JPS58201180A - 印鑑照合方法 - Google Patents
印鑑照合方法Info
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- JPS58201180A JPS58201180A JP57085412A JP8541282A JPS58201180A JP S58201180 A JPS58201180 A JP S58201180A JP 57085412 A JP57085412 A JP 57085412A JP 8541282 A JP8541282 A JP 8541282A JP S58201180 A JPS58201180 A JP S58201180A
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- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
- G06V10/40—Extraction of image or video features
- G06V10/46—Descriptors for shape, contour or point-related descriptors, e.g. scale invariant feature transform [SIFT] or bags of words [BoW]; Salient regional features
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、小切手等に押された印影を読み取って画像化
し、これを予めメモリにストアした参照印影の画像と照
合して、その一致度合から使用された印鑑の真偽を判別
する印鑑照合方法に関する。
し、これを予めメモリにストアした参照印影の画像と照
合して、その一致度合から使用された印鑑の真偽を判別
する印鑑照合方法に関する。
従来のこの種印鑑照合方法は、被照合印影と参照印影の
各画像につき、各構成字画全体を対照させるものであり
、これがため両画像データの照合処理が著しく複雑とな
り、またデータ照合に供されるメモリが大容量化する等
の不利があった。
各画像につき、各構成字画全体を対照させるものであり
、これがため両画像データの照合処理が著しく複雑とな
り、またデータ照合に供されるメモリが大容量化する等
の不利があった。
そこで発明者は、参照印影と被照合印影の各画像から輪
郭線が急峻に変化する点を特異点として抽出すると共に
、両印影間において対応する部分の特異点を複数対選定
した後、対をなす各特異点間の距離を夫々算出して、各
算出データの集計値を所定の基準値と大小比較して、使
用印鑑の真偽を判別する方式を開発した。
郭線が急峻に変化する点を特異点として抽出すると共に
、両印影間において対応する部分の特異点を複数対選定
した後、対をなす各特異点間の距離を夫々算出して、各
算出データの集計値を所定の基準値と大小比較して、使
用印鑑の真偽を判別する方式を開発した。
この方式によれば、対応する複数対の特異点についての
みデータ比較すれば足り、従って照合処理が著しく簡略
化され、加えてデータ照合に供されるメモリの容量を小
さく設定できる等の効果が得られた。
みデータ比較すれば足り、従って照合処理が著しく簡略
化され、加えてデータ照合に供されるメモリの容量を小
さく設定できる等の効果が得られた。
ところが印鑑を紙葉類に押す場合、その押圧力や朱肉の
質或いは朱肉付着量等がその都度相違し、これがため殊
に印影の端部等ににじみや欠損が生じることがあり、仮
置真正印鑑の使用であっても、被照合印影の特異点が対
応する参照印影の特異点から相当距離位置ずれすること
が判明した。従って特異点間のずれは、印鑑の構造上の
差異に起因する場合と、朱肉付着量等のばらつきに起因
する場合とが含まれ、前記方式の如く、単に特異点間の
距離を算出し、これをそのまま印鑑の真偽判別データと
して用いる場合には、十分な判別精度を得ることが困難
である。
質或いは朱肉付着量等がその都度相違し、これがため殊
に印影の端部等ににじみや欠損が生じることがあり、仮
置真正印鑑の使用であっても、被照合印影の特異点が対
応する参照印影の特異点から相当距離位置ずれすること
が判明した。従って特異点間のずれは、印鑑の構造上の
差異に起因する場合と、朱肉付着量等のばらつきに起因
する場合とが含まれ、前記方式の如く、単に特異点間の
距離を算出し、これをそのまま印鑑の真偽判別データと
して用いる場合には、十分な判別精度を得ることが困難
である。
そこで発明者は、特異点間の位置ずれを種々分析した結
果、真正印鑑の使用によって被照合印影ににじみや欠損
が生じた場合では、第１２図（１）に示す如く、被照合
印影すの特異点ｑは参照印影ａの特異点Ｐにおける特異
点αの２等分線Ｊｐ上に分布し、一方偽造印鑑の使用に
よる場合、第１２図（２）に示す如く、被照合印影すの
特異点Ｑは参照印影ａの特異点Ｐにおける特異角αの２
等分線Ｊｐ上に分布せず、この２等分線１ｐ から離れ
て位置することを発見した。
果、真正印鑑の使用によって被照合印影ににじみや欠損
が生じた場合では、第１２図（１）に示す如く、被照合
印影すの特異点ｑは参照印影ａの特異点Ｐにおける特異
点αの２等分線Ｊｐ上に分布し、一方偽造印鑑の使用に
よる場合、第１２図（２）に示す如く、被照合印影すの
特異点Ｑは参照印影ａの特異点Ｐにおける特異角αの２
等分線Ｊｐ上に分布せず、この２等分線１ｐ から離れ
て位置することを発見した。
本発明は、かかる発見に基つき、印鑑の構造」二の差異
に起因する特異点間の位置ずれと、にじみや欠損等に起
因する特異点間の位置ずれとをデータ的に明確に区別し
得る新規な印鑑照合方法を提供するもので、これにより
印鑑の真偽判別精度を向上することを目的とする。
に起因する特異点間の位置ずれと、にじみや欠損等に起
因する特異点間の位置ずれとをデータ的に明確に区別し
得る新規な印鑑照合方法を提供するもので、これにより
印鑑の真偽判別精度を向上することを目的とする。
この目的を達成するため、本発明では対をなす各特異点
間において参照印影の特異点に対する被照合印影の特異
点の水平方向のずれを算出し、各算出データの集計値に
基づき使用印鑑の真偽を判別するよう構成した。
間において参照印影の特異点に対する被照合印影の特異
点の水平方向のずれを算出し、各算出データの集計値に
基づき使用印鑑の真偽を判別するよう構成した。
本発明によれば、真正印鑑の使用にかかる被照合印影に
にじみや欠損が生じて特異点間に位置ずれが発生した場
合、特異点間の水平方向のずれは零若しくは零に近い小
さな値をとり、一方偽造印鑑に起因して特異点間に位置
ずれが生じた場合、特異点間の水平方向のずれは適当に
大きな値をとることになり、従って両者はデータ的に完
全に区別でき、これにより印鑑の真偽判別精度を大幅に
向上することが可能となった。
にじみや欠損が生じて特異点間に位置ずれが発生した場
合、特異点間の水平方向のずれは零若しくは零に近い小
さな値をとり、一方偽造印鑑に起因して特異点間に位置
ずれが生じた場合、特異点間の水平方向のずれは適当に
大きな値をとることになり、従って両者はデータ的に完
全に区別でき、これにより印鑑の真偽判別精度を大幅に
向上することが可能となった。
以下図面に示す実施例に基づき本発明を具体的に説明す
る。
る。
第１図は、小切手に押された印鑑が真正印鑑か、或いは
偽造印鑑かを判別するための装置例を示している。
偽造印鑑かを判別するための装置例を示している。
図示例の装置は、箱状ケース１０内へ複数枚の小切手１
を重ねて収容し、ケース１０の最下部に位置する小切手
を１枚づつ取り出して、搬送ベル）１１上へ送り出して
いる。
を重ねて収容し、ケース１０の最下部に位置する小切手
を１枚づつ取り出して、搬送ベル）１１上へ送り出して
いる。
各小切手１は、その搬送途中において、小切手に押され
た印影がチェックされ、搬送路の下流位置に配備した振
分は装置２が判別結果に基つき、真正印鑑が使用された
小切手、偽造印鑑が使用された小切手および、判別不能
な小切手の３種に振り分け、夫々回収ケース２１，２２
゜２３へ送り込む。
た印影がチェックされ、搬送路の下流位置に配備した振
分は装置２が判別結果に基つき、真正印鑑が使用された
小切手、偽造印鑑が使用された小切手および、判別不能
な小切手の３種に振り分け、夫々回収ケース２１，２２
゜２３へ送り込む。
前記の搬送路途中には、小切手１に印字されたコード番
号を光学的若しくは磁気的方法にて読み取る読取装置５
０と、小切手１に押印された印影を画像化するカメラ装
置３とが配備してあり、読取装置５０の出力は外部メモ
リ５へ、またカメラ装置３の出力は画像プロセッサ４へ
、夫々データバス４０を介して送られる。前記外部メモ
リ５には、複数個の参照印影がデータストアされており
、読取装置５０で読み取られたコード番号に基づき、対
応する参照印影の画像データが取り出されて、画像プロ
セッサ４へ送られる。
号を光学的若しくは磁気的方法にて読み取る読取装置５
０と、小切手１に押印された印影を画像化するカメラ装
置３とが配備してあり、読取装置５０の出力は外部メモ
リ５へ、またカメラ装置３の出力は画像プロセッサ４へ
、夫々データバス４０を介して送られる。前記外部メモ
リ５には、複数個の参照印影がデータストアされており
、読取装置５０で読み取られたコード番号に基づき、対
応する参照印影の画像データが取り出されて、画像プロ
セッサ４へ送られる。
前記カメラ装置３は、第２図に示す如く、読取ラインセ
ンサ３１と二値化回路３２とを含み、読取ラインセンサ
３１は被照合印影を画像化し、この印影画像を行毎に走
査することにより画像の構成に応じた光信号を取り出す
と共に、この光信号を光電変換してアナログ量の画像信
号１１を出力する。また二値化回路３２は、画像信号を
二値化し、この二値信号１２を列対部のビットシリアル
にデータバス４０を介して画像プロセッサ４へ送出する
。図中発振器３３は、読取ラインセンサ３１に読出しパ
ルスを供給すると共に、現信号のポイント座標を計算す
るためのＸ軸座標カウンタ３４（列カウンタ）にクロッ
クパルスを供給する。更にこのＸ軸座標カウンタ３４か
らは桁」−げ信号ｉ３が出力され、この桁上げ信号ｉ３
はＹ軸座標を計算するためのＹ軸座標カウンタ３５（行
カウンタ）に供給され、これらＸ軸座標カウンタ３４お
よびＹ軸座標カウンタ３５の各出力は、データバス４ｏ
を介して画像プロセッサ４に入力される。
ンサ３１と二値化回路３２とを含み、読取ラインセンサ
３１は被照合印影を画像化し、この印影画像を行毎に走
査することにより画像の構成に応じた光信号を取り出す
と共に、この光信号を光電変換してアナログ量の画像信
号１１を出力する。また二値化回路３２は、画像信号を
二値化し、この二値信号１２を列対部のビットシリアル
にデータバス４０を介して画像プロセッサ４へ送出する
。図中発振器３３は、読取ラインセンサ３１に読出しパ
ルスを供給すると共に、現信号のポイント座標を計算す
るためのＸ軸座標カウンタ３４（列カウンタ）にクロッ
クパルスを供給する。更にこのＸ軸座標カウンタ３４か
らは桁」−げ信号ｉ３が出力され、この桁上げ信号ｉ３
はＹ軸座標を計算するためのＹ軸座標カウンタ３５（行
カウンタ）に供給され、これらＸ軸座標カウンタ３４お
よびＹ軸座標カウンタ３５の各出力は、データバス４ｏ
を介して画像プロセッサ４に入力される。
画像プロセッサ４は、第５図および第１０図に示す印影
の照合や真偽判別に必要な各種プログラムをストアする
プログラムメモリ４１と、印影画像をＸＹ座標と対応さ
せて特定するためのデータ（例えば印影の輪郭線を示す
座標等）や特異点に関する各種データ等をストアする画
像メモリ４２と、画像メモリ４２よリデータを読み出し
プログラムを解読実行して印鑑照合にかかわる各種演算
や一連の処理を制御する演算制御部４３（以下単にＣＰ
Ｕという）とから構成され、ＣＰＵ４３は更に印鑑の真
偽判別結果に基づき、出力機器２４を介して前記振分は
装置２の動作を制御する。
の照合や真偽判別に必要な各種プログラムをストアする
プログラムメモリ４１と、印影画像をＸＹ座標と対応さ
せて特定するためのデータ（例えば印影の輪郭線を示す
座標等）や特異点に関する各種データ等をストアする画
像メモリ４２と、画像メモリ４２よリデータを読み出し
プログラムを解読実行して印鑑照合にかかわる各種演算
や一連の処理を制御する演算制御部４３（以下単にＣＰ
Ｕという）とから構成され、ＣＰＵ４３は更に印鑑の真
偽判別結果に基づき、出力機器２４を介して前記振分は
装置２の動作を制御する。
第３図は印影における字画等の端部を拡大した図であり
、特異点の定め方を図解して示しである。
、特異点の定め方を図解して示しである。
まず輪郭線１１−の一点Ｐからその両側へ、所定の輪郭
線長さＷＴ、 、 ＷＴｌｔ （具体的には輪郭線ｌに
沿うＸＹ座標のポイント数）離れた点り、ｋを決定した
後、線分ＰＬ、Ｉ’Ｒを二辺とする平行四辺形を作図し
て、他の一点Ｓを定める。ついで点Ｐ、 Ｓ間、点１
７．Ｒ間を夫々結び、線分ｐｓの長さと線分ＬＲの長さ
との比を算出する。同様に点Ｐの位置を輪郭線ｌに沿い
順次移動させつつ各位置における線分ＰＳ、ＬＴＬ間の
比を算出となる点を特異点と定める。尚図中、線分ＰＬ
。
線長さＷＴ、 、 ＷＴｌｔ （具体的には輪郭線ｌに
沿うＸＹ座標のポイント数）離れた点り、ｋを決定した
後、線分ＰＬ、Ｉ’Ｒを二辺とする平行四辺形を作図し
て、他の一点Ｓを定める。ついで点Ｐ、 Ｓ間、点１
７．Ｒ間を夫々結び、線分ｐｓの長さと線分ＬＲの長さ
との比を算出する。同様に点Ｐの位置を輪郭線ｌに沿い
順次移動させつつ各位置における線分ＰＳ、ＬＴＬ間の
比を算出となる点を特異点と定める。尚図中、線分ＰＬ
。
ＰＲ間の角度αは「特異角」と定義する。
第４図は印影の一例を示し、第３図の方法で定めた特異
点Ｐの位置を黒丸印で示しである。
点Ｐの位置を黒丸印で示しである。
各特異点Ｐは輪郭線ｌが少なくとも９０度以上の角度で
急峻に変化する部分、゛具体的には字画等の端部や凹部
に現われる。
急峻に変化する部分、゛具体的には字画等の端部や凹部
に現われる。
前記ＣＰＵ４３は、第３図に示す方法で被照合印影およ
び参照印影につき多数個の特異点Ｐ。
び参照印影につき多数個の特異点Ｐ。
Ｑを抽出し、然る後第５図に示す特異点選別プログラム
を実行して、両印影間における対応する部分の特異点ｐ
ＨＰ２１ ””” ｙ Ｐｎ’ Ｑ１＋ Ｑ２＋・・・
・・・＋ Ｑｎを抽出する。
を実行して、両印影間における対応する部分の特異点ｐ
ＨＰ２１ ””” ｙ Ｐｎ’ Ｑ１＋ Ｑ２＋・・・
・・・＋ Ｑｎを抽出する。
第５図において、「スタート」時点では各印影毎に多数
個の特異点データ（印影の中心座標を（０、０）とした
ときの特異点の座標、特異角、放射角等）が画像メモリ
４２にストアされている。ところでカメラ装置３から入
力される被照合印影は、参照印影に対して角度のずれが
あり、このためＣＰ ｔＪ ４．３はまずステップ６０
でこの角度のずれ（回転角という）をデータ入力し、つ
いでステップ６１で参照印影の特異点データを１情報分
読み込む。つぎのステップ６２は「データ終了か」をチ
ェックしており、その判定はＮＯとなるから、ステップ
６３で選別基準値等の各種データを初期設定した後、ス
テップ６４で被照合印影の特異点データを１情報分読み
込む。つぎのステップ６５は「データ終了か」をチェッ
クしており、その判定はＮｏとなるから、ステップ６６
で両印影の特異点が共に凹状の輪郭線又は凸状の輪郭線
上に位置するか否か、ステップ６８．６９で両持異点間
の放射角の差および距離が基準値以内であるか否かが夫
々判定される。この場合、ステップ６７において前記回
転角に基づき被照合印影の特異点座標を座標変換し且つ
放射角を補正して、参照印影と位置合せしておく。斯く
てステップ６６．６８．６９の各判定が何れもＹＥＳの
とき、両印影の特異点が類似した位置関係にあると判断
され、ステップ７０で各特異点データが画像メモリ４２
ヘスドアされる。
個の特異点データ（印影の中心座標を（０、０）とした
ときの特異点の座標、特異角、放射角等）が画像メモリ
４２にストアされている。ところでカメラ装置３から入
力される被照合印影は、参照印影に対して角度のずれが
あり、このためＣＰ ｔＪ ４．３はまずステップ６０
でこの角度のずれ（回転角という）をデータ入力し、つ
いでステップ６１で参照印影の特異点データを１情報分
読み込む。つぎのステップ６２は「データ終了か」をチ
ェックしており、その判定はＮＯとなるから、ステップ
６３で選別基準値等の各種データを初期設定した後、ス
テップ６４で被照合印影の特異点データを１情報分読み
込む。つぎのステップ６５は「データ終了か」をチェッ
クしており、その判定はＮｏとなるから、ステップ６６
で両印影の特異点が共に凹状の輪郭線又は凸状の輪郭線
上に位置するか否か、ステップ６８．６９で両持異点間
の放射角の差および距離が基準値以内であるか否かが夫
々判定される。この場合、ステップ６７において前記回
転角に基づき被照合印影の特異点座標を座標変換し且つ
放射角を補正して、参照印影と位置合せしておく。斯く
てステップ６６．６８．６９の各判定が何れもＹＥＳの
とき、両印影の特異点が類似した位置関係にあると判断
され、ステップ７０で各特異点データが画像メモリ４２
ヘスドアされる。
そしてステップ７１で被照合印影のっぎの特異点データ
が指定されて、ステップ６４へ戻る。
が指定されて、ステップ６４へ戻る。
以下同様の処理が被照合印影の全ての特異点データにつ
き実行されると、ステップ６５の判定がＹＥＳとなり、
ステップ７２で参照印影のっぎの特異点データが指定さ
れて、ステップ６１へ戻る。以下参照印影の全ての特異
点データにつき同様の繰返し処理を実行し、ステップ６
２の判定がＹＥＳとなったとき、つぎのステップ７３へ
進む。ステップ７３は、参照印影における１個の特異点
に対し類似位置関係にある被照合印影の特異点が複数個
存在するか否かをチェックしており、ステップ７３の判
定がＮｏのとき、各特異点は「対をなす特異点」として
登録処理され、各特異点データは画像メモリ４２の所定
エリアヘスドアされる。一方ステップ７３の判定がＹＥ
Ｓのとき、ステップ７４における評価値Ｔの演算処理お
よびステップ７５における評価値Ｔの最大値選択処理に
基づいて１個の特異点が選別され、選別された特異点の
データのみが対応する参照印影の特異点データと共に、
前記画像メモリ４２０所定エリアヘスドアされる。
き実行されると、ステップ６５の判定がＹＥＳとなり、
ステップ７２で参照印影のっぎの特異点データが指定さ
れて、ステップ６１へ戻る。以下参照印影の全ての特異
点データにつき同様の繰返し処理を実行し、ステップ６
２の判定がＹＥＳとなったとき、つぎのステップ７３へ
進む。ステップ７３は、参照印影における１個の特異点
に対し類似位置関係にある被照合印影の特異点が複数個
存在するか否かをチェックしており、ステップ７３の判
定がＮｏのとき、各特異点は「対をなす特異点」として
登録処理され、各特異点データは画像メモリ４２の所定
エリアヘスドアされる。一方ステップ７３の判定がＹＥ
Ｓのとき、ステップ７４における評価値Ｔの演算処理お
よびステップ７５における評価値Ｔの最大値選択処理に
基づいて１個の特異点が選別され、選別された特異点の
データのみが対応する参照印影の特異点データと共に、
前記画像メモリ４２０所定エリアヘスドアされる。
尚前記の評価値Ｔ （Ｔｏｔａｌ Ｍｅｒｉｔ値）は、
次式％式％ 但しＷｒ 、 Ｗ ｆ 、 Ｗｄは重み係数であり、ま
たＭ、Ｒ、Ｍｌｌｒ 、 Ｍｄ は各特異点データを用
いて次式より得られる。
次式％式％ 但しＷｒ 、 Ｗ ｆ 、 Ｗｄは重み係数であり、ま
たＭ、Ｒ、Ｍｌｌｒ 、 Ｍｄ は各特異点データを用
いて次式より得られる。
ＭＲ＝１β−βｌＩ
ＭＦ＝ｌα−α′１
斯くして両印影間の対をなす各特異点Ｐｉ、Ｑｉ（但し
ｉ＝１．２．・・・・・・、ｎ）のデータは、第１１図
（１）に示す画像メモリ４２０所定エリア１００゜１０
１へ１情報づつス１−アされる。
ｉ＝１．２．・・・・・・、ｎ）のデータは、第１１図
（１）に示す画像メモリ４２０所定エリア１００゜１０
１へ１情報づつス１−アされる。
本発明は、かかる対をなす各特異点間において参照印影
の特異点に対する被照合印影の特異点の水平方向のずれ
を算出し、各算出データの集計値に基づき被照合印影に
かかる印鑑の真偽を判別するものであり、具体的には第
６図および第７図にその算出方法を図解して示しである
図示例において、まず参照印影ａおよび被照合印影すの
各特異点Ｐ、Ｑについて夫々特異角α、α′の２等分線
１ｐ 、 ／Ｑを引き、その交点をＣとする。つぎに両
２等分線Ａ’Ｐ、ｌＱ間の角度ｒの２等分線Ａ’Ｓ
を引き、続いてこの２等分線ｌＳに対し特異点Ｐより垂
線を引き、更にこの垂線に対し特異点Ｑより垂線を引い
て、雨垂線の交点をＤとする。そしてこの交点りと特異
点Ｐとの間の距離を特異点Ｐに対する特異点Ｑの水平方
向のずれと定義する。
の特異点に対する被照合印影の特異点の水平方向のずれ
を算出し、各算出データの集計値に基づき被照合印影に
かかる印鑑の真偽を判別するものであり、具体的には第
６図および第７図にその算出方法を図解して示しである
図示例において、まず参照印影ａおよび被照合印影すの
各特異点Ｐ、Ｑについて夫々特異角α、α′の２等分線
１ｐ 、 ／Ｑを引き、その交点をＣとする。つぎに両
２等分線Ａ’Ｐ、ｌＱ間の角度ｒの２等分線Ａ’Ｓ
を引き、続いてこの２等分線ｌＳに対し特異点Ｐより垂
線を引き、更にこの垂線に対し特異点Ｑより垂線を引い
て、雨垂線の交点をＤとする。そしてこの交点りと特異
点Ｐとの間の距離を特異点Ｐに対する特異点Ｑの水平方
向のずれと定義する。
今冬特異点Ｐ、Ｑの座標を（Ｘ 、 Ｙ） （Ｘ／ 、
Ｙ／）、放射角をβ、β′とすると、両持異点ＰｒＱ
間の各座標の差Ｘ、ｙは次式で与えられる。
Ｙ／）、放射角をβ、β′とすると、両持異点ＰｒＱ
間の各座標の差Ｘ、ｙは次式で与えられる。
ｘ ＝ Ｘ −Ｘ’ ・・・・・・・・・■ｙ＝Ｙ−
Ｙ’ ・・・・・・・・・■つぎに特異点Ｐ、Ｑ間を
結ぶ線と、特異点ｑを通るＸ座標軸との平行線との間の
角度θｌおよび、特異点Ｐ、Ｑ間を結ぶ線と、特異点Ｑ
からの前記垂線との間の角度θ２は次式で与えられる。
Ｙ’ ・・・・・・・・・■つぎに特異点Ｐ、Ｑ間を
結ぶ線と、特異点ｑを通るＸ座標軸との平行線との間の
角度θｌおよび、特異点Ｐ、Ｑ間を結ぶ線と、特異点Ｑ
からの前記垂線との間の角度θ２は次式で与えられる。
ＩＹ
θ１− 【ａｎ −・・・・・・・・・ ■従って特異
点ＰｒＱ間の距離ｄは、 ｄ−ｒマ］コア ・・・・・・・・・■で与えられ
、またその水平成分ｄｌ（（水平方向のずれ）は、 ｄＨ＝ｄ ｘ ｌ ｓｉｎθ２１−−■で与えられる。
点ＰｒＱ間の距離ｄは、 ｄ−ｒマ］コア ・・・・・・・・・■で与えられ
、またその水平成分ｄｌ（（水平方向のずれ）は、 ｄＨ＝ｄ ｘ ｌ ｓｉｎθ２１−−■で与えられる。
第８図および第９図は、他の方式にかかる水平方向のず
れの算出方法を示している。図示例において、まず参照
印影ａの特異点Ｐにつき特異角αの２等分線！ｐを引く
。つぎに被照合印影すの特異点Ｑから２等分線１ｐへ垂
線を引いて、その交点Ｅを求め、この交点Ｅと特異点Ｑ
との間の距離を水平方向のずれと定める。
れの算出方法を示している。図示例において、まず参照
印影ａの特異点Ｐにつき特異角αの２等分線！ｐを引く
。つぎに被照合印影すの特異点Ｑから２等分線１ｐへ垂
線を引いて、その交点Ｅを求め、この交点Ｅと特異点Ｑ
との間の距離を水平方向のずれと定める。
今冬特異点Ｐ＋Ｑの座標を（Ｘ 、 Ｙ ） （Ｘ／、
Ｙ／）、特異点Ｐの放射角をβとすると、両持異点Ｐ
。
Ｙ／）、特異点Ｐの放射角をβとすると、両持異点Ｐ
。
９間の各座標の差Ｘ、ｙは次式で与えられる。
ｘ ＝ Ｘ −Ｘ’ ・・・・・・・・・■ｙ ＝
Ｙ−Ｙ’ ・・・・・・・・・■つぎに特異点Ｐ
ｒＱ間を結ぶ線と、特異点Ｑを通るＸ座標軸との平行線
との間の角度Δ１および、特異点Ｐ、Ｑ間を結ぶ線と、
特異点Ｐの２等分線ｌｐとの間の角度Δ２は次式で与え
られる。
Ｙ−Ｙ’ ・・・・・・・・・■つぎに特異点Ｐ
ｒＱ間を結ぶ線と、特異点Ｑを通るＸ座標軸との平行線
との間の角度Δ１および、特異点Ｐ、Ｑ間を結ぶ線と、
特異点Ｐの２等分線ｌｐとの間の角度Δ２は次式で与え
られる。
Δ１−ｔａｎ ’ Ｌ ・・・・・・・・・■Δ２−
Δ１−β ・・・・・・・・・［相］従って特異点Ｐ、
Ｑ間の距離ｄは ｄ−ＦＪ了７ ・・・・・・・・・０ で与えられ、またその水平成分ｄＨ（水平方向のずれ）
は、 ｄＨ＝ｄ ｘ ｌ ｓｉｎΔ２１ −・−・＠で与えら
れる。
Δ１−β ・・・・・・・・・［相］従って特異点Ｐ、
Ｑ間の距離ｄは ｄ−ＦＪ了７ ・・・・・・・・・０ で与えられ、またその水平成分ｄＨ（水平方向のずれ）
は、 ｄＨ＝ｄ ｘ ｌ ｓｉｎΔ２１ −・−・＠で与えら
れる。
第１０図は特異点Ｐに対する特異点Ｑの水平方向のずれ
を算出するプログラムを示し、まずステップ８１でカウ
ンタＣを初期設定する。つぎのステップ８２は［全デー
タの処理完了か」をチェックするものであり、その判定
はＮＯであるから、つぎのステップ８３へ進む。ステッ
プ８３はカウンタＣの内容が処理データの制限値ｒ３０
０Ｊを越えたか否かをチェックしており、その判定はＮ
Ｏとなるから、ステップ８４へ進み、画像メモリ４２の
エリア１００．１０１ より特異点Ｐｔ＋Ｑｌの各デー
タが読み出される。そしてＣＰＵ４３は、ステップ８５
において、前記の各式■〜■の演算を実行して、特異点
Ｐに対する特異点Ｑの水平方向のすれｄＨ，を算出し、
この算出データをステップ８６でプリンタにて印字する
と共に、ステップ８７で第１集計エリアＬＤ、 （第１
１図（２）に示す）ヘスドアする。
を算出するプログラムを示し、まずステップ８１でカウ
ンタＣを初期設定する。つぎのステップ８２は［全デー
タの処理完了か」をチェックするものであり、その判定
はＮＯであるから、つぎのステップ８３へ進む。ステッ
プ８３はカウンタＣの内容が処理データの制限値ｒ３０
０Ｊを越えたか否かをチェックしており、その判定はＮ
Ｏとなるから、ステップ８４へ進み、画像メモリ４２の
エリア１００．１０１ より特異点Ｐｔ＋Ｑｌの各デー
タが読み出される。そしてＣＰＵ４３は、ステップ８５
において、前記の各式■〜■の演算を実行して、特異点
Ｐに対する特異点Ｑの水平方向のすれｄＨ，を算出し、
この算出データをステップ８６でプリンタにて印字する
と共に、ステップ８７で第１集計エリアＬＤ、 （第１
１図（２）に示す）ヘスドアする。
そしてステップ８８でつぎの特異点Ｐ２１ Ｑ２のデー
タが指定され、ステップ８９でカウンタＣの内容に１加
算した後、ステップ８２へ戻る。
タが指定され、ステップ８９でカウンタＣの内容に１加
算した後、ステップ８２へ戻る。
以下同様の処理が繰り返し実行され、全データの処理を
完了させたとき、又はカウンタＣの内容がｒ３００Ｊに
達したとき、ステップ８２又は８３の判定がＹＥＳとな
り、つきのステップ９０へ進む。このステップ９０では
第１集計エリアＬ Ｄ 、から算出値ｄＨを値の小さい
順に取り出し、これを第２集計エリアＬＤ２（第１１図
（３）に示す）へ次々にストアしてゆくと共に、ストア
完了後、データ配列の中間に位置するデータを平均値ｄ
Ｍと定め、この平均値ｄＭをステップ９１でプリンタに
て印字する。然る後ＣＰＵ４３は平均値ｄＭが基準値よ
り大きい・か、小さいかを識別し、これにより使用印鑑
が真正印鑑か、或いは偽造印鑑かを判定する。
完了させたとき、又はカウンタＣの内容がｒ３００Ｊに
達したとき、ステップ８２又は８３の判定がＹＥＳとな
り、つきのステップ９０へ進む。このステップ９０では
第１集計エリアＬ Ｄ 、から算出値ｄＨを値の小さい
順に取り出し、これを第２集計エリアＬＤ２（第１１図
（３）に示す）へ次々にストアしてゆくと共に、ストア
完了後、データ配列の中間に位置するデータを平均値ｄ
Ｍと定め、この平均値ｄＭをステップ９１でプリンタに
て印字する。然る後ＣＰＵ４３は平均値ｄＭが基準値よ
り大きい・か、小さいかを識別し、これにより使用印鑑
が真正印鑑か、或いは偽造印鑑かを判定する。
尚第８図および第９図に示した第２の算出方式について
も、同様のプログラムによって水平方向のずれの算出等
が実行され、従ってここではその説明を省略する。
も、同様のプログラムによって水平方向のずれの算出等
が実行され、従ってここではその説明を省略する。
第１図は印鑑の真偽を判別する装置のブロック説明図、
第２図はカメラ装置の回路ブロック図、第３図は特異点
の定め方を示す説明図、第４図は印影の一例を示す説明
図、第５図は特異点選別プログラムを示すフローチャー
ト、第６図および第７図は特異点の水平方向のずれを算
出する方法を示す説明図、第８図および第９図は他の方
式にかかる算出方法を示す説明図、第１０図は特異点の
水平方向のずれを算出するプログラムを示すフローチャ
ート、第１１図（１）〜（３）は画像メモリのデータ内
容を示す説明図、第１２図＋１．１ ＋２１は特異点間
の位置関係を示す説明図である。 ａ・・・・・・参照印影 ｂ・・・・・・被照合印影
Ｐ、Ｑ・・・・・・特異点 ｃｌＨ・・・・・・水平
方向のずれ特許出願人 立石電機株式会社 代理人 弁理士 鈴 木 山 充 代理人 弁理士 浅 谷 健 二 第３ｒ省 ／ ｌ。 男°／θ 石石 シ）／／ 爾
第２図はカメラ装置の回路ブロック図、第３図は特異点
の定め方を示す説明図、第４図は印影の一例を示す説明
図、第５図は特異点選別プログラムを示すフローチャー
ト、第６図および第７図は特異点の水平方向のずれを算
出する方法を示す説明図、第８図および第９図は他の方
式にかかる算出方法を示す説明図、第１０図は特異点の
水平方向のずれを算出するプログラムを示すフローチャ
ート、第１１図（１）〜（３）は画像メモリのデータ内
容を示す説明図、第１２図＋１．１ ＋２１は特異点間
の位置関係を示す説明図である。 ａ・・・・・・参照印影 ｂ・・・・・・被照合印影
Ｐ、Ｑ・・・・・・特異点 ｃｌＨ・・・・・・水平
方向のずれ特許出願人 立石電機株式会社 代理人 弁理士 鈴 木 山 充 代理人 弁理士 浅 谷 健 二 第３ｒ省 ／ ｌ。 男°／θ 石石 シ）／／ 爾
Claims (1)
- 被照合印影を画像化して、これを参照印影の画像と対照
させ、両印影画像から輪郭線が急峻に変化する点を特異
点として抽出すると共に両印影間において対応する部分
の特異点を複数対選定した後、対をなす各特異点間にお
いて参照印影の特異点に対する被参照印影の特異点の水
平方向のずれを算出し、各算出データの集計値に基づき
印鑑の真偽を判別することを特徴とする印鑑照合方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57085412A JPS58201180A (ja) | 1982-05-19 | 1982-05-19 | 印鑑照合方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57085412A JPS58201180A (ja) | 1982-05-19 | 1982-05-19 | 印鑑照合方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58201180A true JPS58201180A (ja) | 1983-11-22 |
Family
ID=13858084
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57085412A Pending JPS58201180A (ja) | 1982-05-19 | 1982-05-19 | 印鑑照合方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58201180A (ja) |
-
1982
- 1982-05-19 JP JP57085412A patent/JPS58201180A/ja active Pending
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