JPS62294176A - 高純度金属板の製造方法 - Google Patents
高純度金属板の製造方法Info
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- JPS62294176A JPS62294176A JP13748386A JP13748386A JPS62294176A JP S62294176 A JPS62294176 A JP S62294176A JP 13748386 A JP13748386 A JP 13748386A JP 13748386 A JP13748386 A JP 13748386A JP S62294176 A JPS62294176 A JP S62294176A
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Landscapes
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- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
3、発明の詳細な説明
[発明の目的コ
(産業上の利用分野)
本発明は、高純度金属板の製造方法に関し、特にスパッ
タリングターゲット等に適した高純度金屑板の製造方法
に係わる。
タリングターゲット等に適した高純度金屑板の製造方法
に係わる。
(従来の技術)
現在、大規模集積回路(LSI)の配線、電極用金属に
はアルミニウムが用いられている。しかしながら、今後
さらに高集積化が進むに伴って、構造が微細化し、アル
ミニウム配線中を流れる電流密度は更に大きくなり、種
々の問題を生じる可能性がある。例えば、アルミニウム
原子が電子の運動方向に運ばれるエレクトロマイグレー
ションにより、それが堆積される場所ではアルミニウム
の隆起が起ったりする。また、その反対側のアルミニウ
ムが欠乏する場所では空孔が発生する。このような欠陥
は、他の配線との短絡や配線抵抗の増大による断線の原
因となる。したがって、今後、高集積化の進行に対応し
てモリブデン、タングステン等の高融点金属又はチタン
の使用が@討されている。特に、チタンは機械的性質に
優れ、加工性も良好であり、しかも耐食性、耐熱性も優
れ、エレクトロマイグレーションも起り難いという特性
を有する。このため、高集積化による配線の細線化に充
分対応でき、将来の大IA模集積回路用金属材料として
有望視されている。
はアルミニウムが用いられている。しかしながら、今後
さらに高集積化が進むに伴って、構造が微細化し、アル
ミニウム配線中を流れる電流密度は更に大きくなり、種
々の問題を生じる可能性がある。例えば、アルミニウム
原子が電子の運動方向に運ばれるエレクトロマイグレー
ションにより、それが堆積される場所ではアルミニウム
の隆起が起ったりする。また、その反対側のアルミニウ
ムが欠乏する場所では空孔が発生する。このような欠陥
は、他の配線との短絡や配線抵抗の増大による断線の原
因となる。したがって、今後、高集積化の進行に対応し
てモリブデン、タングステン等の高融点金属又はチタン
の使用が@討されている。特に、チタンは機械的性質に
優れ、加工性も良好であり、しかも耐食性、耐熱性も優
れ、エレクトロマイグレーションも起り難いという特性
を有する。このため、高集積化による配線の細線化に充
分対応でき、将来の大IA模集積回路用金属材料として
有望視されている。
しかしながら、半導体素子に用いられる金属は高純度で
あることが要求され、特に次のような不純物は半導体素
子に悪影響を及ぼす恐れがある。
あることが要求され、特に次のような不純物は半導体素
子に悪影響を及ぼす恐れがある。
■、Na、になどのアルカリ金属は、MOS−LSIの
界面特性の劣化を招く。
界面特性の劣化を招く。
■、 1..1. Thなどの放射性元素は、ソフトエ
ラーを招く。
ラーを招く。
■、l”e、 Orなどの重金属は、界面接合部のトラ
ブルをひき起こす。
ブルをひき起こす。
■、酸素は、特性劣化を引起こす。
ところが、現在、工業的に製造されている純チタンは重
金属元素、ガス成分の他、上述した元素を多量に含有し
ている。これらの元素は、極微量でも素子の性能に悪影
響を及ぼすため、純チタンを更に高純度化する必要があ
る。その一つにハロゲン化物分解法があり、特にヨウ化
物分解法は、チタンの精製に用いられている。ヨウ化物
分解法は、化学輸送性の一種であり、チタンを始め八ツ
ニウム、ジルコニウム等活性金属の1#製に使用されて
いる方法である。例えばチタンの精製は、次式(1)、
(2の反応を利用して行われる。
金属元素、ガス成分の他、上述した元素を多量に含有し
ている。これらの元素は、極微量でも素子の性能に悪影
響を及ぼすため、純チタンを更に高純度化する必要があ
る。その一つにハロゲン化物分解法があり、特にヨウ化
物分解法は、チタンの精製に用いられている。ヨウ化物
分解法は、化学輸送性の一種であり、チタンを始め八ツ
ニウム、ジルコニウム等活性金属の1#製に使用されて
いる方法である。例えばチタンの精製は、次式(1)、
(2の反応を利用して行われる。
Ti+212→Til+ (450〜600℃)・
・・(1)Til+→T++212 (1100〜
1500℃)・・、(2)即ち、上記(1)式に示すよ
うにチタン(融点1800℃)はヨウ素(II点114
℃、沸点185°C)と450〜600℃の温度で激し
く反応し、Tir+を生成する。更に、Ti!+は11
00〜1500℃の高温で上記(2)式に示すようにチ
タンとヨウ素に分解する性質を有する。具体的には、従
来、次に説明する第5図に示す装置によりクリスタルバ
ーチタンを製造していた。第5図中の1は、原料である
スポンジチタンとヨウ素とを収容する反応容器である。
・・(1)Til+→T++212 (1100〜
1500℃)・・、(2)即ち、上記(1)式に示すよ
うにチタン(融点1800℃)はヨウ素(II点114
℃、沸点185°C)と450〜600℃の温度で激し
く反応し、Tir+を生成する。更に、Ti!+は11
00〜1500℃の高温で上記(2)式に示すようにチ
タンとヨウ素に分解する性質を有する。具体的には、従
来、次に説明する第5図に示す装置によりクリスタルバ
ーチタンを製造していた。第5図中の1は、原料である
スポンジチタンとヨウ素とを収容する反応容器である。
この容器1は、450〜600℃に加熱された恒温槽(
又恒温炉)2の中に固定されている。前記容器1内には
、例えばU字状をなすフィラメント3が吊架されている
。このフィラメント2の両端部は、給電冶具4a、4b
により保持されており、かつ各給電冶具4a、4bはリ
ード線を介して電H5に接続されている。このような装
置によりクリスタルバーチタンを製造するには、まず、
反応容器1内にスポンジチタン(場合によっては他のチ
タン又はチタン合金も使用可能)6とヨウ素7を収容し
、電源5から給電治具4a、4bを通してフィラメンh
3に通電加熱して1100〜1500℃程度に保持す
る。つづいて、反応容器1全体を恒温槽2により加熱し
て450〜600℃に保持する。原料であるスポンジチ
タン6とヨウ素7は、450〜600℃の低温で反応し
てTi148を性成する。生成したTil+8は、高温
のフィラメント3上で分解し、分解生成物のうちTiは
フィラメント3に付着し、ヨウ素(I2)は再び原料の
スポンジチタン6と反応する。つまり、ヨウ素はキャリ
アとしてチタンをフィラメント3上に運ぶ働きをする。
又恒温炉)2の中に固定されている。前記容器1内には
、例えばU字状をなすフィラメント3が吊架されている
。このフィラメント2の両端部は、給電冶具4a、4b
により保持されており、かつ各給電冶具4a、4bはリ
ード線を介して電H5に接続されている。このような装
置によりクリスタルバーチタンを製造するには、まず、
反応容器1内にスポンジチタン(場合によっては他のチ
タン又はチタン合金も使用可能)6とヨウ素7を収容し
、電源5から給電治具4a、4bを通してフィラメンh
3に通電加熱して1100〜1500℃程度に保持す
る。つづいて、反応容器1全体を恒温槽2により加熱し
て450〜600℃に保持する。原料であるスポンジチ
タン6とヨウ素7は、450〜600℃の低温で反応し
てTi148を性成する。生成したTil+8は、高温
のフィラメント3上で分解し、分解生成物のうちTiは
フィラメント3に付着し、ヨウ素(I2)は再び原料の
スポンジチタン6と反応する。つまり、ヨウ素はキャリ
アとしてチタンをフィラメント3上に運ぶ働きをする。
このようにしてヨウ素と反応するチタンのみがフィラメ
ント3上に運ばれ、精製が行われる。このプロセスを繰
返すことによって、純チタンがフィラメント3上に成長
する。
ント3上に運ばれ、精製が行われる。このプロセスを繰
返すことによって、純チタンがフィラメント3上に成長
する。
ところで、大規模集積回路の配線や電極は、最近、ター
ゲットを用いるスパッタリング装置により該ターゲット
材料を半導体基板上に堆積し、バターニングすることに
より形成されるが、かかるターゲットは板状の形態で使
用される。このため、上述した方法により得られたクリ
スタルバーチタンを素材として例えばスパッタリングタ
ーゲットを製造する場合には、再溶解により板状に成形
するか、もしくは熱間加工することによりターゲット形
状にする必要がある。しかしながら、チタンは非常に活
性な金属であり、特に酸素と反応し易く、前述した再溶
解や熱間加工中に酸素を吸収し、純度が著しく低下する
。既述の如く、大規模集積回路用の配線、電極の材料と
して用いられる場合には、極微量の酸素でも半導体素子
の性能に悪影 響を及ぼすため、ターゲットの加工
途中でのPJ、素吸収は非常に大きい問題となる。
ゲットを用いるスパッタリング装置により該ターゲット
材料を半導体基板上に堆積し、バターニングすることに
より形成されるが、かかるターゲットは板状の形態で使
用される。このため、上述した方法により得られたクリ
スタルバーチタンを素材として例えばスパッタリングタ
ーゲットを製造する場合には、再溶解により板状に成形
するか、もしくは熱間加工することによりターゲット形
状にする必要がある。しかしながら、チタンは非常に活
性な金属であり、特に酸素と反応し易く、前述した再溶
解や熱間加工中に酸素を吸収し、純度が著しく低下する
。既述の如く、大規模集積回路用の配線、電極の材料と
して用いられる場合には、極微量の酸素でも半導体素子
の性能に悪影 響を及ぼすため、ターゲットの加工
途中でのPJ、素吸収は非常に大きい問題となる。
(発明が解決しようとする問題点)
本発明は上記従来の問題点を解決するためになされたも
ので、特殊な高周波誘導加熱を利用したハロゲン化物分
解法により基体上に高純度の金属を効率よく、かつ直接
析出することにより、同等再溶解等の加工を施さずに、
そのままターゲット等に適用できる高純度金属板を製造
し得る方法を提供しようとするものである。
ので、特殊な高周波誘導加熱を利用したハロゲン化物分
解法により基体上に高純度の金属を効率よく、かつ直接
析出することにより、同等再溶解等の加工を施さずに、
そのままターゲット等に適用できる高純度金属板を製造
し得る方法を提供しようとするものである。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段)
本発明は、基体衣0面にハロゲン化物分解法により直接
金属を析出する高純度金属板の製造において、前記基体
をその厚さ方向に磁束が横切るように誘導加熱せしめる
ことを特徴とする高純度金属板の製造方法である。
金属を析出する高純度金属板の製造において、前記基体
をその厚さ方向に磁束が横切るように誘導加熱せしめる
ことを特徴とする高純度金属板の製造方法である。
次に、本発明の高純度金属板の製造方法を第1図に示す
製造装置を参照して詳細に説明する。
製造装置を参照して詳細に説明する。
第1図中の11は、原料であるスポンジチタンとヨウ素
とを収容する反応容器である。この容器11は、450
〜600℃に加熱された恒温槽(又恒温炉)12の中に
固定されている。前記容器11内には、基体としての例
えばチタン板13がその厚さ方向を鉛直方向に対して直
交するように吊架されている。このチタン板13を挟ん
で両側には、同一鉛直方向面内で渦巻き状に巻回した誘
導加熱コイル14a、14bが夫々配置されており、か
つ各誘導加熱コイル14a、14bは高周波電源15に
接続されている。このような装置により高純度チタン板
を製造するには、まず、反応容器11内にスポンジチタ
ン(場合によっては他のチタン又はチタン合金も使用可
能)16とヨウ素17を収容し、高周波電源15から誘
導加熱コイル14a、14bに高周波電力を供給するこ
とにより、各コイル14a、14bの間で発生した磁束
がチタン板13の厚さ方向に貫通し、これにより誘導さ
れる電流によってチタン板13が1100〜1500℃
程度に加熱される。つづいて、反応容器11全体を恒温
槽12より加熱して450〜600℃に保持する。原料
であるスポンジチタン16とヨウ素17は、450〜6
00℃の低温で前述した(1)式に示すように反応して
Til+18を生成する。
とを収容する反応容器である。この容器11は、450
〜600℃に加熱された恒温槽(又恒温炉)12の中に
固定されている。前記容器11内には、基体としての例
えばチタン板13がその厚さ方向を鉛直方向に対して直
交するように吊架されている。このチタン板13を挟ん
で両側には、同一鉛直方向面内で渦巻き状に巻回した誘
導加熱コイル14a、14bが夫々配置されており、か
つ各誘導加熱コイル14a、14bは高周波電源15に
接続されている。このような装置により高純度チタン板
を製造するには、まず、反応容器11内にスポンジチタ
ン(場合によっては他のチタン又はチタン合金も使用可
能)16とヨウ素17を収容し、高周波電源15から誘
導加熱コイル14a、14bに高周波電力を供給するこ
とにより、各コイル14a、14bの間で発生した磁束
がチタン板13の厚さ方向に貫通し、これにより誘導さ
れる電流によってチタン板13が1100〜1500℃
程度に加熱される。つづいて、反応容器11全体を恒温
槽12より加熱して450〜600℃に保持する。原料
であるスポンジチタン16とヨウ素17は、450〜6
00℃の低温で前述した(1)式に示すように反応して
Til+18を生成する。
生成したTil+18は、高温のチタン板13上で#述
した(2式に示すように分解し、分解生成物のうちTi
はチタン壱′13に付着し、ヨウ素(I2)は再び原料
のスポンジチタン16と反応してチタンをチタン板13
上に運ぶ。スポンジチタン中の不純物はヨウ素と反応せ
ず、スポンジチタン16中に残留するため、チタン蓄1
3上に析出するチタンは純度が高く、その結果、高純度
チタン板を製造できる。このような横磁束誘導加熱方式
は、高周波電源からの電力の周波数が50〜10000
Hzであり、磁束をチタン板の長さ方向に貫通させる
縦磁束誘導加熱方式に比べて高い周波数を必要とせず、
設備費用の低減、製造コストの低減化を図ることができ
る。なお、誘導加熱コイル14 all 4 bハ45
0〜600℃ノヨウ素雰囲気ニ曝されるため、ヨウ素に
対して耐食性の良好なインコネル、ハステロイ、モリブ
デン等の金属又はvA製のコイル表面にヨウ素に対して
耐食性の良好な金、白金、タングステン、モリブデン等
をコーティングしたものを使用することが必要である。
した(2式に示すように分解し、分解生成物のうちTi
はチタン壱′13に付着し、ヨウ素(I2)は再び原料
のスポンジチタン16と反応してチタンをチタン板13
上に運ぶ。スポンジチタン中の不純物はヨウ素と反応せ
ず、スポンジチタン16中に残留するため、チタン蓄1
3上に析出するチタンは純度が高く、その結果、高純度
チタン板を製造できる。このような横磁束誘導加熱方式
は、高周波電源からの電力の周波数が50〜10000
Hzであり、磁束をチタン板の長さ方向に貫通させる
縦磁束誘導加熱方式に比べて高い周波数を必要とせず、
設備費用の低減、製造コストの低減化を図ることができ
る。なお、誘導加熱コイル14 all 4 bハ45
0〜600℃ノヨウ素雰囲気ニ曝されるため、ヨウ素に
対して耐食性の良好なインコネル、ハステロイ、モリブ
デン等の金属又はvA製のコイル表面にヨウ素に対して
耐食性の良好な金、白金、タングステン、モリブデン等
をコーティングしたものを使用することが必要である。
本発明の高純度金属板を製造する場合、前述した第1図
図示の製造装置の他に例えば第2図及び第3図に示す製
造装置を用いてもよい。即ち、この製造装置ではチタン
板13をモリブデン又はタングステンからなる吊り下げ
冶具19により水平状態に吊架し、かつ該チタン板13
の上方に第3図に示すように該チタン板13の上方に近
接して同一水平面内で渦巻き状に巻回した誘導加熱コイ
ル20が配置されている。つまり、前記誘導加熱コイル
20はその面が前記チタン板13の面と平行に配置され
ている。また、前記誘導加熱コイル20は高周波型[1
5に接続されいる。かかる装置において、高周波電源1
5から誘導加熱コイル20に高周波電力を印加すること
によって、誘導加熱コイル20から発生した磁束はチタ
ン板13の厚さ方向に貫通し、これにより誘導される電
流によってチタン板13が1100〜1500°C程度
に加熱され、チタンがチタン板13表面に析出される。
図示の製造装置の他に例えば第2図及び第3図に示す製
造装置を用いてもよい。即ち、この製造装置ではチタン
板13をモリブデン又はタングステンからなる吊り下げ
冶具19により水平状態に吊架し、かつ該チタン板13
の上方に第3図に示すように該チタン板13の上方に近
接して同一水平面内で渦巻き状に巻回した誘導加熱コイ
ル20が配置されている。つまり、前記誘導加熱コイル
20はその面が前記チタン板13の面と平行に配置され
ている。また、前記誘導加熱コイル20は高周波型[1
5に接続されいる。かかる装置において、高周波電源1
5から誘導加熱コイル20に高周波電力を印加すること
によって、誘導加熱コイル20から発生した磁束はチタ
ン板13の厚さ方向に貫通し、これにより誘導される電
流によってチタン板13が1100〜1500°C程度
に加熱され、チタンがチタン板13表面に析出される。
こうした装置においても、前述した第1図図示の装置と
同様に高周波電源からの電力の周波数が50〜1000
0 )1zで済み、高い周波数を必要とせず、股備費用
の低減、製造コストの低減化を図ることができる。なお
、誘導加熱コイル20は、第1図の製造装置で用いたコ
イル14a、14bと同様に450〜600℃のヨウ素
雰囲気に曝されるため、ヨウ素に対して耐食性の良好な
インコネル、ハステロイ、モリブデン等の金属又は銅製
のコイル表面にヨウ素に対して耐食性の良好な金、白金
、タングステン、モリブデン等をコーティングしたもの
を使用することが必要である。
同様に高周波電源からの電力の周波数が50〜1000
0 )1zで済み、高い周波数を必要とせず、股備費用
の低減、製造コストの低減化を図ることができる。なお
、誘導加熱コイル20は、第1図の製造装置で用いたコ
イル14a、14bと同様に450〜600℃のヨウ素
雰囲気に曝されるため、ヨウ素に対して耐食性の良好な
インコネル、ハステロイ、モリブデン等の金属又は銅製
のコイル表面にヨウ素に対して耐食性の良好な金、白金
、タングステン、モリブデン等をコーティングしたもの
を使用することが必要である。
また、第2図の製造¥7A胃の変形例として第4図に示
すように反応容器11の上部に絶縁性及び耐熱性を有す
る仕の板21を設置し、この仕切板21の下面にチタン
板13を水平状態に吊架する吊り下げ冶具19を設け、
かつ該仕切板21上方に第3図図示と同様な形状の誘導
加熱コイル20を配置した構造の製造装置を使用しても
よい。前記仕切板、21としては、例えば耐熱性を有す
るアルミナ、窒化ケイ素、炭化ケイ素等のセラミックを
挙げることができる。かかる構造の製造装置では、誘導
加熱コイル20が仕切板21により反応容器11に対し
て遮断され、ヨウ素雰囲気に曝されないため、そのコイ
ル2oの材質は充分な耐熱性を有していれば足り、ヨウ
素に対する耐食性は問題とならない。
すように反応容器11の上部に絶縁性及び耐熱性を有す
る仕の板21を設置し、この仕切板21の下面にチタン
板13を水平状態に吊架する吊り下げ冶具19を設け、
かつ該仕切板21上方に第3図図示と同様な形状の誘導
加熱コイル20を配置した構造の製造装置を使用しても
よい。前記仕切板、21としては、例えば耐熱性を有す
るアルミナ、窒化ケイ素、炭化ケイ素等のセラミックを
挙げることができる。かかる構造の製造装置では、誘導
加熱コイル20が仕切板21により反応容器11に対し
て遮断され、ヨウ素雰囲気に曝されないため、そのコイ
ル2oの材質は充分な耐熱性を有していれば足り、ヨウ
素に対する耐食性は問題とならない。
なお、本発明方法に使用する基体の材料は一般にはその
表面上に析出される高純度金属(例えばチタン、タンタ
ル、クロム、ジルコニウム、ハフニウム等)と同種のも
のを用いるが、ターゲツト材を考慮した場合にはモリブ
デン、タングステン等の高融点金属を用い、この基体上
に高純度チタン等を析出してもよい。
表面上に析出される高純度金属(例えばチタン、タンタ
ル、クロム、ジルコニウム、ハフニウム等)と同種のも
のを用いるが、ターゲツト材を考慮した場合にはモリブ
デン、タングステン等の高融点金属を用い、この基体上
に高純度チタン等を析出してもよい。
また、使用するハロゲンはヨウ素の他に塩素、臭素など
いずれでもよい。
いずれでもよい。
(作用)
本発明によれば、特殊な高周波誘導加熱を利用したハロ
ゲン化物分解法により基体上に高純度の金属を効率よく
、かつ直接析出でき、ひいては同等再溶解等の加工を施
さずに、そのまま大規模集積回路の配線や電極を形成す
る際のターゲット等に好適な高純度金属板を低コストで
製造できる。
ゲン化物分解法により基体上に高純度の金属を効率よく
、かつ直接析出でき、ひいては同等再溶解等の加工を施
さずに、そのまま大規模集積回路の配線や電極を形成す
る際のターゲット等に好適な高純度金属板を低コストで
製造できる。
(発明の実施例)
以下、本発明の実施例を前述した製造装置を用いて詳細
に説明する。
に説明する。
実施例1
まず、第1図図示の製造装置におけるハステロイ−8製
の反応容器11内に200gのスポンジチタン16と2
.5gのヨウ素17を収容した後、真空排気した。つづ
いて、同一鉛直方向面内で渦巻き状に巻回した2つの同
ハステロイーB製の誘導加熱コイル14a、14bの間
に幅6aR1長さ10ctn、厚ざ0.IC,のチタン
板13を設置し、反応容器11全体を抵抗加熱方式の縦
型恒温炉12内に装入した。次いで、縦型恒温炉12の
温度を500℃に促持しながら、高周波電源15から誘
導加熱コイル14a、14bに1000Hz テ1 、
2 kWの電力を入力して1400℃まで加熱し、この
温度を2時間保持してチタン板13表面にチタンを析出
させて厚さ約0.3cIIのチタン板を製造した。
の反応容器11内に200gのスポンジチタン16と2
.5gのヨウ素17を収容した後、真空排気した。つづ
いて、同一鉛直方向面内で渦巻き状に巻回した2つの同
ハステロイーB製の誘導加熱コイル14a、14bの間
に幅6aR1長さ10ctn、厚ざ0.IC,のチタン
板13を設置し、反応容器11全体を抵抗加熱方式の縦
型恒温炉12内に装入した。次いで、縦型恒温炉12の
温度を500℃に促持しながら、高周波電源15から誘
導加熱コイル14a、14bに1000Hz テ1 、
2 kWの電力を入力して1400℃まで加熱し、この
温度を2時間保持してチタン板13表面にチタンを析出
させて厚さ約0.3cIIのチタン板を製造した。
本実施例1により得たチタン板を分析したところ、下記
第1表に示す結果となった。なお、同第1表中には原料
のスポンジチタンの分析結果も併記した。
第1表に示す結果となった。なお、同第1表中には原料
のスポンジチタンの分析結果も併記した。
第1表
(ψ位;岨 ppm )
上記第1表より明らかなように本実施例1におけるヨウ
化物分解法による精製効果は顕著であり、高純度チタン
板が得られることがわかる。
化物分解法による精製効果は顕著であり、高純度チタン
板が得られることがわかる。
実施例2
まず、第2図図示の製造装置におけるハステロイ−B製
の反応容器11内に200gのスポンジチタン16と2
.5gのヨウ素17を収容した後、真空排気した。つづ
いて、直径15α、厚ざ0.5αの円板状チタン板13
を吊り下げ冶具19で水平状態に吊架し、該チタン板1
3の上方に水平方向を同一面として渦巻き状に巻回した
表面を金でコーティングした水冷銅バイブからなる誘導
加熱コイル20を配置し、反応容器11全体を抵抗加熱
方式の縦型恒温炉12内に装入した。次いで、縦型恒温
炉12の温度を500℃に保持しながら、高周波電源1
5から誘導加熱コイル20に10kHzで3kWの電力
を入力して1400℃まで加熱し、この温度を20時間
保持してチタン板13表面にチタンを析出させて厚さ約
1.00のチタン板を製造した。
の反応容器11内に200gのスポンジチタン16と2
.5gのヨウ素17を収容した後、真空排気した。つづ
いて、直径15α、厚ざ0.5αの円板状チタン板13
を吊り下げ冶具19で水平状態に吊架し、該チタン板1
3の上方に水平方向を同一面として渦巻き状に巻回した
表面を金でコーティングした水冷銅バイブからなる誘導
加熱コイル20を配置し、反応容器11全体を抵抗加熱
方式の縦型恒温炉12内に装入した。次いで、縦型恒温
炉12の温度を500℃に保持しながら、高周波電源1
5から誘導加熱コイル20に10kHzで3kWの電力
を入力して1400℃まで加熱し、この温度を20時間
保持してチタン板13表面にチタンを析出させて厚さ約
1.00のチタン板を製造した。
本実施例2により得た高純度チタン板から同等加工せず
に作製したチタンターゲット、及び従来法により得たク
リスタルバーチタンを素材とし、電子ビーム溶解により
作製したチタンターゲット(比較例)の中の不純物量を
分析した。その結果を下記第2表に示した。
に作製したチタンターゲット、及び従来法により得たク
リスタルバーチタンを素材とし、電子ビーム溶解により
作製したチタンターゲット(比較例)の中の不純物量を
分析した。その結果を下記第2表に示した。
第2表
(中位:wt ppm )
上記第2表より明らかなように本実施例2の高純度チタ
ン板から得たチタンターゲットは比較例の同ターゲット
に比べてガス成分の不純物濃度が極めて低く、高純度の
ものであることがわかる。
ン板から得たチタンターゲットは比較例の同ターゲット
に比べてガス成分の不純物濃度が極めて低く、高純度の
ものであることがわかる。
なお、上記実施例では原料としてスポンジチタンを用い
た場合について説明したが、この代わりに溶J[解法、
帯溶融法1、ハロゲン化物分解法により製造した高純度
金属を用いてもよい。このような原料を用いれば、より
一層高純度の金属板を得ることができる。
た場合について説明したが、この代わりに溶J[解法、
帯溶融法1、ハロゲン化物分解法により製造した高純度
金属を用いてもよい。このような原料を用いれば、より
一層高純度の金属板を得ることができる。
上記実施例では、高純度チタン板を例にして説明したが
、タンタル、ジルコニウム、ハフニウム、クロム等の高
純度金属板も同様に得ることができた。
、タンタル、ジルコニウム、ハフニウム、クロム等の高
純度金属板も同様に得ることができた。
[発明の効果]
以上詳述した如く、本発明によれば特殊な高周波誘導加
熱を利用したハロゲン化物分解法により基体上に高純度
の金属を効率よく、かつ直接析出でき、ひいては同等再
溶解等の加工を施さずに、そのまま大規模集積回路の配
線や電極を形成する際のターゲット等に好適な高純度金
属板を低コストで製造し得る方法を提供できる。
熱を利用したハロゲン化物分解法により基体上に高純度
の金属を効率よく、かつ直接析出でき、ひいては同等再
溶解等の加工を施さずに、そのまま大規模集積回路の配
線や電極を形成する際のターゲット等に好適な高純度金
属板を低コストで製造し得る方法を提供できる。
第1図は本発明の高純度チタン板を1qるための製造装
置の一形態を示す概略図、第2図は本発明の高純度チタ
ン板を得るための製造装置の他の形態を示す概略図、第
3図は第2図の要部拡大斜視図、第4図は本発明の高純
度チタン板を得るための製造装置の池の形態を示す概略
図、第5図は従来のクリスタルバーチタンをiqるため
の製造装置を示す概略図である。 11・・・反応容器、12・・・恒温槽(又は恒温炉)
、13・W体(チタン板)、14a、14b、20・・
・誘導加熱コイル、15・・・高周波電源、16・・・
スポンジチタン、17・・・ヨウ累、19・・・吊り下
げ冶具、21・・・仕切板。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図 第2図 第3図
置の一形態を示す概略図、第2図は本発明の高純度チタ
ン板を得るための製造装置の他の形態を示す概略図、第
3図は第2図の要部拡大斜視図、第4図は本発明の高純
度チタン板を得るための製造装置の池の形態を示す概略
図、第5図は従来のクリスタルバーチタンをiqるため
の製造装置を示す概略図である。 11・・・反応容器、12・・・恒温槽(又は恒温炉)
、13・W体(チタン板)、14a、14b、20・・
・誘導加熱コイル、15・・・高周波電源、16・・・
スポンジチタン、17・・・ヨウ累、19・・・吊り下
げ冶具、21・・・仕切板。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図 第2図 第3図
Claims (3)
- (1)、基体表面にハロゲン化物分解法により直接金属
を析出する高純度金属板の製造において、前記基体をそ
の厚さ方向に磁束が横切るように誘導加熱せしめること
を特徴とする高純度金属板の製造方法。 - (2)、誘導加熱の工程を、横磁束誘導加熱方式により
行なうことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の高
純度金属板の製造方法。 - (3)、誘導加熱の工程を、誘導加熱コイルを同一平面
内で渦巻き状に巻回し、該基体を該コイル面に平行に配
置して誘導加熱を行なうことを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載の高純度金属板の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13748386A JPS62294176A (ja) | 1986-06-13 | 1986-06-13 | 高純度金属板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13748386A JPS62294176A (ja) | 1986-06-13 | 1986-06-13 | 高純度金属板の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62294176A true JPS62294176A (ja) | 1987-12-21 |
Family
ID=15199688
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13748386A Pending JPS62294176A (ja) | 1986-06-13 | 1986-06-13 | 高純度金属板の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62294176A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2649420A1 (fr) * | 1989-07-05 | 1991-01-11 | Cezus Co Europ Zirconium | Dispositif d'obtention de materiaux composes d'un substrat et d'un revetement de titane purifie de forme plane |
-
1986
- 1986-06-13 JP JP13748386A patent/JPS62294176A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2649420A1 (fr) * | 1989-07-05 | 1991-01-11 | Cezus Co Europ Zirconium | Dispositif d'obtention de materiaux composes d'un substrat et d'un revetement de titane purifie de forme plane |
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