JPH0543067B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 半導体部品などを搭載したプリント基板などの
ような配線基板に試験機をコネクタ接続し、電気
的な試験を行なう際に、配線基板と試験機間を接
続するコネクタアダプタに、１または複数のコネ
クタブロツクを設け、該コネクタブロツクを介し
て、配線基板内部と試験機間を接続可能とするこ
とで、コネクタアダプタを追加することなしに、
配線基板内部を試験機に接続可能とする。

〔産業上の利用分野〕

半導体部品など搭載されたプリント基板などの
ような配線基板を試験機に接続して電気的な試験
を行なう際に、相互の接続はコネクタを介して行
なわれる。本発明は、このようにコネクタで被試
験配線基板を試験機に接続する際の接続手段の効
率化に関する。

〔配線基板の試験装置の概要〕

本発明の出願人は、プリント基板の試験装置と
して特願昭59−37865号により、第７図、第８図
のような装置を提案した。第７図は試験装置の全
容を示す斜視図、第８図はこの試験装置における
プリント基板のセツト作業を工程順に示す正面図
である。

第７図に示すように、ベースアダプタ５の平板
状ベースプレート５ａには、プリント基板７搭載
領域１の左右両側にはスライダ２，２ａが搭載さ
れている。ベースプレート５ａの領域１には、４
隅に位置決めピン６，６…が植設されており、こ
の位置決めピン６，６…にプリント基板７の位置
決め孔３…を位置決めし嵌入させることで、プリ
ント基板７が所定位置にセツトされる。左右のコ
ネクタアダプタ９，９ａは、プリント基板７の左
右のコネクタ８，８ａに結合されるものであり、
かつスライダ２，２ａの貫通窓４，４ａを通し
て、試験機１２の試験端子群１３，１３ａに結合
される。なお図示例では、プリント基板７は左右
それぞれの辺に４組のコネクタ８…，８ａ…を装
備しており、したがつてコネクタアダプタ９，９
ａも左右に４組ずつ装備されている。同様に、ベ
ースアダプタ５も、左右に４組ずつスライダ２
…，２ａ…を装備しており、試験機１２も左右に
４組ずつ試験端子群１３…，１３ａ…を装備して
いる。

次に第８図の工程図にしたがつて、プリント基
板７の試験機１２へのセツト動作を説明する。

まずイのように、４隅に位置決めピン６…を有
するベースアダプタ５がセツトされる。そしてロ
のようにプリント基板７が位置決めピン６…上に
セツトされ、位置決め孔３…に位置決めピン６…
が嵌入するかたで、プリント基板７が移動不能に
取付けられる。このプリント基板７には、図上左
右両端に装備した配線用のコネクタ８，８ａか
ら、所要の電源電圧や各種信号の授受が行なわれ
る。

次にハのように前記プリント基板７の左右両側
近傍で、かつコネクタ８，８ａに対向して、ベー
スプレート５ａ上にコネクタアダプタ９，９ａが
配設される。このコネクタアダプタ９，９ａはそ
れぞれ試験機１２とプリント基板７と双方に接続
可能なコネクタ１０，１１および１０ａ，１１ａ
を有しており、かつコネクタアダプタ９，９ａ自
身が、ベースアダプタ５に対し矢印Ｂ，Ba方向
に摺動可能になつている。

こうしてプリント基板７とコネクタアダプタ
９，９ａが搭載されたベースアダプタ５は、ニの
ように試験機１２の試験端子群１３，１３ａの上
方に移動され、続いてホ図のようにコネクタアダ
プタ９，９ａがそれぞれ矢印Ｂ，Ba方向に摺動
されてコネクタ１０とコネクタ８が、またコネク
タ１０ａとコネクタ８ａが結合される。そしてこ
れらプリント基板７とコネクタアダプタ９，９ａ
とが接続された状態のベースアダプタ５は、ヘの
ように矢印Ｃ方向に移動されて、コネクタアダプ
タ９，９ａのコネクタ１１，１１ａがそれぞれ試
験装置１２の試験端子群１３，１３ａに結合され
る。

以上のようにプリント基板７と試験機１２との
電気的接続は、ケーブルを使用することなく、コ
ネクタアダプタ９，９ａを介して行なわれるの
で、前記各工程はロボツトやハンドラーによる自
動化が可能となる。またケーブルを使用しないの
で、ノイズが入りにくく、試験の信頼性が向上す
る。コネクタアダプタ９，９ａが搭載されるベー
スアダプタ５を予め複数個用意しておくことによ
り、プリント基板７やコネクタアダプタ９，９ａ
の取付け、取外しを、試験工程と並行して行なう
ことができる。

〔従来の技術〕

第９図はコネクタアダプタ９と試験機１２、被
試験配線基板７との接続関係を示す図である。コ
ネクタアダプタ９は、その下側のコネクタ１１
が、試験機１２の試験端子群１３と結合し、コネ
クタ１０が被試験配線基板７のコネクタ８と結合
する。そしてコネクタアダプタ９の内部で、試験
機側コネクタ１１と被試験配線基板７側のコネク
タ１０間が、導線１４で接続されている。他方の
コネクタアダプタ９ａも同様な構成になつてい
る。

このようにコネクタアダプタ９，９ａを介して
被試験配線基板７のコネクタ８，８ａが試験機１
２に接続される。ところが被試験配線基板７に
は、LSIなどの部品１５がソケツト１６を介して
搭載されていることもある。このような被試験配
線基板７では、搭載部品１５をソケツト１６から
取外し、代わりに接続アダプタをソケツト１６に
結合することで、試験機１２との接続が行なわれ
る。

第１０図はこのように被試験配線基板７の内部
のソケツト１６を試験機１２に接続するための接
続構造を示す分解斜視図である。被試験配線基板
７のコネクタ８…として、８１〜８４までの４組
装備されているものとすると、コネクタアダプタ
９も９１…９４の４組装備されるが、基板内部接
続のために、特別にコネクタアダプタ９５を追加
し、このコネクタアダプタ９５に接続されたケー
ブル１７の先端の接続アダプタ１８をソケツト１
６に結合している。コネクタアダプタが１個増え
ると、それに対応してスライダ２５、試験端子群
１３５を追加する必要がある。このようにコネク
タアダプタを追加すると、それに伴つてスライダ
２５や試験端子１３５を追加しなければならず、
またコネクタアダプタ９５を駆動するためのアク
チユエータも追加する必要があり、コスト高とな
り、装置が大形化する。

本発明の技術的課題は、従来の試験装置におけ
るこのような問題を解消し、コネクタアダプタな
どを特別に追加することなしに、被試験配線基板
内部と試験機間を接続可能とすることにある。

〔問題点を解決するための手段〕

第１図は本発明による試験方法の基本原理を説
明する部分断面側面図である。７は被試験配線基
板であり、装置に実装して使用する際に、他との
間の電気的接続用のコネクタ８を有している。こ
のコネクタ８を、コネクタアダプタ９を介して試
験機１２の試験端子群１３に接続することで、被
試験配線基板７を試験機１２に電気的に接続し、
試験を行なう。コネクタアダプタ９は、被試験配
線基板７へのコネクタ接続のためのコネクタ１０
および試験機１２へのコネクタ接続のためのコネ
クタ１１のほかに、基板内部接続のために１また
は複数のコネクタブロツク１９１を有している。
この１または複数のコネクタブロツク１９１を、
試験機１２との接続用のコネクタ１１と接続する
と共に、試験機１２との接続用のコネクタ１１と
接続された基板内部接続用コネクタ１９１に、ケ
ーブル１７をコネクタ２０で結合し、該ケーブル
１７の他端と接続アダプタ１８を、被試験配線基
板７の内部のソケツト１６などに接続する。

〔作用〕

試験端子群１３は、必要に考えられる最大数の
端子を有しているが、通常は被試験配線基板７と
接続されるコネクタ１０の容量は、この試験端子
群１３の端子数より少ない。したがつて試験端子
群１３と結合されるコネクタ１１も、その一部し
かコネクタ１０と接続されておらず、残りは使用
されていない。本発明では、この従来使用されて
いなかつた残りの部分を、１または複数のコネク
タブロツク１９１と接続し、該コネクタブロツク
１９１をケーブル１７で基板内部接続用の接続ア
ダプタ１８に接続し、基板内部のソケツト１６な
どに接続する構成になつている。

そのためそれぞれのコネクタアダプタ９を介し
て、被試験配線基板７のコネクタ８が試験機１２
の試験端子群１３に接続されることは従来と同じ
であるが、本発明では、それぞれのコネクタアダ
プタ９において、試験端子接続側コネクタ１１の
内、被試験配線基板７とのコネクタ接続に使用さ
れていない部分を、基板内部接続用のコネクタブ
ロツク１９１を介して、基板内部と接続する。し
たがつてコネクタアダプタを、基板内部接続のた
めに特別に増設する必要はない。

〔実施例〕

次に本発明により試験方法が実際上どのように
具体化されるかを実施例で説明する。第２図は本
発明による試験方法の実施例を示す図で、イは部
分断面側面図、ロは斜視図である。実施例の装置
では、試験端子群１３は100端子構成になつてい
るが、コネクタアダプタ９のコネクタ１０は、50
ピン構成になつている。したがつて試験端子群１
３としては50端子が不使用状態のため、実施例で
はこの50端子の内の25端子をコネクタブロツク１
９１に接続し、このコネクタブロツク１９１にケ
ーブル１７のコネクタ２０を結合している。そし
てケーブル１７の他端の接続アダプタ１８を、
LSIなどのソケツト１６に結合する。被試験配線
基板７は、コネクタ８をコネクタアダプタ９をコ
ネクタ１０に結合することで、導線１４、コネク
タ１１を介して試験機１２に接続される。このよ
うに、従来使用されずに余つていた試験端子を利
用して、基板内部に実装されている部品などのソ
ケツト１６を試験機１２に接続し、試験を行なう
ことができる。

第３図〜第６図はコネクタアダプタ９の各種実
施例を示す図である。第３図〜第５図において、
イは平面図、ロは部分断面側面図である。第３図
は1008ンのコネクタ１１のうち、50ピンはコネク
タ１０に導線１４で接続され、残りの50ピンは、
コネクタブロツク１９１，１９２に接続されてい
る。つまり導線２１によつて、25ピンずつ２つの
コネクタブロツク１９１，１９２に接続されてい
る。そして第６図のコネクタアダプタ９１のよう
に、両コネクタブロツク１９１，１９２はケーブ
ル１７で接続アダプタ１８に接続される。なお２
つのコネクタブロツク１９１，１９２は別々の接
続アダプタに接続して、個々のソケツトに接続す
ることもできる。第４図は、コネクタブロツクを
１９１〜１９４まで４組設け、コネクタ１１の全
ピンをコネクタブロツクのみに接続した例であ
る。第１０図の２番目のコネクタアダプタ９２の
ように、被試験配線基板７との接続を要しない部
分もある。このように被試験配線基板７との接続
を全く要しないコネクタアダプタにおいては、第
４図のようにコネクタ１１の全ピンを導線２１で
コネクタブロツク１９１〜１９４に接続し、全コ
ネクタブロツク１９１〜１９４を利用して、被試
験配線基板７の内部と接続することもできる。

第５図はコネクタ１１の全ピンまたは一部のピ
ンをコネクタ１０に導線１４で接続すると共に、
コネクタブロツク１９１，１９２もコネクタ１０
に導線２２で接続した例である。この場合コネク
タブロツク１９１，１９２は、ケーブルを介し
て、他のコネクタアダプタのコネクタブロツクに
接続したり、被試験配線基板７の内部と接続する
こともできる。

第６図に示すように、２つ以上のコネクタアダ
プタ９３，９４…のコネクタブロツク１９１，１
９１に接続されたケーブル１７を、１つの接続ア
ダプタ１８に接続することにより、各コネクタア
ダプタ９１，９２…の空いたコネクタブロツク１
９１…を寄せ集めて１または２以上の接続アダプ
タ１８と接続することもできる。

なお被試験配線基板７の片側のコネクタアダプ
タ９のみについて説明したが、他方のコネクタア
ダプタ９ａ側についても以上のような本発明の思
想を適用できることは言うまでもない。

〔発明の効果〕

以上のように本発明によれば、被試験配線基板
７との接続用のコネクタ１０を有するコネクタア
ダプタ９において、１または複数のコネクタブロ
ツク１９１…を設け、該コネクタブロツク１９１
…を試験機１２の試験端子群１３に接続し、コネ
クタブロツク１９１…をケーブルで基板内部と接
続する方法を採つている。そのため、コネクタア
ダプタ９，９ａや試験端子群１３中の余つた領域
を利用することで、基板内部と試験機１２間を接
続することができ、従来のように特別にコネクタ
アダプタを増設したりする必要がなく、コストダ
ウンと小形化が可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による試験方法の基本原理を説
明する部分断面側面図、第２図〜第６図は本発明
による試験方法の実施例を示す図で、第２図は要
部の部分断面側面図と斜視図、第３図〜第５図は
コネクタブロツクの各種実施例を示す図、第６図
は基板内部接続用の接続アダプタと各コネクタア
ダプタ間の関係を示す図である。第７図は先に提
案した試験装置の斜視図、第８図は同試験装置の
コネクタ接続動作を工程順に示す正面図、第９図
は試験機と被試験配線基板との間のコネクタアダ
プタによる接続構造を示す部分断面側面図、第１
０図は従来の基板内部と試験機間の接続構造を示
す分解斜視図である。 図において、７は被試験配線基板、８はコネク
タ、９，９ａはコネクタアダプタ、１０，１１…
はコネクタ、１２は試験機、１３は試験端子群、
１４，２１は導線、１６はソケツト、１８は接続
アダプタ、１９１〜１９４はコネクタブロツク、
２０はコネクタをそれぞれ示す。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 被試験配線基板７のコネクタ８を、コネクタ
   アダプタ９のコネクタ１０と接合し、該コネクタ
   １０をコネクタアダプタ９のコネクタ１１を介し
   て試験機１２の試験端子群１３に接続することに
   より、被試験配線基板７と試験機１２間にコネク
   タアダプタ９を介在させる試験方法において、 コネクタアダプタ９に１または複数のコネクタ
   ブロツク１９１…を設け、該コネクタブロツク１
   ９１…を、試験端子群１３と結合させるコネクタ
   １１と接続し、 該コネクタブロツク１９１…を、ケーブル１７
   を介して被試験配線基板７の内部と接続すること
   を特徴とする試験方法。