JPS6245494A - レ−ザビ−ムスポツトの2次元走査装置 - Google Patents
レ−ザビ−ムスポツトの2次元走査装置Info
- Publication number
- JPS6245494A JPS6245494A JP60186055A JP18605585A JPS6245494A JP S6245494 A JPS6245494 A JP S6245494A JP 60186055 A JP60186055 A JP 60186055A JP 18605585 A JP18605585 A JP 18605585A JP S6245494 A JPS6245494 A JP S6245494A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- laser beam
- cylindrical lens
- spot
- axis direction
- scanning device
- Prior art date
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- Pending
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- Laser Beam Processing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、レーザ光を微小面積に集光して1尋られるレ
ーザビームスポットを、所定の平面内で2次元的に走査
するレーザビームスポットの2次元走査装置に関する。
ーザビームスポットを、所定の平面内で2次元的に走査
するレーザビームスポットの2次元走査装置に関する。
Nd:YAGレーザ等による高エネルギのレーザ光を用
いて種々の材料やデバイスを加工することが行われてい
る。このようなレーザ光を微小面積に集光すれば、半導
体ウェハ上に形成された抵抗チップやフーーズ部分のト
リミングを行うことができる。
いて種々の材料やデバイスを加工することが行われてい
る。このようなレーザ光を微小面積に集光すれば、半導
体ウェハ上に形成された抵抗チップやフーーズ部分のト
リミングを行うことができる。
この場合、レーザ光を数ミクロンメータの径に集光し、
例えばこれを数十ミリメータ四方の範囲で高精度に高速
で走査することが要求される。
例えばこれを数十ミリメータ四方の範囲で高精度に高速
で走査することが要求される。
従来、このようなレーザビームスポットの2次元走査装
置として、ガルバノメーク方式のものやリニアスケール
付のXYステージ方式のものが使用されていた。
置として、ガルバノメーク方式のものやリニアスケール
付のXYステージ方式のものが使用されていた。
ガルバノメータ方式のものは、レーザ光をミラーで反射
させて、ミラーの角度を変えてレーザビームスポットを
走査する。この方式はミラーが軽量でその回転駆動が容
易なため、高速広範囲の走査が可能である。しかし、レ
ーザ光をウェハに対して垂直に照射させなければ、レー
ザビームスポットの形状が変化し、加工特性が不安定と
なる。
させて、ミラーの角度を変えてレーザビームスポットを
走査する。この方式はミラーが軽量でその回転駆動が容
易なため、高速広範囲の走査が可能である。しかし、レ
ーザ光をウェハに対して垂直に照射させなければ、レー
ザビームスポットの形状が変化し、加工特性が不安定と
なる。
そこでいわゆるfθレンズを使用する。ところが、相当
広い走査範囲が要求される場合、もはや十分な特性のf
θレンズの製作が困難となってしまう。
広い走査範囲が要求される場合、もはや十分な特性のf
θレンズの製作が困難となってしまう。
従ってこの方式は、高精度が要求される場合、狭い範囲
の加工にしか使用できない難点があった。
の加工にしか使用できない難点があった。
一方すニアスケール付のXYステージ方式のものは、X
軸方向に進退駆動される1軸テーブル上に、X軸と直交
するY軸方向に進退駆動される1軸テーブルが載せられ
、そのレーザ光の出力装置が搭載された構成とされてい
る。これは、レーザ光が傾くこともなく比較的広範囲な
走査が可能な反面、高価で高速性が不十分という難点が
ある。
軸方向に進退駆動される1軸テーブル上に、X軸と直交
するY軸方向に進退駆動される1軸テーブルが載せられ
、そのレーザ光の出力装置が搭載された構成とされてい
る。これは、レーザ光が傾くこともなく比較的広範囲な
走査が可能な反面、高価で高速性が不十分という難点が
ある。
また、ザブミクロンm位置下の精度を得ようとすれば、
エアスライダと1ノーザ測長器とい−0た付帯設備も必
要となり、装置が大がかりなものとなる33しかも、1
軸テーブル上に他の1軸テーブルが絨っているので、一
方のテーブルを駆動したときの振動が他のテーブル軸へ
伝わる難点がある。
エアスライダと1ノーザ測長器とい−0た付帯設備も必
要となり、装置が大がかりなものとなる33しかも、1
軸テーブル上に他の1軸テーブルが絨っているので、一
方のテーブルを駆動したときの振動が他のテーブル軸へ
伝わる難点がある。
本発明は以上の点に着目してなされたもので、振動且の
問題も無く、高速性と高精度を確保することのできるレ
ーザビームスポットの2次元走査袋首を提供することを
目的とするものである。
問題も無く、高速性と高精度を確保することのできるレ
ーザビームスポットの2次元走査袋首を提供することを
目的とするものである。
本発明のレーザビームスポットの2次元走査装置は、第
1のシリンドリカルレンズを支持しこれをX軸方向に進
退させる第1の1次元駆動装置と、上記第1のプリント
リカルレンズとその長手方向の軸を直交させた第2のシ
リンドリカルレンズを支持しこれを上記X軸と直交する
Y軸方向に進退させる第2の1次元駆動装置と、上記第
1のシリンドリカルレンズと上記第2のシリンドリカル
レンズとの交点を含む一定の領域をカバーするレーザビ
ームを照射するビームエキスパンダとから構成され、上
記レーザ光は、上記両シリンドリカルレンズの交点にお
いてこれらを透過した後スポット状に集光されることを
特徴とするものである。
1のシリンドリカルレンズを支持しこれをX軸方向に進
退させる第1の1次元駆動装置と、上記第1のプリント
リカルレンズとその長手方向の軸を直交させた第2のシ
リンドリカルレンズを支持しこれを上記X軸と直交する
Y軸方向に進退させる第2の1次元駆動装置と、上記第
1のシリンドリカルレンズと上記第2のシリンドリカル
レンズとの交点を含む一定の領域をカバーするレーザビ
ームを照射するビームエキスパンダとから構成され、上
記レーザ光は、上記両シリンドリカルレンズの交点にお
いてこれらを透過した後スポット状に集光されることを
特徴とするものである。
ここで、上記ビームエキスパンダは、上記X軸方向及び
Y軸方向に進退自在に支持され、上記シリンドリカルレ
ンズの交点に常にレーザビームが照射されるよう、上記
第1のシリンドリカルレンズ及び又は上記第2のシリン
ドリカルレンズの進退方向に駆動されることが好ましい
。
Y軸方向に進退自在に支持され、上記シリンドリカルレ
ンズの交点に常にレーザビームが照射されるよう、上記
第1のシリンドリカルレンズ及び又は上記第2のシリン
ドリカルレンズの進退方向に駆動されることが好ましい
。
このように、本発明の装置は、レーザビームスポットの
X軸方向の走査を行う第1の1次元駆動装置とY軸方向
の走査を行う第2の1次元駆動装置とを別体にすること
ができるので振動上の問題が生じず、高い精度が確保て
きる。、また、シリンドリカルレンズは軽量なので、ビ
ームエキスパンダにより、レーザ光が照射されている範
囲内で、両1次元駆動装置の高速駆動が可能となる1、
シかも、ビームエキスパンダがX軸、Y軸方向に進退自
在に支持されており、これを駆動すれば広範囲の走査も
可能である。
X軸方向の走査を行う第1の1次元駆動装置とY軸方向
の走査を行う第2の1次元駆動装置とを別体にすること
ができるので振動上の問題が生じず、高い精度が確保て
きる。、また、シリンドリカルレンズは軽量なので、ビ
ームエキスパンダにより、レーザ光が照射されている範
囲内で、両1次元駆動装置の高速駆動が可能となる1、
シかも、ビームエキスパンダがX軸、Y軸方向に進退自
在に支持されており、これを駆動すれば広範囲の走査も
可能である。
第1図は本発明のレーザビームスポット♂)?次元走査
装置の要部の斜視図である。
装置の要部の斜視図である。
この装置は、第1のシリンドリカルレンズ1を支持しい
これをX軸方向に進退駆動させる第1の1次元駆動装置
2と、第2のシリンドリカルし・ンズ3を支持しこれを
Y軸方向に進退駆動させる第2の1次元駆動装置4と、
レーザビームの照射部5とから構成されている。
これをX軸方向に進退駆動させる第1の1次元駆動装置
2と、第2のシリンドリカルし・ンズ3を支持しこれを
Y軸方向に進退駆動させる第2の1次元駆動装置4と、
レーザビームの照射部5とから構成されている。
この照射部5のボクス6内にはレーザ光源が収容され、
そのレーザ光はミラー等によってビ・−ムエキスパンダ
7に導かれる。レーザ光8は、このビームエキスパンダ
7によって第1のンリンドリカルレンズ1と第2のシリ
ンドリカルレンズ3との交点を含む一定の領域をカバー
する広さに広げられて下方に垂直に照射される。
そのレーザ光はミラー等によってビ・−ムエキスパンダ
7に導かれる。レーザ光8は、このビームエキスパンダ
7によって第1のンリンドリカルレンズ1と第2のシリ
ンドリカルレンズ3との交点を含む一定の領域をカバー
する広さに広げられて下方に垂直に照射される。
また、両1次元駆動装置2.4はいずれも高精度でX軸
またはY軸方向に進退する機構とされている。
またはY軸方向に進退する機構とされている。
第2図は、レーデ光8とシリンドリカルレンズ及びチッ
プ11との関係を示す斜視図である。
プ11との関係を示す斜視図である。
この実施例では、トリミングを行うウェハ11′上のチ
ップ11は2cm四方のものとし、ビームエキスパンダ
7(第1図)によって広げられたレーザ光8の径を例え
ば直径5cmに設定する。互いに直交するシリンドリカ
ルレンズ1.3はそれぞれ独立にX軸及びY軸方向に駆
動される。
ップ11は2cm四方のものとし、ビームエキスパンダ
7(第1図)によって広げられたレーザ光8の径を例え
ば直径5cmに設定する。互いに直交するシリンドリカ
ルレンズ1.3はそれぞれ独立にX軸及びY軸方向に駆
動される。
そして、両シリンドリカルレンズ1.3には約lQmm
程度の幅のレンズを使用する。これらを組合せた結果そ
の焦点は、その約10〜20mm下方に位置することと
なる。これによって直径5〜6μmのレーザビームスポ
ット12を得ることができる。
程度の幅のレンズを使用する。これらを組合せた結果そ
の焦点は、その約10〜20mm下方に位置することと
なる。これによって直径5〜6μmのレーザビームスポ
ット12を得ることができる。
ここで、このレーザ光8の照射範囲内でシリンドリカル
レンズ1.3の一方または双方を移動させると、レーザ
ビームスポット12がチップ11上をX軸あるいはY軸
方向に2次元的に走査される。このような小面積のウェ
ハのトリミングのみで使用される場合、照射部5(第1
図)は固定されていてさしつかえない。
レンズ1.3の一方または双方を移動させると、レーザ
ビームスポット12がチップ11上をX軸あるいはY軸
方向に2次元的に走査される。このような小面積のウェ
ハのトリミングのみで使用される場合、照射部5(第1
図)は固定されていてさしつかえない。
また、このレーザ光8の照射範囲を越える大きさのチッ
プ11のトリミングを行うような場合は、シリンドリカ
ルレンズ1.3が移動したとき、常にそれらの交点にレ
ーザ光8が照射されるように、ビームエキスパンダ7(
第1図)を支持した照射部5をX軸あるいはY軸方向に
駆動する。この駆動には他の1次元駆動装置2.4はど
の精度は必要としないのはいうまでもない。
プ11のトリミングを行うような場合は、シリンドリカ
ルレンズ1.3が移動したとき、常にそれらの交点にレ
ーザ光8が照射されるように、ビームエキスパンダ7(
第1図)を支持した照射部5をX軸あるいはY軸方向に
駆動する。この駆動には他の1次元駆動装置2.4はど
の精度は必要としないのはいうまでもない。
第3図と第4図に上記シリンドリカルレンズ1.3をX
軸方向又はY軸方向から見た側面図を示す。
軸方向又はY軸方向から見た側面図を示す。
レーザ光8はX軸方向から見た場合、主として第2のシ
リンドリカルレンズ3によって集光される。この第2の
シリンドリカルレンズ3がY軸方向に移動しても、レー
ザ光8はウェハ11に対し垂直に入射しているので、レ
ーザビームスポット12が変形することが無い。なお、
不要なレーザ光8がチップ11上に到達しないように、
図のようにシリンドリカルレンズ3の両側に光遮蔽板1
4を取り付けることが好ましい。Y軸方向から見た場合
には、レーザ光8は主として第1のシリンドリカルレン
ズ1によって集光される。その作用及び光遮蔽板15の
機能等は第2のシリンドリカルレンズの場合と全く同様
である。
リンドリカルレンズ3によって集光される。この第2の
シリンドリカルレンズ3がY軸方向に移動しても、レー
ザ光8はウェハ11に対し垂直に入射しているので、レ
ーザビームスポット12が変形することが無い。なお、
不要なレーザ光8がチップ11上に到達しないように、
図のようにシリンドリカルレンズ3の両側に光遮蔽板1
4を取り付けることが好ましい。Y軸方向から見た場合
には、レーザ光8は主として第1のシリンドリカルレン
ズ1によって集光される。その作用及び光遮蔽板15の
機能等は第2のシリンドリカルレンズの場合と全く同様
である。
本発明のレーザビームスポットの2次元走査装置は以上
の実施例に限定されない。
の実施例に限定されない。
シリンドリカルレンズやビームエキスパンダを支持し進
退駆動する機構は既知の種々の機構に置き換えることが
可能である。また、レーザ光の照射面積は、広い程良い
が、エネルギ密度の関係上あまり広くすることは難しい
。エネルギ密度が低い場合、シリンドリカルレンズの交
点の面積よりやや広い程度であればよい。この場合でも
、照射部を高速で駆動してシリンドリカルレンズの動き
に追従することができるので、トリミング作業等を、従
来法より格段に高速化し高精度化することができる。
退駆動する機構は既知の種々の機構に置き換えることが
可能である。また、レーザ光の照射面積は、広い程良い
が、エネルギ密度の関係上あまり広くすることは難しい
。エネルギ密度が低い場合、シリンドリカルレンズの交
点の面積よりやや広い程度であればよい。この場合でも
、照射部を高速で駆動してシリンドリカルレンズの動き
に追従することができるので、トリミング作業等を、従
来法より格段に高速化し高精度化することができる。
以上説明した本発明のレーザビームスポットの2次元走
査装置は、X軸方向とY軸方向の1次元駆動装置をそれ
ぞれ別体としかつ小型軽量化を図ったので、高精度で高
速駆動が可能となり、半導体チップ等の生産性向上を図
ることができる。
査装置は、X軸方向とY軸方向の1次元駆動装置をそれ
ぞれ別体としかつ小型軽量化を図ったので、高精度で高
速駆動が可能となり、半導体チップ等の生産性向上を図
ることができる。
また、光源等を載せたX軸Y軸両方向の駆動を必要とす
る照射部は、比較的低い精度の駆動機構でさしつかえな
く、その設備コストの低減を図ることができる。
る照射部は、比較的低い精度の駆動機構でさしつかえな
く、その設備コストの低減を図ることができる。
第1図は本発明のレーザビームスポットの2次元走査装
置の主要部の斜視図、第2図はレーザ光とシリンドリカ
ルレンズおよびウェハの関係を示す斜視図、第3図はシ
リンドリカルレンズの近傍をX軸方向から見た側面図、
第4図はシリンドリカルレンズの近傍をY軸方向から見
た側面図である。 ■・・・・・・第1のシリンドリカルレンズ、2・・・
・・・第1の1次元駆動装置、3・・・・・・第2のシ
リンドリカルレンズ、4・・・・・・第2の1次元駆動
袋首、7・・・・・・ビームエキスパンダ、 8・・・・・・レーザ光。 又− 第 1 図
置の主要部の斜視図、第2図はレーザ光とシリンドリカ
ルレンズおよびウェハの関係を示す斜視図、第3図はシ
リンドリカルレンズの近傍をX軸方向から見た側面図、
第4図はシリンドリカルレンズの近傍をY軸方向から見
た側面図である。 ■・・・・・・第1のシリンドリカルレンズ、2・・・
・・・第1の1次元駆動装置、3・・・・・・第2のシ
リンドリカルレンズ、4・・・・・・第2の1次元駆動
袋首、7・・・・・・ビームエキスパンダ、 8・・・・・・レーザ光。 又− 第 1 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、第1のシリンドリカルレンズを支持しこれをX軸方
向に進退駆動させる第1の1次元駆動装置と、前記第1
のシリンドリカルレンズとその長手方向の軸を直交させ
た第2のシリンドリカルレンズを支持しこれを前記X軸
と直交するY軸方向に進退駆動させる第2の1次元駆動
装置と、前記第1のシリンドリカルレンズと前記第2の
シリンドリカルレンズとの交点を含む一定の領域をカバ
ーするレーザ光を照射するビームエキスパンダとから構
成され、前記レーザ光は、前記両シリンドリカルレンズ
の交点においてこれらを透過した後スポット状に集光さ
れることを特徴とするレーザビームスポットの2次元走
査装置。 2、前記ビームエキスパンダは、前記X軸方向及びY軸
方向に進退自在に支持され、前記両シリンドリカルレン
ズの交点に常に前記レーザ光が照射されるよう、前記第
1のシリンドリカルレンズ及び又は前記第2のシリンド
リカルレンズの進退方向に駆動されることを特徴とする
特許請求の範囲第1項記載のレーザビームスポットの2
次元走査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60186055A JPS6245494A (ja) | 1985-08-23 | 1985-08-23 | レ−ザビ−ムスポツトの2次元走査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60186055A JPS6245494A (ja) | 1985-08-23 | 1985-08-23 | レ−ザビ−ムスポツトの2次元走査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6245494A true JPS6245494A (ja) | 1987-02-27 |
Family
ID=16181603
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60186055A Pending JPS6245494A (ja) | 1985-08-23 | 1985-08-23 | レ−ザビ−ムスポツトの2次元走査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6245494A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013248624A (ja) * | 2012-05-30 | 2013-12-12 | Disco Corp | レーザー加工装置 |
CN111939485A (zh) * | 2020-07-31 | 2020-11-17 | 西安炬光科技股份有限公司 | 一种激光点阵系统及方法、激光点阵治疗仪 |
-
1985
- 1985-08-23 JP JP60186055A patent/JPS6245494A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013248624A (ja) * | 2012-05-30 | 2013-12-12 | Disco Corp | レーザー加工装置 |
DE102013210052B4 (de) | 2012-05-30 | 2023-12-21 | Disco Corp. | Laserbearbeitungsvorrichtung |
CN111939485A (zh) * | 2020-07-31 | 2020-11-17 | 西安炬光科技股份有限公司 | 一种激光点阵系统及方法、激光点阵治疗仪 |
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