JPS62286433A - 細隙灯顕微鏡 - Google Patents

細隙灯顕微鏡

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JPS62286433A
JPS62286433A JP61130060A JP13006086A JPS62286433A JP S62286433 A JPS62286433 A JP S62286433A JP 61130060 A JP61130060 A JP 61130060A JP 13006086 A JP13006086 A JP 13006086A JP S62286433 A JPS62286433 A JP S62286433A
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light
scanning
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eye
slit
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直 市橋
河村　益徳
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Kowa Co Ltd
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Kowa Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ３、発明の詳細な説明 ［産業上の利用分野］ 本発明は細隙灯顕微鏡、更に詳細には眼球の角膜、水晶
体等の生体組織を観察診断するのに適した細隙灯顕微鏡
に係るものである。
［従来の技術］ 従来の細隙灯顕微鏡はハロゲンランプ等を光源として使
用し、その光源からの白色光を２枚の遮蔽板の対向縁の
間に形成される細隙（スリット）に通し、そのようにし
て得た光を被検眼に照射し、角膜、水晶体等からの散乱
光により、角膜、水晶体等の状態を観察するように構成
されている。
［発明が解決しようとする問題点］ 従来の細隙灯類ＷＩ鏡はハロゲンランプ等を光源として
使用しているため光密度が小さく、ごく軽度の白濁等は
観察することはできなかった。又、細隙の幅は２枚の遮
蔽板の間隔距離を調整することにより変わるが、細隙の
幅を狭くすればする程、被検眼に照射される光量が少な
くなり、細かく観察することが制限されてしまうという
問題があった。
従って、本発明の目的は上述したような問題を解決し、
光密度が大きく、シかも照射光の横断面の縦横比を広範
囲に精確容易に調整でき、更に細隙光の幅を狭くしても
照射される光量が変化しない細隙灯顕微鏡を提供するこ
とである。
［問題点を解決するための手段］ 本発明ぼ上記の問題点を解決するため、レーザー光源と
、 被検眼へレーザー光を照射する照射光学系と、 レーザー光を水平、垂直方向に走査する手段と。
前記被検眼からの散乱による前記被検眼の断面像を観察
、撮影する受光光学系と、 観察、撮影の為の自動又は手動の調光機構とを備え、 前記レーザー光を水平、垂直方向に走査することにより
走査範囲に対応する細隙光を被検眼へ照射する構成を採
用した。
［作　用］ 光密度の大きいレーザー光を垂直方向並びに水平方向に
走査することにより走査領域の横断面の縦横比を自由に
変化し、特に水平方向の走査幅をレーザー光束の１木分
の幅まで狭めて使用すれば極めて細いスリット光により
角膜、水晶体等の断面を観察することができる。
［実施例］ 本発明を以下に添付した図を参照して詳細に説明する。
第１図に示す細隙灯顕微鏡において、被検眼１ヘレーザ
ー光を照射する照射光学系が設けられており、この光学
系はレーザー管４、直線偏光子６．７、反射鏡８、ビー
ムエクスパンター９゛、垂直方向走査用反射鏡１０、水
平方向走査用反射ａｌｌ、投影レンズ１２、反射鏡１３
から構成される。
また本発明装置には、被検眼１からの散乱による断面像
を観察、撮影する受光光学系が設けられており、被検眼
１からの散乱光は、第１図上で照射光とは異なる方向で
とらえられ、対物レンズ１４、変倍光学系１５を経ては
ね上げ反射鏡１６に入射される。はね上げ反射鏡１６に
より観察時には、光束は、ビームスプリッタ−１７、接
眼レンズ１９を介して観察されるとともに光量センサ１
８を介して光量が検出され、検出信号は後述する調光制
御系３に入力される。また撮影時には、はね上げ反射鏡
工６は上方へはね上がり、光束は、反射鏡２０、撮影レ
ンズ２１、絞り２２を経てフィルム面２３に投影され、
撮影が行なわれる。
スリ７ト（細隙）光をつくるためレーザー光を水平方向
と垂直方向とに走査する走査手段がある。前記走査手段
は、垂直方向走査用反射鏡１０と水平方向走査用反射鏡
１１と、走査制御系２から構成される。走査制御系２は
垂直走査用反射鏡１０を軸１０ａ　（第１図の紙面垂直
方向）を中心としてその周りに、水平方向走査用反射鏡
１１を軸１１ａを中心としてその周りにそれぞれ同期し
て回動させる駆動装置を有する。
第２図（Ａ）、ＣＢ）に示すように垂直方向走査用反射
鏡１０の回動量を制御して上下方向の走査範囲Ｖを変更
することができ、又、第３図（Ａ）、（Ｂ）に示すよう
に水平方向走査用反射鏡１１の回動量を制御して左右方
向の走査範囲Ｈを変更することができる。反射鏡１０．
１１は走査制御系２によって独立して走査速度、走査範
囲が制御される。。
レーザー光の光量は、最大値が安全規格内に入るよう制
限されており、更にこの光量を減衰させる方向で調整で
きるようになっている。この３Ａ節は調光制御系３、一
対の直線偏光子６，７．光量センサ１８により行なわれ
る。第４図に示すように、光量センサ１８が光量を検知
し、その光量を表わす電気信号を調光制御系３へ送る。
直線偏光子回転モータ５は調光制御系３により駆動され
る。光量が多すぎるときは直線偏光子６．７の偏光方向
（矢印参照）が直交する方向に直線偏光子６を直線偏光
子７に対して回動して減衰量を大きくし光量を下げる。
反対に、光量が不足する場合は直線偏光子６．７の偏光
方向を揃える方向に直線偏光子６を回動させ減衰量を少
なくして光量を上げる。自動調光機構によらず手動で直
線偏光子６を回動して光量を調整してもよい。
又、この直線偏光子６．７は回転型連続可変ＮＤフィル
ターに置き換えても良い。
次にこのような構成の細隙灯顕微鏡の動作を説明する。
レーザー管４を出たレーザー光は直線偏光子６，７で光
量を調整され、次に反射鏡８を経てビームエクスパング
ー９によりビーム径を太くされる。レーザー光は走査反
射鏡１０．１１により適正なスリット光となるよう走査
され、こうして走査されたレーザー光は投影レンズ１２
、反射鏡１３により被検眼１に照射される。
被検眼１内からの散乱光は、受光光学系に入射する。入
射散乱光は先ず対物レンズ１４で集光され、変倍光学系
１５で観察倍率が決定され、そしてはね上げ反射鏡１６
により観察時には観察光学系の方向（ビームスプリッタ
−１７の方向）、撮影時には撮影光学系の方向（反射鏡
２０の方向）へ導かれる。観察時にはね上げ反射鏡１６
にて導かれた散乱光はビームスプリッタ−１７により接
眼レンズ系へ向う分と光量センサ１８へ向う分とに分け
られる。既に述べたように、光量センサ１８は光量調整
の調光制御系へ光量を表わす信号を送って光量を調整す
るが、接眼レンズ１９で角膜、水晶体等を検査している
人が直線偏光子６を手動調整して光量を調整してもよい
。
一方、撮影時には撮影光学系へ送られた散乱光は反射鏡
２０を介して撮影レンズ系２１に進み、フィルム面２３
へ角膜、水晶体等の断面像を投影露光する。
被検眼へのスリット光の照射は、走査制御系２を介して
反射鏡１０．１１を上述したように駆動することにより
走査範囲Ｖ、Ｈを変化させて行なわれる。走査範囲を調
整することによりスリット面績が変化、スリット光量が
変わった場合には、調光制御系３を介して光量を自動的
に一定に保つことができる。
［効　果］ 本発明の細隙灯顕微鏡においては細隙光の大きさを広範
囲に精確に調整することができ、レーザー光束の１本分
の幅までの幅の狭いスリー／　）光を得ることができる
。
また、細隙光の大きさを変化させても、受光光拵を一定
に保つことができる。
更に、レーザー光の使用のため光密度が高く、角Ｉり、
水晶体等の軽度の障害も確実に検出診断でき、 眼疾患の早期診断に役立つ。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の細隙灯顕微鏡の構成を示す構成図、第
２図（Ａ）、（Ｂ）は本発明に従ってレーザー光を垂直
方向に走査する様子を示す説明図、第３図（Ａ）、（Ｂ
）は本発明に従ってレーザー光を水平方向に走査する様
子を示す説明図、第４図は光量調整系の説明図である。 １・・・被検眼　　　　　２・・・走査制御系３・・・
調光制御系　　　４・・・レーザー管５・・・直線偏光
子回転用モータ ６．７・・・直線偏光子 ８・・・反射鏡 ９・・・ビームエクスパングー １０・・・垂直方向走査用反射鏡 １１・・・水平方向走査用反射鏡 １２・・・投影レンズ　　　１３・・・反射鏡１４・・
・対物レンズ　　　１５・・・変倍光学系１６・・・は
ね上げ反射鏡 １７・・・ビームスプリッタ−

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 １）レーザー光源と、 被検眼へレーザー光を照射する照射光学系 と、 レーザー光を水平、垂直方向に走査する手段と、 前記被検眼からの散乱による前記被検眼の断面像を観察
    、撮影する受光光学系と、 前記受光光学系によって受光された光量によって前記レ
    ーザー光の光量を調光する系とを備え、 前記レーザー光を水平、垂直方向に走査することにより
    走査範囲に対応する細隙光を被検眼へ照射することを特
    徴とする細隙灯顕微鏡。 ２）前記走査範囲を可変にしたことを特徴とする特許請
    求の範囲第１項に記載の細隙灯顕微鏡。
JP61130060A 1986-06-06 1986-06-06 細隙灯顕微鏡 Granted JPS62286433A (ja)

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JP61130060A JPS62286433A (ja) 1986-06-06 1986-06-06 細隙灯顕微鏡
US07/311,424 US4877321A (en) 1986-06-06 1989-02-14 Slit lamp microscope

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JP61130060A JPS62286433A (ja) 1986-06-06 1986-06-06 細隙灯顕微鏡

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JPS62286433A true JPS62286433A (ja) 1987-12-12
JPH0588129B2 JPH0588129B2 (ja) 1993-12-21

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