JPH07181139A - 印字検査装置及び画像パターンフィルタ - Google Patents
印字検査装置及び画像パターンフィルタInfo
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- JPH07181139A JPH07181139A JP5326363A JP32636393A JPH07181139A JP H07181139 A JPH07181139 A JP H07181139A JP 5326363 A JP5326363 A JP 5326363A JP 32636393 A JP32636393 A JP 32636393A JP H07181139 A JPH07181139 A JP H07181139A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 カンやビン類等への印字に際しての印字検査
を自動的に行うと共に、文字欠け、文字はみ出しの抽出
を行いこれらを統合して印字評価したい。 【構成】 基準登録パターンと印字撮像した被検パター
ンとの差分パターンを求め、これを塊状成分抽出用フィ
ルタ４に通して文字欠け部ａ、文字はみ出し部ｂを持つ
残存パターンを得る。この残存パターンと登録パターン
とのアンドをアンド回路６でとることで文字欠け部ａを
抽出する。残存パターンと被検パターンとのアンドをア
ンド回路７でとることで文字はみ出し部ｂを抽出する。
更にａ及びｂの面積を求めると共に設定可変な重み比重
Ｗ1、Ｗ2を乗算して総和を求める。これは加算回路９で
行う。ここでＳ＝Ｗ1Ｓ1＋Ｗ2Ｓ2である。Ｗ1とＷ2とを
適宜設定することでＳの値が種々変化し、文字欠け、文
字はみ出しの比重に応じたＳを得る。
を自動的に行うと共に、文字欠け、文字はみ出しの抽出
を行いこれらを統合して印字評価したい。 【構成】 基準登録パターンと印字撮像した被検パター
ンとの差分パターンを求め、これを塊状成分抽出用フィ
ルタ４に通して文字欠け部ａ、文字はみ出し部ｂを持つ
残存パターンを得る。この残存パターンと登録パターン
とのアンドをアンド回路６でとることで文字欠け部ａを
抽出する。残存パターンと被検パターンとのアンドをア
ンド回路７でとることで文字はみ出し部ｂを抽出する。
更にａ及びｂの面積を求めると共に設定可変な重み比重
Ｗ1、Ｗ2を乗算して総和を求める。これは加算回路９で
行う。ここでＳ＝Ｗ1Ｓ1＋Ｗ2Ｓ2である。Ｗ1とＷ2とを
適宜設定することでＳの値が種々変化し、文字欠け、文
字はみ出しの比重に応じたＳを得る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は生産ラインのカンやビン
等の印字状態を検査する印字検査装置及び画像パターン
フィルタに関する。
等の印字状態を検査する印字検査装置及び画像パターン
フィルタに関する。
【０００２】
【従来の技術】生産ライン上で、カンやビン等を次々に
搬送しながら製造年月日やコード番号等を印字させ、そ
の印字の良否をリアルタイムで行う検査装置が存在す
る。
搬送しながら製造年月日やコード番号等を印字させ、そ
の印字の良否をリアルタイムで行う検査装置が存在す
る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来例
は、文字の欠けやはみ出しの抽出は行っていない。特
に、文字欠けと文字はみ出しとは発生する割合が多く、
且つ視覚状からも印字の印象が非常に悪いものであるた
め、それを区分して識別できることが好ましい。
は、文字の欠けやはみ出しの抽出は行っていない。特
に、文字欠けと文字はみ出しとは発生する割合が多く、
且つ視覚状からも印字の印象が非常に悪いものであるた
め、それを区分して識別できることが好ましい。
【０００４】更に、文字欠けと文字はみ出しとの割合を
総合して印字検査ができれば、視覚による印字印象に近
い判断を下せることにもなる。
総合して印字検査ができれば、視覚による印字印象に近
い判断を下せることにもなる。
【０００５】本発明の目的は、文字欠けと文字はみ出し
とを区別して識別可能にするパターンマッチングによる
印字検査装置を提供するものである。
とを区別して識別可能にするパターンマッチングによる
印字検査装置を提供するものである。
【０００６】更に本発明の目的は、文字欠けと文字はみ
出しとの割合を総合して１つのパラメータ化して評価可
能にする印字検査装置を提供するものである。
出しとの割合を総合して１つのパラメータ化して評価可
能にする印字検査装置を提供するものである。
【０００７】更に本発明は、文字欠けと文字はみ出しと
の割合を変更可能にしてパラメータを種々視覚上の判断
に一致するようにする印字検査装置を提供するものであ
る。
の割合を変更可能にしてパラメータを種々視覚上の判断
に一致するようにする印字検査装置を提供するものであ
る。
【０００８】更に本発明は、文字欠けやはみ出し等の抽
出に好適な画像パターンフィルタを提供する。
出に好適な画像パターンフィルタを提供する。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明は、基準登録パタ
ーンと印字文字からの被検パターンとの差分をとり差分
パターンを求める手段と、差分パターンと前記基準登録
パターンとのアンドをとる第１のアンド回路と、差分パ
ターンと前記被検パターンとのアンドをとる第２のアン
ド回路と、第１のアンド回路出力を文字欠け部情報と
し、第２のアンド回路出力を文字はみ出し部情報とする
手段と、より成る印字検査装置を開示する。
ーンと印字文字からの被検パターンとの差分をとり差分
パターンを求める手段と、差分パターンと前記基準登録
パターンとのアンドをとる第１のアンド回路と、差分パ
ターンと前記被検パターンとのアンドをとる第２のアン
ド回路と、第１のアンド回路出力を文字欠け部情報と
し、第２のアンド回路出力を文字はみ出し部情報とする
手段と、より成る印字検査装置を開示する。
【００１０】更に本発明は、基準登録パターンと印字文
字からの被検パターンとの差分をとり、差分パターンを
求める手段と、差分パターン上の塊状成分のみを抽出す
るフィルタと、フィルタ出力と前記基準登録パターンと
のアンドをとる第１のアンド回路と、フィルタ出力と前
記被検パターンとのアンドをとる第２のアンド回路と、
第１のアンド回路の塊状成分の面積Ｓ1と第２のアンド
回路の塊状成分の面積Ｓ2とを求めると共に、任意に変
更可能な重み比重Ｗ1、Ｗ2を設定して統合パラメータＳ
＝Ｗ1Ｓ1＋Ｗ2Ｓ2を算出する手段と、統合パラメータＳ
と良否判定用基準値Ｓ0とを比較しＳ≧Ｓ0で印字良、Ｓ
＜Ｓ0で印字不良と判定する判定手段と、より成る印字
検査装置を開示する。
字からの被検パターンとの差分をとり、差分パターンを
求める手段と、差分パターン上の塊状成分のみを抽出す
るフィルタと、フィルタ出力と前記基準登録パターンと
のアンドをとる第１のアンド回路と、フィルタ出力と前
記被検パターンとのアンドをとる第２のアンド回路と、
第１のアンド回路の塊状成分の面積Ｓ1と第２のアンド
回路の塊状成分の面積Ｓ2とを求めると共に、任意に変
更可能な重み比重Ｗ1、Ｗ2を設定して統合パラメータＳ
＝Ｗ1Ｓ1＋Ｗ2Ｓ2を算出する手段と、統合パラメータＳ
と良否判定用基準値Ｓ0とを比較しＳ≧Ｓ0で印字良、Ｓ
＜Ｓ0で印字不良と判定する判定手段と、より成る印字
検査装置を開示する。
【００１１】更に本発明は、上記印字文字とは、生産ラ
イン上の搬送カン又はビン類等に印字された文字とする
印字検査装置を開示する。
イン上の搬送カン又はビン類等に印字された文字とする
印字検査装置を開示する。
【００１２】更に本発明は、画像パターンとこの画像パ
ターンの左上シフトパターンとのアンドをとる第１の行
列ＡＮＤ回路と、画像パターンと、この画像パターンの
右上シフトパターンとのアンドをとる第２の行列ＡＮＤ
回路と、第１、第２の行列ＡＮＤ回路出力のオアをとる
第１の行列ＯＲ回路と、第１の行列ＯＲ回路出力と画像
パターンの左下シフトパターンとのアンドをとる第３の
行列ＡＮＤ回路と、第１の行列ＯＲ回路出力と画像パタ
ーンの右下シフトパターンとのアンドをとる第４の行列
ＡＮＤ回路と、第３、第４の行列ＡＮＤ回路出力のオア
をとる第２の行列ＯＲ回路と、より成る画像パターンフ
ィルタを開示する。
ターンの左上シフトパターンとのアンドをとる第１の行
列ＡＮＤ回路と、画像パターンと、この画像パターンの
右上シフトパターンとのアンドをとる第２の行列ＡＮＤ
回路と、第１、第２の行列ＡＮＤ回路出力のオアをとる
第１の行列ＯＲ回路と、第１の行列ＯＲ回路出力と画像
パターンの左下シフトパターンとのアンドをとる第３の
行列ＡＮＤ回路と、第１の行列ＯＲ回路出力と画像パタ
ーンの右下シフトパターンとのアンドをとる第４の行列
ＡＮＤ回路と、第３、第４の行列ＡＮＤ回路出力のオア
をとる第２の行列ＯＲ回路と、より成る画像パターンフ
ィルタを開示する。
【００１３】更に本発明は、画像パターンとこの画像パ
ターンの左シフトパターンとのアンドをとる第１の行列
ＡＮＤ回路と、画像パターンとこの画像パターンの右シ
フトパターンとのアンドをとる第２の行列ＡＮＤ回路
と、第１、第２の行列ＡＮＤ回路出力のオアをとる第１
の行列ＯＲ回路と、画像パターンとこの画像パターンの
上シフトパターンとのアンドをとる第３の行列ＡＮＤ回
路と、画像パターンとこの画像パターンの下シフトパタ
ーンとのアンドをとる第４の行列ＡＮＤ回路と、第３、
第４の行列ＡＮＤ回路出力のオアをとる第２の行列ＯＲ
回路と、第１、第２の行列ＯＲ回路の出力のアンドをと
る第５の行列ＡＮＤ回路と、より成る画像パターンフィ
ルタを開示する。
ターンの左シフトパターンとのアンドをとる第１の行列
ＡＮＤ回路と、画像パターンとこの画像パターンの右シ
フトパターンとのアンドをとる第２の行列ＡＮＤ回路
と、第１、第２の行列ＡＮＤ回路出力のオアをとる第１
の行列ＯＲ回路と、画像パターンとこの画像パターンの
上シフトパターンとのアンドをとる第３の行列ＡＮＤ回
路と、画像パターンとこの画像パターンの下シフトパタ
ーンとのアンドをとる第４の行列ＡＮＤ回路と、第３、
第４の行列ＡＮＤ回路出力のオアをとる第２の行列ＯＲ
回路と、第１、第２の行列ＯＲ回路の出力のアンドをと
る第５の行列ＡＮＤ回路と、より成る画像パターンフィ
ルタを開示する。
【００１４】更に本発明は、この画像パターンフィルタ
を差分パターンから塊状成分抽出用のフィルタとして使
う。
を差分パターンから塊状成分抽出用のフィルタとして使
う。
【００１５】
【作用】本発明によれば、フィルタ出力と基準登録パラ
メータとのアンドをとることにより文字欠け部が抽出で
き、フィルタ出力と被検パターンとのアンドをとること
により文字はみ出し部の抽出ができる。
メータとのアンドをとることにより文字欠け部が抽出で
き、フィルタ出力と被検パターンとのアンドをとること
により文字はみ出し部の抽出ができる。
【００１６】更に本発明によれば、上記抽出した文字欠
け部の面積、及び文字はみ出し部の面積をとりそれらに
任意に設定可能な重み比重をかけ合わせて加算すること
で統合パラメータを得る。
け部の面積、及び文字はみ出し部の面積をとりそれらに
任意に設定可能な重み比重をかけ合わせて加算すること
で統合パラメータを得る。
【００１７】
【実施例】図１は本発明のパターンマッチング装置の実
施例図である。図１のパターンマッチング装置は、メモ
リ１、２、差分回路３、フィルタ４、バッファ５、アン
ド回路６、７、バッファ８、９、加算回路１０、比較器
１１より成る。メモリ１は２値化した登録パターン（マ
スタパターン）を記憶したメモリ、メモリ２は、印字文
字をＴＶカメラ等で撮像して、それを２値化して抽出し
た被検パターン（入力パターン）を、記憶するメモリで
ある。これらは、ｎ×ｎ又はｎ×ｍの大きさの画素数に
正規化されており、以降の処理ではｎ×ｎ又はｎ×ｍの
行列を利用しての並列処理でも、ラスタスキャンによる
１画素毎のシリアル処理でもよい。
施例図である。図１のパターンマッチング装置は、メモ
リ１、２、差分回路３、フィルタ４、バッファ５、アン
ド回路６、７、バッファ８、９、加算回路１０、比較器
１１より成る。メモリ１は２値化した登録パターン（マ
スタパターン）を記憶したメモリ、メモリ２は、印字文
字をＴＶカメラ等で撮像して、それを２値化して抽出し
た被検パターン（入力パターン）を、記憶するメモリで
ある。これらは、ｎ×ｎ又はｎ×ｍの大きさの画素数に
正規化されており、以降の処理ではｎ×ｎ又はｎ×ｍの
行列を利用しての並列処理でも、ラスタスキャンによる
１画素毎のシリアル処理でもよい。
【００１８】差分回路３は、メモリ１と２との同一画素
対応に差分をとる回路である。この回路出力が差分パタ
ーンとなる。差分パターンは、同一画素対応の画素値が
どちらも“１”又はどちらも“０”の時には“０”とな
り、一方が“１”、他方が“０”の時には“１”となる
パターンである。従って、差分パターンは登録パターン
と入力パターンとの不一致画素が“１”となり、一致画
素が“０”となるパターンである。ここで、被検パター
ンは、部分ａで文字欠けを起こし、部分Ｂで文字はみ出
しを起こしているものとしている。
対応に差分をとる回路である。この回路出力が差分パタ
ーンとなる。差分パターンは、同一画素対応の画素値が
どちらも“１”又はどちらも“０”の時には“０”とな
り、一方が“１”、他方が“０”の時には“１”となる
パターンである。従って、差分パターンは登録パターン
と入力パターンとの不一致画素が“１”となり、一致画
素が“０”となるパターンである。ここで、被検パター
ンは、部分ａで文字欠けを起こし、部分Ｂで文字はみ出
しを起こしているものとしている。
【００１９】フィルタ４は、差分パターンからノイズ成
分（弧立点や線状成分）を除去すると共に塊状成分を抽
出するフィルタである。即ち、このフィルタ４は差分パ
ターンに微妙なノイズ成分とみられる弧立点及び、線状
成分を除去するフィルタリング処理を行い、面積の大き
い差分成分（塊状成分）のみを抽出するようにしたもの
である。弧立点とは点在するドット状成分の如きもの、
線状成分とは、入力パターンの線幅が登録パターンの線
幅に比して微妙な幅で大きくなったり、小さくなったり
することから生ずる差分成分である。この微妙な幅での
大きくなったり、小さくなったりすることは、入力パタ
ーン全体に発生することもあれば、入力パターンの一部
に発生することもある。こうした線状成分は、文字印字
の評価としては、良ではないが、不良ではないとして不
良品として排除しないことにしている。又、こうした線
状成分は搬送中のカンやビン類等への印字に際しては発
生しやすく、目視上から問題がないとも云われる。勿
論、線分状成分ではなく、幅の太い成分になれば、前記
面積の大きい差分成分として抽出される。
分（弧立点や線状成分）を除去すると共に塊状成分を抽
出するフィルタである。即ち、このフィルタ４は差分パ
ターンに微妙なノイズ成分とみられる弧立点及び、線状
成分を除去するフィルタリング処理を行い、面積の大き
い差分成分（塊状成分）のみを抽出するようにしたもの
である。弧立点とは点在するドット状成分の如きもの、
線状成分とは、入力パターンの線幅が登録パターンの線
幅に比して微妙な幅で大きくなったり、小さくなったり
することから生ずる差分成分である。この微妙な幅での
大きくなったり、小さくなったりすることは、入力パタ
ーン全体に発生することもあれば、入力パターンの一部
に発生することもある。こうした線状成分は、文字印字
の評価としては、良ではないが、不良ではないとして不
良品として排除しないことにしている。又、こうした線
状成分は搬送中のカンやビン類等への印字に際しては発
生しやすく、目視上から問題がないとも云われる。勿
論、線分状成分ではなく、幅の太い成分になれば、前記
面積の大きい差分成分として抽出される。
【００２０】このフィルタ４は、文字欠け部ａと文字は
み出し部ｂと線状成分ｃとを持つ図１の差分パターンを
入力してフィルタリング処理すると、線状成分Ｃが除去
され、文字欠け部ａと文字はみ出し部ｂとが残された差
分パターンとなる。
み出し部ｂと線状成分ｃとを持つ図１の差分パターンを
入力してフィルタリング処理すると、線状成分Ｃが除去
され、文字欠け部ａと文字はみ出し部ｂとが残された差
分パターンとなる。
【００２１】この差分パターンをバッファ５に一担ラッ
チさせる。次に、メモリ１の登録パターンとバッファ５
のフィルタ処理差分パターンとのアンドをアンド回路６
でとる。アンド回路６の出力は、欠け部ａが残ったパタ
ーンとなり、欠け部が抽出されたことになる。一方、メ
モリ２の被検パターンとバッファ５のフィルタ処理差分
パターンとのアンドをアンド回路７でとる。アンド回路
７の出力は、はみ出し部ｂが残ったパターンとなり、文
字はみ出し部が抽出されたことになる。
チさせる。次に、メモリ１の登録パターンとバッファ５
のフィルタ処理差分パターンとのアンドをアンド回路６
でとる。アンド回路６の出力は、欠け部ａが残ったパタ
ーンとなり、欠け部が抽出されたことになる。一方、メ
モリ２の被検パターンとバッファ５のフィルタ処理差分
パターンとのアンドをアンド回路７でとる。アンド回路
７の出力は、はみ出し部ｂが残ったパターンとなり、文
字はみ出し部が抽出されたことになる。
【００２２】加算回路１０は、バッファ８と９との画像
情報中の“１”の数の総和値、即ち、欠け部ａの面積Ｓ
1と、はみ出し部ｂの面積Ｓ2と、を各々求め、両者から
下記の加算値Ｓを求める。
情報中の“１”の数の総和値、即ち、欠け部ａの面積Ｓ
1と、はみ出し部ｂの面積Ｓ2と、を各々求め、両者から
下記の加算値Ｓを求める。
【数１】Ｓ＝Ｓ1Ｗ1＋Ｓ2Ｗ2 ここでＷ1、Ｗ2は外部から与えられるものであり、文字
欠け部ａ重み係数、文字はみ出し部ｂの重み係数であ
る。（数１）の意味は以下の通りである。文字欠け、文
字はみ出し各々に抽出して各々の様子をみることも重要
であるが、文字欠け、文字はみ出しを統合してみること
も良否判定上は重要である。Ｓはこの統合パラメータで
ある。Ｗ1＝Ｗ2の時は文字欠け、文字はみ出しの判定比
重を同じくした例、Ｗ1＞Ｗ2、Ｗ2＞Ｗ1の例はそれぞれ
文字欠け比重大、文字はみ出し比重大とする例である。
Ｗ1、Ｗ2は外部から任意自在に設定可能にしておき、判
定目的に応じて設定する。
欠け部ａ重み係数、文字はみ出し部ｂの重み係数であ
る。（数１）の意味は以下の通りである。文字欠け、文
字はみ出し各々に抽出して各々の様子をみることも重要
であるが、文字欠け、文字はみ出しを統合してみること
も良否判定上は重要である。Ｓはこの統合パラメータで
ある。Ｗ1＝Ｗ2の時は文字欠け、文字はみ出しの判定比
重を同じくした例、Ｗ1＞Ｗ2、Ｗ2＞Ｗ1の例はそれぞれ
文字欠け比重大、文字はみ出し比重大とする例である。
Ｗ1、Ｗ2は外部から任意自在に設定可能にしておき、判
定目的に応じて設定する。
【００２３】統合パラメータＳは、良否判定の基準値Ｓ
0と比較器１１で比較されＳ≦Ｓ0で印字良、Ｓ＞Ｓ0で
印字不良と判定する。
0と比較器１１で比較されＳ≦Ｓ0で印字良、Ｓ＞Ｓ0で
印字不良と判定する。
【００２４】人間の目による印字検査では、文字の線幅
変動には甘い傾向があり、本方式のフィルタ処理により
対処できる。検査対象によっては、文字欠けを特に厳し
く検査したい（例えばガラスビンやカン内の内容物の有
効期限表示の例）場合には、減点重み係数Ｗ1を大きく
することにより、目的を達成できる。また文字のにじみ
検査を重点的に行いたい場合には、減点重み係数Ｗ2を
大きくすることにより実現できる。このように、Ｗ1、
Ｗ2の値を目的に応じて設定することにより、目的に応
じた検査が可能となる。
変動には甘い傾向があり、本方式のフィルタ処理により
対処できる。検査対象によっては、文字欠けを特に厳し
く検査したい（例えばガラスビンやカン内の内容物の有
効期限表示の例）場合には、減点重み係数Ｗ1を大きく
することにより、目的を達成できる。また文字のにじみ
検査を重点的に行いたい場合には、減点重み係数Ｗ2を
大きくすることにより実現できる。このように、Ｗ1、
Ｗ2の値を目的に応じて設定することにより、目的に応
じた検査が可能となる。
【００２５】図２にフィルタ４の実施例を示す。図でパ
ターン６ｃは、数字“８”でのある差分パターンを示
す。斜線で示す部分６ｎが、差分パターン上での塊状差
分部分を示し、これは差分対象となる被検パターンに、
この塊状部分で欠落が生じていることを示している。図
１の文字“Ａ”の例でみれば、文字欠け部ａや文字はみ
出し部ｂが該当する。
ターン６ｃは、数字“８”でのある差分パターンを示
す。斜線で示す部分６ｎが、差分パターン上での塊状差
分部分を示し、これは差分対象となる被検パターンに、
この塊状部分で欠落が生じていることを示している。図
１の文字“Ａ”の例でみれば、文字欠け部ａや文字はみ
出し部ｂが該当する。
【００２６】図２の破線で示す部分６ｍが塊状差分部分
６ｎ以外の差分部分を示す。線状の破線で示したのは、
塊状差分部分に比べて線分に近い程細い幅であることを
強調するためであり、実際上はこの線状に近い差分もあ
れば線状よりも若干太い幅をもった差分例もある。
６ｎ以外の差分部分を示す。線状の破線で示したのは、
塊状差分部分に比べて線分に近い程細い幅であることを
強調するためであり、実際上はこの線状に近い差分もあ
れば線状よりも若干太い幅をもった差分例もある。
【００２７】パターン６ｅ、６ｆ、６ｇ、６ｈは以下の
パターンである。 パターン６ｅ……パターン６ｃを左上（４５゜）方向に
シフトして得た左上パターンである。 パターン６ｆ……パターン６ｃを右上（４５゜）方向に
シフトして得た左上パターンである。 パターン６ｇ……パターン６ｃを左下（４５゜）方向に
シフトして得た左下パターンである。 パターン６ｈ……パターン６ｃを右下（４５゜）方向に
シフトして得た右下パターンである。
パターンである。 パターン６ｅ……パターン６ｃを左上（４５゜）方向に
シフトして得た左上パターンである。 パターン６ｆ……パターン６ｃを右上（４５゜）方向に
シフトして得た左上パターンである。 パターン６ｇ……パターン６ｃを左下（４５゜）方向に
シフトして得た左下パターンである。 パターン６ｈ……パターン６ｃを右下（４５゜）方向に
シフトして得た右下パターンである。
【００２８】図３には、４×４の行列パターン６ｃをシ
フトしてパターン６ｅ〜６ｈを得る例を示す。各パター
ン６ｅ〜６ｈとパターン６ｃとは以下の関係にある。 パターン６ｅ……パターン６ｃを左１ビット、上１ビッ
ト各々シフトして得たパターンである。これにより、パ
ターン６ｃの列アドレス（ｍ、ｍ＋１、ｍ＋２、ｍ＋
３）がパターン６ｅでは列アドレス（ｍ−１、ｍ、ｍ＋
１、ｍ＋２）となる。パターン６ｃの行アドレス（ｎ、
ｎ＋１、ｎ＋２、ｎ＋３）がパターン６ｅでは行アドレ
ス（ｎ−１、ｎ、ｎ＋１、ｎ＋２）となる。当然のこと
ながら、この行列の画像データ（１、０の２値化されて
いる）には変更はない。
フトしてパターン６ｅ〜６ｈを得る例を示す。各パター
ン６ｅ〜６ｈとパターン６ｃとは以下の関係にある。 パターン６ｅ……パターン６ｃを左１ビット、上１ビッ
ト各々シフトして得たパターンである。これにより、パ
ターン６ｃの列アドレス（ｍ、ｍ＋１、ｍ＋２、ｍ＋
３）がパターン６ｅでは列アドレス（ｍ−１、ｍ、ｍ＋
１、ｍ＋２）となる。パターン６ｃの行アドレス（ｎ、
ｎ＋１、ｎ＋２、ｎ＋３）がパターン６ｅでは行アドレ
ス（ｎ−１、ｎ、ｎ＋１、ｎ＋２）となる。当然のこと
ながら、この行列の画像データ（１、０の２値化されて
いる）には変更はない。
【００２９】パターン６ｆ……パターン６ｃを右１ビッ
ト、上１ビット各々シフトして得たパターンであり、列
アドレスが（ｍ＋１、ｍ＋２、ｍ＋３、ｍ＋４）へと変
更となり、行アドレスが（ｎ−１、ｎ、ｎ＋１、ｎ＋
２）へと変更となる。
ト、上１ビット各々シフトして得たパターンであり、列
アドレスが（ｍ＋１、ｍ＋２、ｍ＋３、ｍ＋４）へと変
更となり、行アドレスが（ｎ−１、ｎ、ｎ＋１、ｎ＋
２）へと変更となる。
【００３０】パターン６ｇ……パターン６ｃを左１ビッ
ト、下１ビット各々シフトして得たパターンであり、列
アドレスが（ｍ−１、ｍ、ｍ＋１、ｍ＋２）へと変更と
なり、行アドレスが（ｎ＋１、ｎ＋２、ｎ＋３、ｎ＋
４）へと変更となる。
ト、下１ビット各々シフトして得たパターンであり、列
アドレスが（ｍ−１、ｍ、ｍ＋１、ｍ＋２）へと変更と
なり、行アドレスが（ｎ＋１、ｎ＋２、ｎ＋３、ｎ＋
４）へと変更となる。
【００３１】パターン６ｈ……パターン６ｃを右１ビッ
ト、下１ビット各々シフトして得たパターンであり、列
アドレスが（ｍ＋１、ｍ＋２、ｍ＋３、ｍ＋４）へと変
更となり、行アドレスが（ｎ＋１、ｎ＋２、ｎ＋３、ｎ
＋４）へと変更となる。
ト、下１ビット各々シフトして得たパターンであり、列
アドレスが（ｍ＋１、ｍ＋２、ｍ＋３、ｍ＋４）へと変
更となり、行アドレスが（ｎ＋１、ｎ＋２、ｎ＋３、ｎ
＋４）へと変更となる。
【００３２】尚、４×４の行列は説明の便宜のためであ
り、８×８、１６×１６、３２×３２等種々の行列例が
存在することは当然である。
り、８×８、１６×１６、３２×３２等種々の行列例が
存在することは当然である。
【００３３】図２の説明に戻る。ＡＮＤ回路４ｂは、パ
ターン６ｃと６ｅとの行列相互のアンドを取る回路であ
り、これにより、“１”が共通に存在する画素のみが抽
出される。ＡＮＤ回路４ｂ2は、パターン６ｃと６ｆと
の行列相互のアンドを取る回路であり、これにより
“１”が共通に存在する画素のみが抽出される。行列Ｏ
Ｒ回路４ｃ1は、アンド回路４ｂ1、４ｂ2とのオアを取
る回路であり、各々“１”の画素を取り出す。この結果
がパターン６ｉとなる。ＡＮＤ回路４ｂ3はパターン６
ｉと６ｇとの行列相互のアンドを取る回路であり、ＡＮ
Ｄ回路４ｂ4はパターン６ｉと６ｈとの行列相互のアン
ドを取る回路であり、それぞれ共通“１”の画素を取り
出す。ＯＲ回路４ｃ2は、回路４ｂ3、４ｂ4との出力の
オアをとり、これにより、パターン６ｃの線状部分６ｍ
は除去され塊状差分部分６ｎのみが抽出される。
ターン６ｃと６ｅとの行列相互のアンドを取る回路であ
り、これにより、“１”が共通に存在する画素のみが抽
出される。ＡＮＤ回路４ｂ2は、パターン６ｃと６ｆと
の行列相互のアンドを取る回路であり、これにより
“１”が共通に存在する画素のみが抽出される。行列Ｏ
Ｒ回路４ｃ1は、アンド回路４ｂ1、４ｂ2とのオアを取
る回路であり、各々“１”の画素を取り出す。この結果
がパターン６ｉとなる。ＡＮＤ回路４ｂ3はパターン６
ｉと６ｇとの行列相互のアンドを取る回路であり、ＡＮ
Ｄ回路４ｂ4はパターン６ｉと６ｈとの行列相互のアン
ドを取る回路であり、それぞれ共通“１”の画素を取り
出す。ＯＲ回路４ｃ2は、回路４ｂ3、４ｂ4との出力の
オアをとり、これにより、パターン６ｃの線状部分６ｍ
は除去され塊状差分部分６ｎのみが抽出される。
【００３４】図４は別のフィルタの実施例例図である。
図２のフィルタは、右上、左上、右下、左下の４つのシ
フトパターンを使ったが、本実施例は、右、左、上、下
の４つのシフトパターンを使った例である。パターン
６′ｅが左１ビットシフトして得た左シフトパターン、
パターン６′ｆが右１ビットシフトして得た右シフトパ
ターン、パターン６′ｇが上１ビットシフトして得た上
シフトパターン、パターン６′ｈが下１ビットシフトし
て得た下シフトパターンを示す。ＡＮＤ回路４ｂ1は、
パターン６ｃと６′ｅとのアンドをとり、ＡＮＤ回路４
ｂ2 はパターン６ｃと６′ｆとのアンドをとる。図２の
実施例では、ＡＮＤ回路４ｃ1 の出力をＡＮＤ回路４ｂ
3、４ｂ4 への入力としたが、本実施例ではこうしたや
り方をせずに、ＡＮＤ回路４ｂ5 への入力とした。
図２のフィルタは、右上、左上、右下、左下の４つのシ
フトパターンを使ったが、本実施例は、右、左、上、下
の４つのシフトパターンを使った例である。パターン
６′ｅが左１ビットシフトして得た左シフトパターン、
パターン６′ｆが右１ビットシフトして得た右シフトパ
ターン、パターン６′ｇが上１ビットシフトして得た上
シフトパターン、パターン６′ｈが下１ビットシフトし
て得た下シフトパターンを示す。ＡＮＤ回路４ｂ1は、
パターン６ｃと６′ｅとのアンドをとり、ＡＮＤ回路４
ｂ2 はパターン６ｃと６′ｆとのアンドをとる。図２の
実施例では、ＡＮＤ回路４ｃ1 の出力をＡＮＤ回路４ｂ
3、４ｂ4 への入力としたが、本実施例ではこうしたや
り方をせずに、ＡＮＤ回路４ｂ5 への入力とした。
【００３５】ＡＮＤ回路４ｂ3 はパターン６ｃと６′ｇ
とのアンドをとり、ＡＮＤ回路４ｂ4 はパターン６ｃと
６′ｈとのアンドをとる。図２の実施例では、ＡＮＤ回
路４ｂ3への入力は６ｇと６ｉであり、ＡＮＤ回路４ｂ4
への入力は６ｈと６ｉであり、ＡＮＤ回路４ｂ3、４ｂ
4 での論理対象を異にする。
とのアンドをとり、ＡＮＤ回路４ｂ4 はパターン６ｃと
６′ｈとのアンドをとる。図２の実施例では、ＡＮＤ回
路４ｂ3への入力は６ｇと６ｉであり、ＡＮＤ回路４ｂ4
への入力は６ｈと６ｉであり、ＡＮＤ回路４ｂ3、４ｂ
4 での論理対象を異にする。
【００３６】更に、ＯＲ回路４ｃ2 は、ＡＮＤ回路４ｂ
3、４ｂ4 の出力を入力とする。最終段のＡＮＤ回路４
ｂ5 は、ＯＲ回路４ｃ1、４ｃ2との出力を入力としてア
ンドをとる。この結果、パターン６ｄを得、塊状パター
ン６ｎのみが抽出されたことになる。
3、４ｂ4 の出力を入力とする。最終段のＡＮＤ回路４
ｂ5 は、ＯＲ回路４ｃ1、４ｃ2との出力を入力としてア
ンドをとる。この結果、パターン６ｄを得、塊状パター
ン６ｎのみが抽出されたことになる。
【００３７】図５には４×４の差分画像パターンに対す
る第２のフィルタによる処理結果を示す。更に図６に
は、この第２のフィルタによる画素削除例と残存画素例
を示す。図６においてはいずれもその行と列方向に近接
して“１”がない例を示している。（イ）が１点のみが
“１”の例、（ロ）が横方向のみに連続して“１”があ
る例、（ハ）が縦方向のみに連続して“１”がある例、
（ニ）が斜線方向のみに連続して“１”がある例であ
り、これらは、いずれも図４のフィルタを使うことによ
り削除され“０”となる。（ホ）が２×２の画素すべて
が“１”の例であり、これはすべての画素の“１”が残
る。（ヘ）は逆Ｌ字形の例であり、カギの部分の一画素
のみの“１”が残り、他は削除され、“０”となる。
る第２のフィルタによる処理結果を示す。更に図６に
は、この第２のフィルタによる画素削除例と残存画素例
を示す。図６においてはいずれもその行と列方向に近接
して“１”がない例を示している。（イ）が１点のみが
“１”の例、（ロ）が横方向のみに連続して“１”があ
る例、（ハ）が縦方向のみに連続して“１”がある例、
（ニ）が斜線方向のみに連続して“１”がある例であ
り、これらは、いずれも図４のフィルタを使うことによ
り削除され“０”となる。（ホ）が２×２の画素すべて
が“１”の例であり、これはすべての画素の“１”が残
る。（ヘ）は逆Ｌ字形の例であり、カギの部分の一画素
のみの“１”が残り、他は削除され、“０”となる。
【００３８】尚、基本抽出パターンは２×２の全画素
“１”の例としたが、これは、図２、図４のフィルタに
おける１ビットシフト例のためである。行列の数を大き
くしてビットシフト数を２ビットとすれば２×２ではな
く４×４の全画素“１”の例が基本抽出パターンとな
る。また、図２、図４において、左右上下１ビットでは
なく、左右１ビット、上下２ビットの如きシフト例もあ
りうる。
“１”の例としたが、これは、図２、図４のフィルタに
おける１ビットシフト例のためである。行列の数を大き
くしてビットシフト数を２ビットとすれば２×２ではな
く４×４の全画素“１”の例が基本抽出パターンとな
る。また、図２、図４において、左右上下１ビットでは
なく、左右１ビット、上下２ビットの如きシフト例もあ
りうる。
【００３９】以上の図２、図４のフィルタは、本実施例
の検査装置以外の一般の画像パターンフィルタとしても
使用可能である。この場合、差分パターンの代わりに、
差分前の画像そのものであったりすることもある。
の検査装置以外の一般の画像パターンフィルタとしても
使用可能である。この場合、差分パターンの代わりに、
差分前の画像そのものであったりすることもある。
【００４０】尚、ドットノイズの少ない文字にあって
は、フィルタ４を用いなくてもよい。
は、フィルタ４を用いなくてもよい。
【００４１】
【発明の効果】本発明によれば、印字文字の文字欠け部
及び文字はみ出し部の抽出が可能になった。
及び文字はみ出し部の抽出が可能になった。
【００４２】更に本発明によれば、文字欠け部面積と文
字はみ出し部面積とを互いに比重を乗算させて加算して
統合パラメータを得、このパラメータから印字品質の良
否を、視覚の判断に近い状態で判定できるようになっ
た。
字はみ出し部面積とを互いに比重を乗算させて加算して
統合パラメータを得、このパラメータから印字品質の良
否を、視覚の判断に近い状態で判定できるようになっ
た。
【図１】本発明のパラメータマッチングを利用した印字
検査装置の実施例図である。
検査装置の実施例図である。
【図２】本発明のフィルタの実施例図である。
【図３】本発明に適用されるフィルタに使用する各種パ
ターンを作るための図である。
ターンを作るための図である。
【図４】本発明に適用される他のフィルタの実施例図で
ある。
ある。
【図５】本発明に適用されるフィルタによる処理例を示
す図である。
す図である。
【図６】このフィルタによる削除例及び抽出例を示す図
である。
である。
１、２ メモリ ３ 差分回路 ４ フィルタ ５、８、９ バッファ ６、７ アンド回路 １０ 加算回路 １１ 比較器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 9061−5Ｌ Ｇ０６Ｆ 15/70 ４５５ Ｂ
Claims (8)
- 【請求項１】 基準登録パターンと印字文字からの被検
パターンとの差分をとり差分パターンを求める手段と、
差分パターンと前記基準登録パターンとのアンドをとる
第１のアンド回路と、差分パターンと前記被検パターン
とのアンドをとる第２のアンド回路と、第１のアンド回
路出力を文字欠け部情報とし、第２のアンド回路出力を
文字はみ出し部情報とする手段と、より成る印字検査装
置。 - 【請求項２】 基準登録パターンと印字文字からの被検
パターンとの差分をとり差分パターンを求める手段と、
差分パターン上の塊状成分のみを抽出するフィルタと、
フィルタ出力と前記基準登録パターンとのアンドをとる
第１のアンド回路と、フィルタ出力と前記被検パターン
とのアンドをとる第２のアンド回路と、第１のアンド回
路出力を文字欠け部情報とし、第２のアンド回路出力を
文字はみ出し部情報とする手段と、より成る印字検査装
置。 - 【請求項３】 基準登録パターンと印字文字からの被検
パターンとの差分をとり、差分パターンを求める手段
と、差分パターン上の塊状成分のみを抽出するフィルタ
と、フィルタ出力と前記基準登録パターンとのアンドを
とる第１のアンド回路と、フィルタ出力と前記被検パタ
ーンとのアンドをとる第２のアンド回路と、第１のアン
ド回路の塊状成分の面積Ｓ1と第２のアンド回路の塊状
成分の面積Ｓ2とを求めると共に、任意に変更可能な重
み比重Ｗ1、Ｗ2を設定して統合パラメータＳ＝Ｗ1Ｓ1＋
Ｗ2Ｓ2を算出する手段と、統合パラメータＳと良否判定
用基準値Ｓ0とを比較しＳ≧Ｓ0で印字良、Ｓ＜Ｓ0で印
字不良と判定する判定手段と、より成る印字検査装置。 - 【請求項４】 請求項１又は２の印字検査装置におい
て、上記印字文字とは、生産ライン上の搬送カン又はビ
ン類等に印字された文字とする印字検査装置。 - 【請求項５】 画像パターンとこの画像パターンの左上
シフトパターンとのアンドをとる第１の行列ＡＮＤ回路
と、画像パターンと、この画像パターンの右上シフトパ
ターンとのアンドをとる第２の行列ＡＮＤ回路と、第
１、第２の行列ＡＮＤ回路出力のオアをとる第１の行列
ＯＲ回路と、第１の行列ＯＲ回路出力と画像パターンの
左下シフトパターンとのアンドをとる第３の行列ＡＮＤ
回路と、第１の行列ＯＲ回路出力と画像パターンの右下
シフトパターンとのアンドをとる第４の行列ＡＮＤ回路
と、第３、第４の行列ＡＮＤ回路出力のオアをとる第２
の行列ＯＲ回路と、より成る画像パターンフィルタ。 - 【請求項６】 画像パターンとこの画像パターンの左シ
フトパターンとのアンドをとる第１の行列ＡＮＤ回路
と、画像パターンとこの画像パターンの右シフトパター
ンとのアンドをとる第２の行列ＡＮＤ回路と、第１、第
２の行列ＡＮＤ回路出力のオアをとる第１の行列ＯＲ回
路と、画像パターンとこの画像パターンの上シフトパタ
ーンとのアンドをとる第３の行列ＡＮＤ回路と、画像パ
ターンとこの画像パターンの下シフトパターンとのアン
ドをとる第４の行列ＡＮＤ回路と、第３、第４の行列Ａ
ＮＤ回路出力のオアをとる第２の行列ＯＲ回路と、第
１、第２の行列ＯＲ回路の出力のアンドをとる第５の行
列ＡＮＤ回路と、より成る画像パターンフィルタ。 - 【請求項７】 請求項５又は６において、画像パターン
とは、比較対象とする２つの画像パターン相互の差分パ
ターンとする画像パターンフィルタ。 - 【請求項８】 請求項７の画像パターンフィルタを請求
項２又は３のフィルタとして使用して成る印字検査装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5326363A JPH07181139A (ja) | 1993-12-24 | 1993-12-24 | 印字検査装置及び画像パターンフィルタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5326363A JPH07181139A (ja) | 1993-12-24 | 1993-12-24 | 印字検査装置及び画像パターンフィルタ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07181139A true JPH07181139A (ja) | 1995-07-21 |
Family
ID=18186968
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5326363A Pending JPH07181139A (ja) | 1993-12-24 | 1993-12-24 | 印字検査装置及び画像パターンフィルタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07181139A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015036937A (ja) * | 2013-08-15 | 2015-02-23 | サントリー食品インターナショナル株式会社 | 印字検査装置及び印字検査方法 |
| JP2015087889A (ja) * | 2013-10-30 | 2015-05-07 | 株式会社日立産機システム | 印字検査方法 |
| CN108696663A (zh) * | 2017-04-11 | 2018-10-23 | 柯尼卡美能达株式会社 | 检查装置及储存有检查程序的计算机能够读取的记录介质 |
-
1993
- 1993-12-24 JP JP5326363A patent/JPH07181139A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015036937A (ja) * | 2013-08-15 | 2015-02-23 | サントリー食品インターナショナル株式会社 | 印字検査装置及び印字検査方法 |
| JP2015087889A (ja) * | 2013-10-30 | 2015-05-07 | 株式会社日立産機システム | 印字検査方法 |
| CN108696663A (zh) * | 2017-04-11 | 2018-10-23 | 柯尼卡美能达株式会社 | 检查装置及储存有检查程序的计算机能够读取的记录介质 |
| JP2018179699A (ja) * | 2017-04-11 | 2018-11-15 | コニカミノルタ株式会社 | 検査装置及び検査プログラム |
| US10726556B2 (en) | 2017-04-11 | 2020-07-28 | Konica Minolta, Inc. | Inspection apparatus and inspection program |
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