JPS625137A - 軸受の非接触診断方法 - Google Patents
軸受の非接触診断方法Info
- Publication number
- JPS625137A JPS625137A JP60144189A JP14418985A JPS625137A JP S625137 A JPS625137 A JP S625137A JP 60144189 A JP60144189 A JP 60144189A JP 14418985 A JP14418985 A JP 14418985A JP S625137 A JPS625137 A JP S625137A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bearing
- histogram
- correlation
- variation cycle
- sound
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Landscapes
- Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は機械に組込まれたころがり軸受の非接触診断
方法に関するものである。
方法に関するものである。
軸受の劣化を診断する方法として、従来振動ピックアッ
プを軸受ケーシングに直接取付けて振動を検出し、この
検出振動を解析して劣化を診断することが行われている
。しかし、この方法は狭隘な場所、水やスケールの飛散
する場所ではピックアップの取付が困難であること。ま
た搬送ローラのように多数並んでいる設備の軸受を診断
する場合、ピックアップの取付け、取外しに手間がかか
る等の問題がある。そこで、これらの問題を解決する手
段として、軸受から発生する音響を検知して診断する方
法が提案されているが１周囲の騒音などが外乱として同
時に検出され、精度のよい診断ができない。
プを軸受ケーシングに直接取付けて振動を検出し、この
検出振動を解析して劣化を診断することが行われている
。しかし、この方法は狭隘な場所、水やスケールの飛散
する場所ではピックアップの取付が困難であること。ま
た搬送ローラのように多数並んでいる設備の軸受を診断
する場合、ピックアップの取付け、取外しに手間がかか
る等の問題がある。そこで、これらの問題を解決する手
段として、軸受から発生する音響を検知して診断する方
法が提案されているが１周囲の騒音などが外乱として同
時に検出され、精度のよい診断ができない。
この発明は、上記のような実情に鑑みてなされたもので
、軸受損傷の有無を非接触で、精度よく診断できる方法
を提供することを目的とするものである。
、軸受損傷の有無を非接触で、精度よく診断できる方法
を提供することを目的とするものである。
極力対象軸受から発生する音響のみを検出するように、
指向性の強いマイクロホンで音響を検知す°る。また、
やむなく侵入したノイズについては、軸受損傷時に発生
する異常振動が、当該軸受の固有振動数（通常１〜５
ＫＨｚ ）の周波数帯にあることから、軸受の固有振動
数を挟む帯域通過フィルタでノイズを除去する。そして
ノイズを除去された音響信号の音響レベルから軸受の良
否を判定する。または、異常振動の変動周期が、軸受の
型式（ピッチ円径、コロ数など）とその回転数から１義
的に決まる定数であることを利用して、音響レベルの変
動周期ヒストグラム中の特定周期の有無又は自己相関関
数の相関度から軸受の良否を判定する。
指向性の強いマイクロホンで音響を検知す°る。また、
やむなく侵入したノイズについては、軸受損傷時に発生
する異常振動が、当該軸受の固有振動数（通常１〜５
ＫＨｚ ）の周波数帯にあることから、軸受の固有振動
数を挟む帯域通過フィルタでノイズを除去する。そして
ノイズを除去された音響信号の音響レベルから軸受の良
否を判定する。または、異常振動の変動周期が、軸受の
型式（ピッチ円径、コロ数など）とその回転数から１義
的に決まる定数であることを利用して、音響レベルの変
動周期ヒストグラム中の特定周期の有無又は自己相関関
数の相関度から軸受の良否を判定する。
以下１本発明方法を実施するための装置構成の一例をｔ
ＩＩＪ１図に波形と共に示す。対象軸受Ｉから発生する
音響を指向性マイクロホン２で検知し、増幅器３により
増幅する。そして当該軸受Ｉの固有振動数（通常１〜５
ＩＧ（ｚ ）を狭む帯域通過フィルタ４でノイズを除
去する。ノイズを除去された信号を整流器５で整流して
、軸受１の異常振動の変動周期に対応した波形が得られ
る。整流後の波形からビーク−ツカ６で、ピーク値を取
り出す。モしてＡＤ変換器７で１デジタル信号に変換し
てマイクロコンピュータ８に入力する。
ＩＩＪ１図に波形と共に示す。対象軸受Ｉから発生する
音響を指向性マイクロホン２で検知し、増幅器３により
増幅する。そして当該軸受Ｉの固有振動数（通常１〜５
ＩＧ（ｚ ）を狭む帯域通過フィルタ４でノイズを除
去する。ノイズを除去された信号を整流器５で整流して
、軸受１の異常振動の変動周期に対応した波形が得られ
る。整流後の波形からビーク−ツカ６で、ピーク値を取
り出す。モしてＡＤ変換器７で１デジタル信号に変換し
てマイクロコンピュータ８に入力する。
ここで軸受各部の底周波数について説明する。
外輪ｆｏ＝ｆｃ＠Ｚ
ここでｆｒ：回転周波数
ｄ：コロｑ、 Ｄ ：コロピッチ円直径α：接触角、ｚ
：コロ数 これにより軸受の型式及び回転数が特定されれば底周波
数（１／周期）から、故障部位をも知ることができる。
：コロ数 これにより軸受の型式及び回転数が特定されれば底周波
数（１／周期）から、故障部位をも知ることができる。
第２図（ａ）は、対象軸受Ｉから４ｍ離れて設けられた
マイクロホン２による検知波形の１例である。そして、
上記の第１図に示す構成により信号処理をして、マイク
ロコンビエータ８に入力し、変動周期のヒストグラムを
作表した結果を第３図に示す。これは周期を１０クラス
に分けて、各クラスでの発生度数をカウントしたもので
、クラス１の周期１６〜２６ｍ５ｅｃのレンジにピーク
が表われている。なお、このチャートでは、作表の都合
上カウント数は３０で頭打ちになっている。また第２図
（ｂ）はフィルタ４でノイズを除去しなかった場合の周
波数スペクトルで、特定のスペクトルは検出されない。
マイクロホン２による検知波形の１例である。そして、
上記の第１図に示す構成により信号処理をして、マイク
ロコンビエータ８に入力し、変動周期のヒストグラムを
作表した結果を第３図に示す。これは周期を１０クラス
に分けて、各クラスでの発生度数をカウントしたもので
、クラス１の周期１６〜２６ｍ５ｅｃのレンジにピーク
が表われている。なお、このチャートでは、作表の都合
上カウント数は３０で頭打ちになっている。また第２図
（ｂ）はフィルタ４でノイズを除去しなかった場合の周
波数スペクトルで、特定のスペクトルは検出されない。
次に第２図（Ｃ）はコンビエータ８で自己相関関数を解
析したもので強い相関度が表われている。このときの周
波数スペクトルを第２図（ｄ）に示す。６１．３Ｈｚ
のスペクトル−ｂｔはっきり表われている。
析したもので強い相関度が表われている。このときの周
波数スペクトルを第２図（ｄ）に示す。６１．３Ｈｚ
のスペクトル−ｂｔはっきり表われている。
この場合の対象軸受の型式は６３１２．０３で、回転数
は１２０ Ｏｒｐｍである。そして庇周期１６．３ ｍ
５ｅｃ１周波数６１．３ Ｈｚであることから、前記の
底周波数の式により外輪に庇があるものと判断される。
は１２０ Ｏｒｐｍである。そして庇周期１６．３ ｍ
５ｅｃ１周波数６１．３ Ｈｚであることから、前記の
底周波数の式により外輪に庇があるものと判断される。
分解点検の結果外輪にフレーキングが生じていた。
こうして、音響レベルの変動周期ヒストグラム中の特定
の周期の有無又は自己相関関数の相関度から軸受の良否
を判定することができる。
の周期の有無又は自己相関関数の相関度から軸受の良否
を判定することができる。
そして疵周期の解析をすることにより、軸受の故障部位
を知ることもできる。なお第１図においてビークピクカ
６の出力の高響レベルを基準値と比較することにより、
軸受の良否を判定することができる。
を知ることもできる。なお第１図においてビークピクカ
６の出力の高響レベルを基準値と比較することにより、
軸受の良否を判定することができる。
この発明の軸受の診断方法は、上記のようなもので、非
接触で軸受の良否を判定することができる。
接触で軸受の良否を判定することができる。
第１図（ｉ） 、 （ｂ）はこの発明方法を実施するた
めの装置構成の１例及び各機器での波形の説明、第２図
（、）はマイクロホンでの受信波形、第２図（ｂ）はそ
の周波数ス〈クトル、第２図ｔｅｌ ｔ （ｄｌは自己
相関関数のグラフ及び周波数スペクトル、第３図は変動
周期のヒストグラムである。 出願人代理人 弁理士 鈴 圧式 彦第３図 １ ： １５− ２６：ＸＸＸＸＸＸＸＸＸＸＸＸＸ
ＸＸＸＸＸＸＸＸＸＸＸＸＸＸＸＸ：２ ’ ２
５− ３５：ＸＸＸＸＸＸＫＸＸＸＸＸＸＸ（Ｘ’
ｌ＋Ｘ ｊｌ ９６− １０６ｉ ６０．８．２７ 昭和 年 月 日 特許庁長官 宇 賀 道 部 殿 １、事件の表示 特願昭６０−１４４１８９号 ２、発明の名称 軸受の非接触診断方法 ３、補正をする者 事件との関係特許出願人 （４１２） 日本鋼管株式会社 ４、代理人 ５、自発補正 ７、補正の内容 （１） 明細書第６頁第３行目に記載の「高番レベル
」を「音響レベル」と訂正スル。
めの装置構成の１例及び各機器での波形の説明、第２図
（、）はマイクロホンでの受信波形、第２図（ｂ）はそ
の周波数ス〈クトル、第２図ｔｅｌ ｔ （ｄｌは自己
相関関数のグラフ及び周波数スペクトル、第３図は変動
周期のヒストグラムである。 出願人代理人 弁理士 鈴 圧式 彦第３図 １ ： １５− ２６：ＸＸＸＸＸＸＸＸＸＸＸＸＸ
ＸＸＸＸＸＸＸＸＸＸＸＸＸＸＸＸ：２ ’ ２
５− ３５：ＸＸＸＸＸＸＫＸＸＸＸＸＸＸ（Ｘ’
ｌ＋Ｘ ｊｌ ９６− １０６ｉ ６０．８．２７ 昭和 年 月 日 特許庁長官 宇 賀 道 部 殿 １、事件の表示 特願昭６０−１４４１８９号 ２、発明の名称 軸受の非接触診断方法 ３、補正をする者 事件との関係特許出願人 （４１２） 日本鋼管株式会社 ４、代理人 ５、自発補正 ７、補正の内容 （１） 明細書第６頁第３行目に記載の「高番レベル
」を「音響レベル」と訂正スル。
Claims (1)
- 軸受から発生する音響を指向性マイクロホンで検知し、
軸受の固有振動数を挟むフィルタでノイズを除去した後
、このノイズを除去された音響信号の音響レベル、変動
周期ヒストグラム又は自己相関関数から軸受の良否判定
を行うことを特徴とする軸受の非接触診断方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60144189A JPS625137A (ja) | 1985-07-01 | 1985-07-01 | 軸受の非接触診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60144189A JPS625137A (ja) | 1985-07-01 | 1985-07-01 | 軸受の非接触診断方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS625137A true JPS625137A (ja) | 1987-01-12 |
Family
ID=15356271
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60144189A Pending JPS625137A (ja) | 1985-07-01 | 1985-07-01 | 軸受の非接触診断方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS625137A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02263155A (ja) * | 1988-12-16 | 1990-10-25 | Nippon Seiko Kk | 軸受機構のクラツク検出装置及び方法 |
| WO2002068924A1 (fr) * | 2001-02-28 | 2002-09-06 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | Procede permettant de mesurer la force de traction d'une fibre optique |
| US7198420B2 (en) | 2002-03-28 | 2007-04-03 | Brother Kogyo Kabushiki Kaisha | Printer |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4829478A (ja) * | 1971-08-21 | 1973-04-19 | ||
| JPS55162026A (en) * | 1979-06-06 | 1980-12-17 | Hitachi Ltd | Rubbing sound evaluating method |
-
1985
- 1985-07-01 JP JP60144189A patent/JPS625137A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4829478A (ja) * | 1971-08-21 | 1973-04-19 | ||
| JPS55162026A (en) * | 1979-06-06 | 1980-12-17 | Hitachi Ltd | Rubbing sound evaluating method |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02263155A (ja) * | 1988-12-16 | 1990-10-25 | Nippon Seiko Kk | 軸受機構のクラツク検出装置及び方法 |
| WO2002068924A1 (fr) * | 2001-02-28 | 2002-09-06 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | Procede permettant de mesurer la force de traction d'une fibre optique |
| US6816245B2 (en) | 2001-02-28 | 2004-11-09 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | Method of measuring optical fiber drawing tension |
| US7198420B2 (en) | 2002-03-28 | 2007-04-03 | Brother Kogyo Kabushiki Kaisha | Printer |
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