JPS6234439Y2 - - Google Patents
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- JPS6234439Y2 JPS6234439Y2 JP2867882U JP2867882U JPS6234439Y2 JP S6234439 Y2 JPS6234439 Y2 JP S6234439Y2 JP 2867882 U JP2867882 U JP 2867882U JP 2867882 U JP2867882 U JP 2867882U JP S6234439 Y2 JPS6234439 Y2 JP S6234439Y2
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- JP
- Japan
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- semiconductor wafer
- wafer support
- side frame
- quartz glass
- support device
- Prior art date
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- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 42
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 42
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 41
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 36
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 claims description 4
- 238000003466 welding Methods 0.000 claims description 4
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 2
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 2
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 29
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 8
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、多数の半導体ウエハを高温炉内に入
れて拡散処理を行なうときに、その半導体ウエハ
を支えるために用いられる半導体ウエハの支持装
置に関するものである。
れて拡散処理を行なうときに、その半導体ウエハ
を支えるために用いられる半導体ウエハの支持装
置に関するものである。
一般に、集積回路(IC)を作るには、多数の
半導体基板(例えば直径が約76mmで、厚さが0.4
mmの円板状のシリコンウエハ)を、高温の炉の中
に入れて拡散処理をする。
半導体基板(例えば直径が約76mmで、厚さが0.4
mmの円板状のシリコンウエハ)を、高温の炉の中
に入れて拡散処理をする。
このような場合、前記シリコンウエハは、所定
の支持装置(いわゆるボート)に一定間隔でたて
かけて高温炉中へ入れられるが、従来のこの種支
持装置には、第1図に示すような、シリコンから
なるボート1を使用するか、第2図および第3図
に示すような石英ガラス棒からなるボート2を使
用していた。
の支持装置(いわゆるボート)に一定間隔でたて
かけて高温炉中へ入れられるが、従来のこの種支
持装置には、第1図に示すような、シリコンから
なるボート1を使用するか、第2図および第3図
に示すような石英ガラス棒からなるボート2を使
用していた。
前記第1図に示すようなボート1は、純度の高
いシリコンを半円筒状に形成し、内側面には、5
mm程度の間隔で溝3を多数形成し、この溝3内
に、シリコンウエハ4を1枚ずつ立てかけてい
た。このようなボート1は純度の高いシリコンを
多量に使用するため、極めて高価であるだけでな
く、半円筒状のため容積が大きく、高温の炉内温
度を低下させ所定の温度に上昇するまで長時間を
要し、正確な温度制御を要する拡散処理に支障を
きたすとともに、不良品発生の原因にもなつてい
た。また、第2図および第3図に示すようなボー
ト2は、3本の石英ガラス棒5,6,7を平行に
並べて両端の支持体8,9に溶接するとともに、
途中に補強体10を溶接してなるもので、前記石
英ガラス棒5,6,7上に一定間隔で形成した溝
11,12,13内にシリコンウエハ4を1枚ず
つ立てかけていた。このようなボート2は、容積
が小さいので、炉内温度にはほとんど影響を与え
ないが、組立て溶接時とか炉内が高温のため何回
かの使用で、石英ガラス棒5,6,7がだれて曲
つてしまい、自動機械によるシリコンウエハ4の
挿入が不可能になつたり、挿入したとしても、相
隣るシリコンウエハ4同士の間隔が乱れたり、場
合によつては接触して、拡散処理に支障をきたす
という問題があつた。
いシリコンを半円筒状に形成し、内側面には、5
mm程度の間隔で溝3を多数形成し、この溝3内
に、シリコンウエハ4を1枚ずつ立てかけてい
た。このようなボート1は純度の高いシリコンを
多量に使用するため、極めて高価であるだけでな
く、半円筒状のため容積が大きく、高温の炉内温
度を低下させ所定の温度に上昇するまで長時間を
要し、正確な温度制御を要する拡散処理に支障を
きたすとともに、不良品発生の原因にもなつてい
た。また、第2図および第3図に示すようなボー
ト2は、3本の石英ガラス棒5,6,7を平行に
並べて両端の支持体8,9に溶接するとともに、
途中に補強体10を溶接してなるもので、前記石
英ガラス棒5,6,7上に一定間隔で形成した溝
11,12,13内にシリコンウエハ4を1枚ず
つ立てかけていた。このようなボート2は、容積
が小さいので、炉内温度にはほとんど影響を与え
ないが、組立て溶接時とか炉内が高温のため何回
かの使用で、石英ガラス棒5,6,7がだれて曲
つてしまい、自動機械によるシリコンウエハ4の
挿入が不可能になつたり、挿入したとしても、相
隣るシリコンウエハ4同士の間隔が乱れたり、場
合によつては接触して、拡散処理に支障をきたす
という問題があつた。
本考案は上述のような欠点を改良するためにな
されたもので、半導体ウエハを立てかける棒を可
能な限り細いシリコン棒で形成し、このシリコン
棒を両端において支える側枠を石英ガラス板で形
成したものである。したがつて、ボートの容積を
可及的に小さくできるとともに、半導体ウエハを
立てかける棒も曲がることがなく、また棒のみシ
リコンで形成したので、シリコンの使用量も少な
くて済むものである。
されたもので、半導体ウエハを立てかける棒を可
能な限り細いシリコン棒で形成し、このシリコン
棒を両端において支える側枠を石英ガラス板で形
成したものである。したがつて、ボートの容積を
可及的に小さくできるとともに、半導体ウエハを
立てかける棒も曲がることがなく、また棒のみシ
リコンで形成したので、シリコンの使用量も少な
くて済むものである。
第4図、第5図および第6図において、20,
21,22は、1辺が10〜15mm、長さが400〜450
mmの角柱状の純粋なシリコンの棒で、これらのシ
リコン棒20,21,22の上面には一定巾の突
条23が一体に形成され、かつ両端の段部24,
24から突出して円柱状、だ円柱状等の〓25が
一体に形成され、この〓25の途中には略平行な
2条の溝よりなる固定用係止凹部26が形成され
ている。これらのシリコン棒20,21,22の
〓25は、石英ガラス板からなる両側枠27,2
8の取付孔29,30,31に挿入され、第7図
に示すように、両端において側枠27,28に溶
着された石英ガラス片からなる板状の係止部32
を、前記係止凹部26に嵌め込み、シリコン棒2
0,21,22を所定の角度で両側枠27,28
に固定している。
21,22は、1辺が10〜15mm、長さが400〜450
mmの角柱状の純粋なシリコンの棒で、これらのシ
リコン棒20,21,22の上面には一定巾の突
条23が一体に形成され、かつ両端の段部24,
24から突出して円柱状、だ円柱状等の〓25が
一体に形成され、この〓25の途中には略平行な
2条の溝よりなる固定用係止凹部26が形成され
ている。これらのシリコン棒20,21,22の
〓25は、石英ガラス板からなる両側枠27,2
8の取付孔29,30,31に挿入され、第7図
に示すように、両端において側枠27,28に溶
着された石英ガラス片からなる板状の係止部32
を、前記係止凹部26に嵌め込み、シリコン棒2
0,21,22を所定の角度で両側枠27,28
に固定している。
前記シリコン棒20,21,22の上面の突条
23には、純粋なシリコンの角棒からなる半導体
ウエハ支持体33が下面の嵌込み棒34によつて
着脱自在に取付けられる。この半導体ウエハ支持
体33の長さは、前記シリコン棒20,21,2
2の長さの正確に数分の1、例えば1/3で、それ
ぞれのシリコン棒20,21,22に、3本ずつ
の前記半導体ウエハ支持体33を嵌め込む。この
半導体ウエハ支持体33の上面には、例えば巾
0.5mm、深さ3mmで、途中まで約70度のテーパー
部を有する溝35が、約5mmの等間隔で多数形成
されている。
23には、純粋なシリコンの角棒からなる半導体
ウエハ支持体33が下面の嵌込み棒34によつて
着脱自在に取付けられる。この半導体ウエハ支持
体33の長さは、前記シリコン棒20,21,2
2の長さの正確に数分の1、例えば1/3で、それ
ぞれのシリコン棒20,21,22に、3本ずつ
の前記半導体ウエハ支持体33を嵌め込む。この
半導体ウエハ支持体33の上面には、例えば巾
0.5mm、深さ3mmで、途中まで約70度のテーパー
部を有する溝35が、約5mmの等間隔で多数形成
されている。
このようにして構成されたボート36の溝35
毎にシリコンウエハ37を立てて嵌め込み、高温
炉へ入れて拡散処理をする。
毎にシリコンウエハ37を立てて嵌め込み、高温
炉へ入れて拡散処理をする。
前記実施例では、石英ガラス板よりなる係止部
32を係止凹部26に嵌合し、この係止部32を
側枠27,28に溶着することによりシリコン棒
20,21,22を固定したが、これ以外に、第
8図に示すように、別体の石英ガラスの溶接棒を
溶融しつつ係止凹部26に充填するとともに側枠
27,28に溶着してなる係止部32でシリコン
棒20,21,22を固定するようにしてもよ
い。また、他の例として第9図に示すように、側
枠27,28の係止凹部26と隣接する個所を直
接溶融して係止凹部26に嵌め込んでなる係止部
32でシリコン棒20,21,22を固定するよ
うにしてもよい。さらに、他の例として第10図
に示すように、係止凹部26を〓25に直角な貫
通孔となし、石英ガラスからなるくさび状の係止
部32を挿入し、このくさび状の係止部32を側
枠27,28に溶着するようにしてもよい。
32を係止凹部26に嵌合し、この係止部32を
側枠27,28に溶着することによりシリコン棒
20,21,22を固定したが、これ以外に、第
8図に示すように、別体の石英ガラスの溶接棒を
溶融しつつ係止凹部26に充填するとともに側枠
27,28に溶着してなる係止部32でシリコン
棒20,21,22を固定するようにしてもよ
い。また、他の例として第9図に示すように、側
枠27,28の係止凹部26と隣接する個所を直
接溶融して係止凹部26に嵌め込んでなる係止部
32でシリコン棒20,21,22を固定するよ
うにしてもよい。さらに、他の例として第10図
に示すように、係止凹部26を〓25に直角な貫
通孔となし、石英ガラスからなるくさび状の係止
部32を挿入し、このくさび状の係止部32を側
枠27,28に溶着するようにしてもよい。
さらに、前記シリコン棒20,21,22と半
導体ウエハ支持体33は、使用中の欠け防止のた
め、第11図に示すように、角隅部の面取りを行
なうことが望ましい。
導体ウエハ支持体33は、使用中の欠け防止のた
め、第11図に示すように、角隅部の面取りを行
なうことが望ましい。
前記実施例において、側枠27,28の3個の
取付け孔29,30,31の位置を異ならせて多
数穿設し、シリコンウエハ37の直径に応じてシ
リコン棒20,21,22の取付け位置を変更で
きるようにしてもよい。
取付け孔29,30,31の位置を異ならせて多
数穿設し、シリコンウエハ37の直径に応じてシ
リコン棒20,21,22の取付け位置を変更で
きるようにしてもよい。
前記実施例では、3本のシリコン棒20,2
1,22を使用したが、シリコンウエハ37の直
径が小さければ2本でもよく、また逆に大きけれ
ば4本以上としてもよい。
1,22を使用したが、シリコンウエハ37の直
径が小さければ2本でもよく、また逆に大きけれ
ば4本以上としてもよい。
前記実施例では、シリコン棒20,21,22
と半導体支持体33を別体にして着脱できるよう
にしたが、これらを一体に形成してもよい。
と半導体支持体33を別体にして着脱できるよう
にしたが、これらを一体に形成してもよい。
本考案は上述のように構成したので、ボートの
容積が最小限になり、したがつて、炉内での温度
低下を防止し、拡散処理の温度を正確に制御でき
る。また、半導体ウエハを立てかける棒にシリコ
ンを使用したので、高温の炉内で曲がつたり、変
形したりすることもなく、自動的な半導体ウエハ
の挿入を能率よく行なうことができ、シリコン棒
以外の側枠には石英ガラスを使用したので、安価
であるとともに溶着による固着が容易かつ確実で
構造も簡単にすることができる。
容積が最小限になり、したがつて、炉内での温度
低下を防止し、拡散処理の温度を正確に制御でき
る。また、半導体ウエハを立てかける棒にシリコ
ンを使用したので、高温の炉内で曲がつたり、変
形したりすることもなく、自動的な半導体ウエハ
の挿入を能率よく行なうことができ、シリコン棒
以外の側枠には石英ガラスを使用したので、安価
であるとともに溶着による固着が容易かつ確実で
構造も簡単にすることができる。
さらに半導体ウエハ支持体を分割してシリコン
棒に着脱できるようにすることによつて、仮に、
シリコン支持体に欠けや変形が生じたとしても、
部分的に変換でき、したがつて、従来のように、
全部を取り換える必要がないとともに、半導体ウ
エハ支持体を複数本並べて溝加工すれば、半導体
ウエハを支持するための溝位置を正確に設定でき
る。
棒に着脱できるようにすることによつて、仮に、
シリコン支持体に欠けや変形が生じたとしても、
部分的に変換でき、したがつて、従来のように、
全部を取り換える必要がないとともに、半導体ウ
エハ支持体を複数本並べて溝加工すれば、半導体
ウエハを支持するための溝位置を正確に設定でき
る。
第1図は従来の拡散ボートの斜視図、第2図は
従来の他の拡散ボートの平面図、第3図は第2図
のA−A線断面図、第4図は本考案による半導体
ウエハの支持装置の一実施例を示す平面図、第5
図は、同上分解斜視図、第6図はB−B線断面
図、第7図はシリコン棒と側枠の結合状態を示す
側面図、第8図、第9図及び第10図はそれぞれ
他の結合例を示す断面図、第11図はシリコン棒
と半導体ウエハ支持体の結合時の側面図である。 20,21,22……シリコン棒、23……突
条、25……〓、26……係止凹部、27,28
……側枠、29,30,31……取付け孔、32
……係止部、33……半導体ウエハ支持体、34
……嵌込み溝、35……半導体ウエハを立てかけ
る溝。
従来の他の拡散ボートの平面図、第3図は第2図
のA−A線断面図、第4図は本考案による半導体
ウエハの支持装置の一実施例を示す平面図、第5
図は、同上分解斜視図、第6図はB−B線断面
図、第7図はシリコン棒と側枠の結合状態を示す
側面図、第8図、第9図及び第10図はそれぞれ
他の結合例を示す断面図、第11図はシリコン棒
と半導体ウエハ支持体の結合時の側面図である。 20,21,22……シリコン棒、23……突
条、25……〓、26……係止凹部、27,28
……側枠、29,30,31……取付け孔、32
……係止部、33……半導体ウエハ支持体、34
……嵌込み溝、35……半導体ウエハを立てかけ
る溝。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) シリコン棒の両端に〓を形成し、この〓に形
成した係止凹部の少なくとも一部が、石英ガラ
ス板からなる側枠より突出するように、前記〓
を側枠に穿設した取付孔に挿入し、前記係止凹
部に側枠と一体に固着して設けられた石英ガラ
スからなる係止部を係合させて、少なくとも前
記2本のシリコン棒を互いに略水平な間隔をも
つて前記両側枠に固定し、前記シリコン棒の上
面にシリコンからなる半導体ウエハ支持体を設
け、この半導体ウエハ支持体に半導体ウエハを
立てかける溝を等間隔で多数形成してなること
を特徴とする半導体ウエハの支持装置。 (2) 係止凹部は溝状に形成し、係止部は前記溝に
嵌合するような石英ガラス片からなり、この石
英ガラス片を側枠に溶着してなる実用新案登録
請求の範囲第1項記載の半導体ウエハの支持装
置。 (3) 係止部は、石英ガラスを係止凹部に充填しつ
つ側枠に溶着してなる実用新案登録請求の範囲
第1項記載の半導体ウエハの支持装置。 (4) 係止部は、石英ガラスからなる側枠の一部を
溶融して係止凹部に詰め込んでなる実用新案登
録請求の範囲第1項記載の半導体ウエハの支持
装置。 (5) 係止凹部は〓の長さ方向に対し直角な貫通孔
とし、この貫通孔に石英ガラスからなるくさび
状の係止部を挿入し、この係止部の端部を側枠
に溶着してなる実用新案登録請求の範囲第1項
記載の半導体ウエハの支持装置。 (6) シリコン棒と半導体ウエハ支持体を一体に形
成してなる実用新案登録請求の範囲第1項、第
2項、第3項、第4項又は第5項記載の半導体
ウエハの支持装置。 (7) シリコン棒と半導体ウエハ支持体は、別体に
形成し、かつそれぞれに設けた突条とそれに嵌
合する嵌込み溝とで着脱自在に結合するように
した実用新案登録請求の範囲第1項、第2項、
第3項、第4項又は第5項記載の半導体ウエハ
の支持装置。 (8) 半導体ウエハ支持体は、長さ方向に複数本に
分割してシリコン棒に取付けるようにした実用
新案登録請求の範囲第7項記載の半導体ウエハ
の支持装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2867882U JPS58131630U (ja) | 1982-03-01 | 1982-03-01 | 半導体ウエハの支持装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2867882U JPS58131630U (ja) | 1982-03-01 | 1982-03-01 | 半導体ウエハの支持装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58131630U JPS58131630U (ja) | 1983-09-05 |
JPS6234439Y2 true JPS6234439Y2 (ja) | 1987-09-02 |
Family
ID=30040514
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2867882U Granted JPS58131630U (ja) | 1982-03-01 | 1982-03-01 | 半導体ウエハの支持装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58131630U (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11521876B2 (en) * | 2018-03-07 | 2022-12-06 | Tokyo Electron Limited | Horizontal substrate boat |
-
1982
- 1982-03-01 JP JP2867882U patent/JPS58131630U/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS58131630U (ja) | 1983-09-05 |
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