JPS62287385A - 小粒子除去方法 - Google Patents

小粒子除去方法

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JPS62287385A
JPS62287385A JP61132033A JP13203386A JPS62287385A JP S62287385 A JPS62287385 A JP S62287385A JP 61132033 A JP61132033 A JP 61132033A JP 13203386 A JP13203386 A JP 13203386A JP S62287385 A JPS62287385 A JP S62287385A
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JP61132033A
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Kazuhiro Yamamoto
和寛 山本
Arata Nemoto
新 根本
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Proterial Ltd
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Sumitomo Special Metals Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 3、発明の詳細な説明 〔産業上の111用分野〕 本発明は物体断面または投影面の情報に基づきその立体
的構造が解析または検査される場合に用いられる小粒子
除去の方法に関し、更に詳述すれば2値化画像における
粒子の形状の解析に用いられる小粒子(小面積図形)除
去の方法に関する。
〔従来技術〕
第12図はテレビカメラにて得られた2値化画像の一部
を示す模式図であり、図中1の画素は図形。
0の画素は背景を表している。そしてlの画素(図形)
を連結した図中太線で囲まれる(a)(全19画素)、
  (b)(全5画素)が粒子である。
そして図中(b)の小粒子を除去する場合は、まず第1
2図に示す2値化画像をメモリに保存しておき、次に各
画素の周縁の8(IIの画素及び白画素の計9個の画素
のうち1の画素(図形)が何個存在するかを計数する。
第13図は第12図に示される2値化画像に基づき、1
の画素の計数結果を示した模式図である。次に計数値が
設定点(IjlIえば4点)以下である画素(図形)を
消去する(第1,1図参!!<4 )。
すると粒子(b)は面積が小さいので5点以上の画素が
なくすべての画素が消去され、粒子(b)が除去される
。ところがここで、粒子(a)の第13図*印の画素は
4点以下であり消去されることになる。そこで第14図
における残存粒子の周縁のすべての画素1rll、1個
につき、順次前記メモリに1の画素として記憶されてい
るかを調べ、1の画素として記憶されていればその画素
を1に復元する。
すると消去された*印の画素は残存粒子に連結して復元
し、第15図の如く粒子(a)は復元され、小粒子(b
)は除去された画像を得る。
また上述の方法とは別に、■の画素をラベル付けする方
法もある。第16図は2値化画像の一部を示す模式図で
あり、図中0.1の表示は第12図と同様である。第1
6図では(a)、  (b)、  (c)。
(d)、  (e)の計5個の粒子が存在する。そして
1の画素を夫々J!filえばアルファベントにてラベ
ル付けする。第17図は第16図の全画素をラベル付け
した図である。次に連結状態(つまりどのラベルとどの
ラベルとが隣接しているか)を調べ、連結するラベル同
士は同一粒子として扱う。第17図は夫々互いに連結し
ているので同一粒子とする。
次に各同一粒子の画素点数(個数)を計数する。
第17図では(a)が9点、(b)が3点、(C)が1
点、(d)が2点、(e)が6点となる。画素点数が設
定点(例えば4点)以下の小粒子は、そのその小粒子を
形成するラベルを参照しながら消去される。すると第1
8図の如(小粒子(b)5(C)、  (d)は除去さ
れ、粒子(a)、  (e)のみが残存した画像を得る
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところが上述した方法は何れも画像上における一括処理
なので全画素の内容(図形か背景か或いは付けられたラ
ベル)を記憶するための大量のメモリが必要であり、ま
た実時間処理が不可能であるという問題点があった 本発明はかかる事情に鑑みてなされたものでありその目
的とするところは、各画素のラベル付けは2値化画像を
走査しながら、走査、ラベル付済の隣接図形のラベルに
基づいて行い、同一ラベルの付いた画素数及び各ラベル
同士の連結状、聾を調べ、次に再び同一画像を走査し、
前回のラベル付けと同様のラベル付けを行いながら粒子
の連結状態を考慮して、連結するラベルの付いた画素数
が設定点数未満である小粒子を除去することにより、メ
モリが小容量で済み1、実時間処理が可能である小粒子
除去方法を提案することにある。
〔問題点を解決するため“の手段〕
本発明に係る小粒子除去方法は2値化画像中に含まれる
小粒子を除去する方法において、前記2値化画像の各画
素を走査し・ながら、走査済の隣接画素のラベルを調べ
ることにより各画素のラベル付けを順次行い、次に付け
られた各ラベル毎の連結状態を調べ、該連結状態に基づ
き各粒子の画素点数合計値を求め、少なくとも所定ライ
ン数の走査後、再び前記各画素を走査しながら、走査済
の1ljlJ接画素のラベルを調べることにより各画素
をラベル付けし、前記ライン数と同数の点数に満たない
粒子は除去することを特徴とする。
(作用) 本発明にあっては2値化画像を逐次走査して隣接図形の
ラベルに応じて各画素のラベル付けをし、次に各ラベル
の連結状態を調べ、連結画素の点数が設定点数未満の場
合はその連結画素(粒子)を除去する。
〔実施例〕
以下本発明をその実施例を示す図面に基づいて説明する
。第1図は2値化画像の一部の模式図であり、図中黒い
部分が図形、白い部分が背景である。まず図中各ライン
ずつ最上ラインから水平方向(左から右)に逐次走査し
て図形の画素にラベル付けを行う。まず最上ラインは図
形がないのでどの画素もラベル付けされない。そして各
画素はラベル付けが済むと同時に、そのラベルがラベル
バッファに記憶される。第2図は最上ライン走査終了後
の最上ラインのラベルバッファの内容を示したものであ
る。尚FFはラベル付けされない画素のラベルバッファ
の内容を表わしており、最上ラインの画素は何れもラベ
ル付けされないので、第2図に示すラベルバッファの内
容はすべてFFである。
$ 3 図ハWmti=ヲーtベル付けする際に調べる
隣接画素の位置関係を表した模式図であり、図中オの画
素をラベル付は処理対象の画素とする。走査方向を考慮
すれば画素ア、イ、つ、工は走査が終了してラベル付け
が済んでおり、その付けられたラベルがラベルバ・ソフ
ァに記憶されている。そして画素オが図形であり、4画
素(ア、イ、つ、工)の何れかについて、FF以外のラ
ベルがラベルバッファに記憶されていれば、そのラベル
を画素オのラベルとして画素オにラベル付けする。ここ
で画素オのラベル付けの際に参照するラベルバッファの
優先画素順位は工、ア、イ、つの順であり、画素オをラ
ベル付けする場合、画素工、ア、イ、つの順でそのラベ
ルバッファの内容を参照することになる。一方画素オが
図形であり、4画素のラベルバッファの内容が何れもF
Fであれば、未使用の新しいラベルを画素オのラベルと
して画素オにラベル付けする。勿論画素オが背景の画素
であれば画素オにラベル付けは行わない。そして画素オ
に付けられたラベルを画素オのラベルとしてラベルバッ
ファに記憶する。つまり各画素のラベルはラベル付は処
理後の隣接図形のラベルとし、無い場合は未使用ラベル
とする。そしてラベル付けされた画素についてそのラベ
ルがラベルバッファに記憶され、このラベルバッファに
記憶されたラベルを、前述のラベル付けの際の隣接図形
のラベルとする。
尚ここで画素アが図形、画素工が背景であった場合、画
素アのラベルバ・ソファの内容を画素工のラベルバッフ
ァの内容として保存し、参照するラベルバッファ内容が
3画素(画素イ、つ、工)であっても画素オには画素ア
と同一のラベルがラベル付けされる。従って参照するラ
ベルバッファの内容は、実質3画素(画素イ、つ、工)
で良いことになる。
第4.5.6図はこのラベル付けの方法を説明するため
の画像の模式図である。第4図は2値化画像の模式図(
1は図形、Oは背景)であり、(a)は前走査線、下ラ
イン(b)はラベル付は処理対象部分を示す。第5図は
第4図上ライン(a)のラベルバッファの内容を示した
ものである。そして下ライン(b)はそのラベルバッフ
ァの内容に基づきラベル付けされる。つまりラベルバッ
ファの内容(ラベル)に゛基づき、図中(b)ラインの
画素力、キはAに、画素りはBにラベル付けされる。一
方画素ケ、コ、すは隣接画素にラベルがないので、未使
用ラベルCにラベル付けされる(第6図参照)。
また参考として、第1図第10ラインまで走査。
ラベル付けを終了した際のラベルの模式図及び第10ラ
インのラベルバッファの内容の模式図を第7図、第8図
に示す。
第9図は第1図の各画素をすべてラベル付けした状態を
表す模式図である。次に各ラベルのカウント点数及び連
結先のラベルを調べる。第1O図はその結果を示し、第
9図のラベル付けに基づく各ラベルのカウント点数及び
連結先のラベルを表したものであり、そして第1O図に
示す如き内容がメモリに記憶される。
次に個々のラベルのカウント点数が予め設定した消去点
数(例えば14点)未満の場合は、連結先のラベルカウ
ント点数との総和点数を調べる。
一方上述した如きラベル付け、ラベルカウント点数計数
のための走査とは前記消去点数分のライン数だけ遅れて
、再び前回の走査時と同様のラベル付けを行う。そして
このラベル付けを行うと共に、メモリに記憶される第1
O図の如きラベルカウント点数及び連結先指示に基づき
、前記総和点数(或いは連結ラベルが無い場合は個々の
ラベルカウント点数)が14点未満のラベルに対する画
素はすべて消去する。このラベル付は及び消去のための
走査の際も、最初のラベル付けのための走査は継続され
ており、最初の走査線と2回目の走査線とは常に消去点
数分のライン数差だ2す隔たっている。
以下第1図(第9図)に示す画像における消去処理につ
いて具体的に説明する。第9図において、ラベルA (
20点)はそれ自体で14点以上あるので残存する。ラ
ベルB、C,D、E、にはそれ自体は3点ずつしかない
が、互いに14点のラベルGを含めて連結しており総和
は29点となるので、ラベルGと共に残存する。一方ラ
ベルF(2点)、ラベルH(3点)は互いに連結してい
るが、総和が5点しかないので消去する。ラベルI、J
、Lは連結するラベルがなく、また点数も夫々4,5゜
2点であるから消去する。
そして、小粒子(ラベルF、H,I、J、L相当)は除
去され、大粒子だけが残った画像(第11図参照)が得
られる。
尚本実施例では画素消去のための設定点数を14点とし
たが、これに限らず何点でも良いことは勿論であり、こ
の設定点数の大小により除去されるべき小粒子の面接レ
ベルが決定される。
〔効果〕
以上詳述した如く本発明方法にあっては、各画素のラベ
ル付けを行ってラベルカウント点数及び連結光を調べ、
次に全く同様のラベル付けを行って連結状態を考慮しな
がら設定点数以下の粒子を除去するが、本発明では各画
素を走査しながら隣接画素のラベルを参照して各画素を
ラベル付けするので、全画素の内容をメモリに記憶する
必要がなくメモリが小容量で済む。
また設定点数分のライン数だけの画素を走査する時間で
小粒子除去が行え、その実時間処理が可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は2値化画像の模式図、第2,8図はラベルバソ
ファの模式図、第3.4,5.6図は本発明方法におけ
るラベル付けを説明するための画像の模式図、第7図は
第1図のラベル付は中途の画像の模式図、第9図は第1
図のラベル付は後の画像の模式図、第10図は第9図に
おけるラベルカウント点数及びラベルの連結光の表示図
、第11図は小粒子除去後の画像の模式図、第12.1
3.14゜15、16.17.18図は従来技術を説明
するための画像の模式図である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、2値化画像中に含まれる小粒子を除去する方法にお
    いて、 前記2値化画像の各画素を走査しながら、 走査済の隣接画素のラベルを調べることにより各画素の
    ラベル付けを順次行い、次に付けられた各ラベル毎の連
    結状態を調べ、該連結状態に基づき各粒子の画素点数合
    計値を求め、少なくとも所定ライン数の走査後、再び前
    記各画素を走査しながら、走査済の隣接画素のラベルを
    調べることにより各画素をラベル付けし、前記ライン数
    と同数の点数に満たない粒子は除去することを特徴とす
    る小粒子除去方法。
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