JPS6235744A - 試験制御方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔（既要〕 ディジタル交換機において、トランク試験装置および加
入者線試験装置の試験動作を制御する試験用プロセッサ
を呼処理用プロセッサと別個に設け、各試験装置と試験
用プロセッサとを通話路網を介して接続することにより
、呼処理用プロセッサの呼処理能力の低下を防止するも
のである。

〔産業上の利用分野〕

本発明はディジタル交換機における試験制御方式の改良
に関する。

ディジタル交換機においては、収容される各中継線およ
び各加入者線を試験するトランク試験装置および加入者
線試験装置が設けられており、プロセッサの制御の下に
順次中継線および加入者線に接続され、正常性を自動的
に試験する。

かかるトランク試験装置および加入者線試験装置が試験
を実行する為にプロセッサに加わる負荷が、当該ディジ
タル交換機の呼処理能力を極力圧迫しないことが強く要
望される。

〔従来の技術〕

第３図は従来ある試験制御方式の一例を示す図である。

第３図において、ディジタル交換機１には、中１！線２
および加入者線３が、それぞれトランク（ＴＲＫ）４お
よび加入者回路（ＳＬＣ）５を介して通話路網（ＮＷ）
６に収容されている。複数のトランク４に共通にトラン
ク試験装置（ＴＴ）７が設けられ、また複数の加入者回
路５に共通に加入者線試験装置（ＳＴ）８が設けられて
いる。

更に当該ディジタル交換機ｌに生起する呼を処理するプ
ロセッサ（ＰＲ）９には、試験制御部（ＴＣ）１０が設
けられている。

各中ｍ線２の正常性を試験する場合には、　プロセッサ
９内の試験制御部１０が試験用スイッチ１１を制御し、
試験対象中継線２を収容するトランク４とトランク試験
装置７とを接続した後、トランク試験装置７を制御して
中継線２の各種性能の試験を所定の手順に基づき順次試
験させ、またトランク試験装置７が出力する試験結果を
受信・記録する。以下同様にして試験用スイッチ１１を
制′４！Ｉｔ　シ、各トランク４とトランク試験装置７
とを順次接続替えすることにより、当該ディジタル交換
機１に収容されている総ての中ｍｖＡ２の正常性が自動
的に試験される。

各加入者線３の正常性を試験する場合にも、プロセッサ
９内の試験制御部１０が、前述と同様の゛過程により各
加入者回路５と加入者線試験装置８とを試験用スイッチ
１２を介して順次接続し、加入者線試験装置８を制御し
て加入者線３の試験を実行する。

〔発明が解決しようとする問題点〕

以上の説明から明らかな如く、従来ある試験制御方式に
おいては、ディジタル交換機１の呼処理を司るプロセッ
サ９が試験制御部１０により、トランク試験装置７およ
び加入者線試験装置８による中継線２および加入者線３
の試験を制御していた。

その結果プロセッサ９にトランク試験装置７或いは加入
者線試験装置８の試験動作を制御する負荷が加わり、当
該ディジタル交換機１の呼処理能力を圧迫する恐れがあ
った。

〔問題点を解決するための手段〕

第１図は本発明の原理を示す図である。

第１図においては、トランク試験装置７および加入者線
試験装置８の試験動作を制御する試験用プロセッサ１３
が呼処理用プロセッサ１４と別個に設けられ、各試験装
置７および８と試験用プロセッサ１３とが通話路網６を
介して接続される。

〔作用〕

即ち本発明によれば、試験装置の試験動作は、呼処理用
プロセッサと別個に設けられる試験用プロセッサにより
制御される為、呼処理用プロセッサに試験動作を制御す
る負荷が加わらず、ディジタル交換機の呼処理能力が圧
迫される恐れが無くなる。

〔実施例〕

以下、本発明の一実施例を図面により説明する。

第２図は本発明の一実施例による試験制御方式を示す図
である。

第２図においては、当該ディジタル交換機１に生起する
呼を処理する呼処理用プロセッサ（ＣＰＲ）１４と別個
に、トランク試験装置７および加入者線試験装置８の試
験動作を制御する試験用プロセッサ（ＴＰＲ）１３が設
けられている。

各中継線２の正常性を試験する場合には、　試験用プロ
セッサ１３は呼処理用プロセッサ１４に、試験対象中継
線２、試験を実行するトランク試験装置７等を含む試験
接続指令を伝達し、試験対象中継ｖＡ２を収容するトラ
ンク４とトランク試験装置７、並びにトランク試験装置
７と試験用プロセッサ１３との接続を依頼する。

前記試験接続指令を受信した呼処理用プロセッサ１４は
、第３図におけると同様に試験用スイッチ１１を制御し
てトランク試験装置７を該当トランク４に接続し、また
通話路ｙＩ６を制御し、試験用プロセッサ１３がディジ
タルハイウェイ１５を経由して接続されているディジタ
ルインタフェース（ＤＩＦ）１６と、トランク試験装置
７とを接続する。

以後試験用プロセッサ１３はトランク試験装置７に対し
、それぞれ内蔵する通信部（ＣＭ）１７および１８によ
り、ディジタルハイウェイ１５、ディジタルインタフェ
ース１Ｇおよび通話路網６を経由して、所要の手順に基
づき試験制御情報を伝達し、トランク試験装置７を制御
して中ｍ線２の各種性能の試験を順次実行させる。また
トランク試験装置７も試験用プロセッサ１３に対し、前
述の経路を経由して、試験結果を伝達する。以下同様の
過程を各中継線２に対して繰返すことにより、当該ディ
ジタル交換機１に収容されている総ての中継線２の正常
性が自動的に試験される。

各加入者線３の正常性を試験する場合にも、試験用プロ
セッサ１３は呼処理用プロセソサエ４に試験接続指令を
伝達して該当加入者回路５と加入者線試験装置８、並び
に加入者線試験装置８と試験用プロセッサ１３とを接続
させた後、加入者線試験装置８に対し、それぞれ内蔵す
る通信部１７および１９により、ディジタルハイウェイ
］５、ディジタルインタフェース１６および通話路網６
を経由して試験制御情報を伝達し、加入者線試験装置８
を制御して加入者線３の各種性能の試験を順次実行させ
る。また加入者線試験装置８も試験用プロセンサ１３に
対し、前述の経路を経由して、試験結果を伝達する。以
下同様の過程を各加入者線２に対して繰返すことにより
、当該ディジタル交換機１に収容されている総ての加入
者線３の正常性が自動的に試験される。

以上の説明から明らかな如く、本実施例によれば、呼処
理用プロセッサ１４は試験対象中′ｍ線２または加入者
線３と、トランク試験装置７または加入者線試験装置８
との接続、並びにトランク試験装置７または加入者線試
験装置８と試験用プロセッサＩ３との接続を行うのみで
、以後トランク試験装置７および加入者線試験装置８の
試験動作は総て試験用プロセッサ１３が制御する。従っ
て試験制御の為の負荷が、呼処理用プロセッサ１４の呼
処理能力を圧迫する恐れは僅少である。

なお、第３図はあく迄本発明の一実施例に過ぎず、例え
ばトランク試験装置７または加入者線試験装置８と試験
用プロセッサ１３との接続経路は図示されるものに限定
されることは無く、他に幾多の変形が考慮されるが、何
れの場合にも本発明の効果は変わらない。

〔発明の効果〕

以上、本発明によれば、前記ディジタル交換機において
、試験装置の試験動作は、呼処理用プロセッサと別個に
設けられる試験用プロセッサにより制御される為、呼処
理用プロセッサに試験動作を制御する負荷が加わらず、
ディジタル交換機の呼処理能力が圧迫される恐れが無く
なる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理を示す図、第２図は本発明の一実
施例による試験制御方式を示す図、第３図は従来ある試
験制御方式の一例を示す図である。 図において、■はディジタル交換機、２は中継線、３は
加入者線、４はトランク（ＴＲＫ）、５は加入者回路（
ＳＬＣ）、６は通話路網（ＮＷ）、７はトランク試験装
置（ＴＴ）　、８は加入者線試験装置（ＳＴ）　、９は
プロセッサ（ＰＲ）、１０は試験制御部（ＴＣ）、１１
および１２は試験用スイッチ、１３は試験用プロセッサ
（ＴＰＲ）、１４は呼処理用プロセッサ（ＣＰＲ）　、
１５はディジタルハイウェイ、１６はディジタルインタ
フェース（ＤＩＦ）、１７乃至１９は通信部（ＣＭ）、
を示ず。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 トランク試験装置（７）および加入者線試験装置（８）
   を具備するディジタル交換機において、前記各試験装置
   （７、８）の試験動作を制御する試験用プロセッサ（１
   ３）を呼処理用プロセッサ（１４）と別個に設け、 前記各試験装置（７、８）と前記試験用プロセッサ（１
   ３）とを通話路網（６）を介して接続することを特徴と
   する試験制御方式。