JPS6229162A - イメ−ジセンサ - Google Patents

イメ−ジセンサ

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JPS6229162A
JPS6229162A JP60167272A JP16727285A JPS6229162A JP S6229162 A JPS6229162 A JP S6229162A JP 60167272 A JP60167272 A JP 60167272A JP 16727285 A JP16727285 A JP 16727285A JP S6229162 A JPS6229162 A JP S6229162A
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image sensor
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drive circuit
circuit section
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JP60167272A
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Zensaku Watanabe
渡辺 善作
Hitoshi Chiyoma
仁 千代間
Takushi Nakazono
中園 卓志
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Original Assignee
Toshiba Corp
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  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の技術分野] この発明は、光電変換素子を用いて原稿などの画像面上
の画像を読取って電気信号に変換するイメージセンサに
関する。
[発明の技術的背景] 近年ファクシミリなどにおいて画像読取り装置を小型化
するため、画像情報をほぼ1:1の大きさで読取る密着
型イメージセンサが使用されている。
この種のイメージセンサとしては、例えば第9図に示す
電荷M積型の密着イメージセンサが知られている。同図
に示すように、このイメージセンサは光電変換素子P1
〜pHが複数個並列に配列されてなる光電変換部QP、
光電変換素子P1〜P11からの出力信号を順次読み出
す駆動回路部11および前記光電変換部QPと駆動回路
部1とを接続する接続部Rとから構成されている。
光電変換素子P1は、素子容a Coと光量に応じた電
荷量を流ずフォトダイオードDからなる電荷蓄積型の光
電変換素子であり、通常−列に配列されている。これら
の光電変換索子Piの各一端は電源Eに接続され、各他
端は駆動回路部Iのスイッチング素子Siに配線パター
ンLを介してそれぞれ接続されている。スイッチング素
子3iはシフトレジスタSRにより順次駆動され、光電
変換素子Piに蓄積されている電荷信号が読出される。
接続部Rにおいて、符号C1は対地容量、符号C2は配
線間容量を表わす。
このような密着型イメージセンサは、次のように動作す
る。すなわち、スイッチング素子81〜Snが順次ON
状態となると、各スイッチング素子81〜S、に対応す
る光電変換素子P1〜P。
が順次駆動されて1ラインの読取りが行なわれる。
スイッチング素子81〜Sl+が再びON状態となるま
での時間、光電変模索子Piの発生電荷は素子容fft
coに蓄積され、その蓄積電荷をスイッチング素子3i
のうちの対応するスイッチング素子Siが再度ON状態
になったときに読み出すのである。そしてこの読出し電
荷が出力端子OUTから読取り出力として出力される。
しかしながら、このような従来のイメージセンサにおい
ては、前述したように光電変換部QPと駆動回路部1と
が絶縁基板上に形成された配線パターンLにより接続さ
れるが、集積回路の実装上これらの配線パターンの配線
長が一定とならず、各々の配線パターンLの持つ配線各
市も不均一となるため出ノ〕信号にゆがみが生じ、これ
に伴う種々の弊害が生じるという問題があった。
づなわち、配線パターンしは対地容IC+と配線間容量
C2の2つの配線容伍を持ち、駆動用回路部■等により
発生する残りの容量をO3,光電変換素子P1の素子容
量をCo、光電変換素子Piに蓄積される電荷けをQと
すると、電圧読取方式の場合配線パターン端部の光電変
換素子P1、Pfiの出力信号は次の(1)式で表わさ
れ、それ以外の部分の光電変換素子P2〜Pn  Iの
出力信号は次ぎの(2)式で表わされる。
Q/(Co+C++C2+G:+)  ・ (1)Q/
 (Co +CI +202−1−O3)−(2>従っ
て、配線パターンLが長尺または高密度になると、配線
容ff1(C++02)のばらつきが大きくなって、こ
れに伴ない出力信号のばらつきが大きくなり、第10図
に示すように、マーク、例えば黒マーク1とこれよりや
や淡色のマーク3をイメージセンサ5により読取る場合
、各光電変換索子Piからの出力信号が一定とならず、
第11図に示すように、出力にゆがみが生じるのである
第11図において、O8は出力信号を表わし、横軸はイ
メージセンサ5の長さが対応している。このため、一般
に出力信号を“1″と0″とで読む場合には、しきい値
SLをとることが行なわれている。゛例えば同図の場合
黒マーク1、淡色のマーク3の部分の出力信号O8がし
きい値SLよりも小さいので、11011となり他の部
分の出力信号は” 1 ”となる。
ところで、カラーセン4ノ等の場合には第12図に示す
ように、2つのしぎい値SL+ 、SL2を必要とする
ため、出力補正回路を用いて出力信号を一日、第13図
に示づように補正する必要が生じる。
しかしながら、このように補正回路を付加することは、
イメージセンサの構成を複雑にし、製品コストを高くす
るという問題がある。
また、このような出力のばらつきを補正する手段として
、第14図に示すように配線パターンLの配線幅を配線
長の長いものほど細くなるように変化させ、対地容量C
1を調整して、配線容量(CI +02 )のばらつき
を均一にする方法も提案されている。なお、同図におい
てTは光電変換素子の接続端子、Wはボンディングワイ
ヤである。
しかし、この場合には通常光電変換素子の配列ピッチが
等しくなっていることから配線パターンの対地容ff1
c+の補正はできても配線問答ffi C2が隣接配線
パターン間の間隔が一定とならないためにその不均一を
まねくという問題がある。
また図示していないが、光電変換素子P1の素子容量C
oを変えて配線長の差によって配線パターン1−に生じ
る浮遊容量の不均一を補正する方法も提案されているが
、高密度イメージセンサ−について考えると、配線パタ
ーンLの配線容ff1c+、C2が素子容a Coより
大きくなることにより、その補正効果は少なく、逆に光
電変換素子の素子容量Co決定する電極の良さく副走査
方向をさす)を変えて素子容El!I Coを大きく−
すると副走査方向の読取位置が各々の充電変換素子間で
異なってくるため、やはり、その読取粘度の而で実用上
の問題があった。さらに配線容量の補正にともない配線
パターンが長大なものとなり、イメージセンサが大型化
するという問題もあった。
[背狽技術の問題点] 以上述べたように、従来のイメージセンサにJ3いては
出力信号にゆがみが生じ、このためカラーセンサにおい
てしきい値を設けるにあたり出力信号を補正するための
複雑で高価な補正回路が必要となるという問題があった
また、前記出力信号のゆがみを補正するために配線パタ
ーンLの配線幅を配線長の長いものほど細くするように
変化させても配線問答a C2が一定にならないため、
出力信号のゆがみを完全に除去できないという問題があ
った。
ざらに光電変換素子の素子容ff1coを変えて配線長
の差によって配線パターンLに生じる浮遊容量の不均一
を補正する場合には、その補正効果が少ない上に、読取
精度が下がり、しかもイメージセン1すが大型化すると
いう問題があった。
〔発明の目的1 本発明の目的は、イメージセンサを大型化することなく
配線パターン等の容量を均一化し、出力信号の均一なイ
メージセンサを提供することにある。
[発明の概要コ 上述の目的を達成づるために本発明は、基板上に形成さ
れた、複数個の光電変換変換素子を配列してなる光電変
換部と、この光電変換部の各光電変換素子からの出力信
号を順次読出す集積回路により構成された駆動回路部と
を有するイメージセンサにおいて、前記光電変換部にお
(〕る光光電変換部と前記駆動回路部における入力用ボ
ンディングパッドとを、ほぼ一定長の電気伝導体により
電気的に接続することにより、光電変換部の各個別電極
と駆動回路部の入力用ボンディングパッド間の配線容量
を全て等しくして光電変換部の出力信号を均一化させた
ものである。
[発明の実施例] 以下本発明の実施例を図面を参照して訂細に説明する。
第1図は本発明の第1の実施例のイメージセンサの断面
図、第2図はそのJE要部を拡大して概略的示す平面図
である。
第1図おJ:び第2図に示されるように、このイメージ
センサは、セラミック、ガラス等からなる絶縁基板11
上に光電変換部Q I)と、駆動回路部Iとを形成し、
光電変換部QPと駆a」回路部[とを接続細線13によ
り直接接続して構成されている。
光電変換素子部QPには、絶縁基板11上にΔ℃、(:
r、 Au等からなる個別電極部15が形成されている
。この個別電極部15は下部電極部17と駆動回路部と
の接続用リード線部19から構成されている。
航配下部電極部17上に光電変換素子材としてのアモル
ファスシリコン膜21が着膜され、このアモルファスシ
リコン膜21にITO(インジウム錫酸化物)等の透明
膜からなる、光電変換素子の共通電極となる上部電極2
3が形成されている。
この上部電極23は前記絶縁基板11上に個別電極部1
5ど同時に形成される共通電極配線パターン25に接続
されるように形成される。
接続用リード線部19上には、絶縁用フート部27が形
成されている。この絶縁用フート部27、t3よび上部
電極23の上部および周囲には透明絶縁樹脂29がポツ
ティングされ、かつこの透明絶縁樹脂29によって上部
の保護ガラス31が絶縁基板11に対して固着されてい
る。
駆動回路部Iには、絶縁基板11上にA℃、Or、Au
等を用いて薄膜法もしくは厚膜法により載置用パッド3
3が形成されており、この載置用パッド33上には導電
性エポキシ樹脂膜35を介して内部にシフトレジスタ等
を含む集積回路37が搭載されている。また絶縁雄板1
1上には、外部からの制御用信号および電源を入力し外
部に対して信りを出力するための配線パターン39が形
成されている。
さらに集積回路37の上面には入力用ボンディングパッ
ド41および出力用ボンディングパッド43がそれぞれ
複数個配列され、この入力用ボンディングパッド41と
光電変換部QPの接続用リード線部1つとは接続細線1
3により接続され、出力用ボンディングパッド43と配
線パターン39とは接続細線45により接続されている
。すなわち、充電変換部QPで読取られた画像信号は接
続網I!13、集積回路37、接続細線45、配線パタ
ーン39を介して外部に出力されるようになっている。
そして集積回路37から周辺の配線パターン39および
個別電極部15にかけて絶縁性樹脂47がボッティング
されている。また配線パターン39上には絶縁用フート
材49が設けられ、前記絶縁性樹脂47を覆うように保
護キャップ51が設けられている。この絶縁用フート材
49は、保護ギャップ51に導通性のある金属を用いた
ときの絶縁体として機能づるものであり、ポリカーボネ
ート樹脂等の耐湿性の良好な合成樹脂を用いたときに【
よ耐湿性膜として機能する。
このように接続リード線部19と集積回路37の入力用
ボンディングパッド41とを接続細線13により接続し
たこと(光電変換素子と駆動回路37における入力用ボ
ンディングパット41とが、ほぼ一定長の電気伝導体す
なわち接続リード部19と接続細線13とにより電気的
に接続されていること)により、接続リード線部19に
生ずる配線容量が各接続リード線部19で略同−となる
ためこの接続リード線部19から出力される出力信号は
均一化される。
第3図は本発明の第2の実施例のイメージセンサを示し
ている。なお、以下の実施例において前述した第1の実
施例と共通する部分には、同一符号を付して重複する説
明を省略する。
この実施例では、光電変換素子の密度が8dots/l
l11以上のように高密度に形成されたものに適するよ
うに、個別電極部15の接続リード線部1つのボンディ
ングエリア部と、集積回路37の入力ボンディングパッ
ド41とを、それぞれ千鳥配置として、内側と内側、外
側と外側を接続細線13によりそれぞれ接続されて構成
されている。この実施例では、接続細線13に多少の良
さの差が生ずるが、これらの接続IIII線13の長さ
の差は通常0.2〜0.5in程度であり、出力の均一
性からみた場合実用上問題はない範囲である。また図示
していないが、この実施例において、それぞれの千鳥状
パッド配置の内側と外側、外側と内側を接続すればその
長さの差を小さくできることはいうまでもない。
第4図は、本発明の第3の実施例のイメージセンサを示
す断面図である。この実施例においては、光電変換部Q
Pが絶縁基板11上に固着された第2の絶縁基板61上
に形成されている。
第5図は、本発明の第4の実施例を示し、この実施例で
は光電変換部QPおよび駆動回路NI Iをそれぞれ絶
縁基板11上に固着された第1の絶縁基板61および第
2の絶縁基板63上に形成されている。
第6図は、本発明の第5の実施例を示し、この実施例で
は、充電変換部QP、駆動回路部Iの集積回路37、お
よび駆動回路部Iのその他の駆動回路部Iを、それぞれ
別の絶縁基板61.65.67上に形成し、これらを共
通の絶縁基板11上に固着して構成されている。
上述した第3から第5の実施例においては、光電変換部
QPの下部lff1部17と集積回路37の入力用ボン
ディングパッド41間の電気伝導部の長さは同一にでき
るので第1の実施例と同一の効果を奏することができ、
さらにイメージセンサの主要構成部分をそれぞれ別工程
で製作し、良品のみを合体させることができるので、製
品歩留りを向上させることができる。
第7図および第8図は、本発明の第6の実施例のイメー
ジセンサの断面図および平面図である。
この実施例では、光電変換部QPを絶縁基板11の短辺
方向のほぼ中央部に配置し、この光電変換部QPをはさ
んでその両側に駆動回路部Iを配置したものであり、と
くに16clots/mu以上の高解像度イメージセン
サのように配線密度の高いイメージセンサに好適してい
る。なお、この実施例の上部N極部23は、イメージセ
ンサの長手方向(これらの図の紙面表裏方向)の両端に
配設された、図示しない共通電極配線パターンとして取
り出すようにずれば個別電極とも短絡することなく実現
することができる。
[発明の効果] 以上説明したように本発明のイメージセンサは、光電変
換部の各光電変換素子と駆動回路部の入力用ボンデ゛イ
ングバッド部とが、ほぼ一定長の電気伝導体により電気
的に接続したので、イメージセンサを大型化することな
く配線パターンの浮遊容量をほぼ一定とすることができ
出力信号の均一性を向上させることができる。
またイメージセンサの主要構成部を分割製作ずれば、歩
留り生産性の向上を図ることができる。
また光電変換部と駆動回路部間の接続点がなくなり全体
として接続点が減少するので生産性が向上し、かつ製品
の信頼性も向上する。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は本発明の第1の実施例のイメージ
センサの断面図およびその要部の拡大平面図、第3図は
本発明の第2の実施例を概略的に示す平面図、第4図か
ら第6図はそれぞれ本発明の第3、第4、第5の実施例
のイメージセンサの拡大断面図、第7図および第8図は
本発明の第6の実施例のイメージセンサの断面図および
その要部の拡大平面図、第9図はイメージセンサの等価
回路図、第10図から第13図は従来のイメージセンサ
において出力信号のバラツキを解消する方法を説明する
ための図、第14図は従来のイメージセンサの出力信号
のバラツキを解消する一手段を示で平面図である。 11・・・・・・・・・・・・絶縁基板13・・・・・
・・・・・・・接続細線15・・・・・・・・・・・・
個別電極部21・・・・・・・・・・・・光電変換材2
3・・・・・・・・・・・・共通電極37・・・・・・
・・・・・・集積回路41・・・・・・・・・・・・入
力用ボンディングパッド43・・・・・・・・・・・・
出力用ボンディングパッド61・・・・・・・・・・・
・第1基板63・・・・・・・・・・・・第2基板65
.67・・・基板

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基板上に形成された、複数個の光電変換変換素子
    を配列してなる光電変換部と、この光電変換部の各光電
    変換素子からの出力信号を順次読出す集積回路により構
    成された駆動回路部とを有するイメージセンサにおいて
    、前記光電変換部における光電変換素子と前記駆動回路
    部における入力用ボンディングパッドとが、ほぼ一定長
    の電気伝導体により電気的に接続されてなることを特徴
    とするイメージセンサ。
  2. (2)前記駆動回路部における集積回路の入力用ボンデ
    ィングパッドと、出力、制御信号、および電源用ボンデ
    ィングパッドとが、この集積回路の相対向する辺部に形
    成されていることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
    載のイメージセンサ。
  3. (3)前記光電変換部と前記駆動回路部とが、同一基板
    上に形成されていることを特徴とする特許請求の範囲第
    1項または第2項記載のイメージセンサ。
  4. (4)前記光電変換部と駆動回路部とが、別個の基板上
    に形成され、かつこれらの基板が別個の基板上に固着さ
    れていることを特徴とする特許請求の範囲第1項ないし
    第3項のいずれか1項記載のイメージセンサ。
  5. (5)前記光電変換部と駆動回路部とが、別個の基板上
    に形成され、かつ光電変換部の形成された基板が駆動回
    路部の形成された基板上に固着されていることを特徴と
    する特許請求の範囲第1項ないし第3項のいずれか1項
    記載のイメージセンサ。
  6. (6)前記駆動回路部における集積回路が独立した基板
    上に搭載され、かつこの基板が駆動回路部の他の部分の
    形成された基板上に固着されて駆動回路部が構成されて
    いることを特徴とする特許請求の範囲第1項ないし第3
    項のいずれか1項記載のイメージセンサ。
  7. (7)前記光電変換部が基板の短辺方向のほぼ中央部に
    配置され、かつ2個の駆動回路部がこの光電変換部を挾
    んで配置されていることを特徴とする特許請求の範囲第
    1項ないし第6項のいずれか1項記載のイメージセンサ
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6428065U (ja) * 1987-08-10 1989-02-17
JPH01137486U (ja) * 1988-03-14 1989-09-20
JPH0236057U (ja) * 1988-09-02 1990-03-08
JPH0977U (ja) * 1996-06-28 1997-02-07 株式会社島津製作所 放射線検出器

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5575378A (en) * 1978-12-01 1980-06-06 Fuji Xerox Co Ltd Thin film type pickup element
JPS5797776A (en) * 1980-12-10 1982-06-17 Fuji Xerox Co Ltd Image pickup device for reading original
JPS60138959A (ja) * 1983-12-27 1985-07-23 Toshiba Corp イメ−ジセンサ
JPS60170254A (ja) * 1984-02-15 1985-09-03 Fuji Xerox Co Ltd 原稿読取装置
JPS61184869A (ja) * 1985-02-12 1986-08-18 Mitsubishi Electric Corp イメ−ジセンサ

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5575378A (en) * 1978-12-01 1980-06-06 Fuji Xerox Co Ltd Thin film type pickup element
JPS5797776A (en) * 1980-12-10 1982-06-17 Fuji Xerox Co Ltd Image pickup device for reading original
JPS60138959A (ja) * 1983-12-27 1985-07-23 Toshiba Corp イメ−ジセンサ
JPS60170254A (ja) * 1984-02-15 1985-09-03 Fuji Xerox Co Ltd 原稿読取装置
JPS61184869A (ja) * 1985-02-12 1986-08-18 Mitsubishi Electric Corp イメ−ジセンサ

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6428065U (ja) * 1987-08-10 1989-02-17
JPH01137486U (ja) * 1988-03-14 1989-09-20
JPH0543429Y2 (ja) * 1988-03-14 1993-11-01
JPH0236057U (ja) * 1988-09-02 1990-03-08
JPH0977U (ja) * 1996-06-28 1997-02-07 株式会社島津製作所 放射線検出器

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