JPS62296358A - イオンビ−ム装置 - Google Patents
イオンビ−ム装置Info
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- JPS62296358A JPS62296358A JP61140856A JP14085686A JPS62296358A JP S62296358 A JPS62296358 A JP S62296358A JP 61140856 A JP61140856 A JP 61140856A JP 14085686 A JP14085686 A JP 14085686A JP S62296358 A JPS62296358 A JP S62296358A
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- anode
- ion beam
- chamber
- cooling
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- Pending
Links
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Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は、イオンビームをターゲットに当て、ターゲ
ットを加工したり、薄膜を作るのに利用するイオンビー
ム装置に関する。
ットを加工したり、薄膜を作るのに利用するイオンビー
ム装置に関する。
(従来の技術)
周知のようにこの種イオンビーム装置は、アークチャン
バ内において中性ガスをN、離してプラズマを発生させ
、このプラズマよりイオンをイオンビームとして引き出
し、ターゲットを照射するように構成されである。
バ内において中性ガスをN、離してプラズマを発生させ
、このプラズマよりイオンをイオンビームとして引き出
し、ターゲットを照射するように構成されである。
第2図は従来のイオンビーム装置を用いた薄膜製造装置
を示し、通常10−3〜1Q”” Torr程度の真空
に維持されたアークチャンバ1内においてアノード2と
フィラメント6との間でアーク放電させる。このアーク
放電匡よりガス導入口4から導入されている中性ガス、
例えばアルゴンガスを電離してプラズマを発生させ、こ
のプラズマ中のAr”イオンをイオンビームとして正電
極51と負電極52からなる引き出し電極5により10
−4〜1O−6Torr程度の真空に維持された真空容
器6側に引き出し、例えば鉄ニッケル(FeNi )な
どのターゲット7に照射する。この照射によりターゲッ
ト7からスパッタされた粒子を基板8上に堆積させパー
マロイ簿膜を形成する。なお9は前記アーク放電を安定
化するためのコイル、10はフィラメント電源、11は
アーク電源、12は加速電源、16は減速電源、14は
真空ポンプ、15はターゲットホルダー、16は基板ホ
ルダーである。
を示し、通常10−3〜1Q”” Torr程度の真空
に維持されたアークチャンバ1内においてアノード2と
フィラメント6との間でアーク放電させる。このアーク
放電匡よりガス導入口4から導入されている中性ガス、
例えばアルゴンガスを電離してプラズマを発生させ、こ
のプラズマ中のAr”イオンをイオンビームとして正電
極51と負電極52からなる引き出し電極5により10
−4〜1O−6Torr程度の真空に維持された真空容
器6側に引き出し、例えば鉄ニッケル(FeNi )な
どのターゲット7に照射する。この照射によりターゲッ
ト7からスパッタされた粒子を基板8上に堆積させパー
マロイ簿膜を形成する。なお9は前記アーク放電を安定
化するためのコイル、10はフィラメント電源、11は
アーク電源、12は加速電源、16は減速電源、14は
真空ポンプ、15はターゲットホルダー、16は基板ホ
ルダーである。
このような構成において、前記アーク放電にともなう損
失は熱となり、ステンレスなどの非磁性材からなるアノ
−ド2やアークチャンバ1を加熱し、これらが400°
C以上に加熱されるとステンレスから酸素やチッ素など
の吸着ガスの放出が多くなり、このような不純物ガスは
ターゲット7そのものあるいは基板8に悪影響をおよぼ
し、特に高純度の薄膜形成には望ましくない。
失は熱となり、ステンレスなどの非磁性材からなるアノ
−ド2やアークチャンバ1を加熱し、これらが400°
C以上に加熱されるとステンレスから酸素やチッ素など
の吸着ガスの放出が多くなり、このような不純物ガスは
ターゲット7そのものあるいは基板8に悪影響をおよぼ
し、特に高純度の薄膜形成には望ましくない。
(発明が解決しようとする問題魚)
この対策として従来では、アークチャンバ1の外壁に水
冷バイブ17を設け、これにより冷却を図っていたが、
アノード2からの熱放散は輻射によりアークチャンバ1
に伝達するのみで、その冷却効率が低く、自づとプラズ
マ投入電力(フィラメント投入道力士アーク投入電力)
も制約を受け、より大きなイオンビーム量を得ることが
できなかった。
冷バイブ17を設け、これにより冷却を図っていたが、
アノード2からの熱放散は輻射によりアークチャンバ1
に伝達するのみで、その冷却効率が低く、自づとプラズ
マ投入電力(フィラメント投入道力士アーク投入電力)
も制約を受け、より大きなイオンビーム量を得ることが
できなかった。
(問題を解決するための手段)
この発明は、アークチャンバ内に設置されであるアノー
ドを直接冷却する冷却機構を附設することを特徴とする
。
ドを直接冷却する冷却機構を附設することを特徴とする
。
(作用)
アノードが直接的に冷却されるので、その冷却効率は高
く、プラズマ投入電力の増大が図れ、より大きなイオン
ビーム量を得ることができるう(実施例) 以下この発明の一実施例を第1図にもとすいて説明する
。なお、第2図と同じ符号を附した部分は同一または対
応する部分を示す。この発明にしたがいアノード2を直
接冷却する冷却機構20が附設されている。具体的には
、アノード2の外周を囲繞する冷却バイブ21と、アー
クチャンバ1の外に設置されるクーラー22と、冷却媒
体を強制循環せしめる循環用モーター26およびこれら
を接続する配管用バイブ24などから構成されている。
く、プラズマ投入電力の増大が図れ、より大きなイオン
ビーム量を得ることができるう(実施例) 以下この発明の一実施例を第1図にもとすいて説明する
。なお、第2図と同じ符号を附した部分は同一または対
応する部分を示す。この発明にしたがいアノード2を直
接冷却する冷却機構20が附設されている。具体的には
、アノード2の外周を囲繞する冷却バイブ21と、アー
クチャンバ1の外に設置されるクーラー22と、冷却媒
体を強制循環せしめる循環用モーター26およびこれら
を接続する配管用バイブ24などから構成されている。
前記冷却バイブ21としては、コイル9の磁界による影
響を受けないようにステンレスなどの非磁性材で形成す
るのが好ましい、冷却媒体としては、絶縁性の水、油、
フレオンガスなどを用いることができる。なお、アーク
チャンバ1は数百〜数千Vの電位に荷電されてあり、ク
ーラー22や循環用モーター26を大地電位部に設置す
る場合には、例えば配管用パイプ24の少なくとも一部
を絶縁材とするなどして絶縁を図る必要がある。
響を受けないようにステンレスなどの非磁性材で形成す
るのが好ましい、冷却媒体としては、絶縁性の水、油、
フレオンガスなどを用いることができる。なお、アーク
チャンバ1は数百〜数千Vの電位に荷電されてあり、ク
ーラー22や循環用モーター26を大地電位部に設置す
る場合には、例えば配管用パイプ24の少なくとも一部
を絶縁材とするなどして絶縁を図る必要がある。
以上の構成によれば、アノード2はその外周を囲繞する
冷却バイブ21内を循環する冷却媒体により直接的に冷
却されるため、その冷却効率が高く、アーク投入電力の
増大が図れるう 上述の冷却効果を確認するために、第1図(本発明)お
よび第2図(従来例)に示す構成の供試品をそれぞれ製
作した。その測定結果並びに各構成条件および動作条件
を示すと次表の通りである。
冷却バイブ21内を循環する冷却媒体により直接的に冷
却されるため、その冷却効率が高く、アーク投入電力の
増大が図れるう 上述の冷却効果を確認するために、第1図(本発明)お
よび第2図(従来例)に示す構成の供試品をそれぞれ製
作した。その測定結果並びに各構成条件および動作条件
を示すと次表の通りである。
本発明 従来例
アークチャンバ1 808 SUS外径
150φM150φn 厚み 5xi 5[ 巾 11005a 1
00m7ノード2 SO28U8外
径 110φn110φn 厚み 2tx 2xg 巾 70 tm
70 xx引き出し電極5 径 100φEl 100φ
叩冷却パイプ内径 4φR1!4φ崩冷却
媒体 氷 水5に分
52効 アーク[源11 50VX6人50VX2A
アーク投入電力 300W 100Wフ
イラメント電源10 10VX24A 10VX8
人フィラメント投入電力 240W 80
W引き出し電圧 −i KeV 1KeVビ
ーム電流 90艷 60鮎アノード
の温度 150°C650°C上表より明らか
な通り、この発明による供試品は、従来例のものに比ベ
アーク投入電力およびフィラメント投入電力を6倍とし
てもアノードの温度は150’cと低い。したがって、
イオンビーム量の増大が図れるっ なお、冷却機構20としては、上述した構成に限られる
ものではなく、種々の変形例とすることができ、例えば
フィンとヒートバイブなどをもって構成してもよい。ま
たアークチャンバ1の冷却を併用してもよいのは勿論で
ある。
150φM150φn 厚み 5xi 5[ 巾 11005a 1
00m7ノード2 SO28U8外
径 110φn110φn 厚み 2tx 2xg 巾 70 tm
70 xx引き出し電極5 径 100φEl 100φ
叩冷却パイプ内径 4φR1!4φ崩冷却
媒体 氷 水5に分
52効 アーク[源11 50VX6人50VX2A
アーク投入電力 300W 100Wフ
イラメント電源10 10VX24A 10VX8
人フィラメント投入電力 240W 80
W引き出し電圧 −i KeV 1KeVビ
ーム電流 90艷 60鮎アノード
の温度 150°C650°C上表より明らか
な通り、この発明による供試品は、従来例のものに比ベ
アーク投入電力およびフィラメント投入電力を6倍とし
てもアノードの温度は150’cと低い。したがって、
イオンビーム量の増大が図れるっ なお、冷却機構20としては、上述した構成に限られる
ものではなく、種々の変形例とすることができ、例えば
フィンとヒートバイブなどをもって構成してもよい。ま
たアークチャンバ1の冷却を併用してもよいのは勿論で
ある。
(発明の効果)
以上詳述したようにこの発明によれば、効果的1ζアノ
ードの冷却を図ることができるので、不純物ガスの発生
は極めて少なく、しかもプラズマ投入電力を増し大きな
イオンビーム量を得ることができる。したがって、ター
ゲットの加工や薄膜の形成速度を早くすることができる
効果を奏する。
ードの冷却を図ることができるので、不純物ガスの発生
は極めて少なく、しかもプラズマ投入電力を増し大きな
イオンビーム量を得ることができる。したがって、ター
ゲットの加工や薄膜の形成速度を早くすることができる
効果を奏する。
第1図は本発明の一実施例を示す概略構成図、第2図は
従来例を示す概略構成図である。 1:アークチャンバ、2ニアノード、3:フィラメント
、5:引き出し電極、6:真空容器、7:ターゲット、
20:冷却機構。
従来例を示す概略構成図である。 1:アークチャンバ、2ニアノード、3:フィラメント
、5:引き出し電極、6:真空容器、7:ターゲット、
20:冷却機構。
Claims (1)
- アークチャンバ内にフィラメントとアノードを設置し、
中性ガスを電離してプラズマを発生させ、このプラズマ
よりイオンをイオンビームとして引き出す引き出し電極
および前記イオンビームが入射するターゲットを備えた
真空容器よりなるイオンビーム装置において、前記アノ
ードを直接冷却する冷却機構を附設したことを特徴とす
るイオンビーム装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61140856A JPS62296358A (ja) | 1986-06-16 | 1986-06-16 | イオンビ−ム装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61140856A JPS62296358A (ja) | 1986-06-16 | 1986-06-16 | イオンビ−ム装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62296358A true JPS62296358A (ja) | 1987-12-23 |
Family
ID=15278328
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61140856A Pending JPS62296358A (ja) | 1986-06-16 | 1986-06-16 | イオンビ−ム装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62296358A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016181514A (ja) * | 2013-11-14 | 2016-10-13 | マッパー・リソグラフィー・アイピー・ビー.ブイ. | 電極冷却装置 |
US11094426B2 (en) | 2012-05-14 | 2021-08-17 | Asml Netherlands B.V. | Vacuum chamber arrangement for charged particle beam generator |
-
1986
- 1986-06-16 JP JP61140856A patent/JPS62296358A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11094426B2 (en) | 2012-05-14 | 2021-08-17 | Asml Netherlands B.V. | Vacuum chamber arrangement for charged particle beam generator |
US11705252B2 (en) | 2012-05-14 | 2023-07-18 | Asml Netherlands B.V. | Vacuum chamber arrangement for charged particle beam generator |
US11961627B2 (en) | 2012-05-14 | 2024-04-16 | Asml Netherlands B.V. | Vacuum chamber arrangement for charged particle beam generator |
JP2016181514A (ja) * | 2013-11-14 | 2016-10-13 | マッパー・リソグラフィー・アイピー・ビー.ブイ. | 電極冷却装置 |
US9905322B2 (en) | 2013-11-14 | 2018-02-27 | Mapper Lithography Ip B.V. | Multi-electrode electron optics |
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