JPS62297286A - 窒化アルミニウムセラミツクスのメタライズ方法 - Google Patents
窒化アルミニウムセラミツクスのメタライズ方法Info
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- JPS62297286A JPS62297286A JP13978886A JP13978886A JPS62297286A JP S62297286 A JPS62297286 A JP S62297286A JP 13978886 A JP13978886 A JP 13978886A JP 13978886 A JP13978886 A JP 13978886A JP S62297286 A JPS62297286 A JP S62297286A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
3、発明の詳細な説明
〔発明の属する技術分野〕
この発明は、窒化アルミニウムを主成分とするセラミッ
クス焼結体のメタライズ方法に関する。
クス焼結体のメタライズ方法に関する。
半導体を支持する役目をもつ基板やパッケージ用のセラ
ミックスとしては、これまで専らアルミナが多用されて
きたが、その熱伝導率が低いため半導体素子の発熱と放
熱が問題となる高集積・高密度実装用の基板としては適
当でない。これに対し、酸化イツトリウムあるいは酸化
カルシウムなどを0.5〜5.0重量%含有する窒化ア
ルミニウム(iN)は、アルミナと同様の高い体積抵抗
率、高い絶縁耐圧、低い誘電率をもち、かつ高い熱伝導
率(アルミナの5〜8倍)、低い熱膨張率(シリコンに
近い)および高い強度(アルミナの約2倍)を有してい
るので、素子発熱とその放熱が問題となるパワーIC,
LSIおよびVLS Iなどの基板あるいはパッケージ
材料として有望視される。
ミックスとしては、これまで専らアルミナが多用されて
きたが、その熱伝導率が低いため半導体素子の発熱と放
熱が問題となる高集積・高密度実装用の基板としては適
当でない。これに対し、酸化イツトリウムあるいは酸化
カルシウムなどを0.5〜5.0重量%含有する窒化ア
ルミニウム(iN)は、アルミナと同様の高い体積抵抗
率、高い絶縁耐圧、低い誘電率をもち、かつ高い熱伝導
率(アルミナの5〜8倍)、低い熱膨張率(シリコンに
近い)および高い強度(アルミナの約2倍)を有してい
るので、素子発熱とその放熱が問題となるパワーIC,
LSIおよびVLS Iなどの基板あるいはパッケージ
材料として有望視される。
一方、セラミックスを半導体用基膜として用いる際には
、導体回路形成のためにメタライズする二とが必要とな
る。このメタライズ層は、基板であるセラミックスと強
固に結合し、緻密であって、素子を実装するときの接合
性と気密性などに優れていることが要求される。アルミ
ナにおいては、高融点金属のモリブデンあるいはタング
ステン粉体と、活性化金属であるマンガンまたはチタン
粉体の混合粉体をその表面に塗布し、弱酸化性雰囲気中
において1300℃乃至1550℃の温度で焼成するメ
タライズ方法がいわゆる高融点金属法またはテレフンケ
ン法として知られている。
、導体回路形成のためにメタライズする二とが必要とな
る。このメタライズ層は、基板であるセラミックスと強
固に結合し、緻密であって、素子を実装するときの接合
性と気密性などに優れていることが要求される。アルミ
ナにおいては、高融点金属のモリブデンあるいはタング
ステン粉体と、活性化金属であるマンガンまたはチタン
粉体の混合粉体をその表面に塗布し、弱酸化性雰囲気中
において1300℃乃至1550℃の温度で焼成するメ
タライズ方法がいわゆる高融点金属法またはテレフンケ
ン法として知られている。
A1N基板のメタライズ方法としては、従来法の3方法
が知られている。即ち、 (1)INを1000℃乃至1400℃に加熱し、酸化
してアルミナ(ALos)層を形成してから^lN基板
上に銅板を配置し、酸素分圧および温度をCu−0系の
共晶温度に精密に制御した電気炉中で接合処理を行って
メタライズする方法。
が知られている。即ち、 (1)INを1000℃乃至1400℃に加熱し、酸化
してアルミナ(ALos)層を形成してから^lN基板
上に銅板を配置し、酸素分圧および温度をCu−0系の
共晶温度に精密に制御した電気炉中で接合処理を行って
メタライズする方法。
(2)^fN基板表面に金、銀−パラジウム、銅などと
ガラス成分を含むペーストを塗布したのち、これを焼成
してメタライズする方法。
ガラス成分を含むペーストを塗布したのち、これを焼成
してメタライズする方法。
上記(1)の方法による基板はD B C(Direc
t BondCopper) 基板として知られている
が、接合処理にあたって酸素分圧と温度の厳密な制御が
要求され、条件設定のわずかな相違によりAn基板と銅
層との接合強度、気密性にバラツキを生じやすい。
t BondCopper) 基板として知られている
が、接合処理にあたって酸素分圧と温度の厳密な制御が
要求され、条件設定のわずかな相違によりAn基板と銅
層との接合強度、気密性にバラツキを生じやすい。
また^IlN と銅の熱膨張係数が大きく異なるため、
周囲温度の影響により両者に歪みを生じ信頼性に問題が
でてくる。(2)の方法はいわゆる厚膜法であるが、基
板とメタライズ層の接合強度は1.2〜2.0kg/m
ts2 のレベルであり、さらにハンダ付けふよびろう
付は性が劣り気密性も不充分であった。
周囲温度の影響により両者に歪みを生じ信頼性に問題が
でてくる。(2)の方法はいわゆる厚膜法であるが、基
板とメタライズ層の接合強度は1.2〜2.0kg/m
ts2 のレベルであり、さらにハンダ付けふよびろう
付は性が劣り気密性も不充分であった。
従って八INを高熱伝導性半導体基板として実用化する
には、信頼性および経済性に優れたメタライズ方法を確
立することが必要である。
には、信頼性および経済性に優れたメタライズ方法を確
立することが必要である。
この発明は上記の欠点に鑑みてなされたものであり、そ
の目的とするところは接合強度および気密性に優れかつ
経済性にも優れた窒化アルミニウムセラミックスのメタ
ライズ方法を提供するにある。
の目的とするところは接合強度および気密性に優れかつ
経済性にも優れた窒化アルミニウムセラミックスのメタ
ライズ方法を提供するにある。
この発明は窒化アルミニウムセラミックスの表面にあら
かじめ酸化シリコンの被膜を形成した後、高融点金属と
活性化金属の混合粉体で被覆し、弱酸化性雰囲気中で焼
成して窒化アルミニウムセラミックスをメタライズした
のでその目的を達する。
かじめ酸化シリコンの被膜を形成した後、高融点金属と
活性化金属の混合粉体で被覆し、弱酸化性雰囲気中で焼
成して窒化アルミニウムセラミックスをメタライズした
のでその目的を達する。
すなわち、窒化アルミニウムセラミックスをモリブデン
あるいはタングステンからなる高融点金属とマンガンあ
るいはマンガン−チタンからなる活性化金属の混合粉体
で被覆し、水素ガスを水中にバブルさせた水素−水蒸気
系混合ガスよりなる弱酸化性雰囲気中で焼成しても良好
なメタライズ層は得られないが、A18表面上に酸化シ
リコンの被膜を形成してから高融点金属と活性化金属の
混合粉体で被覆し弱酸化性雰囲気中で焼成すれば良好な
メタライズ層が得られることを見出したものである。換
言すると、IN にアルミナのメタライズ方法であるテ
レフンケン法を直接的に適用することはできないが、A
βN表面を酸化シリコンに変換しておけばテレフンケン
法をそのまま適用できるというものである。
あるいはタングステンからなる高融点金属とマンガンあ
るいはマンガン−チタンからなる活性化金属の混合粉体
で被覆し、水素ガスを水中にバブルさせた水素−水蒸気
系混合ガスよりなる弱酸化性雰囲気中で焼成しても良好
なメタライズ層は得られないが、A18表面上に酸化シ
リコンの被膜を形成してから高融点金属と活性化金属の
混合粉体で被覆し弱酸化性雰囲気中で焼成すれば良好な
メタライズ層が得られることを見出したものである。換
言すると、IN にアルミナのメタライズ方法であるテ
レフンケン法を直接的に適用することはできないが、A
βN表面を酸化シリコンに変換しておけばテレフンケン
法をそのまま適用できるというものである。
次にこの発明の実施例を図面にもとづいて説明する。窒
化アルミニウムセラミックス11(Aj2N)は1重量
%の酸化イツトリウムを焼結助剤として含有しホットプ
レス法で作製したものを用いた。この人JN の表面に
シリコンアルコラート (S+(QCsHll)4)の
水−イソプロビルアルコール溶液あるいは水−エチルア
ル・コール溶液をディップ法で塗布し、150℃乃至5
00℃の温度で加熱処理して0.8μm厚でAIN に
強固に結合した緻密な酸化シリコン被膜12を形成させ
た。塗布方法はディップ法の他、スプレー法も適用でき
るし、酸化シリコンの被膜厚さは塗布方法あるいは塗布
回数などにより任意に制御できる。酸化シリコンは次の
化学反応を経て形成される。
化アルミニウムセラミックス11(Aj2N)は1重量
%の酸化イツトリウムを焼結助剤として含有しホットプ
レス法で作製したものを用いた。この人JN の表面に
シリコンアルコラート (S+(QCsHll)4)の
水−イソプロビルアルコール溶液あるいは水−エチルア
ル・コール溶液をディップ法で塗布し、150℃乃至5
00℃の温度で加熱処理して0.8μm厚でAIN に
強固に結合した緻密な酸化シリコン被膜12を形成させ
た。塗布方法はディップ法の他、スプレー法も適用でき
るし、酸化シリコンの被膜厚さは塗布方法あるいは塗布
回数などにより任意に制御できる。酸化シリコンは次の
化学反応を経て形成される。
Si (OC8HI +)4 + 4H20−+S1
(OH) 4 +4CsH+ +DH−−(1)Si’
(OH)4−y SiO,+H20j −〜−・−(
2)(1)式はアルコラート溶液中での加水分解反応で
あり、(2)式は加熱処理時の反応である。本発明の場
合酸化シリコンは1μm前後の厚さで充分その目的を達
する。
(OH) 4 +4CsH+ +DH−−(1)Si’
(OH)4−y SiO,+H20j −〜−・−(
2)(1)式はアルコラート溶液中での加水分解反応で
あり、(2)式は加熱処理時の反応である。本発明の場
合酸化シリコンは1μm前後の厚さで充分その目的を達
する。
AIN表面に対する酸化シリコンの被膜形成はスバフタ
などの物理的方法でも可能である。一方市販のモリブデ
ンとマンガンの粉体を重量で80対20の割合で秤量し
、これに有機溶剤と粘結剤を加えてらいかい機で混合粉
砕して粒径が5μm以下のスラリーとなし、スクリーン
印刷法で酸化シリコン被膜上に18μmの厚さに塗布し
てモリブデンとマンガンの混合粉体13を被覆した。こ
れを電気炉中で温度50℃の水中をバブリングした水素
を流しながら焼成した。昇温は300℃/時間の速度で
行い、最高温度1400℃で1時間保持した。得られた
モリブデンのメタライズ層15の厚さは11μmであっ
た。このあとメタライズ層15に無電解メッキ法で4μ
mの厚さにニッケルメッキを施した。これを水素と窒素
の混合雰囲気中において820℃×15分の熱処理を行
ってメッキの剥離、フクレなどの有無を検査し欠陥のな
いことを確かめた。次にニッケルメッキしたAβN基板
と厚さ3報のFe −Ni合金にッケル42重量%)を
銀ろう(BAG−8)によって接合し、その気密性をヘ
リウムリーク試験によって調べた。接合部のヘリウムリ
ーク量はl xlQ−”(atm −m 17sec)
以下であり、気密性は良好であった。さらにメッキ処理
したAl1N基板上に直径が0.5mmの銅線を共晶ハ
ンダ(40%pb−60%Sn)でハンダ寸けしてその
引張試験を行った。この試験では全て銅線が破断し、/
タライズ層15.’二Al1N 基板の界面およびメタ
ライズ層とメツ牛界面などでの破損はなかった。銅線が
破断したときの単位面積あたりの強度は25kg/nm
2であり、゛本発明の方法による^fN基板とメタライ
ズ層の界面は25kg/am’以上の強度があることが
わかった。
などの物理的方法でも可能である。一方市販のモリブデ
ンとマンガンの粉体を重量で80対20の割合で秤量し
、これに有機溶剤と粘結剤を加えてらいかい機で混合粉
砕して粒径が5μm以下のスラリーとなし、スクリーン
印刷法で酸化シリコン被膜上に18μmの厚さに塗布し
てモリブデンとマンガンの混合粉体13を被覆した。こ
れを電気炉中で温度50℃の水中をバブリングした水素
を流しながら焼成した。昇温は300℃/時間の速度で
行い、最高温度1400℃で1時間保持した。得られた
モリブデンのメタライズ層15の厚さは11μmであっ
た。このあとメタライズ層15に無電解メッキ法で4μ
mの厚さにニッケルメッキを施した。これを水素と窒素
の混合雰囲気中において820℃×15分の熱処理を行
ってメッキの剥離、フクレなどの有無を検査し欠陥のな
いことを確かめた。次にニッケルメッキしたAβN基板
と厚さ3報のFe −Ni合金にッケル42重量%)を
銀ろう(BAG−8)によって接合し、その気密性をヘ
リウムリーク試験によって調べた。接合部のヘリウムリ
ーク量はl xlQ−”(atm −m 17sec)
以下であり、気密性は良好であった。さらにメッキ処理
したAl1N基板上に直径が0.5mmの銅線を共晶ハ
ンダ(40%pb−60%Sn)でハンダ寸けしてその
引張試験を行った。この試験では全て銅線が破断し、/
タライズ層15.’二Al1N 基板の界面およびメタ
ライズ層とメツ牛界面などでの破損はなかった。銅線が
破断したときの単位面積あたりの強度は25kg/nm
2であり、゛本発明の方法による^fN基板とメタライ
ズ層の界面は25kg/am’以上の強度があることが
わかった。
次にこの発明の他の実施例を説明する。市販のモリブデ
ン、マンガンおよびチタンの勿体を重量で80対15対
50割合で秤量し、有機溶剤、粘結剤を加え、らいかい
機で混合粉砕し5μm以下の粒径の粉体を含むスラリー
を調整した。これを第1実施例と同様の条件で処理した
窒化アルミニウムセラミックス11の酸化シリコン被膜
12上に20μm厚さに印刷してモリブデンとマンガン
とチタンの混合粉体の被膜を形成し、20℃の水中を通
した水素ガス雰囲気中で温度1450℃において1時間
焼成し、モリブデンメクライズ層を形成した。このメタ
ライズ層について第1実施例と同様の特性評価を行った
。その結果は第1実施例と同じく良好であった。
ン、マンガンおよびチタンの勿体を重量で80対15対
50割合で秤量し、有機溶剤、粘結剤を加え、らいかい
機で混合粉砕し5μm以下の粒径の粉体を含むスラリー
を調整した。これを第1実施例と同様の条件で処理した
窒化アルミニウムセラミックス11の酸化シリコン被膜
12上に20μm厚さに印刷してモリブデンとマンガン
とチタンの混合粉体の被膜を形成し、20℃の水中を通
した水素ガス雰囲気中で温度1450℃において1時間
焼成し、モリブデンメクライズ層を形成した。このメタ
ライズ層について第1実施例と同様の特性評価を行った
。その結果は第1実施例と同じく良好であった。
以上の実施例では高融点金属としてモリブデンを用いて
いるがタングステンを用いてもモリブデンの場合と同様
の結果が得られることを実験的に確認した。
いるがタングステンを用いてもモリブデンの場合と同様
の結果が得られることを実験的に確認した。
上述の実施例に述べたような弱酸化性雲囲気においては
、モリブデンあるいはタングステン等の高融点金属は酸
化されることがないが、マンガン。
、モリブデンあるいはタングステン等の高融点金属は酸
化されることがないが、マンガン。
チタン等の活性化金属は酸化されてそれぞれ酸化マンガ
ン、酸化チタン等となる。一方酸化シリコンの被膜12
は、弱酸化性雰囲気中で窒化アルミニれ、このためにあ
とに述べるガラス化反応が可能となる。生成した中間層
14(アルミナ層と思われる)は、上述の酸化マンガン
、酸化チタンあるいは酸化シリコンと反応してガラス層
16を形成しモリブデン粉体17の間隙を埋めてメタラ
イズ層15が形成される。このガラス層16は中間層1
4と化学的に結合しているためにメタライズ層15と窒
化アルミニウムセラミックス11との接合強度は大きい
。
ン、酸化チタン等となる。一方酸化シリコンの被膜12
は、弱酸化性雰囲気中で窒化アルミニれ、このためにあ
とに述べるガラス化反応が可能となる。生成した中間層
14(アルミナ層と思われる)は、上述の酸化マンガン
、酸化チタンあるいは酸化シリコンと反応してガラス層
16を形成しモリブデン粉体17の間隙を埋めてメタラ
イズ層15が形成される。このガラス層16は中間層1
4と化学的に結合しているためにメタライズ層15と窒
化アルミニウムセラミックス11との接合強度は大きい
。
さらにこのガラス層は緻密にモリブデン粉体17の間隙
を埋めるためにメタライズ層15は気密に窒化アルミニ
ウムセラミックス11と接合する。
を埋めるためにメタライズ層15は気密に窒化アルミニ
ウムセラミックス11と接合する。
この発明では窒化アルミニウムセラミックスの表面にあ
らかじめ酸化シリコンの被膜を形成してから、高融点金
属と活性化金属の混合粉体の被膜を形成し、弱酸化性雰
囲気中で焼成することとしたので、酸化シリコンにより
窒化アルミニウムセラミックスの中間層への変化が容易
となる結果活性化金属の酸化物と窒化アルミニウムセラ
ミックス表面に形成された中間層とのガラス化反応が可
能となり、気密性に優れかつ接合強度の大きなメタライ
ズ層を形成する”ことになる。またこの方法によればア
ルミナのメタライズに使用される工業的に確立された高
融点金属法(あるいはテレフンケン法)をそのまま利用
できるので既存の設備を使用することができ経済性に優
れたメタライズ方法であるということができる。
らかじめ酸化シリコンの被膜を形成してから、高融点金
属と活性化金属の混合粉体の被膜を形成し、弱酸化性雰
囲気中で焼成することとしたので、酸化シリコンにより
窒化アルミニウムセラミックスの中間層への変化が容易
となる結果活性化金属の酸化物と窒化アルミニウムセラ
ミックス表面に形成された中間層とのガラス化反応が可
能となり、気密性に優れかつ接合強度の大きなメタライ
ズ層を形成する”ことになる。またこの方法によればア
ルミナのメタライズに使用される工業的に確立された高
融点金属法(あるいはテレフンケン法)をそのまま利用
できるので既存の設備を使用することができ経済性に優
れたメタライズ方法であるということができる。
第1図はこの発明の実施例のメタライズ層形成前の窒化
アルミニウムセラミックスを示す模式断面図、第2図は
この発明の実施例のメタライズ層を形成した窒化アルミ
ニウムセラミックスを示す模式断面図である。 11 窒化アルミニウムセラミックス、12 酸化
シリコンの被膜、13・ モリブデンとマンガンの混I
2 岳父イしシリコンのネ皮月葵 第1図
アルミニウムセラミックスを示す模式断面図、第2図は
この発明の実施例のメタライズ層を形成した窒化アルミ
ニウムセラミックスを示す模式断面図である。 11 窒化アルミニウムセラミックス、12 酸化
シリコンの被膜、13・ モリブデンとマンガンの混I
2 岳父イしシリコンのネ皮月葵 第1図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)窒化アルミニウムセラミックスの表面にあらかじめ
酸化シリコンの被膜を形成した後、高融点金属と活性化
金属の混合粉体の被膜を形成し、弱酸化性雰囲気中で焼
成することを特徴とする窒化アルミニウムセラミックス
のメタライズ方法。 2)特許請求の範囲第1項記載のメタライズ方法におい
て、窒化アルミニウムセラミックスは酸化イットリウム
を含有することを特徴とする窒化アルミニウムセラミッ
クスのメタライズ方法。 3)特許請求の範囲第1項記載のメタライズ方法におい
て、シリコンのアルコラート溶液を塗布し加熱焼成して
酸化シリコンの被膜を形成することを特徴とする窒化ア
ルミニウムセラミックスのメタライズ方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13978886A JPS62297286A (ja) | 1986-06-16 | 1986-06-16 | 窒化アルミニウムセラミツクスのメタライズ方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13978886A JPS62297286A (ja) | 1986-06-16 | 1986-06-16 | 窒化アルミニウムセラミツクスのメタライズ方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62297286A true JPS62297286A (ja) | 1987-12-24 |
JPH0453836B2 JPH0453836B2 (ja) | 1992-08-27 |
Family
ID=15253440
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13978886A Granted JPS62297286A (ja) | 1986-06-16 | 1986-06-16 | 窒化アルミニウムセラミツクスのメタライズ方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62297286A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH027445A (ja) * | 1988-02-12 | 1990-01-11 | Hitachi Ltd | 窒化アルミニウム基板と製法及び半導体装置 |
-
1986
- 1986-06-16 JP JP13978886A patent/JPS62297286A/ja active Granted
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH027445A (ja) * | 1988-02-12 | 1990-01-11 | Hitachi Ltd | 窒化アルミニウム基板と製法及び半導体装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0453836B2 (ja) | 1992-08-27 |
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