JPS6241237Y2 - - Google Patents

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JPS6241237Y2
JPS6241237Y2 JP17884481U JP17884481U JPS6241237Y2 JP S6241237 Y2 JPS6241237 Y2 JP S6241237Y2 JP 17884481 U JP17884481 U JP 17884481U JP 17884481 U JP17884481 U JP 17884481U JP S6241237 Y2 JPS6241237 Y2 JP S6241237Y2
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JP
Japan
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edge
test piece
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edges
edge holder
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JP17884481U
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JPS5882608U (ja
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Landscapes

  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は伸び計のエツジ保持機構、特に標点間
の設定距離を2段に切換え可能な伸び計のエツジ
保持機構に関するものである。
本考案の伸び計のエツジ保持機構はそれぞれ試
験片の異なつた長さ位置で試験片に当接係合する
第1及び第2のエツジを備え、前記第1及び第2
のエツジの試験片に対する当接係合により試験片
を把持して試験片に引張荷重が与えられたときに
試験片の伸びを前記第1及び第2のエツジ間の距
離の変動によつて測定するようにした伸び計にお
いて、前記第2のエツジのホルダーを、1つの把
持枠上で前記第1のエツジホルダーとの間の距離
を変更調節可能に取付け、前記把持枠を前記第1
のエツジのホルダーに対し試験片の伸びによる前
記第1及び第2のエツジの変位に応じて相対的に
変位可能に連結し、前記第1のエツジのホルダー
と前記第2のエツジのホルダーを取付けた前記把
持枠との間の距離の変動を測定するようにしたこ
とを特徴とする。
以下本考案の実施例を平均値式の伸び計の場合
について図面を参照して詳細に説明する。
本考案の伸び計においては、試験片1に当接す
る2組のエツジ機構2,3が設けられる。図面に
示す実施例は平均値式の伸び計であるので、各エ
ツジ機構2,3はそれぞれ相対向する一対のエツ
ジ4,5を有している。エツジ4,5は同一形状
で、例えば第4図に示すような形状を有する。
第1のエツジ機構2のエツジ4,4はそれぞれ
ホルダー6.6によつて保持され、ホルダー6,
6はターンバツクル機構7で連結されていて、タ
ーンバツクル機構7を操作することによりエツジ
ホルダー6,6を互いに近接及び離遠させること
ができるようになつている。エツジ4,4はホル
ダー6に対してはスプリング8を介して弾性的に
連結されており、これによつてホルダー6,6が
互いに近接するように操作されるとき、エツジ
4,4の先端が試験片1に弾性的に係合、当接す
ることができるようになつている。
第2のエツジ機構3は相対向する一対のエツジ
5と、それぞれのエツジ5を支持するホルダー9
と、エツジホルダー9,9を取付位置可変に把持
する把持枠10,10とで構成される。把持枠1
0には案内柱11が取付けられており、エツジホ
ルダー9はこの案内柱11に沿つて第1図で上下
に摺動可能に取付けられている。第1図ではエツ
ジホルダー9は案内柱11の頂端位置にあり、こ
の位置で押しねじ12により把持枠10に固定で
きるようになつている。押しねじ12をゆるめて
エツジホルダー9を案内柱11に沿つて下降さ
せ、その下端位置で把持枠10に締付け固定する
こともできる。したがつて本考案では第2のエツ
ジ5は把持枠10に対し2つの異なつた位置に選
択的に設定保持されるものである。
把持枠10,10はターンバツクル機構13に
よつて互いに近接、離遠調節操作可能に連結され
る。ターンバツクル機構13と各把持枠10の間
にはスプリング14が介装されており、このため
把持枠10,10がターンバツクル機構13の操
作により互いに近接せしめられたとき、把持枠1
0,10に保持されたホルダー9,9のエツジ
5,5が試験片1に対して弾性的に係合当接でき
るようになつている。
本考案によれば第1のエツジ機構2に対して第
2のエツジ機構3が変位可能に連結される。すな
わち第1のエツジ機構2の1つのエツジホルダー
6に連結桿20が固定され、この連結桿20は第
2のエツジ機構3の1つの把持枠10の案内柱1
1を貫通して伸びており、把持枠10の案内柱1
1は連結桿20に案内されており、第1図で上下
に摺動移動可能に連結されている。把持枠10の
連結桿20のまわりの回動は第1のエツジホルダ
ー6に植設した止めピン21を把持枠10の係合
穴22に挿入することによつて阻止できるように
なつている。かくして第1のエツジ機構2及び第
2のエツジ機構3がそれぞれ試験片1の異なつた
長さ位置で試験片に当接係合せしめられた後、試
験片1に引張荷重が加えられると試験片が伸長す
るが、これに追従して第1のエツジ機構2に対し
て第2のエツジ機構3が相対的に変位するもので
ある。
第1のエツジ機構2と第2のエツジ機構3の相
対的変位は、第1のエツジ機構2のエツジホルダ
ー6,6と第2のエツジ機構3の把持枠10,1
0との間に介装された変位量検出測定機構30に
よつて検出測定される。この変位量検出測定機構
30は従来公知の任意の方式のものを利用でき
る。図においては差動トランス式の検出測定機構
が示されている。すなわち各把持枠10にコイル
31を備えた差動トランスの本体32が固定して
取付けられる。差動トランスのコイル31に対し
てこれを貫通して変位可能なコア33の一端(第
1図で下端)34がレバー機構35を介して第1
のエツジ機構のエツジホルダーの適当箇所に当接
係合せしめられている。更に詳細に述べると、レ
バー36の一端はトランスの本体32から張り出
した延長部37において枢支され(枢支支点を3
8で示す)、レバー36の他端39が第1のエツ
ジホルダー6の下端部上面に係合当接するように
なつている。そしてレバー36には枢支点38に
近接した位置に差動トランスのコア33の下端3
4と係合する作用点40が設けられており、これ
よつて第2のエツジ機構の把持枠10に対する第
1のエツジ機構のエツジホルダー6の変位量を縮
小して差動トランスのコア33に伝えるようにな
つている。
上述の差動トランス機構はそれぞれの対応する
第1エツジホルダー6と第2エツジ機構の把持枠
10,10との間に設けられており、これら2つ
の差動トランス機構30で検出された変位量の平
均値が表示、記録されるようになつているもので
ある。
以上詳述したように、本考案によれば第2のエ
ツジ機構3の把持枠10,10に対してエツジホ
ルダー9,9を位置変更調節可能に取付けたの
で、標点間距離(第1のエツジ4,4と第2のエ
ツジ5,5間の距離)を2段(例えば50mmと30
mm)に切換えることができるものである。
図面に示す実施例においては、第1のエツジ機
構の一対のエツジホルダー6,6及び第2のエツ
ジ機構3の一対の把持枠10,10はそれぞれタ
ーンバツクル機構7,13によつて連結されてい
るが、その間にスプリング8,14が介装されて
いるので、試験片1が引張力によつて厚さまたは
直径が減少した場合にも各エツジ4,4,5,5
は支障なく、試験片1に圧接係合状態を保持でき
るようになつている。この作用を得るためには図
示のようなスプリング8,14に代えてゴムやプ
ラスチツクなどの弾性体を利用するか、あるいは
空気圧または油圧などの力を付与させることによ
つても達することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の実施例機構の一部縦断正面
図、第2図はその平面図、第3図は一部切欠背面
図、第4図は本考案装置において使用するエツジ
の斜視図である。 1……試験片、2……第1エツジ機構、3……
第2エツジ機構、4……第1のエツジ、5……第
2のエツジ、6……第1のエツジホルダー、9…
…第2のエツジホルダー、10……把持枠、20
……連結桿、30……変位量検出測定用差動トラ
ンス機構。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. それぞれ試験片の異なつた長さ位置で試験片に
    当接係合する第1及び第2のエツジを備え、前記
    第1及び第2のエツジの試験片に対する当接係合
    により試験片を把持して試験片に引張荷重が与え
    られたときに試験片の伸びを前記第1及び第2の
    エツジ間の距離の変動によつて測定するようにし
    た伸び計において、前記第2のエツジのホルダー
    を、1つの把持枠上で前記第1のエツジホルダー
    との間の距離を変更調節可能に取付け、前記把持
    枠を前記第1のエツジのホルダーに対し試験片の
    伸びによる前記第1及び第2のエツジの変位に応
    じて相対的に変位可能に連結し、前記第1のエツ
    ジのホルダーと前記第2のエツジのホルダーを取
    付けた前記把持枠との間の距離の変動を測定する
    ようにしたことを特徴とする伸び計のエツジ保持
    機構。
JP17884481U 1981-11-30 1981-11-30 伸び計のエツジ保持機構 Granted JPS5882608U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17884481U JPS5882608U (ja) 1981-11-30 1981-11-30 伸び計のエツジ保持機構

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17884481U JPS5882608U (ja) 1981-11-30 1981-11-30 伸び計のエツジ保持機構

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5882608U JPS5882608U (ja) 1983-06-04
JPS6241237Y2 true JPS6241237Y2 (ja) 1987-10-22

Family

ID=29974007

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP17884481U Granted JPS5882608U (ja) 1981-11-30 1981-11-30 伸び計のエツジ保持機構

Country Status (1)

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JP (1) JPS5882608U (ja)

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Publication number Publication date
JPS5882608U (ja) 1983-06-04

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