JPS6248874B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6248874B2 JPS6248874B2 JP56210502A JP21050281A JPS6248874B2 JP S6248874 B2 JPS6248874 B2 JP S6248874B2 JP 56210502 A JP56210502 A JP 56210502A JP 21050281 A JP21050281 A JP 21050281A JP S6248874 B2 JPS6248874 B2 JP S6248874B2
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 4
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000013075 data extraction Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
- G06V10/20—Image preprocessing
- G06V10/28—Quantising the image, e.g. histogram thresholding for discrimination between background and foreground patterns
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Collating Specific Patterns (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(1) 発明の技術分野
本発明は、印鑑照合等における図形照合方式に
関する。
関する。
(2) 従来技術と問題点
印鑑照合等の図形照合方式においては、センサ
により読取つた印鑑パターンと、予め登録された
印鑑パターンとを比較照合することにより判定を
行つている。この従来方式では、印鑑パターンが
２値信号で構成されているとき、照合される印鑑
の印字が薄い場合には、センサで読取られた印鑑
パターンと、登録印鑑パターンとは必ずしも一致
しなくなる。例えば捺印された字の線幅が登録時
よりも細い場合には、センサで読取られた印鑑パ
ターンは、登録時に読取られた印鑑パターンとは
異なるものとなる。すなわち印鑑パターンの輪郭
部は印鑑の押され具合により、はつきりと現われ
たりぼやけたりする。このため同一印鑑にも関ら
ず、照合結果が不一致となる欠点があつた。
により読取つた印鑑パターンと、予め登録された
印鑑パターンとを比較照合することにより判定を
行つている。この従来方式では、印鑑パターンが
２値信号で構成されているとき、照合される印鑑
の印字が薄い場合には、センサで読取られた印鑑
パターンと、登録印鑑パターンとは必ずしも一致
しなくなる。例えば捺印された字の線幅が登録時
よりも細い場合には、センサで読取られた印鑑パ
ターンは、登録時に読取られた印鑑パターンとは
異なるものとなる。すなわち印鑑パターンの輪郭
部は印鑑の押され具合により、はつきりと現われ
たりぼやけたりする。このため同一印鑑にも関ら
ず、照合結果が不一致となる欠点があつた。
(3) 発明の目的
本発明は図形照合時の照合精度を向上する図形
照合方式の提供を目的とする。
照合方式の提供を目的とする。
(4) 発明の構成
本発明は、図形を読取り図形パターンを検出す
る読取部と、登録図形パターンを格納する記憶部
とを有し、読取部により読取られた被照合図形パ
ターンと、登録図形パターンとを比較照合する図
形照合方式において、前記読取部により読取られ
た登録図形パターンを多値化して前記記憶部に格
納する手段と、該記憶部内の多値化登録図形パタ
ーンを２値化する第１の２値化回路と、前記読取
部により読取られた被照合図形パターンを２値化
する第２の２値化回路と、該第２の２値化回路と
前記第１の２値化回路との双方の出力を比較する
比較手段と、前記多値化図形パターンから複数レ
ベルの参照データを抽出する手段と、該参照デー
タの各レベルに応じ異なる重みデータを付加する
手段とを備え、前記比較手段の比較データと、前
記重みデータとの結果により前記被照合図形パタ
ーンと前記登録図形パターンとの照合を行なうこ
とを特徴とする図形照合方式である。
る読取部と、登録図形パターンを格納する記憶部
とを有し、読取部により読取られた被照合図形パ
ターンと、登録図形パターンとを比較照合する図
形照合方式において、前記読取部により読取られ
た登録図形パターンを多値化して前記記憶部に格
納する手段と、該記憶部内の多値化登録図形パタ
ーンを２値化する第１の２値化回路と、前記読取
部により読取られた被照合図形パターンを２値化
する第２の２値化回路と、該第２の２値化回路と
前記第１の２値化回路との双方の出力を比較する
比較手段と、前記多値化図形パターンから複数レ
ベルの参照データを抽出する手段と、該参照デー
タの各レベルに応じ異なる重みデータを付加する
手段とを備え、前記比較手段の比較データと、前
記重みデータとの結果により前記被照合図形パタ
ーンと前記登録図形パターンとの照合を行なうこ
とを特徴とする図形照合方式である。
(5) 発明の実施例
以下、本発明を図面によつて説明する。第１図
は本発明の一実施例を説明するブロツク図、第２
図は本発明の一実施例における２値化の説明図、
第３図は本発明の一実施例における３値データ抽
出の説明図であり、１は読取検出部、２はレンズ
系、３は用紙、４はアンプ及び多値化回路、５，
８は２値化回路、６，７は記憶部、９は抽出部、
１０は制御部、１１は比較部、１２，１３，１４
はANDゲート、１５はORゲート、１６はカウン
タ、１７は判別部、A2は登録２値データ、A8は
登録多値データ、B2は被照合２値データ、B8は
被照合多値データ、Ｃは検出信号、Ｄは読取部
分、Ｈは出力信号、Ｇは一致信号、Ｎは不一致信
号、P1，P2はパルス信号である。第１図における
２値化回路５及び８は、８値のデータのうち、０
〜３のレベルのデータを「０」、そして４〜７の
レベルのデータを「１」に変換して出力する回路
である。
は本発明の一実施例を説明するブロツク図、第２
図は本発明の一実施例における２値化の説明図、
第３図は本発明の一実施例における３値データ抽
出の説明図であり、１は読取検出部、２はレンズ
系、３は用紙、４はアンプ及び多値化回路、５，
８は２値化回路、６，７は記憶部、９は抽出部、
１０は制御部、１１は比較部、１２，１３，１４
はANDゲート、１５はORゲート、１６はカウン
タ、１７は判別部、A2は登録２値データ、A8は
登録多値データ、B2は被照合２値データ、B8は
被照合多値データ、Ｃは検出信号、Ｄは読取部
分、Ｈは出力信号、Ｇは一致信号、Ｎは不一致信
号、P1，P2はパルス信号である。第１図における
２値化回路５及び８は、８値のデータのうち、０
〜３のレベルのデータを「０」、そして４〜７の
レベルのデータを「１」に変換して出力する回路
である。
第１図において、予め登録すべき図形を読取検
出部１により読取らせる。読取検出部に例えば二
次元イメージセンサーを使えば、読取図形パター
ンをメツシユ状に区切られた各領域ごとに、電気
的走査によつて、濃度に比例した信号として順番
に出力される。読取部分Ｄに対応する検出信号Ｃ
はアンプ多値化回路４により８レベルのデータに
多値化され、登録多値データA8として記憶部６
に格納される。これによつて図形の登録が完了す
る。さて次に同一図形の照合（例えば印鑑の照
合）を行なう場合には、被照合部分を読取検出部
１によつて読取らせる。この検出信号Ｃはアンプ
及び多値化回路４により８レベルに多値化（被照
合多値データB8となる）され、次に、この被照
合多値データB8は２値化回路５により２値化
（被照合２値データB2となる）されて一度記憶部
７に格納される。第２図は８レベルの多値データ
を２値化する説明図であり、同図ａに示すように
レベル０〜３の信号「０」、またレベル４〜７の
信号を「１」のデイジタル信号に変換する。従つ
て第１図に示す読取部分Ｄの検出信号は、２図ｂ
に示すように256ドツト（16×16）のデイジタル
信号に変換される。
出部１により読取らせる。読取検出部に例えば二
次元イメージセンサーを使えば、読取図形パター
ンをメツシユ状に区切られた各領域ごとに、電気
的走査によつて、濃度に比例した信号として順番
に出力される。読取部分Ｄに対応する検出信号Ｃ
はアンプ多値化回路４により８レベルのデータに
多値化され、登録多値データA8として記憶部６
に格納される。これによつて図形の登録が完了す
る。さて次に同一図形の照合（例えば印鑑の照
合）を行なう場合には、被照合部分を読取検出部
１によつて読取らせる。この検出信号Ｃはアンプ
及び多値化回路４により８レベルに多値化（被照
合多値データB8となる）され、次に、この被照
合多値データB8は２値化回路５により２値化
（被照合２値データB2となる）されて一度記憶部
７に格納される。第２図は８レベルの多値データ
を２値化する説明図であり、同図ａに示すように
レベル０〜３の信号「０」、またレベル４〜７の
信号を「１」のデイジタル信号に変換する。従つ
て第１図に示す読取部分Ｄの検出信号は、２図ｂ
に示すように256ドツト（16×16）のデイジタル
信号に変換される。
第１図において、制御部１０は、記憶部６から
登録多値データA8を読出し、２進化回路８へ送
出するので、出力側に登録２値データA2が得ら
れる。この登録２値データA2と、それに対応す
る画素を記憶部７から読出された被照合２値デー
タB2とを比較部１１において１ビツト（画素）
ずつ相互に比較照合を行う。第２図ｂに示すよう
に２値化データは256ビツト（画素）で構成され
るので、256回の比較照合が行われることにな
る。比較照合において、双方共白レベル画素のと
き、または双方共、黒レベル画素のときに出力信
号Ｈを発しANDゲート１２，１３，１４を、そ
れぞれ開とする。一方、制御部１０は、記憶部６
からの登録多値データA8を抽出部９へ入力す
る。抽出部９は、入力された登録多値（８レベ
ル）データA8を第３図に示すように高、中、低
に分別し、高（黒）レベル及び低（白）レベルの
ときにパルス信号P2、そして中レベルのときにパ
ルス信号P1を出力する。なお、中レベルとは灰色
レベルに相当するものであり、またパルス信号P1
は１個のパルス、そしてパルス信号P2は２個のパ
ルスで構成される。
登録多値データA8を読出し、２進化回路８へ送
出するので、出力側に登録２値データA2が得ら
れる。この登録２値データA2と、それに対応す
る画素を記憶部７から読出された被照合２値デー
タB2とを比較部１１において１ビツト（画素）
ずつ相互に比較照合を行う。第２図ｂに示すよう
に２値化データは256ビツト（画素）で構成され
るので、256回の比較照合が行われることにな
る。比較照合において、双方共白レベル画素のと
き、または双方共、黒レベル画素のときに出力信
号Ｈを発しANDゲート１２，１３，１４を、そ
れぞれ開とする。一方、制御部１０は、記憶部６
からの登録多値データA8を抽出部９へ入力す
る。抽出部９は、入力された登録多値（８レベ
ル）データA8を第３図に示すように高、中、低
に分別し、高（黒）レベル及び低（白）レベルの
ときにパルス信号P2、そして中レベルのときにパ
ルス信号P1を出力する。なお、中レベルとは灰色
レベルに相当するものであり、またパルス信号P1
は１個のパルス、そしてパルス信号P2は２個のパ
ルスで構成される。
従つて第１図において、比較部１１から出力信
号Ｈが発せられた場合には、ANDゲート１２，
１３，１４が開となり、登録多値データが高
（黒）レベル又は低（白）レベルのときはパルス
信号P2によりカウンタ１６は＋（プラス）２され
る。一方登録多値データが中（灰）レベルのとき
はカウンタはパルス信号P1により＋（プラス）１
される。以上のように比較部１１による１画素ず
つの比較照合（256回）毎にカウンタ１６は加算
されるが登録図形の十分に黒い所又は白い所は一
致した場合にカウンタを＋２することによつて一
致の具合を重視し、灰色の所はカウンタを＋１す
るということで一致の具合は軽くしている。判別
部１７はカウンタ１６の累算値が例えば400以上
のときに一致信号Ｇ、そして400末満のときには
不一致信号Ｎを出力する。なお記憶部は磁気デイ
スク装置のような外部記憶装置であつてもよいの
はもちろんである。
号Ｈが発せられた場合には、ANDゲート１２，
１３，１４が開となり、登録多値データが高
（黒）レベル又は低（白）レベルのときはパルス
信号P2によりカウンタ１６は＋（プラス）２され
る。一方登録多値データが中（灰）レベルのとき
はカウンタはパルス信号P1により＋（プラス）１
される。以上のように比較部１１による１画素ず
つの比較照合（256回）毎にカウンタ１６は加算
されるが登録図形の十分に黒い所又は白い所は一
致した場合にカウンタを＋２することによつて一
致の具合を重視し、灰色の所はカウンタを＋１す
るということで一致の具合は軽くしている。判別
部１７はカウンタ１６の累算値が例えば400以上
のときに一致信号Ｇ、そして400末満のときには
不一致信号Ｎを出力する。なお記憶部は磁気デイ
スク装置のような外部記憶装置であつてもよいの
はもちろんである。
(6) 発明の効果
以上のように本発明は、２値データによる比較
照合手段の他に、多値レベルデータの情報を判別
手段に付加することにより、照合精度を著しく向
上しうる利点を有する。
照合手段の他に、多値レベルデータの情報を判別
手段に付加することにより、照合精度を著しく向
上しうる利点を有する。
第１図は本発明の一実施例を説明するブロツク
図、第２図は本発明の一実施例における２値化の
説明図、第３図は本発明の一実施例における３値
データ抽出の説明図であり、図中に用いた符号は
次の通りである。 １は読取検出部、２はレンズ系、３は用紙、４
はアンプ及び多値化回路、５，８は２値化回路、
６，７は記憶部、９は抽出部、１０は制御部、１
１は比較部、１２，１３，１４はANDゲート、
１５はORゲート、１６はカウンタ、１７は判別
部、A2は登録２値データ、A8は登録多値デー
タ、B2は被照合２値データ、B8は被照合多値デ
ータ、Ｃは検出信号、Ｄは読取部分、Ｈは出力信
号、Ｇは一致信号、Ｎは不一致信号、P1，P2はパ
ルス信号を示す。
図、第２図は本発明の一実施例における２値化の
説明図、第３図は本発明の一実施例における３値
データ抽出の説明図であり、図中に用いた符号は
次の通りである。 １は読取検出部、２はレンズ系、３は用紙、４
はアンプ及び多値化回路、５，８は２値化回路、
６，７は記憶部、９は抽出部、１０は制御部、１
１は比較部、１２，１３，１４はANDゲート、
１５はORゲート、１６はカウンタ、１７は判別
部、A2は登録２値データ、A8は登録多値デー
タ、B2は被照合２値データ、B8は被照合多値デ
ータ、Ｃは検出信号、Ｄは読取部分、Ｈは出力信
号、Ｇは一致信号、Ｎは不一致信号、P1，P2はパ
ルス信号を示す。
Claims (1)
- １ 図形を読取り図形パターンを検出する読取部
と、登録図形パターンを格納する記憶部とを有
し、読取部により読取られた被照合図形パターン
と、登録図形パターンとを比較照合する図形照合
方式において、前記読取部により読取られた登録
図形パターンを多値化して前記記憶部に格納する
手段と、該記憶部内の多値化登録図形パターンを
２値化する第１の２値化回路と、前記読取部によ
り読取られた被照合図形パターンを２値化する第
２の２値化回路と、該第２の２値化回路と前記第
１の２値化回路との双方の出力を比較する比較手
段と、前記多値化図形パターンから複数レベルの
参照データを抽出する手段と、該参照データの各
レベルに応じ異なる重みデータを付加する手段と
を備え、前記比較手段の比較データと、前記重み
データとの結果により前記被照合図形パターンと
前記登録図形パターンとの照合を行なうことを特
徴とする図形照合方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56210502A JPS58114168A (ja) | 1981-12-26 | 1981-12-26 | 図形照合方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56210502A JPS58114168A (ja) | 1981-12-26 | 1981-12-26 | 図形照合方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58114168A JPS58114168A (ja) | 1983-07-07 |
| JPS6248874B2 true JPS6248874B2 (ja) | 1987-10-15 |
Family
ID=16590422
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56210502A Granted JPS58114168A (ja) | 1981-12-26 | 1981-12-26 | 図形照合方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58114168A (ja) |
-
1981
- 1981-12-26 JP JP56210502A patent/JPS58114168A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58114168A (ja) | 1983-07-07 |
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