JPS595383A - 印鑑照合方法 - Google Patents

印鑑照合方法

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JPS595383A
JPS595383A JP57114945A JP11494582A JPS595383A JP S595383 A JPS595383 A JP S595383A JP 57114945 A JP57114945 A JP 57114945A JP 11494582 A JP11494582 A JP 11494582A JP S595383 A JPS595383 A JP S595383A
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JP
Japan
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seal
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singular
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Prior art date
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Pending
Application number
JP57114945A
Other languages
English (en)
Inventor
Kunio Nakaya
仲谷 邦男
Shuji Tsuji
辻 修治
Kazuhiko Saka
坂 和彦
Hiroshi Ito
弘志 伊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Tateisi Electronics Co
Omron Tateisi Electronics Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tateisi Electronics Co, Omron Tateisi Electronics Co filed Critical Tateisi Electronics Co
Priority to JP57114945A priority Critical patent/JPS595383A/ja
Publication of JPS595383A publication Critical patent/JPS595383A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06VIMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V10/00Arrangements for image or video recognition or understanding
    • G06V10/70Arrangements for image or video recognition or understanding using pattern recognition or machine learning
    • G06V10/77Processing image or video features in feature spaces; using data integration or data reduction, e.g. principal component analysis [PCA] or independent component analysis [ICA] or self-organising maps [SOM]; Blind source separation
    • G06V10/7715Feature extraction, e.g. by transforming the feature space, e.g. multi-dimensional scaling [MDS]; Mappings, e.g. subspace methods

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
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  • Software Systems (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Collating Specific Patterns (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 、発明の技術分野 本発明は、小切手等に押された印影を読み取って画像化
し、これを予めメモリにストアした参照印影の画像と照
合して、その一致度合から使用された印鑑の真偽を判別
する印鑑照合方法に関する。
発明の背景 従来のこの種印鑑照合方法は、被照合印影と参照印影の
各画像につき、各構成字画全体を対照させるものであり
、うれがため両画像データの照合処理が著しく複雑とな
り、またデータ照合に供されるメモリが大容量化する等
の不利があった。
そこで発明者は、参照印影と被照合印影の各画像から朱
肉の輪郭線が急峻に変化する点を特異点として抽出する
と共に、両印影間において対応する部分の特異点を複数
対選定した後、対をなす各特異点間の距離を夫々算出し
、各算出データの平均値が所定の基準値を越えるか否か
によって、使用印鑑の真偽を判別する方式を開発した。
この方式によれば、対応する複数対の特異点についての
みデータ比較すれば足り、従って照合処理が著しく簡略
化され、加えてデータ照合に供されるメモリの容量を小
さく設定できる等の効果が得られた。
ところが印鑑を紙葉類に押す場合、その押圧力や朱肉の
質或いは朱肉付着量等がその都度相違し、これがため凹
状をなす輪郭線部分に朱肉のたまり等が生じることがあ
り、板金真正印鑑の使用であっても、被照合印影の特異
点が対応する参照印影の特異点から相当距離位置ずれす
ることが判明した。
上記朱肉のたまりは、殊に第4図に示すような字画間に
多数の空白領域が形成される印影において顕著である。
とりわけ空白領域の形状が複雑に入りくんだ形状である
場合、凹状をなす輪郭線部分は特に押印条件の影響を受
は易く、この部特異点データの採用は印鑑照合における
判別精度を低下させる原因となる。
発明の目的゛ 本発明は上記の実情に鑑み、押印条件の影響を受は易い
部分の特異点をデータから除き、選別された特異点デー
タをもって印影間の照度を向」ニさせることを目的とす
る。
発明の構成および効果 この目的を達成するため、本発明では、凹状をなす輪郭
線上の特異点については字画で囲まれた空白領域に含ま
れ且つその空白領域が単純な形状をなす場合の特異点の
みを選別して、これを印影照合のためのデータとして採
用するようにした。
本発明によれば、朱肉のたまり等が生じ易い部分の特異
点が照合データから除かれるため、殊に字画間に多数の
空白領域が形成される印影の真偽判別精度を向上させる
ことが可能となる。
第1図は、小切手に押された印鑑が真正印鑑か、或いは
偽造印鑑かを判別するための装置例を示している。
図示例の装置は、箱状ケース10内へ複数枚の小切手1
を重ねて収容し、ケース10の最下部に位置する小切手
を1枚づつ取り出して、搬送ベルト11上へ送り出して
いる。
各小切手1は、その搬送途中において、小切手に押され
た印影がチェックされ、搬送路の下流位置に配備した振
分は装置2が判別結果に基づき、真正印鑑が使用された
小切手、偽造印鑑が使用された小切手および、判別不能
な小切手の3種に振り分け、夫々回収ケース21,22
.23へ送り込む。
前記の搬送路途中には、小切手1に印字されたコード番
号を光学的若しくは磁気的方法にて読み取る読取装置5
0と、小切手1に押印された印影を画像化するカメラ装
置3とが配備してあり、読取装置50の出力は外部メモ
リ5へ、またカメラ装置3の出力は画像プロセッサ4へ
、夫々データバス40を介して送られる。前記外部メモ
リ5には、複数個の参照印影がデータストアされており
、読取装置50で読み取られたコード番号に基づき、対
応する参照印影の画像データが取り出されて、画像プロ
セッサ4へ送られる。
前記カメラ装置3は、第2図に示す如く、読取ラインセ
ンサ31と二値化回路32とを含み、読取ラインセンサ
31は被照合印影を画像化し、この印影画像を行毎に走
査することにより画像の構成に応じた光信号を取り出す
と共に、この光信号を光電変換してアナログ量の画像信
号11を出力する。また二値化回路32は、画像信号を
二値化し、この二値信号12を列対応のビットシリアル
にデータバス40を介して画像プロセッサ4へ送出する
図中発振器33は、読取ラインセンサ31に読出しパル
スを供給すると共に、現信号のポイント座標を計算する
ためのX軸座標カウンタ34(列カウンタ)にクロック
パルスを供給する。更にこのX軸座標カウンタ34から
は桁上げ信号i3が出力され、この桁上げ信号i3はY
軸座標を計算するためのY軸座標カウンタ35(行カウ
ンタ)に供給され、こ ゛れらX軸座標カウンタ34お
よびY軸座標カウンタ35の各出力は、データバス40
を介して画像プロセッサ4に入力される。
画像プロセッサ4は、第6図および第7図に示す特異点
選別プログラム、特異点間距離算出等のプログラムの他
、印影の照合や真偽判別に必要な各種プログラムをスト
アするプログラムメモリ41と、印影画像をXY座標と
対応させて特定するためのデータ(例えば印影の輪郭線
を示す座標等)や特異点に関する各種データ等をストア
する画像メモリ42と、画像メモリ42からデータを読
み出しプログラムを解読実行して印鑑照合にかかわる各
種演算や一連の処理を制御する演算制御部43(以下単
にCPUという)とから構成され、cpu43は更に印
鑑の真偽判別結果に基づき、出力機器24を介して前記
振分は装置2の動作を制御する。
第3図は印影における字画等の端部を拡大した図であり
、特異点の定め方を図解して示しである。
まず輪郭線l上の一点Pからその両側へ、所定の輪郭線
長さWL、WR(具体的には輪郭線lに沿うXY座標の
ポイント数)離れた点り、Rを決定した後、線分PL 
、 PRを二辺とする平行四辺形を作図して、他の一点
Sを定める。ついで点P、S間、点り、R間を夫々結び
、線分psの長さと線分LRの長さとの比を算出する。
同様に点Pの位置を輪郭線lに沿い順次移動させつつ各
位置におけるく1てあり月つこの比が最小となる点を特
異点と定める。尚図中、線分PL 、PR間の角度αは
「特異角」と定儀する。
第4図は印影の一例を示し、第3図の方法で定めた特異
点の位置を黒丸印で示しである。
各特異点は輪郭線lが少なくとも90度以上の角度で急
峻に変化する部分、具体的には字画の端部や凹部に現わ
れる。
第5図は参照印影aと被照合印影すについて、対応する
部分の輪郭線を同一座標上に表わしたものであり、対を
なす各特異点PtQの座標を(X、Y)(X’、Y’)
とすると、特異点Pr Q間の距離dは次式で与えられ
る。
尚図中、角度α、α′は特異角、角度β、β′は放射角
を夫々示す。
前記cpu43は、第3図に示す方法で被照合印影およ
び参照印影につき多数個の特異点P+ Qを抽出し、然
る後第6図に示す特異点選別プログラムを実行して、両
印影間における対応する部分の特異点P1. P2.・
・・・・・、Pn・Ql、Q21・・・・・・+ Qn
を抽出し、更に第7図に示す特異点間距離算出等のプロ
グラムを実行して、対をなす各特異点Pl−Q+ 、 
P2・Q2 +・・・・・・、Pn−Qn間の距離を算
出し、算出データの集計値に基づき使用された印鑑の真
偽を判別する。
第6図において、「スタート」時点では各印影毎に多数
個の特異点データ(印影の中心座標を(0,0)とした
ときの特異点の座標、特異角、放射角等)が画像メモリ
42にストアされている。ところでカメラ装置3から入
力される被照合印影は、参照印影に対して角度のずれが
あり、このためCPU43はまずステップ60でこの角
度のずれ(回転角という)をデータ入力し、ついてステ
ップ61で参照印影の特異点データを1情報分読み込む
。つきのステップ62は「データ終了か」をチェックし
ており、その判定はNoとなるから、ステップ63て選
別基準値等の各種データを初期設定した後、ステップ6
4で被照合印影の特異点データを1情報分読み込む。つ
ぎのステップ65は「データ終了か」をチェックしてお
り、その判定はNOとなるから、ステップ66へ進み、
データ入力された被照合印影の特異点が字画で囲まれる
空白領域内に含まれるか否かがチェックされる。そして
ステップ66の判定がNOのとき、−ステップ67にお
いて特異点が凸状の輪郭線上に位置するか否かがチェッ
クされ、YESの判定で、つぎのステップ70で両印影
の特異点が共に凹状の輪郭線又は凸状の輪郭線上に位置
するか否か、更にステップ72.73で両特異点間の放
射角の差および距離が基準値以内であるか否かが夫々判
定される。この場合、ステップ71において前記回転角
θに基づき被照合印影の特異点座標を座標変換し且つ放
射角を補正して、参照印影と位置合せしておく。斯くて
ステップ70.72.73の各判定が何れもYESのと
き、両印影の特異点が類似した位置関係にあると判断さ
れ、ステップ74で各特異点データが画像メモリ42ヘ
スドアされる。
一方ステップ66に詔いて特異点が空白領域内に含まれ
ると判定されたとき、つぎのステップ68へ進み、つぎ
に空白領域の形状がチェックされる。具体的には空白領
域の面積をA1周長さをMとすると、次式により形状係
数Kを算出して、その算出値が一定の基準そしてステッ
プ68の[K≦KAJがYESのとき、「空白領域は単
純形状をなす」と判断され、つぎのステップ69で特異
点が凹状をなす輪郭線上に位置するものであることを確
認して、前記のステップ70へ進む。
尚凹状をなす輪郭線上の特異点のうち、空白領域外に位
置するものはステップ67で除かれ、また入りくんだ形
状の空白領域内に含まれるものはステップ68で除かれ
るものである。
そしてステップ75−で被照合印影のつぎの特異点デー
タが指定されて、ステップ64へ戻る。以下同様の処理
が被照合印影の全ての特異点データにつき実行されると
、ステップ65の判定がYESとなり、ステップ76で
参照印影のつぎの特異点データが指定されて、ステップ
61へ戻る。以下参照印影の全ての特異点デー、夕につ
き同様の繰返し処理を実行し、ステップ62の判定がY
ESとなったとき、つぎのステップ77へ進む。ステッ
プ77は、参照印影における1個の特異点に対し類似位
置関係にある被照合印影の特異点が複数個存在するか否
かをチェックするものであり、ステップ77の判定がN
Oのとき、各特異点は「対をなす特異点」として登録処
理され、各特異点データが画像メモリ42の所定エリア
ヘスドアされる。一方ステップ77の判定がYESのと
き、ステップ7Bにおいて評価値Tの演算処理およびス
テップ79において評価値Tの最大値選択処理が実行さ
れ、これにより1個の特異点が選別され、選別された特
異点のデータのみが対応する参照印影の特異点データと
共に、前記画像メモリ42の所定エリアヘスドアされる
尚前記の評価値T (Total Merit値)は、
次式で与えられる。
但しWr 、 W f 、 Wd は重み係数であり、
またMR、MP 、 Mdは各特異点データ(第5図に
示す)を用いて次式より得られる。
MH=1β−β/I MF=lα−α/1 斯くして両印影間の対をなす各特異点Pi。
Qi(但しi=1,2.・・・・・・、n)のデータは
、第8図に示す画像メモリ420所定エリア100.1
01へ1情報づつストアされ、ついでCPU43は第7
図に示すプログラムを実行して、使用印鑑の真偽を判別
する。
第7図において、まずステップ81でレジスタDTおよ
びカウンタNを初期設定し、つぎのステップ82でエリ
ア100.101より最初の対をなす特異点P1t Q
tの各データを読み込む。ステップ83は「データ終了
か」をチェックしており、その判定“はNoであるから
、ステップ84でカウンタNの内容に1加算した後、ス
テップ85で特異点Pis Q1間の距離dを次式によ
り算出する。
そしてこの算出値はステップ86でレジスタDTヘセッ
トされ、ステップ87でっぎの対をなす特異点P2tQ
2のデータが指定され、ステップ82へ戻って同様の処
理が実行される。
斯くて最終の特異点Pn 、 Qn についての距離計
算を完了すると、ステップ83の判定がYESとなり、
ステップ88へ進み、特異点間距離の平均値りが次式よ
り算出される。
そしてこの平均値りがある基準値D1より小さな値をと
るとき「真正印鑑である」と判断され、また平均値りが
他の基準値D2(但しDz>Dx)より大きな値をとる
とき「偽造印鑑である」と判断され、更に平均値りが基
準値D1とDzとの間の値をとるとき「判別不能なりジ
エクト印である」と判断される。
【図面の簡単な説明】
第1図は印鑑の真偽判別装置の構成例を示すブロック説
明図、第2図はカメラ装置の回路ブロック図、第3図は
特異点の定め方を示す説明図、第4図は印影の一例を示
す拡大図、第5図は参照印影および被照合印影における
特異点間の位置関係を示す説明図、第6図は特異点の選
別プログラムを示すフローチャート、第7図は特異点間
距離の算出および印鑑の真偽判別プログラムを示すフロ
ーチャート、第8図は対をなす特異点の各データをスト
アするエリアを示す説明図である。 3・・・・・・参照印影   b・・・・・・被照合印
影P+Q・・・・・・特異点 勇゛/ −図 /五 す2゛図 台4 回

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 被照合印影および参照印影の各画像から朱肉の輪郭線が
    急峻に変化する点を特異点として抽出し、凹状をなす輪
    郭線上の特異点につき字画で囲まれた空白領域に含まれ
    且つ単純な形状をなす空白領域に位置する特異点のみを
    選別した後、両印影間において対応する部分の特異点を
    複数対選定して、対をなす各特異点間の対比により被照
    合印影にかかる印鑑の真偽を判別することを特徴とする
    印鑑照合方法。
JP57114945A 1982-07-01 1982-07-01 印鑑照合方法 Pending JPS595383A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57114945A JPS595383A (ja) 1982-07-01 1982-07-01 印鑑照合方法

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JP57114945A JPS595383A (ja) 1982-07-01 1982-07-01 印鑑照合方法

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JPS595383A true JPS595383A (ja) 1984-01-12

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ID=14650538

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JP57114945A Pending JPS595383A (ja) 1982-07-01 1982-07-01 印鑑照合方法

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JP (1) JPS595383A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6330904B2 (en) * 1999-02-17 2001-12-18 Micro Electronics Group Inc. Microwave-based process for dental casting

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6330904B2 (en) * 1999-02-17 2001-12-18 Micro Electronics Group Inc. Microwave-based process for dental casting

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