JPH0543067B2 - - Google Patents
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- JPH0543067B2 JPH0543067B2 JP60172033A JP17203385A JPH0543067B2 JP H0543067 B2 JPH0543067 B2 JP H0543067B2 JP 60172033 A JP60172033 A JP 60172033A JP 17203385 A JP17203385 A JP 17203385A JP H0543067 B2 JPH0543067 B2 JP H0543067B2
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 75
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000007792 addition Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
半導体部品などを搭載したプリント基板などの
ような配線基板に試験機をコネクタ接続し、電気
的な試験を行なう際に、配線基板と試験機間を接
続するコネクタアダプタに、１または複数のコネ
クタブロツクを設け、該コネクタブロツクを介し
て、配線基板内部と試験機間を接続可能とするこ
とで、コネクタアダプタを追加することなしに、
配線基板内部を試験機に接続可能とする。[Detailed Description of the Invention] [Summary] A tester is connected to a wiring board such as a printed circuit board on which semiconductor components are mounted, and the connection is made between the wiring board and the tester when performing an electrical test. By providing one or more connector blocks in the connector adapter and making it possible to connect the inside of the wiring board and the test machine via the connector blocks, it is possible to connect the inside of the wiring board and the test machine without adding a connector adapter.
The inside of the wiring board can be connected to the test machine.
半導体部品など搭載されたプリント基板などの
ような配線基板を試験機に接続して電気的な試験
を行なう際に、相互の接続はコネクタを介して行
なわれる。本発明は、このようにコネクタで被試
験配線基板を試験機に接続する際の接続手段の効
率化に関する。
When electrical testing is performed by connecting a wiring board such as a printed circuit board on which semiconductor components are mounted to a testing machine, the mutual connections are made through connectors. The present invention relates to improving the efficiency of connection means when connecting a wiring board under test to a testing machine using a connector in this manner.
本発明の出願人は、プリント基板の試験装置と
して特願昭59−37865号により、第７図、第８図
のような装置を提案した。第７図は試験装置の全
容を示す斜視図、第８図はこの試験装置における
プリント基板のセツト作業を工程順に示す正面図
である。
The applicant of the present invention proposed a device as shown in FIGS. 7 and 8 in Japanese Patent Application No. 59-37865 as a test device for printed circuit boards. FIG. 7 is a perspective view showing the entire test apparatus, and FIG. 8 is a front view showing the process of setting a printed circuit board in this test apparatus.
第７図に示すように、ベースアダプタ５の平板
状ベースプレート５ａには、プリント基板７搭載
領域１の左右両側にはスライダ２，２ａが搭載さ
れている。ベースプレート５ａの領域１には、４
隅に位置決めピン６，６…が植設されており、こ
の位置決めピン６，６…にプリント基板７の位置
決め孔３…を位置決めし嵌入させることで、プリ
ント基板７が所定位置にセツトされる。左右のコ
ネクタアダプタ９，９ａは、プリント基板７の左
右のコネクタ８，８ａに結合されるものであり、
かつスライダ２，２ａの貫通窓４，４ａを通し
て、試験機１２の試験端子群１３，１３ａに結合
される。なお図示例では、プリント基板７は左右
それぞれの辺に４組のコネクタ８…，８ａ…を装
備しており、したがつてコネクタアダプタ９，９
ａも左右に４組ずつ装備されている。同様に、ベ
ースアダプタ５も、左右に４組ずつスライダ２
…，２ａ…を装備しており、試験機１２も左右に
４組ずつ試験端子群１３…，１３ａ…を装備して
いる。 As shown in FIG. 7, sliders 2, 2a are mounted on the flat base plate 5a of the base adapter 5 on both the left and right sides of the printed circuit board 7 mounting area 1. As shown in FIG. In area 1 of the base plate 5a, there are 4
Positioning pins 6, 6... are installed in the corners, and by positioning and fitting the positioning holes 3 of the printed circuit board 7 into the positioning pins 6, 6, the printed circuit board 7 is set at a predetermined position. The left and right connector adapters 9, 9a are coupled to the left and right connectors 8, 8a of the printed circuit board 7,
And it is coupled to the test terminal groups 13, 13a of the tester 12 through the through windows 4, 4a of the sliders 2, 2a. In the illustrated example, the printed circuit board 7 is equipped with four sets of connectors 8..., 8a... on each of the left and right sides, and thus the connector adapters 9, 9
A is also equipped with four sets on each side. Similarly, the base adapter 5 also has four sets of sliders 2 on the left and right.
..., 2a..., and the testing machine 12 is also equipped with four sets of test terminal groups 13..., 13a... on each side.
次に第８図の工程図にしたがつて、プリント基
板７の試験機１２へのセツト動作を説明する。 Next, the operation of setting the printed circuit board 7 into the testing machine 12 will be explained according to the process diagram of FIG.
まずイのように、４隅に位置決めピン６…を有
するベースアダプタ５がセツトされる。そしてロ
のようにプリント基板７が位置決めピン６…上に
セツトされ、位置決め孔３…に位置決めピン６…
が嵌入するかたで、プリント基板７が移動不能に
取付けられる。このプリント基板７には、図上左
右両端に装備した配線用のコネクタ８，８ａか
ら、所要の電源電圧や各種信号の授受が行なわれ
る。 First, as shown in A, the base adapter 5 having positioning pins 6 at the four corners is set. Then, as shown in (b), the printed circuit board 7 is set on the positioning pins 6, and the positioning pins 6 are placed in the positioning holes 3.
The printed circuit board 7 is attached so that it cannot be moved. This printed circuit board 7 receives and receives necessary power supply voltage and various signals from wiring connectors 8 and 8a provided at both left and right ends in the figure.
次にハのように前記プリント基板７の左右両側
近傍で、かつコネクタ８，８ａに対向して、ベー
スプレート５ａ上にコネクタアダプタ９，９ａが
配設される。このコネクタアダプタ９，９ａはそ
れぞれ試験機１２とプリント基板７と双方に接続
可能なコネクタ１０，１１および１０ａ，１１ａ
を有しており、かつコネクタアダプタ９，９ａ自
身が、ベースアダプタ５に対し矢印Ｂ，Ba方向
に摺動可能になつている。 Next, as shown in C, connector adapters 9 and 9a are arranged on the base plate 5a near both left and right sides of the printed circuit board 7 and facing the connectors 8 and 8a. These connector adapters 9, 9a are connectors 10, 11 and 10a, 11a that can be connected to both the tester 12 and the printed circuit board 7, respectively.
The connector adapters 9 and 9a themselves are slidable relative to the base adapter 5 in the directions of arrows B and Ba.
こうしてプリント基板７とコネクタアダプタ
９，９ａが搭載されたベースアダプタ５は、ニの
ように試験機１２の試験端子群１３，１３ａの上
方に移動され、続いてホ図のようにコネクタアダ
プタ９，９ａがそれぞれ矢印Ｂ，Ba方向に摺動
されてコネクタ１０とコネクタ８が、またコネク
タ１０ａとコネクタ８ａが結合される。そしてこ
れらプリント基板７とコネクタアダプタ９，９ａ
とが接続された状態のベースアダプタ５は、ヘの
ように矢印Ｃ方向に移動されて、コネクタアダプ
タ９，９ａのコネクタ１１，１１ａがそれぞれ試
験装置１２の試験端子群１３，１３ａに結合され
る。 The base adapter 5 on which the printed circuit board 7 and connector adapters 9, 9a are mounted in this way is moved above the test terminal group 13, 13a of the tester 12 as shown in D, and then the connector adapters 9 and 9 are mounted as shown in E. 9a are slid in the directions of arrows B and Ba, respectively, to connect the connector 10 and the connector 8, and the connector 10a and the connector 8a. And these printed circuit board 7 and connector adapters 9, 9a
The base adapter 5, which is connected to the base adapter 5, is moved in the direction of the arrow C as shown in F, and the connectors 11, 11a of the connector adapters 9, 9a are connected to the test terminal groups 13, 13a of the test device 12, respectively. .
以上のようにプリント基板７と試験機１２との
電気的接続は、ケーブルを使用することなく、コ
ネクタアダプタ９，９ａを介して行なわれるの
で、前記各工程はロボツトやハンドラーによる自
動化が可能となる。またケーブルを使用しないの
で、ノイズが入りにくく、試験の信頼性が向上す
る。コネクタアダプタ９，９ａが搭載されるベー
スアダプタ５を予め複数個用意しておくことによ
り、プリント基板７やコネクタアダプタ９，９ａ
の取付け、取外しを、試験工程と並行して行なう
ことができる。 As described above, the electrical connection between the printed circuit board 7 and the testing machine 12 is made via the connector adapters 9 and 9a without using cables, so each of the above steps can be automated by a robot or handler. . Additionally, since no cables are used, noise is less likely to enter, improving test reliability. By preparing in advance a plurality of base adapters 5 on which the connector adapters 9, 9a are mounted, the printed circuit board 7 and the connector adapters 9, 9a can be
can be installed and removed in parallel with the testing process.
第９図はコネクタアダプタ９と試験機１２、被
試験配線基板７との接続関係を示す図である。コ
ネクタアダプタ９は、その下側のコネクタ１１
が、試験機１２の試験端子群１３と結合し、コネ
クタ１０が被試験配線基板７のコネクタ８と結合
する。そしてコネクタアダプタ９の内部で、試験
機側コネクタ１１と被試験配線基板７側のコネク
タ１０間が、導線１４で接続されている。他方の
コネクタアダプタ９ａも同様な構成になつてい
る。
FIG. 9 is a diagram showing the connection relationship between the connector adapter 9, the tester 12, and the wiring board 7 to be tested. The connector adapter 9 has a connector 11 on its lower side.
is connected to the test terminal group 13 of the tester 12, and the connector 10 is connected to the connector 8 of the wiring board 7 under test. Inside the connector adapter 9, the tester side connector 11 and the connector 10 on the wiring board under test 7 side are connected by a conductive wire 14. The other connector adapter 9a also has a similar configuration.
このようにコネクタアダプタ９，９ａを介して
被試験配線基板７のコネクタ８，８ａが試験機１
２に接続される。ところが被試験配線基板７に
は、LSIなどの部品１５がソケツト１６を介して
搭載されていることもある。このような被試験配
線基板７では、搭載部品１５をソケツト１６から
取外し、代わりに接続アダプタをソケツト１６に
結合することで、試験機１２との接続が行なわれ
る。 In this way, the connectors 8 and 8a of the wiring board under test 7 are connected to the tester 1 via the connector adapters 9 and 9a.
Connected to 2. However, a component 15 such as an LSI may be mounted on the wiring board 7 under test via a socket 16. In such a wiring board 7 to be tested, connection with the testing machine 12 is achieved by removing the mounted component 15 from the socket 16 and connecting the connection adapter to the socket 16 instead.
第１０図はこのように被試験配線基板７の内部
のソケツト１６を試験機１２に接続するための接
続構造を示す分解斜視図である。被試験配線基板
７のコネクタ８…として、８１〜８４までの４組
装備されているものとすると、コネクタアダプタ
９も９１…９４の４組装備されるが、基板内部接
続のために、特別にコネクタアダプタ９５を追加
し、このコネクタアダプタ９５に接続されたケー
ブル１７の先端の接続アダプタ１８をソケツト１
６に結合している。コネクタアダプタが１個増え
ると、それに対応してスライダ２５、試験端子群
１３５を追加する必要がある。このようにコネク
タアダプタを追加すると、それに伴つてスライダ
２５や試験端子１３５を追加しなければならず、
またコネクタアダプタ９５を駆動するためのアク
チユエータも追加する必要があり、コスト高とな
り、装置が大形化する。 FIG. 10 is an exploded perspective view showing the connection structure for connecting the socket 16 inside the wiring board under test 7 to the tester 12 in this manner. Assuming that the wiring board 7 under test is equipped with four sets of connectors 81 to 84, four sets of connector adapters 9, 91 to 94, are also installed, but for internal connection of the board, special Add the connector adapter 95 and connect the connection adapter 18 at the end of the cable 17 connected to the connector adapter 95 to the socket 1.
It is connected to 6. When the number of connector adapters increases by one, it is necessary to add a corresponding slider 25 and test terminal group 135. When a connector adapter is added in this way, a slider 25 and a test terminal 135 must be added accordingly.
Furthermore, it is necessary to add an actuator for driving the connector adapter 95, which increases the cost and increases the size of the device.
本発明の技術的課題は、従来の試験装置におけ
るこのような問題を解消し、コネクタアダプタな
どを特別に追加することなしに、被試験配線基板
内部と試験機間を接続可能とすることにある。 The technical problem of the present invention is to eliminate such problems with conventional test equipment and to enable connection between the inside of the wiring board under test and the test equipment without the need for special additions such as connector adapters. .
第１図は本発明による試験方法の基本原理を説
明する部分断面側面図である。７は被試験配線基
板であり、装置に実装して使用する際に、他との
間の電気的接続用のコネクタ８を有している。こ
のコネクタ８を、コネクタアダプタ９を介して試
験機１２の試験端子群１３に接続することで、被
試験配線基板７を試験機１２に電気的に接続し、
試験を行なう。コネクタアダプタ９は、被試験配
線基板７へのコネクタ接続のためのコネクタ１０
および試験機１２へのコネクタ接続のためのコネ
クタ１１のほかに、基板内部接続のために１また
は複数のコネクタブロツク１９１を有している。
この１または複数のコネクタブロツク１９１を、
試験機１２との接続用のコネクタ１１と接続する
と共に、試験機１２との接続用のコネクタ１１と
接続された基板内部接続用コネクタ１９１に、ケ
ーブル１７をコネクタ２０で結合し、該ケーブル
１７の他端と接続アダプタ１８を、被試験配線基
板７の内部のソケツト１６などに接続する。
FIG. 1 is a partially sectional side view illustrating the basic principle of the test method according to the present invention. Reference numeral 7 denotes a wiring board to be tested, which has a connector 8 for electrical connection with other parts when mounted and used in a device. By connecting this connector 8 to the test terminal group 13 of the tester 12 via the connector adapter 9, the wiring board under test 7 is electrically connected to the tester 12,
Do the test. The connector adapter 9 is a connector 10 for connecting the connector to the wiring board 7 under test.
In addition to the connector 11 for connecting to the testing machine 12, it has one or more connector blocks 191 for internal connection of the board.
This one or more connector blocks 191,
The cable 17 is connected to the connector 11 for connection to the test machine 12, and is connected to the board internal connection connector 191, which is connected to the connector 11 for connection to the test machine 12, using the connector 20. The other end and the connection adapter 18 are connected to the socket 16 or the like inside the wiring board 7 under test.
試験端子群１３は、必要に考えられる最大数の
端子を有しているが、通常は被試験配線基板７と
接続されるコネクタ１０の容量は、この試験端子
群１３の端子数より少ない。したがつて試験端子
群１３と結合されるコネクタ１１も、その一部し
かコネクタ１０と接続されておらず、残りは使用
されていない。本発明では、この従来使用されて
いなかつた残りの部分を、１または複数のコネク
タブロツク１９１と接続し、該コネクタブロツク
１９１をケーブル１７で基板内部接続用の接続ア
ダプタ１８に接続し、基板内部のソケツト１６な
どに接続する構成になつている。
Although the test terminal group 13 has the maximum number of terminals considered necessary, the capacity of the connector 10 connected to the wiring board under test 7 is usually smaller than the number of terminals in the test terminal group 13. Therefore, only a part of the connector 11 connected to the test terminal group 13 is connected to the connector 10, and the rest is not used. In the present invention, this remaining portion that has not been used in the past is connected to one or more connector blocks 191, and the connector block 191 is connected to the connection adapter 18 for internal connection of the board with the cable 17. It is configured to be connected to a socket 16 or the like.
そのためそれぞれのコネクタアダプタ９を介し
て、被試験配線基板７のコネクタ８が試験機１２
の試験端子群１３に接続されることは従来と同じ
であるが、本発明では、それぞれのコネクタアダ
プタ９において、試験端子接続側コネクタ１１の
内、被試験配線基板７とのコネクタ接続に使用さ
れていない部分を、基板内部接続用のコネクタブ
ロツク１９１を介して、基板内部と接続する。し
たがつてコネクタアダプタを、基板内部接続のた
めに特別に増設する必要はない。 Therefore, the connector 8 of the wiring board under test 7 is connected to the testing machine 12 via each connector adapter 9.
However, in the present invention, in each connector adapter 9, one of the test terminal connection side connectors 11 is used for connector connection with the wiring board under test 7. The remaining portion is connected to the inside of the board via a connector block 191 for internal connection of the board. Therefore, there is no need to add a special connector adapter for internal connection of the board.
次に本発明により試験方法が実際上どのように
具体化されるかを実施例で説明する。第２図は本
発明による試験方法の実施例を示す図で、イは部
分断面側面図、ロは斜視図である。実施例の装置
では、試験端子群１３は100端子構成になつてい
るが、コネクタアダプタ９のコネクタ１０は、50
ピン構成になつている。したがつて試験端子群１
３としては50端子が不使用状態のため、実施例で
はこの50端子の内の25端子をコネクタブロツク１
９１に接続し、このコネクタブロツク１９１にケ
ーブル１７のコネクタ２０を結合している。そし
てケーブル１７の他端の接続アダプタ１８を、
LSIなどのソケツト１６に結合する。被試験配線
基板７は、コネクタ８をコネクタアダプタ９をコ
ネクタ１０に結合することで、導線１４、コネク
タ１１を介して試験機１２に接続される。このよ
うに、従来使用されずに余つていた試験端子を利
用して、基板内部に実装されている部品などのソ
ケツト１６を試験機１２に接続し、試験を行なう
ことができる。
Next, examples will explain how the test method according to the present invention is actually implemented. FIG. 2 is a diagram showing an embodiment of the test method according to the present invention, in which A is a partially sectional side view and B is a perspective view. In the device of the embodiment, the test terminal group 13 has a configuration of 100 terminals, but the connector 10 of the connector adapter 9 has a configuration of 50 terminals.
It has a pin configuration. Therefore, test terminal group 1
3, 50 terminals are unused, so in this example, 25 of these 50 terminals are connected to connector block 1.
91, and the connector 20 of the cable 17 is coupled to this connector block 191. Then, connect the connection adapter 18 at the other end of the cable 17,
Connect to socket 16 of LSI etc. The wiring board 7 to be tested is connected to the tester 12 via the conductive wire 14 and the connector 11 by connecting the connector 8 and the connector adapter 9 to the connector 10 . In this way, the socket 16 for components mounted inside the board can be connected to the tester 12 by using the test terminals that were left unused in the past and can be tested.
第３図〜第６図はコネクタアダプタ９の各種実
施例を示す図である。第３図〜第５図において、
イは平面図、ロは部分断面側面図である。第３図
は1008ンのコネクタ１１のうち、50ピンはコネク
タ１０に導線１４で接続され、残りの50ピンは、
コネクタブロツク１９１，１９２に接続されてい
る。つまり導線２１によつて、25ピンずつ２つの
コネクタブロツク１９１，１９２に接続されてい
る。そして第６図のコネクタアダプタ９１のよう
に、両コネクタブロツク１９１，１９２はケーブ
ル１７で接続アダプタ１８に接続される。なお２
つのコネクタブロツク１９１，１９２は別々の接
続アダプタに接続して、個々のソケツトに接続す
ることもできる。第４図は、コネクタブロツクを
１９１〜１９４まで４組設け、コネクタ１１の全
ピンをコネクタブロツクのみに接続した例であ
る。第１０図の２番目のコネクタアダプタ９２の
ように、被試験配線基板７との接続を要しない部
分もある。このように被試験配線基板７との接続
を全く要しないコネクタアダプタにおいては、第
４図のようにコネクタ１１の全ピンを導線２１で
コネクタブロツク１９１〜１９４に接続し、全コ
ネクタブロツク１９１〜１９４を利用して、被試
験配線基板７の内部と接続することもできる。 3 to 6 are diagrams showing various embodiments of the connector adapter 9. FIG. In Figures 3 to 5,
A is a plan view, and B is a partially sectional side view. Figure 3 shows that of the 1008 connectors 11, 50 pins are connected to the connector 10 with conductive wires 14, and the remaining 50 pins are
Connected to connector blocks 191 and 192. That is, the conductive wire 21 connects each 25 pins to two connector blocks 191 and 192. Then, like the connector adapter 91 shown in FIG. 6, both connector blocks 191 and 192 are connected to a connection adapter 18 by a cable 17. Note 2
The two connector blocks 191, 192 can also be connected to separate connection adapters to connect to individual sockets. FIG. 4 shows an example in which four sets of connector blocks 191 to 194 are provided and all pins of the connector 11 are connected only to the connector blocks. There are some parts, such as the second connector adapter 92 in FIG. 10, that do not require connection to the wiring board 7 under test. In such a connector adapter that does not require any connection to the wiring board 7 under test, all the pins of the connector 11 are connected to the connector blocks 191 to 194 with the conductor wires 21 as shown in FIG. It is also possible to connect to the inside of the wiring board 7 under test by using.
第５図はコネクタ１１の全ピンまたは一部のピ
ンをコネクタ１０に導線１４で接続すると共に、
コネクタブロツク１９１，１９２もコネクタ１０
に導線２２で接続した例である。この場合コネク
タブロツク１９１，１９２は、ケーブルを介し
て、他のコネクタアダプタのコネクタブロツクに
接続したり、被試験配線基板７の内部と接続する
こともできる。 FIG. 5 shows that all or some of the pins of the connector 11 are connected to the connector 10 with conductive wires 14, and
Connector blocks 191 and 192 are also connector 10
This is an example in which the conductive wire 22 is connected to the terminal. In this case, the connector blocks 191 and 192 can be connected to the connector blocks of other connector adapters or to the inside of the wiring board 7 under test via cables.
第６図に示すように、２つ以上のコネクタアダ
プタ９３，９４…のコネクタブロツク１９１，１
９１に接続されたケーブル１７を、１つの接続ア
ダプタ１８に接続することにより、各コネクタア
ダプタ９１，９２…の空いたコネクタブロツク１
９１…を寄せ集めて１または２以上の接続アダプ
タ１８と接続することもできる。 As shown in FIG. 6, connector blocks 191, 1 of two or more connector adapters 93, 94...
By connecting the cable 17 connected to the connector adapter 91 to one connection adapter 18, the vacant connector block 1 of each connector adapter 91, 92...
91... can be gathered together and connected to one or more connection adapters 18.
なお被試験配線基板７の片側のコネクタアダプ
タ９のみについて説明したが、他方のコネクタア
ダプタ９ａ側についても以上のような本発明の思
想を適用できることは言うまでもない。 Although only the connector adapter 9 on one side of the wiring board 7 under test has been described, it goes without saying that the above idea of the present invention can be applied to the other connector adapter 9a side.
以上のように本発明によれば、被試験配線基板
７との接続用のコネクタ１０を有するコネクタア
ダプタ９において、１または複数のコネクタブロ
ツク１９１…を設け、該コネクタブロツク１９１
…を試験機１２の試験端子群１３に接続し、コネ
クタブロツク１９１…をケーブルで基板内部と接
続する方法を採つている。そのため、コネクタア
ダプタ９，９ａや試験端子群１３中の余つた領域
を利用することで、基板内部と試験機１２間を接
続することができ、従来のように特別にコネクタ
アダプタを増設したりする必要がなく、コストダ
ウンと小形化が可能となる。
As described above, according to the present invention, in the connector adapter 9 having the connector 10 for connection with the wiring board under test 7, one or more connector blocks 191 are provided, and the connector blocks 191
... are connected to the test terminal group 13 of the tester 12, and the connector blocks 191... are connected to the inside of the board with cables. Therefore, by using the remaining area in the connector adapters 9, 9a and the test terminal group 13, it is possible to connect the inside of the board and the tester 12, and unlike the conventional method, it is possible to connect the inside of the board and the tester 12. There is no need to do so, allowing for cost reduction and miniaturization.
第１図は本発明による試験方法の基本原理を説
明する部分断面側面図、第２図〜第６図は本発明
による試験方法の実施例を示す図で、第２図は要
部の部分断面側面図と斜視図、第３図〜第５図は
コネクタブロツクの各種実施例を示す図、第６図
は基板内部接続用の接続アダプタと各コネクタア
ダプタ間の関係を示す図である。第７図は先に提
案した試験装置の斜視図、第８図は同試験装置の
コネクタ接続動作を工程順に示す正面図、第９図
は試験機と被試験配線基板との間のコネクタアダ
プタによる接続構造を示す部分断面側面図、第１
０図は従来の基板内部と試験機間の接続構造を示
す分解斜視図である。
図において、７は被試験配線基板、８はコネク
タ、９，９ａはコネクタアダプタ、１０，１１…
はコネクタ、１２は試験機、１３は試験端子群、
１４，２１は導線、１６はソケツト、１８は接続
アダプタ、１９１〜１９４はコネクタブロツク、
２０はコネクタをそれぞれ示す。
Fig. 1 is a partial cross-sectional side view explaining the basic principle of the test method according to the present invention, Figs. 2 to 6 are views showing examples of the test method according to the present invention, and Fig. 2 is a partial cross-section of the main part A side view and a perspective view, FIGS. 3 to 5 are views showing various embodiments of the connector block, and FIG. 6 is a view showing the relationship between a connection adapter for internal connection of a board and each connector adapter. Figure 7 is a perspective view of the test equipment proposed earlier, Figure 8 is a front view showing the connector connection operation of the test equipment in order of process, and Figure 9 is a connector adapter between the test equipment and the wiring board under test. Partial cross-sectional side view showing the connection structure, 1st
FIG. 0 is an exploded perspective view showing a conventional connection structure between the inside of a board and a testing machine. In the figure, 7 is a wiring board under test, 8 is a connector, 9, 9a are connector adapters, 10, 11...
is a connector, 12 is a test machine, 13 is a test terminal group,
14 and 21 are conductive wires, 16 is a socket, 18 is a connection adapter, 191 to 194 are connector blocks,
20 each indicates a connector.
Claims (1)
アダプタ９のコネクタ１０と接合し、該コネクタ
１０をコネクタアダプタ９のコネクタ１１を介し
て試験機１２の試験端子群１３に接続することに
より、被試験配線基板７と試験機１２間にコネク
タアダプタ９を介在させる試験方法において、 コネクタアダプタ９に１または複数のコネクタ
ブロツク１９１…を設け、該コネクタブロツク１
９１…を、試験端子群１３と結合させるコネクタ
１１と接続し、 該コネクタブロツク１９１…を、ケーブル１７
を介して被試験配線基板７の内部と接続すること
を特徴とする試験方法。[Claims] 1. Connector 8 of wiring board under test 7 to connector 10 of connector adapter 9, and connect connector 10 to test terminal group 13 of tester 12 via connector 11 of connector adapter 9. By doing so, in the test method in which the connector adapter 9 is interposed between the wiring board under test 7 and the testing machine 12, the connector adapter 9 is provided with one or more connector blocks 191, and the connector block 1
91... are connected to the connector 11 to be coupled to the test terminal group 13, and the connector block 191... is connected to the cable 17.
A test method characterized by connecting to the inside of the wiring board 7 to be tested via.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60172033A JPS6232373A (en) | 1985-08-05 | 1985-08-05 | Testing method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60172033A JPS6232373A (en) | 1985-08-05 | 1985-08-05 | Testing method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6232373A JPS6232373A (en) | 1987-02-12 |
| JPH0543067B2 true JPH0543067B2 (en) | 1993-06-30 |
Family
ID=15934283
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60172033A Granted JPS6232373A (en) | 1985-08-05 | 1985-08-05 | Testing method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6232373A (en) |
-
1985
- 1985-08-05 JP JP60172033A patent/JPS6232373A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6232373A (en) | 1987-02-12 |
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