—Character recognition
- G06V30/19—Recognition using electronic means
- G06V30/19007—Matching; Proximity measures
- G06V30/19013—Comparing pixel values or logical combinations thereof, or feature values having positional relevance, e.g. template matching
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Collating Specific Patterns (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（技術分野）
本発明は、機械により印影の一致又は不一致を判定する
印影照合装置に関する。
印影照合装置に関する。
（背景技術）
従来の印影照合装置を第１図に示す。第１図は、被検印
影を読取部１にて読み取った被照合印影パターン２を位
置整合部３にて移動及び回転させ、照合比較部４にて登
録印影パターン５との一致度を調べ、゛−一致判定部に
て判定を行ない、必要に応じて結果を位置整合部３にフ
ィード・バックして一致度が向上する方向に移動及び回
転を施した後、再び照合比較部４にて一致度を調べ、こ
のような工程を繰り返し、一致度の最大値から被検印影
の真偽を判定する装置である。従って、この装置の場合
、判定結果が得られるまでには非常に多くの回数の「位
置整合」と「照合比較」を繰り返さなければならない。
影を読取部１にて読み取った被照合印影パターン２を位
置整合部３にて移動及び回転させ、照合比較部４にて登
録印影パターン５との一致度を調べ、゛−一致判定部に
て判定を行ない、必要に応じて結果を位置整合部３にフ
ィード・バックして一致度が向上する方向に移動及び回
転を施した後、再び照合比較部４にて一致度を調べ、こ
のような工程を繰り返し、一致度の最大値から被検印影
の真偽を判定する装置である。従って、この装置の場合
、判定結果が得られるまでには非常に多くの回数の「位
置整合」と「照合比較」を繰り返さなければならない。
ところで、「照合比較」は一般にパターン全域にわたっ
て走査を行ない、逐−相対応するメツシュ上のドツトの
一致、不一致を調べるわけであるから、かなりの処理時
間を必要とする。それゆえ「照合比較」を多数回行なう
ということは、照合に要する時間がとても長くなるとい
う欠点につながる。
て走査を行ない、逐−相対応するメツシュ上のドツトの
一致、不一致を調べるわけであるから、かなりの処理時
間を必要とする。それゆえ「照合比較」を多数回行なう
ということは、照合に要する時間がとても長くなるとい
う欠点につながる。
ところで、実際の印影照合業務を考えた場合、照合目的
に応じて次のごとく大別することができよう。すなわち
、「善意の過失による印鑑の相異を検出することを主目
的とする照合」と「悪意をもっての印鑑の相異を検出す
ることを主目的とする照合」とである。ところで印鑑に
は必らず外枠があり、前者の場合には、印鑑外枠のカケ
なども好意的に判断して他の部分が同一と判断されれば
、「一致」という結論を出しても差し支えないという場
合もあるが、後者の場合には、被照合印影の外枠にカケ
があった場合には、「押印のやり直し」を指示するか、
あるいは「オペレータによるより詳細な照合が必要であ
る旨」を指示する必要があり、少な（とも印影照合装置
が「一致」という結論を出すことは許されない。
に応じて次のごとく大別することができよう。すなわち
、「善意の過失による印鑑の相異を検出することを主目
的とする照合」と「悪意をもっての印鑑の相異を検出す
ることを主目的とする照合」とである。ところで印鑑に
は必らず外枠があり、前者の場合には、印鑑外枠のカケ
なども好意的に判断して他の部分が同一と判断されれば
、「一致」という結論を出しても差し支えないという場
合もあるが、後者の場合には、被照合印影の外枠にカケ
があった場合には、「押印のやり直し」を指示するか、
あるいは「オペレータによるより詳細な照合が必要であ
る旨」を指示する必要があり、少な（とも印影照合装置
が「一致」という結論を出すことは許されない。
しかるに従来の印鑑照合機は、いがなる場合でも印影パ
ターンの外形特徴と内部特徴を合せたパターン全体を常
に照合していることになるから無駄が多く、照合時間を
長びがせているばがりでなく、不一致の原因がどこにあ
るかがわからず照合の正確度も低いという欠点があった
。
ターンの外形特徴と内部特徴を合せたパターン全体を常
に照合していることになるから無駄が多く、照合時間を
長びがせているばがりでなく、不一致の原因がどこにあ
るかがわからず照合の正確度も低いという欠点があった
。
（発明の課題）
本発明の目的は、これらの欠点を除去することにあり、
被照合印影パターンから外枠のカケの有無を検出し、外
枠のカケが検出された場合には、両部゛影パターンの「
位置整合」や「照合比較」を行なわずに「不一致」とい
う判定を下すなど、「外枠のカケ有り」という情報を優
先的に１一致判定」に使用するようにしたものであり、
以下詳細に説明する。
被照合印影パターンから外枠のカケの有無を検出し、外
枠のカケが検出された場合には、両部゛影パターンの「
位置整合」や「照合比較」を行なわずに「不一致」とい
う判定を下すなど、「外枠のカケ有り」という情報を優
先的に１一致判定」に使用するようにしたものであり、
以下詳細に説明する。
（発明の構成及び作用）
第２図は本発明の第１の、実施例であって、被検印影を
読取部１にて読み取った被照合印影パターン２において
、外枠のカケがあるか否かを外枠のカケ検出部７にて検
出し、外枠のカケが検出さ第１た場合には、位置整合部
３及び照合比較部４の動作を停止させ、一致判定部６を
経由して「不一致」という判定を下し、外枠のカケが検
出されなかった場合には、従来例と同様、被照合印影パ
ターン２を位置整合部３にて移動及び回転させ、照合比
較部４にて登録印影パターン５との一致度を調べ、一致
判定部６にて判定を行ない、必要に応じて結果を位置整
合部３にフィード・バックして一致度が向上する方向に
移動及び回転を施した後、再び照合比較部４にて一致度
を調べ、このような工程を繰り返し、一致度の最大値か
ら被検印影の真偽を判定する装置である。
読取部１にて読み取った被照合印影パターン２において
、外枠のカケがあるか否かを外枠のカケ検出部７にて検
出し、外枠のカケが検出さ第１た場合には、位置整合部
３及び照合比較部４の動作を停止させ、一致判定部６を
経由して「不一致」という判定を下し、外枠のカケが検
出されなかった場合には、従来例と同様、被照合印影パ
ターン２を位置整合部３にて移動及び回転させ、照合比
較部４にて登録印影パターン５との一致度を調べ、一致
判定部６にて判定を行ない、必要に応じて結果を位置整
合部３にフィード・バックして一致度が向上する方向に
移動及び回転を施した後、再び照合比較部４にて一致度
を調べ、このような工程を繰り返し、一致度の最大値か
ら被検印影の真偽を判定する装置である。
第３図は、本発明第１の実施例における外枠のカケ検出
部７の詳細なブロック図であり、輪郭追跡部１０におい
て印影パターンの外枠を公知の８連結−境界線追跡アル
ゴリ・ズム〔電子通信学会論文誌５６−Ｄ巻１１号６６
７〜６６８頁（１９７３年１１月）〕等によって追跡し
、回転量計数部側において、輪郭追跡の方向に応じて回
転量及び回転量の総和を計数し、１周分の輪郭追跡が終
了した時点で該計数結果及び計数経過に応じて、判定部
加において外枠のカケの有無を判定するものである。
部７の詳細なブロック図であり、輪郭追跡部１０におい
て印影パターンの外枠を公知の８連結−境界線追跡アル
ゴリ・ズム〔電子通信学会論文誌５６−Ｄ巻１１号６６
７〜６６８頁（１９７３年１１月）〕等によって追跡し
、回転量計数部側において、輪郭追跡の方向に応じて回
転量及び回転量の総和を計数し、１周分の輪郭追跡が終
了した時点で該計数結果及び計数経過に応じて、判定部
加において外枠のカケの有無を判定するものである。
回転量の計数は、例えば第４図のごとく方向係数Ｍを定
義し、第５図に示した計数規則にのっとって回転量ψ□
を計数し、回転量の総和δ。はδ。＝Σ（ψｋ）にて求
める。
義し、第５図に示した計数規則にのっとって回転量ψ□
を計数し、回転量の総和δ。はδ。＝Σ（ψｋ）にて求
める。
−１
印影パターンの外枠には凹凸の変化がないから、外枠に
カケがない場合、回転量の総和は、第６図（Ａ）のごと
く輪郭追跡を進めていくにつれて単調増加し、１周回っ
た時点でδ＝７あるいは６となり、追跡開始点とオーバ
ラップした時点ではじめてδ−ぎとなる。すなわち、外
枠にカケがない場合、回転量の総和は「１周の間常に０
〜７」かつ「単調増加」である。なお、第６図において
Ｓは追跡開始点、矢印は追跡方向、数値はδの値である
。
カケがない場合、回転量の総和は、第６図（Ａ）のごと
く輪郭追跡を進めていくにつれて単調増加し、１周回っ
た時点でδ＝７あるいは６となり、追跡開始点とオーバ
ラップした時点ではじめてδ−ぎとなる。すなわち、外
枠にカケがない場合、回転量の総和は「１周の間常に０
〜７」かつ「単調増加」である。なお、第６図において
Ｓは追跡開始点、矢印は追跡方向、数値はδの値である
。
ところが外枠にカケが生じた場合、例えば第６図（Ｂ）
〜（Ｄ）のごとくなり、回転量の総和は、１周の間にお
いて「単調増加でない」あるいは「８以上の値をとるこ
とがある」あるいは「負の値をとることがある」などが
生じる。なかでも「回転量の総和は１周の間において、
１調増加でない」という条件は、外枠にカケが生じた場
合に必らず起こる現象であることから、簡単にカケの有
無を判定するためには、この条件を調べるだけで充分で
ある。
〜（Ｄ）のごとくなり、回転量の総和は、１周の間にお
いて「単調増加でない」あるいは「８以上の値をとるこ
とがある」あるいは「負の値をとることがある」などが
生じる。なかでも「回転量の総和は１周の間において、
１調増加でない」という条件は、外枠にカケが生じた場
合に必らず起こる現象であることから、簡単にカケの有
無を判定するためには、この条件を調べるだけで充分で
ある。
それゆえ、判定部３０では、輪郭追跡中の回転量の総和
δの変化が単調増加であるか否かを検出すればよい。
δの変化が単調増加であるか否かを検出すればよい。
以上説明したように、第１の実施例では、輪郭追跡中の
回転量の総和の変化が単調増加であるが否かを検出する
ことによって簡単に被照合印影パターンの外枠のカケを
検出し、外枠のカケが検出された場合には、登録印影パ
ターンと被照合印影パターンとの「位置整合」や「照合
比較」を行なわずに不一致という判定を下すようにした
ものであるから、照合に要する時間が大幅に短縮される
というオリ点がある。
回転量の総和の変化が単調増加であるが否かを検出する
ことによって簡単に被照合印影パターンの外枠のカケを
検出し、外枠のカケが検出された場合には、登録印影パ
ターンと被照合印影パターンとの「位置整合」や「照合
比較」を行なわずに不一致という判定を下すようにした
ものであるから、照合に要する時間が大幅に短縮される
というオリ点がある。
第１の実施例は、被照合印影パターンの外枠のカケを検
出した場合に、直ちに「不一致」という１の実施例にお
ける印影パターンの外枠のカケを検出する方法は、次の
ような場合に応用することも可能である。すなわち、外
枠のカケを検出したからといっていきなり「不一致」と
いう判定を下すのではなく、外枠にカケがあるとも・う
情報を「照合比較」の際の重みづけに使用したり、ある
いは外枠のカケ部分に対応する登録印影パターンの外枠
部分は「照合比較」の際に除外するなど、「外枠にカケ
有り」という情報を一致判定に際して優先的に使用する
方法である。こうすることにより、外枠にカケのない登
録印影パターンと外枠にカケの生じている被照合印影パ
ターンとをやみくもに「照合比較」することにより生ず
る照合の不正確さを防ぎ、照合の正確度を高めると同時
に照合に要する時間を短縮することができる。
出した場合に、直ちに「不一致」という１の実施例にお
ける印影パターンの外枠のカケを検出する方法は、次の
ような場合に応用することも可能である。すなわち、外
枠のカケを検出したからといっていきなり「不一致」と
いう判定を下すのではなく、外枠にカケがあるとも・う
情報を「照合比較」の際の重みづけに使用したり、ある
いは外枠のカケ部分に対応する登録印影パターンの外枠
部分は「照合比較」の際に除外するなど、「外枠にカケ
有り」という情報を一致判定に際して優先的に使用する
方法である。こうすることにより、外枠にカケのない登
録印影パターンと外枠にカケの生じている被照合印影パ
ターンとをやみくもに「照合比較」することにより生ず
る照合の不正確さを防ぎ、照合の正確度を高めると同時
に照合に要する時間を短縮することができる。
（発明の効果）
本発明は、被照合印影パターンから外枠のカケ−の有無
を検出する外枠のカケ検出部を有しており、外枠のカケ
を検出し１こ場合に、「カケ有り」と℃・う情報を一致
判定に際して優先的に使用するため、照合が速い、ある
いは照合が正確である印影照合装置に利用することがで
きる。
を検出する外枠のカケ検出部を有しており、外枠のカケ
を検出し１こ場合に、「カケ有り」と℃・う情報を一致
判定に際して優先的に使用するため、照合が速い、ある
いは照合が正確である印影照合装置に利用することがで
きる。
８Ｆ、１図は従来の印影照合装置のブロック図、第２・
図は本発明による印影照合装置の一実施例のブロック図
、第３図は本発明の一実施例における外枠のカケ検出部
のブロック図、第４図は方向係数の説明図、第５図は回
転量の計数規則の説明図、第６図（Ａ）〜（Ｄ）は回転
量の総和の変化例を示す説明図である。 １・・・・・・読取部、 ２・・・・・・被照合印影
パターン、３・・・・・・位置整合部、 ４・・・・
・・照合比較部、５・・・・・・登録印影パターン、６
・・・・・・一致判定部、７・・・・・・外枠のカケ検
出部、１０・・・・・・輪郭追跡部、２０・・・・・・
回転量計数部、 ３０・・・・・・判定部、Ｓ・・・
・・・追跡開始点 特許出願人 沖電気工業株式会社 ％許出願代理人 弁理士 山 本 恵 −（Ａ） ３ （Ｃ） ２ 図 （Ｂ） （Ｄ）
図は本発明による印影照合装置の一実施例のブロック図
、第３図は本発明の一実施例における外枠のカケ検出部
のブロック図、第４図は方向係数の説明図、第５図は回
転量の計数規則の説明図、第６図（Ａ）〜（Ｄ）は回転
量の総和の変化例を示す説明図である。 １・・・・・・読取部、 ２・・・・・・被照合印影
パターン、３・・・・・・位置整合部、 ４・・・・
・・照合比較部、５・・・・・・登録印影パターン、６
・・・・・・一致判定部、７・・・・・・外枠のカケ検
出部、１０・・・・・・輪郭追跡部、２０・・・・・・
回転量計数部、 ３０・・・・・・判定部、Ｓ・・・
・・・追跡開始点 特許出願人 沖電気工業株式会社 ％許出願代理人 弁理士 山 本 恵 −（Ａ） ３ （Ｃ） ２ 図 （Ｂ） （Ｄ）
Claims (1)
- 被照合印影を電気信号により読取る読取部と、読取部に
より読取られた被照合印影パターンの位置を登録印影パ
ターンに位置整合する位置整合部と、両印影パターンの
照合比較を行なう照合比較部と、その出力の照合結果に
従って両印影パターンの一致又は不一致の判定及び前記
位置整合部による位置整合の再調整を指示する一致判定
部とを有する印影照合装置において、被照合印影パター
ンの外枠のカケの有無を検出するカケ検出部がもうけら
れ、該カケ検出部は、外枠を輪郭追跡する際の追跡軌跡
の回転方向の反転、回転量の総和及び回転量が単調増加
か否かの条件のうち少ｔｒ−くともひとつの条件により
外枠のカケを横用し、外枠のカケが検出されたときは、
前記一致判定部はカケ有の情報を照合比較部の出力情報
よりも優先されるごとく構成されることを特徴とする印
影照合装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56205113A JPS58106661A (ja) | 1981-12-21 | 1981-12-21 | 印影照合装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56205113A JPS58106661A (ja) | 1981-12-21 | 1981-12-21 | 印影照合装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58106661A true JPS58106661A (ja) | 1983-06-25 |
| JPS6252910B2 JPS6252910B2 (ja) | 1987-11-07 |
Family
ID=16501630
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56205113A Granted JPS58106661A (ja) | 1981-12-21 | 1981-12-21 | 印影照合装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58106661A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011186820A (ja) * | 2010-03-09 | 2011-09-22 | Oki Electric Industry Co Ltd | 印鑑照合装置、印鑑照合システム、印鑑照合方法およびプログラム |
| JP2014222534A (ja) * | 2014-07-30 | 2014-11-27 | 沖電気工業株式会社 | 印影抽出装置、印影抽出システム、印影抽出方法、プログラムおよび印鑑照合装置 |
-
1981
- 1981-12-21 JP JP56205113A patent/JPS58106661A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011186820A (ja) * | 2010-03-09 | 2011-09-22 | Oki Electric Industry Co Ltd | 印鑑照合装置、印鑑照合システム、印鑑照合方法およびプログラム |
| JP2014222534A (ja) * | 2014-07-30 | 2014-11-27 | 沖電気工業株式会社 | 印影抽出装置、印影抽出システム、印影抽出方法、プログラムおよび印鑑照合装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6252910B2 (ja) | 1987-11-07 |
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