JPS6232373A

JPS6232373A - 試験方法

Info

Publication number: JPS6232373A
Application number: JP60172033A
Authority: JP
Inventors: Kazunori Asada; 浅田　和徳; Katsuyoshi Teru; 輝　勝義
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1985-08-05
Filing date: 1985-08-05
Publication date: 1987-02-12
Also published as: JPH0543067B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔概要〕半導体部品などを搭載したプリント基板などのような配
線基板に試験機をコネクタ接続し、電気的な試験を行な
う際に、配線基板と試験機間を接続するコネクタアダプ
タに、１または複数のコネクタブロックを設け、該コネ
クタブロックを介して、配線基板内部と試験機間を接続
可能とすることで、コネクタアダプタを追加することな
しに、配線基板内部を試験機に接続可能とする。

〔産業上の利用分野〕

半導体部品などが搭載されたプリント基板などのような
配線基板を試験機に接続して電気的な試験を行なう際に
、相互の接続はコネクタを介して行なわれる。本発明は
、このようにコネクタで被試験配線基板を試験機に接続
する際の接続手段の効率化に関する。

（配線基板の試験装置の概要）本発明の出願人は、プリント基板の試験装置として特願
昭５９−３７８６５号により、第７図、第８図のような
装置を提案した。第７図は試験装置の全容を示す斜視図
、第８図はこの試験装置におけるプリント基板のセット
作業を工程順に示す正面図である。

第７図に示すように、ベースアダプタ５の平板状ベース
プレート５ａには、プリント基板７搭載領域ｌの左右両
側にはスライダ２．２ａが搭載されている。ベースプレ
ート５ａの領域１には、４隅に位置決めビン６．６・・
・が植設されており、この位置決めビン６．６・・・に
プリント基板７の位置決め孔３・・・を位置決めし嵌入
さセることで、プリンｌ−ａ［７が所定位置にセットさ
れる。左右のコネクタアダプタ９．９ａは、プリント基
板７の左右のコネクタ８．８ａに結合されるものであり
、かつスライダ２．２ａの貫通窓４．４ａを通して、試
験機１２の試験端子群１３．１３ａに結合される。なお
図示例では、プリント基板７は左右それぞれの辺に４組
のコネクタ８・・・、８ａ・・・を装備しており、した
がってコネクタアダプタ９．９ａも左右に４組ずつ装備
されている。同様に、ベースアダプタ５も、左右に４組
ずつスライダ２・・・、２ａ・・・を装備しており、試
験機１２も左右に４Ｍｉずつ試験端子群１３・・・、１
３ａ・・・を装備している。

次に第８図の工程図にしたがって、プリント基板７の試
験機１２へのセント動作を説明する。

まず（イ）のように、４隅に位置決めビン６・・・を有
するベースアダプタ５がセットされる。そして（ロ）の
ようにプリント基板７が位１決めビン６・・・上にセッ
トされ、位置決め孔３・・・に位置決めビン６・・・が
嵌入することで、プリンｌ−Ｍ板７が移動不能に取付け
られる。このプリントｉ板７には、図上左右両端に装備
した配線用のコネクタ８．８ａから、所要の電源電圧や
各種信号の授受が行なわれる。

次に（ハ）のように前記プリント・基板７の左右両側近
傍で、かつコネクタ８．８ａに対向して、ベースプレー
１・５ａ上にコネクタアダプタ９．９ａが配設される。

このコネクタアダプタ９．９ａはそれぞれ試験機１２と
プリント基板７との双方に接続可能なコネクタ１０．１
１および１０ａ　、ｌｌａを有しており、かつコネクタ
アダプタ９．９ａ自身が、ベースアダプタ５に対し矢印
Ｂ　％　Ｂ　ａ方向に摺動可能になっている。

こうしてプリント基板７とコネクタアダプタ９．９ａが
搭載されたベースアダプタ５は、（ニ）のように試験機
１２の試験端子群１３．１３ａの上方に移動され、続い
て（ホ）図のようにコネクタアダプタ９．９ａがそれぞ
れ矢印８％Ｂａ方向に摺動されてコネクタ１０とコネク
タ８が、またコネクタ１０ａとコネクタ８ａが結合され
る。そしてこれらプリント基板７とコネクタアダプタ９
．９ａとが接続された状態のベースアダプタ５は、（へ
）のように矢印Ｃ方向に移動されて、コネクタアダプタ
９．９ａのコネクタ１１、ｌｌａがそれぞれ試験装置１
２の試験端子群１３．１３ａに結合される。

以上のようにプリント基板７と試験機１２との電気的接
続は、ケーブルを使用することなく、コネクタアダプタ
９．９ａを介して行なわれるので、前記各工程はロボッ
トやハンドラーによる自動化が可能となる。またケーブ
ルを使用しないので、ノイズが入りにくり、試験の信頼
性が向上する。

コネクタアダプタ９．９ａが搭載されるベースアダプタ
５を予め複数個用意してお（ことにより、プリント基板
７やコネクタアダプタ９．９ａの取付け、取外しを、試
験工程と並行して行なうことができる。

〔従来の技術〕

第９図はコネクタアダプタ９と試験機１２、被試験配線
基板７との接続関係を示す図である。コネクタアダプタ
９は、その下側のコネクタ１１が、試験機１２の試験端
子群１３と結合し、コネクタｌＯが被試験配線基板７の
コネクタ８と結合する。そしてコネクタアダプタ９の内
部で、試験機側コネクタ１１と被試験配線基板７例のコ
ネクタ１０間が、導線１４で接続されている。他方のコ
ネクタアダプタ９ａも同様な構成になっている。

このようにコネクタアダプタ９．９ａを介して被試験配
線基板７のコネクタ８．８ａが試験機１２に接続される
。ところが被試験配線基板７には、ＬＳＩなどの部品１
５がソケット１６を介して搭載されていることもある。

このような被試験配線基板７では、搭載部品１５をソケ
ット１６から取外し、代わりに接続アダプタをソケッ１
へ１６に結合することで、試験機１２との接続が行なわ
れる。

第１０図はこのように被試験配線基板７の内部のソケー
Ｉト１６を試験機１２に接続するための接続構造を示す
分解斜視図である。被試験配線基板７のコネクタ８・・
・とじて、８１〜８４までの４組装備されているものと
すると、コネクタアダプタ９も９１・・・９４の４組装
備されるが、基板内部接続のために、特別にコネクタア
ダプタ９５を追加し、このコネクタアダプタ９５に接続
されたケーブル１７の先端の接続アダプタ１８をソケソ
目６に結合している。コネクタアダプタが１個増えると
、それに対応してスライダ２５、試験端子群１３５を追
加する必要がある。

このようにコネクタアダプタを追加すると、それに伴っ
てスライダ２５や試験端子１３５を追加しなければなら
ず、またコネクタアダプタ９５を駆動するためのアクチ
ュエータも追加する必要があり、コトス高となり、装置
が大形化する。

本発明の技術的課題は、従来の試験装置におけるこのよ
うな問題を解消し、コネクタアダプタなどを特別に追加
することなしに、被試験配′４ＩＡ基板内部と試験機間
を接続可能とすることにある。

〔問題点を解決するための手段〕

第１図は本発明による試験方法の基本原理を説明する部
分断面側面図である。７は被試験配線基板であり、装置
に実装して使用する際に、他との間の電気的接続用のコ
ネクタ８を有している。このコネクタ８を、」ネクタア
ダプタ９を介して試験機１２の試験端子群１３に接続す
ることで、被試験配線基板７を試験ｍ１２に電気的に接
続し、試験を行なう。コネクタアダプタ９は、被試験配
線基板７へのコネクタ接続のためのコネクタ１０および
試験機１２へのコネクタ接続のためのコネクタ１１のほ
かに、基板内部接続のために１または複数のコネクタブ
ロック１９１を有している。このｌまたは複数のコネク
タブロック１９１を、試験機１２との接続用のコネクタ
１１と接続すると共に、試験機１２との接続用のコネク
タ１１と接続された基板内部接続用コネクタ１９１に、
ケーブル１７をコネクタ２０で結合し、該ケーブル１７
の他端の接続アダプタ１８を、被試験配線基板７の内部
のソケット１６などに接続する。

〔作用〕

試験端子群１３は、必要と考えられる最大数の端子を有
しているが、通常は被試験配線基板７と接続されるコネ
クタ１０の容量は、この試験端子群１３の端子数より少
ない。したがって試験端子群１３と結合されるコネクタ
１１も、その一部しかコネクタ１０と接続されておらず
、残りは使用されていない。

本発明では、この従来使用されていなかった残りの部分
を、１または複数のコネクタブロック１９１と接続し、
該コネクタブロック１９１をケーブル１７で基板内部接
続用の接続アダプタ１８に接続し、基板内部のソケット
１６などに接続する構成になっている。

そのためそれぞれのコネクタアダプタ９を介して、被試
験配線基板７のコネクタ８が試験機１２の試験端子群１
３に接続されることは従来と同じであるが、本発明では
、それぞれのコネクタアダプタ９において、試験端子接
続側コネクタ１１の内、被試験配線基板７とのコネクタ
接続に使用されていない部分を、基板内部接続用のコネ
クタブロック１９１を介し、て、基板内部と接続する。

したがってコネクタアダプタを、基板内部接続のために
特別に増設する必要はない。

〔実施例〕

次に本発明による試験方法が実際」−どのように具体化
されるかを実施例で説明する。第２図は本発明による試
験方法の実施例を示す図で、（イ）は部分断面側面図、
（ロ）は斜視図である。実施例の装置では、試験端子群
１３は１００端子構成になっているが、コネクタアダプ
タ９のコネクタ１０は、５０ビン構成になっている。し
たがって試験端子群１３としては、５０端子が不使用状
態のため、実施例ではこの５０端子の内の２５端子をコ
ネクタブロック１９１に接続し、このコネクタブロック
１９１にケーブル１７のコネクタ２０を結合している。

そしてケーブル１７の他端の接続アダプタ１８を、ＬＳ
Ｉなどのソケット１６に結合する。被試験配線基板７は
、コネクタ８をコネクタアダプタ９のコネクタ１０に結
合することで、導線１４、コネクタ１１を介して試験機
１２に接続される。このように、従来使用されずに余っ
ていた試験端子を利用して、基板内部に実装されている
部品などのソケット１６を試験機１２に接続し、試験を
行なうことができる。

第３図〜第６図はコネクタアダプタ９の各種実施例を示
す図である。第３図〜第５図において、（イ）は平面図
、（ロ）は部分断面側面図である。

第３図は１００ピンのコネクタ１１のうち、５０ビンは
コネクタ１０に導線１４で接続され、残りの５０ピンは
、コネクタブロック１９１．１９２に接続されている。

つまり導線２１によって、２５ピンずつ２つのコネクタ
ブロック１９１．１９２に接続されている。そして第６
図のコネクタアダプタ９１のように、両コネクタブロッ
ク１９１　、１９２はケーブル１７で接続アダプタ１８
に接続される。なお２つのコネクタブロック１９１．１
９２は別々の接続アダプタに接続して、個々のソケット
に接続することもできる。第４図は、コネクタブロック
を１９１〜１９４まで４組設け、コネクタ１１の全ビン
をコネクタブロックのみに接続した例である。第１０図
の２番目のコネクタアダプタ９２のように、被試験配線
基板７との接続を要しない部分もある。このように被試
験配線基板７との接続を全く要しないコネクタアダプタ
においては、第４図のようにコネクタ１１の全ビンを導
線２１でコネクタブロック１９１〜１９４に接続し、全
コネクタブロック１９１〜１９４を利用して、被試験配
線基板７の内部と接続することもできる。

第５図はコネクタ１１の全ビンまたは一部のビンをコネ
クタ１０に導線１４で接続すると共に、コネクタブロッ
ク１９１．１９２もコネクタ１０に導線２２で接続した
例である。この場合コネクタブロック１９１．１９２は
、ケーブルを介して、他のコネクタアダプタのコネクタ
ブロックに接続したり、被試験配線基板７の内部と接続
することもできる。

第６図に示すように、２つ以上のコネクタアダプタ９３
．９４・・・のコネクタブロック１９１　、１９１に接
続されたケーブル１７を、１つの接続アダプタ１８に接
続することにより、各コネクタアダプタ９１．９２・・
・の空いたコネクタブロック１９１・・・を寄せ集めて
１または２以上の接続アダプタ１８と接続することもで
きる。

なお被試験配線基板７の片側のコネクタアダプタ９のみ
について説明したが、他方のコネクタアダプタ９ａ側に
ついても以上のような本発明の思想を適用できることは
言うまでもない。

〔発明の効果〕

以上のように本発明によれば、被試験配線基板７との接
続用のコネクタ１０を有するコネクタアダプタ９におい
て、１または複数のコネクタブロック１９１・・・を設
け、該コネクタブロック１９１・・・を試験機１２の試
験端子群１３に接続し、コネクタブロック１９１・・・
をケーブルで基板内部と接続する方法を採っている。そ
のため、コネクタアダプタ９．９ａや試験端子群１３中
の余った領域を利用することで、基板内部と試験機１２
間を接続することができ、従来のように特別にコネクタ
アダプタを増設したりする必要がなく、コストダウンと
小形化が可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による試験方法の基本原理を説明する部
分断面側面図、第２図〜第６図は本発明による試験方法
の実施例を示す図で、第２図は要部の部分断面側面図と
斜視図、第３図〜第５図はコネクタブロックの各種実施
例を示す図、第６図は基板内部接続用の接続アダプタと
各コネクタアダプタ間の関係を示す図である。第７図は先に提案した試験装置の斜視図、第８図は同試
験装置のコネクタ接続動作を工程順に示す正面図、第９
図は試験機と被試験配線基板との間のコネクタアダプタ
による接続構造を示す部分断面側面図、第１０図は従来
の基板内部−と試験機間の接続構造を示す分解斜視図で
ある。図において、７は被試験配線基板、８はコネク夕、９．
９ａはコネクタアブブタ、１０．１１・・・はコネクタ
、１２は試験機、１３は試験端子群、１４．２１は導線
、１６はソケット、１８は接続アダプタ、１９１〜１９
４はコネクタブロック、２０はコネクタをそれぞれ示す
。特許出願人　　　　　富士通株式会社代理人　弁理士　　　青　柳　　　稔第３図　　　　　　第４図コネクタブサックネタコネクダフ゛゛ロヅク寅力匠例第５図

Claims

【特許請求の範囲】被試験配線基板（７）のコネクタ（８）を、コネクタア
ダプタ（９）のコネクタ１０と接合し、該コネクタ１０
をコネクタアダプタ（９）のコネクタ１１を介して試験
機（１２）の試験端子群（１３）に接続することにより
、被試験配線基板（７）と試験機（１２）間にコネクタ
アダプタ（９）を介在させる試験方法において、コネクタアダプタ（９）に１または複数のコネクタブロ
ック（１９１・・・）を設け、該コネクタブロック（１
９１・・・）を、試験端子群１３と結合されるコネクタ
１１と接続し、該コネクタブロック（１９１・・・）を、ケーブル（１
７）を介して被試験配線基板（７）の内部と接続するこ
とを特徴とする試験方法。