JPS623677A - ポジトロンctの補正方法 - Google Patents

ポジトロンctの補正方法

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JPS623677A
JPS623677A JP14272385A JP14272385A JPS623677A JP S623677 A JPS623677 A JP S623677A JP 14272385 A JP14272385 A JP 14272385A JP 14272385 A JP14272385 A JP 14272385A JP S623677 A JPS623677 A JP S623677A
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JP
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correction
scattering
coincidence
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JP14272385A
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Seiichi Yamamoto
誠一 山本
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Shimadzu Corp
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Shimadzu Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、ポジトロンCTにおいて収集されるエミッ
ションデータから散乱同時計数の影響を除くように補正
する補正方法に関する。
従来の技術 ポジトロンCTでは、ポジトロンが消滅するときに18
0°方向に放出される2つのγ線を同時に検出すること
によりポジトロンの位置の情報を得て、これからポジト
ロン放出性核種のRI(ラジオアイソトープ)の濃度分
布像を再構成する。
ところが、放出されたγ線は被検体内で散乱し、これに
よる同時計数(散乱同時計数)が避けられず、収集され
たエミッションデータには必ずこの散乱成分が含まれる
。そこで、従来からこの散乱同時計数を補正する方法が
種々に提案されている。
発明が解決しようとする問題点 しかしながら、従来の散乱同時計数の補正方法は、一定
値を差し引く方法や、ファントム中のライン線源の応答
から散乱成分を見つもり、再構成画像から差し引くとい
う方法であり、実際の被検体に対応した補正でないため
被検体の形状などが変化すると正しい補正ができない、
という欠点がある。
この発明は、被検体の形状等が異なっても散乱同時計数
の補正を精度高く行なうことのできるポジトロンCTの
補正方法を提供することを目的とする。
問題点を解決するための手段 この発明によるポジトロンCTの補正方法は、まず、R
Iの投与されていない被検体の周囲にライン線源を回転
させて、その各場所で同時計数データを収集する。この
同時計数データから、上記ライン線源の存在場所のデー
タのみを取り出してこれにより吸収補正用データを得る
とともに、エミッションデータの散乱を補正するための
補正関数を求めておく、そして、上記被検体にRrを投
与したときに収集されるエミッションデータを、上記吸
収補正用データを用いて吸収補正し、旦つ上記の補正関
数を作用させて該エミッションデータ自体に含まれる散
乱同時計数成分を除くようにしている。
作    用 RIの投与されていない被検体の周囲にライン線源を回
転させて、その各場所で同時計数データを収集し、この
同時計数データから上記ライン線源の存在場所のデータ
のみを取り出すと、散乱同時計数成分を大部分除去でき
る。そこで、このデータを用いて吸収補正用データを得
れば、それには散乱同時計数の影響が及ばないことにな
る。
また、上記の同時計数データは場所の分っているライン
線源のエミッションデータでもあるから、そのデータ自
体に含まれている散乱同時計数の成分が分るので散乱同
時計数成分を除くための補正関数を求めることができる
。そこで、被検体にRIを投与してエミッションデータ
を収集し、このエミッションデータを上記の吸収補正用
データを用いて吸収補正すれば、散乱の影響の少ない吸
収補正ができ、またこのエミッションデータに上記の補
正関数を作用させればエミッションデータ自体に含まれ
ていた散乱同時計数の成分を除くことができる。
実施例 まずブランクスキャンを行なう、第1図のように検出器
リングl内でライン線源(検出器リングlに直交する方
向つまり被検体2の体軸に平行な方向に延びているライ
ン状のγ線源)3を回転させて、各ステップ毎の場所で
同時計数のデータを収集する。このとき、被検体2はこ
の検出器リング1内には入れない。
つぎに実際の被検体2を置いてこの被検体2の吸収デー
タを収集する(この被検体2にはまだRIは投与されて
いない)。第1図のように被検体2の周囲にライン線源
3を回転させ、上記と同様に各ステップ毎の位置で同時
計数のデータを収集する。ライン線源3から放射された
γ線はこの被検体2を通った後検出器リング1に入射す
るので、収集されるデータはこの被検体2を透過したデ
ータ、つまりトランスミッションデータと見ることもで
きる。γ線は被検体2を通るとき吸収されるため、トラ
ンスミッションデータは、被検体2の各部での吸収を表
わすということになる。したがって、この吸収データと
上記のブランクスキャンのデータとを比較すれば、吸収
補正用のデータが得られる。
ところで、被検体2は吸収体であるとともに散乱体であ
る。そのため上記のトランスミッションデータには散乱
同時計数のデータも含まれることになり、たとえばライ
ン線源3が第1図の位置にあるときのこのトランスミッ
ションデータのサイノブラムは第2図のようになり、サ
イノブラムのθ=00でのデータは第4図のPのように
なるというように、ライン線源3のあるべき場所での真
の同時計数データによるピークの周辺に散乱同時計数の
データによる裾野部分が生じる。ライン線源3の場所は
既知であるため、その場所に相当するデータのみを取り
出し、他のライン線源3が存在していない場所でのデー
タは散乱同時計数として取り除く、こうして得られたデ
ータのサイノブラムは第3図のようになり、裾野部分の
除去により大部分の散乱成分を除いたトランスミッショ
ンデータが得られる。また、ライン線源3の存在場所部
分のみを取り出すことにより裾野部分に含まれている偶
発同時計数のデータも除かれる。したがって、このよう
な操作を受けたトランスミッションデータを用いて吸収
補正用データを得るようにすれば、SNの高い吸収補正
用データを得ることができる。
同時に、このトランスミッションデータから、第5図の
ようなエミッションデータの散乱補正用の補正関数を求
める。この場合、得られたデータをトランスミッション
データとして見るのでなく、ライン線源3がある場所に
位置しているときのこのライン線源3のエミッションデ
ータとして見る。たとえば第1図の位置にライン線源3
がある場合には、サイノブラムのθ=06でのデータは
、散乱体である被検体2がなければ散乱が生じることも
なく真の同時計数のデータのみからなり第4図のQのよ
うになるが、被検体2の存在により散乱同時計数データ
が含まれて第4図Pのようになる。そこで、補正関数を
データPに重畳積分したとき真の同時計数のみによるデ
ータQが再現できるような、第5図に示すような補正関
数を、少なくとも数箇所のライン線源3につきサイノブ
ラムの各角度毎に求めておく。
こうして、吸収補正用データと、補正関数とを求めた後
、ライン線源3を取り除き、被検体2にRIを投与し、
通常のポジトロンOTにおいて行なわれるのと同様に、
この被検体z中のRIから放射されるγ線の同時検出を
行ないデータ収集する(エミッションデータの収集)。
そして、収集されたエミッションデータを、上記の吸収
補正用データを用いて吸収補正し、さらに、補正後のデ
ータに対し、サイノブラム上で上記の補正関数を重畳積
分して散乱同時計数の補正を行なう、サイノブラムのθ
=00での被検体2の実測エミッションデータが第6図
のようであったとすると、これに吸収補正用データを用
いて吸収補正を行なって吸収補正後のエミッションデー
タを得、さらにこれに第5図の補正関数を重畳積分して
エミッションデータの散乱補正を行なう。
こうして補正されたデータを用いて通常と同様に画像を
再#I成すれば、散乱の影響が二重の意味で除かれたS
Nの高い画像を得ることができる。
発明の効果 この発明によれば、吸収補正用のデータについても散乱
同時計数の補正を行なって、この補正後の吸収補正用デ
ータを用いて被検体のエミッションデータの吸収補正を
行ない、しかもエミッションデータ自体に含まれている
散乱同時計数の補正を行なうので、きわめて精度の高い
散乱同時計数の補正ができる。さらに実際の被検体につ
いての実測データを用いてこれらの補正を行なうので、
その実際の被検体に対応して補正ができ、被検体の形状
等によらず、正確な補正ができる。また、吸収補正用デ
ータ中の偶発同時計数も少なくなるのでSNが向上し、
特に腹部の散乱同時計数の補正に最適である。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を説明するための装置の正
面図、第2図は実測データのサイノブラムを表わすグラ
フ、第3図は補正後のデータのサイノブラムを表わすグ
ラフ、第4図はサイノブラムの特定角度での実測データ
と真の同時計数のデータとの関係を説明するための図、
第5図は補正関数を表わす図、第6図はサイノブラムの
特定角度でのRI投与後の被検体の実測データを表わす
図である。 1・・・検出器リング    2・・・被検体3・・・
ライン線源

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)RIの投与されていない被検体の周囲にライン線
    源を回転させて、その各場所で同時計数データを収集し
    、該同時計数データから、上記ライン線源の存在場所の
    データのみを取り出してこれにより吸収補正用データを
    得るとともに、エミッションデータの散乱を補正するた
    めの補正関数を求め、上記被検体にRIを投与したとき
    に収集されるエミッションデータを、上記吸収補正用デ
    ータを用いて吸収補正し、旦つ上記の補正関数を作用さ
    せてエミッションデータ自体に含まれる散乱同時計数成
    分を除くようにしたポジトロンCTの補正方法。
JP14272385A 1985-06-30 1985-06-30 ポジトロンctの補正方法 Expired - Lifetime JPH0636028B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14272385A JPH0636028B2 (ja) 1985-06-30 1985-06-30 ポジトロンctの補正方法

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JPS623677A true JPS623677A (ja) 1987-01-09
JPH0636028B2 JPH0636028B2 (ja) 1994-05-11

Family

ID=15322081

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14272385A Expired - Lifetime JPH0636028B2 (ja) 1985-06-30 1985-06-30 ポジトロンctの補正方法

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JP (1) JPH0636028B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0346884U (ja) * 1989-09-13 1991-04-30
JPH07104070A (ja) * 1993-09-30 1995-04-21 Shimadzu Corp ポジトロンect装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0346884U (ja) * 1989-09-13 1991-04-30
JPH07104070A (ja) * 1993-09-30 1995-04-21 Shimadzu Corp ポジトロンect装置

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