JPH041622B2 - - Google Patents

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JPH041622B2
JPH041622B2 JP59167664A JP16766484A JPH041622B2 JP H041622 B2 JPH041622 B2 JP H041622B2 JP 59167664 A JP59167664 A JP 59167664A JP 16766484 A JP16766484 A JP 16766484A JP H041622 B2 JPH041622 B2 JP H041622B2
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JP
Japan
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optical system
slit
section
crystalline lens
recording
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JP59167664A
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JPS6145725A (ja
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Kazuyuki Sasaki
Toshikazu Yoshino
Shinichi Nishimura
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Topcon Corp
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Topcon Corp
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Publication date
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Priority to US06/695,900 priority patent/US4711541A/en
Publication of JPS6145725A publication Critical patent/JPS6145725A/ja
Publication of JPH041622B2 publication Critical patent/JPH041622B2/ja
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Description

【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野) 本発明は、スリツトランプおよびスリツトラン
プに着脱自在に取付けられて被検眼水晶体の断面
観察および記録を行い得るようにするスリツトラ
ンプの付属装置に関する。 (従来技術) スリツトランプは、被検眼の水晶体にスリツト
光を投射し、スリツト光投射部の観察および記録
を行うものであり、その観察の一方法として、ス
リツト投射面に対して斜め方向から水晶体を観察
する、被検眼水晶体の光断面像観察がある。この
ばあい、通常の光学系では、水晶体の光断面全体
にわたり満足な結像状態を得ることができないの
で、その欠点を解消するため、観察光学系の結像
面を、眼球に投影されるスリツト光を含むスリツ
ト面と、観察光学系の中の結像光学系の主平面と
の間の交線を含む平面上に配置することにより、
水晶体の光断面像全体を合焦状態で観察できるよ
うにすることも知られている。このような光学的
配置はシヤインプルフの原理として知られている
ものであり、この原理を利用した水晶体断面観察
装置は、たとえば特願昭52−18511号に開示され
ている。この公知の装置は、水晶体断面観察のた
めの専用装置であり、スリツトランプとしての他
の観察方法に使用できない。また、スリツト投影
光により形成される水晶体の光断面像全体を合焦
状態で観察できる利点はあるが、一回の観察は一
の断面についてしか行い得ないので、被検眼全体
について観察を行うには時間を要し、患者に与え
る苦痛も大きい。さらに、被検眼へのスリツト光
投影位置を記録する手段が備えられていない。し
たがつて、たとえば白内障の検査のばあい、その
白濁位置の正確な判断および経時的な変化を常に
観察し記録するには非常に不便である。 水晶体の全体像の観察のために、被検眼にスリ
ツト光を投影し、スリツト投影光の眼底反射光に
より水晶体を照明するようにした方法も徹照法と
して知られている。また、この徹照法による観察
にさいし、有害角膜反射光が観察光学系に入り込
むのを防止するために、照明系に偏光子を、観察
系に検光子を配置することも知られており、その
例は、「臨床眼料」第32巻、第6号(1978年6月)
および日本眼科紀要1958年第62巻第380ページに
記載されている。しかし、従来の徹照法を利用し
た装置では、スリツト照明の照明方向の一定性、
照明光量の一定性、観察方向の一定性、観察位置
の一定性などについての保証がなく、記録、計測
などの対象にはなり得ない、という問題がある。 (発明の目的) 本発明は、スリツトランプとしての他の機能に
影響を与えることなく、被検眼水晶体の断面像記
録と徹照法による全体記録の両方が可能なスリツ
トランプを提供することを目的とする。 本発明の他の目的は、スリツトランプに着脱自
在に取付けられて、被検眼水晶体の断面像記録と
徹照法による全体記録を行い得るようにするスリ
ツトランプのための付属装置を提供することであ
る。 (発明の構成) 上記目的を達成するため、本発明は次の構成を
有する。 すなわち、本発明によるスリツトランプは、被
検眼水晶体にスリツト光を投射するスリツト投射
光学系と、被検眼のスリツト光投射部を観察する
顕微鏡部とを有する形式であつて、前記顕微鏡部
は、スリツト光による被検眼水晶体の光断面を記
録するための記録手段を有する水晶体断面記録光
学系と、前記水晶体の徹照像を前記水晶体断面記
録光学系の記録手段に導く徹照像記録光学系とを
有し、前記水晶体断面記録光学系は、結像光学系
の主面と前記記録手段の結像面の延長面とがスリ
ツト投影光学系のスリツト投影面の延長面上で交
わるシヤインプルフの原理による光学配置を有す
ることを特徴とする。本発明においては、水晶体
断面記録光学系は、スリツトランプの通常の観察
光学系とは別に設ければよい。たとえば、顕微鏡
部が双眼顕微鏡のような観察光学系を有するばあ
い、水晶体断面記録光学系は、この観察光学系と
は別に設けられる。顕微鏡部にガリレオ型双眼顕
微鏡があるばあいには、徹照像記録光学系は、こ
の双眼顕微鏡の片側の観察光学系の平行光束光路
内のビームスプリツターを配置して、このビーム
スプリツターの反射光束を記録手段に結像される
ように構成することができる。 また、本発明においては、水晶体断面記録光学
系と徹照像記録光学系とをスリツトランプに着脱
自在に取付け得る付属装置として構成することが
できる。この付属装置は、顕微鏡部が対物部と接
眼部とに分けられるスリツトランプに適用できる
もので、対物部と接眼部の間に挿入される。 (発明の効果) 本発明によれば、スリツトランプの顕微鏡部
に、シヤインプルフの原理に基づく光学配置の水
晶体断面記録光学系と、この水晶体断面記録光学
系の記録手段に水晶体の徹照像光束を導く手段が
設けられるので、水晶体断面全体にわたり鮮明な
像が得られると同時に、徹照像による全体像も同
一記録手段に記録できる。また、水晶体断面記録
光学系をスリツトランプの通常の観察光学系と別
に設ければ、スリツトランプとしての本来の機能
を損なうことなく、鮮明な水晶体断面像と徹照像
の同時記録が可能になる。さらに、水晶体断面記
録光学系と徹照像をスリツトランプに着脱自在に
取付けられる付属装置として構成することによ
り、通常のスリツトランプに必要に応じて水晶体
断面像と徹照像の同時記録を可能にする機能を備
えさせることができる。 (実施例の説明) 第1実施例 全体構成 第1図を参照すると、図示されたスリツトラン
プは、スリツト投射光学系10と、被検眼観察の
ための顕微鏡20とを有する。さらに、スリツト
ランプには、該スリツトランプの本体に着脱自在
に取付けられるハウジング50が設けられ、この
ハウジング50内に、徹照像記録光学系30と水
晶体断面記録光学系40が設けられる。 スリツト投射光学系10 スリツト投影光学系10は、光源として観察用
タングステン電球101と写真撮影用キセノンラ
ンプ103とを有し、タングステン電球101と
キセノンランプ103との間には集光レンズ10
2が配置されている。さらに、光源からの光束を
投射光路10aに沿つて導くために、集光レレン
ズ104が設けられており、投射光路10aにス
リツト絞り105が配置されている。スリツト絞
り105は、光源からの光束を細いスリツト状に
して通すもので、このスリツト絞り105を通過
したスリツト光束は、第1対物レンズ106を通
り、ミラー109により直角に反射されたのち、
第2対物レンズ110を通つてハーフミラー11
1により反射され、被検眼Etに投射光軸Oo方向
に投射される。スリツト絞り105は矢印で示す
ようにスリツト投射光軸10aのまわりに回転自
在で、投射されるスリツトの方向を任意に変える
ことができる。投射光路10aには、偏光子10
7と必要に応じてフイルター108が出し入れ可
能に配置される。 集光ンズ102は、タングステン電球101の
フイラメント像をキセノンランプ103の電極間
隙すなわち発光点位置に集光させ、集光レンズ1
04は、これら光源からの光を偏光光束とする。
第1対物レンズ106は、スリツト絞り105の
位置に前側焦点をもち、スリツト絞り105を通
つた光束を平行光束とする。第2対物レンズ11
0は第1対物レンズ106を通つた光束を被検眼
Etの前眼部、主に水晶体にスリツト像Soとして
結像させる。一般のスリツトランプにおいてよく
知られているように、スリツト絞り105はスリ
ツト長およびスリツト巾を任意に調節可能とする
ことが望ましく、またスリツト絞り105に近接
して種々の開口径をもつ円形開口板を配置して、
任意の大きさの円形スポツト光を被検眼前眼部に
投影できるようにすることが望ましい。 顕微鏡20 この顕微鏡20は、ガリレオ型双眼顕微鏡から
なり、右眼用観察光学系21と左眼用観察光学系
22とを有する。両観察光学系21,22は共通
の対物レンズ201を有し、該対物レンズ201
の後に、それぞれの光学系21,22のために変
倍レンズ211が互いに平行に配列されて対物部
を構成する。変倍レンズ211としては、回転ド
ラム式あるいは他の周知の形式のものを用いれば
よい。観察光学系21,22の接眼部は、変倍レ
ンズ211の光軸O1上に配置された結像レンズ
212と該結像レンズ212の後方に配置された
正立プリズム213、該正立プリズムの出射側に
配置された焦点板214を有する。対物レンズ2
01は、被検眼Etからスポツト投射光軸O0に沿
つて進み、ハーフミラー111を透過した光が左
側観察光学系22の変倍レンズ211の光軸O1
に沿つて進むように配置されている。この光束
は、変倍レンズ211を通つたのち、結像レンズ
212により結像板214上に結像され、被検眼
水晶体の像を形成する。結像板214上の像は、
接眼レンズ215により観察される。被検眼水晶
体の像は、左眼用観察光学系22と対称な配置を
有する右眼用観察光学系21によつても観察さ
れ、両光学系21,22により被検眼水晶体の立
体視が可能になる。 徹照像記録光学系30 この光学系は、左眼用観察光学系22の変倍レ
ンズ211と結像レンズ212との間に挿入され
たビームスプリツタ301を有する。ビームスプ
リツタ301は、変倍レンズ211を通過した光
束の一部を直角方向に反射し、残りをそのまま透
過させる。ビームスプリツタ301の透過光路に
はスリツト投射光学系10の偏光子107の偏光
軸と直角方向の偏光軸をもつ検光子302が矢印
で示すように出し入れ自在に配置されている。こ
の検光子302により、被検眼Etの角膜表面に
おける反射光が、光学系22の接眼部に入るのを
防止できる。 ビームスプリツタ301の反射光路上には、検
光子302と同様な検光子303と、結像レンズ
304が配置されている。結像レンズ304を通
過した光は、後述する水晶体断面記録光学系40
のはね上げミラー305が図に想像線で示すはね
上げ位置305′にあると、撮影フイルム306
に向けて反射され、該フイルム306上に徹照像
を結像する。 水晶体断面記録光学系40 この光学系40は、結像レンズ41と、前述し
たはね上げミラー305および撮影フイルム30
6からなる。結像レンズ41と撮影フイルム30
6とは、被検眼Etにおけるスリツト像Soを含む
平面すなわちスリツト投射面に対し、シヤインプ
ルフの原理による光学配置となつている。さらに
詳細に述べると、スリツト投射面とフイルム30
6を含む平面とは第1図にAで示す位置で交わ
り、結像レンズ41の主平面41aを含む平面
が、これらスリツト投射面とフイルム面との交線
を含むように配置される。 この配置により、スリツト像Soの全体を合焦
状態で撮影フイルム306上に結像させることが
できる。 スリツトランプ付属装置の構成 前述した徹照像観察記録光学系30と水晶体断
面記録光学系40を構成する各部品は、すべてハ
ウジング50内に収められている。ハウジング5
0は、スリツトランプの本体上で、顕微鏡部20
の左眼用観察光学系の光軸O1まわりに180゜の範囲
で回転自在に取付けられる。 作 動 徹照像観察投影 スリツト投射光学系10により水晶体にスリツ
ト光を投射する。 徹照像観察系の検光子302を光路外へ退避さ
せておき、スリツト光の角膜反射光を見ながらス
リツト投射位置を装置全体を上下左右に移動させ
てアライメントする。 水晶体に投射されたスリツト光は眼底で反射さ
れ、その反射光により水晶体は背後から透過照明
される。 この水晶体の徹照像は徹照像観察光学系で観察
される。このときスリツトの角膜反射光が徹照像
観察に影響しないように、検光子302を光路内
に挿入する。この検光子302は投射光学系10
の偏光子107と偏光軸が直交しているため角膜
からの反射光は、遮断される。一方、眼底は拡散
面と等価と考えてよく、徹照像を作るためのスリ
ツト光の眼底反射光は偏光性をほとんど有しない
無偏光となるため徹照像は、検光子302を通過
し、結像レンズ212で焦点板214上に結像さ
れ、接眼レンズ215を通して観察される。 撮影は図示せぬレリーズの指令により、はね上
げミラー305をはね上げ位置305′へとはね
上げると同時にキセノンランプ103を発光させ
る。徹照像はビームスプリツター301で一部反
射され、検光子303で角膜からの反射光が遮断
されたのち、撮像レンズ304により、はね上げ
ミラー305を介してフイルム306上に撮影さ
れる。なお徹照像の合焦は、装置全体を前後に移
動することより行なわれる。 水晶体断面撮影 はね上げミラー305のはね上げにより撮影光
路を開き、これと同時にキセノンランプが発光さ
れ、フイルム306に徹照像とともに水晶体断面
像が撮影される。その投影例を第7図に示す。 他の経線における断面像を撮影したときは、ス
リツト投射光学系10のスリツト絞り106を投
射光軸回りに回転される。スリツトの入射経線方
向は徹照像観察光の検光子302を光路外に退避
させておけば、角膜反射光により観察できるか
ら、これにより所望の位置にスリツトの入射経線
方向を合わせることができ、スリツト絞り106
に連動する図示しない指標と目盛板からその経線
角度を知ることができ、同じく図示しないハウジ
ング50に取付けられた目盛と指標を利用して、
この経線角度と同じ角度になるようにハウジング
50を光軸O1回りに回転させればよい。 第2実施例 この実施例は、スリツト投射方向をフイルム3
06上に記録できるようにしたもので、投射方向
観察記録光学系60を有する。この光学系60
は、結像レンズ601と、回転自在な発光焦点板
すなわちレチクル602と、リレーレンズ603
とからなる。結像レンズ601は、徹照像をレチ
クル602上に結像させ、リレーレンズ603は
レチクル602上の像からの光束を平行光束とし
てビームスプリツタ301へ入射させるものであ
る。 第5図および第6図に示すように、レチクル3
02は、保持枠500と、これに嵌入接着された
透明なガラス板501から成り、ガラス板501
には周方向に90゜間隔に刻線溝502,503,
504,505が形成されている。この刻線溝5
02〜505の各々の上には、内壁が光反射性を
有する半円管530,531,532,533が
接着されている。 一方保持枠500には、周方向にそつて溝51
0,511,512,513が形成され、これら
溝内には、それぞれオプテイカルフアイバー52
0,521,522,523がそれぞれ嵌入接着
されている。これらオプテイカルフアイバーの射
出端面520a,521a,522a,523a
は斜めに切断されており、この斜切断面が上方に
くるよう上記刻線溝の端部に配置されている。4
本のオプテイカルフアイバー520〜523は一
束のフアイバー524にまとめられ、投影光学系
10に配線され、途中から2又に分岐され1方の
入射端525はキセノンランプ103に他方の入
射端526はタングステンランプ101に対置さ
れている。入射端526とタングステンランプ1
01の間にはたとえばグリーン色の単色フイルタ
ー540が配置される。 タングステンランプ101からの光はフイルタ
ー540でグリーン光にされオプテイカルフアイ
バーに入射し、射出端から射出される。このとき
射出端面は斜切断されているため射出光の多くは
ガラス板501の刻線溝502〜505側に屈折
射出され、さらに刻線溝壁の拡散面で拡散された
後ガラス板501を透過しリレーレンズ603側
へ射出していく。また刻線溝と反射側に射出した
光束は、半円管530〜533の反射内壁で反射
され刻線溝へ入射される。 さらに、本実施例は、濃度チヤート撮影系70
を有する。この撮影系70は、一端をキセノンラ
ンプ103に向けて配置したオプテイカルフアイ
バー71を有し、オプテイカルフアイバー71の
他端は、照明レンズ72に対向して置かれてい
る。照明レンズ72の背後に濃度フイルター73
が配置され、濃度フイルター73上の情報は撮影
レンズ74により徹照像記録光学系を通してフイ
ルム306上に撮影される。濃度フイルター73
は、撮影レンズ74に対し偏心して配置される。 作 動 検光子302を光路から引込めて、投射光学系
10の観察用光源101を点燈し、スリツト10
5からのスリツト光を被検眼に投射する。光源1
0からの光はグリーン色フイルター540とオプ
テイカルフアイバー524を通り、レチクル60
2の刻線502〜505を照明し、検者は第4
a,4b,4c,4d図に示すように接眼レンズ
視野内にグリーンの十字線像502′〜505′を
観察できる。被検眼と本装置のアライメントが不
完全なとき、第4a図に示すように被検眼瞳像P
とスリツト光の被検眼角膜による一部反射光によ
る像Rは、その中心が互いにずれるとともに、十
字線像502′〜505′の交点中心からもずれて
観察される。スリツトランプ本体の上下左右動調
節により瞳像Pの中心をスリツト像交点中心に合
致させ、スリツト像Rが水平スリツト像503′,
505′と合致するようにする(第4b図)。 次いで、検光子302を光路内に挿入する。角
膜から反射してきたスリツト光によるスリツト像
Rは、その偏光軸が偏光子107の偏光軸と直角
なため、検光子302により遮断される(第4c
図)。一方、スリツト光の眼底からの反射光は、
眼底の拡散作用により偏光性をほとんど消失した
無偏光な光束となり、この反射光により照明され
て被検眼の徹照像が形成される。したがつて、検
光子302で遮断されない光束による徹照像を検
者は観察でき、かつ、その観察は、角膜反射光の
影響をまつたく受けない。徹照像の焦点合せはス
リツトランプ本体の前後動によりなされる。 再び光路内から検光子302を引込め、スリツ
ト絞り105およびハウジング50を回転し、ス
リツト光の角膜反射像R及びこれと合致している
水平スリツト像503′,505′を所望の径線位
置へ移動させる(第4d図) 図示しない写真撮影用レリーズスイツチを操作
することにより、はね上げミラー305がはね上
げられると同時にキセノンランプ103が点燈す
る。はね上げミラー305のはね上がりにより、
水晶体断面撮影光路が開かれ、断面像がフイルム
306上に第8図に示すように写し込まれる。こ
れと同時に、徹照法像は、レチクル602の十字
線像とともにはね上げミラー305のはね上がり
位置で反射され、フイルム306に写し込まれ
る。 また同時に、濃度チヤート像73′が濃度チヤ
ート撮影光学系を介してはね上げミラー305の
はね上がり位置で反射され、フイルム306に写
し込まれる。 第3実施例 本実施例は、水晶体断面像の観察を可能にする
ものである。このために、右眼用観察光学系21
には、変倍レンズ211と結像レンズ212との
間にビームスプリツタ702が配置されている。
さらに、ビームスプリツタ702にはレンズ70
1が組合わされ、このレンズ701は、ビームス
プリツタ702とともに矢印704の方向に回転
することができ、ビームスプリツタ702の反射
面が図に実線で示す位置にあるときは、レンズ7
01は徹照像撮影光路内に置かれ、点線位置にあ
るときは、右眼用観察光学系の変倍レンズ211
と同軸に置かれる。左眼用観察光学系22には、
前例のビームスプリツタ301の位置にミラー3
01aが置かれており、変倍レンズ211からの
光束を結像レンズ304の方へ向けて反射する。
はね上げてミラー305は、図に実線で示す位置
にあるときは、水晶体断面撮影光学系40の結像
レンズ41からの光束を徹照像撮影光路に沿つて
反射方向に反射する。この光束は、図にRで示す
位置に中間像を形成する。 この中間像Rからの光束は、徹照像撮影系の撮
像レンズ304とレンズ701の共同作用により
平行光束とされ、実線位置にあるビームスプリツ
タ−702の反射面で反射されたのち結像レンズ
202に入射し、中間像Rの像R′をレチクル2
14上に結像する。レチクル214は、第9図に
示すように、指標線705,706を有し、これ
ら指標線に角膜断面の前面及び水晶体断面の前面
が位置するように装置全体を前後させる。この指
標位置合わせを行なえば、徹照像観察、撮影時の
合掌位置出しが一定となるため、再現性がよくな
る。 徹照像観察時は、ビームスプリツター702と
レンズ701を点線位置に回転させる。この位置
では、左眼用観察光学系22の変倍レンズ211
を通つた光束がミラー301aにより反射された
のち、ビームスプリツター702の反射面により
反射されて、徹照像光束を右眼用観察光学系21
の結合レンズ212へ入射させる。 撮影にさいしては、はね上げミラー305をは
ね上げると、ミラー301aにより反射された徹
照像光束が、レンズ304により、はね上げ位置
のミラー305′を経てフイルム306上に結像
し、徹照像を形成する。このとき、右眼用観察光
学系21の変倍レンズ211を通りビームスプリ
ツター702の反射面により反射されて徹照像撮
影光学系に入ろうとする光束は、ハウジング50
の壁面50aで遮断するかレンズ211とビーム
スプリツタ702の間に、はね上げミラー305
と連動するシヤツター705を配置することによ
り遮断すればよい。なお、ハウジング50をスリ
ツトランプの本体から取外せば、スリツトランプ
は普通の双眼顕微鏡を有するものとして使用でき
る。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図、第3図は本発明のそれぞれ異
る実施例における光学系を示す概略図、第4図
a,b,c,dはその使用方法を示す接眼部の略
図、第5図は徹照法撮影光学系内のレチクルを示
す正面図、第6図は第5図のレチクルのA−A線
断面図、第7図および第8図は撮影された像の例
を示す略図、第9図は第3図の実施例における接
眼部のレチクルの図である。 10……スリツト投射光学系、20……顕微鏡
部、30……徹照像記録光学系、40……水晶体
断面記録光学系、50……ハウジング、41……
結像レンズ、41a……主面、306……撮影フ
イルム、So……スリツト像。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 被検眼水晶体にスリツト光を投射するスリツ
    ト投射光学系と、被検眼のスリツト光投射部を観
    察する顕微鏡部とを有するスリツトランプにおい
    て、前記顕微鏡部は、スリツト光による被検眼水
    晶体の光断面を記録するための記録手段を有する
    水晶体断面記録光学系と、前記水晶体の徹照像を
    前記水晶体断面記録光学系の記録手段に導く徹照
    像記録光学系とを有し、前記水晶体断面記録光学
    系は、結像光学系の主面と前記記録手段の結像面
    の延長面とがスリツト投影光学系のスリツト投影
    面に延長面上で交わるシヤインプルフの原理によ
    る光学配置を有することを特徴とするスリツトラ
    ンプ。 2 顕微鏡部はガリレオ型双眼顕微鏡を有し、徹
    照像記録光学系は該双眼顕微鏡の片側の観察光学
    系の平行光束光路内に配置されたビームスプリツ
    ターと、該ビームスプリツターで反射された徹照
    像光束を記録手段に結像するレンズとから構成さ
    れたことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
    のスリツトランプ。 3 スリツト投射手段は偏光子を有し、徹照像記
    録光学系は該偏光子と偏光方向が直角な検光子を
    有することを特徴とする特許請求の範囲第1項ま
    たは第2項記載のスリツトランプ。 4 スリツト投射手段は偏光子を有し、徹照像記
    録光学系は該偏光子と偏光方向が直角な検光子を
    有し、ビームスプリツターを有する観察光学系に
    は該ビームスプリツターの透過光路内に偏光子を
    偏光方向が直角な第2の検光子が挿脱自在に配置
    されたことを特徴とする特許請求の範囲第2項記
    載のスリツトランプ。 5 徹照像記録光学系は水晶体への投射スリツト
    光の長手方向を示す指標を有することを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項ないし第4項記載いずれ
    かに記載のスリツトランプ。 6 指標は発光指標であることを特徴とする特許
    請求の範囲第5項記載のスリツトランプ。 7 スリツト投射手段のスリツト開口は投射光軸
    を軸として回転可能であり、かつ水晶体断面記録
    光学系と徹照像記録光学系とは一体に観察光学系
    の光軸を軸として回転可能に構成されたことを特
    徴とする特許請求の範囲第1項ないし第6いずれ
    かに記載のスリツトランプ。 8 被検眼水晶体にスリツト光を投射するスリツ
    ト投射光学系と、前記スリツト光による被検眼の
    投射部を観察する顕微鏡部とを有し、前記顕微鏡
    部は対物部と接眼部とに分けられるスリツトラン
    プの、前記対物部と接眼部との間に着脱可能に取
    付けられる付属装置であつて、結像光学系と結像
    面を有する記録手段とからなる水晶体断面記録光
    学系と、前記顕微鏡の対物部を通る徹照像光束を
    前記記録手段に導く徹照像記録光学系とが設けら
    れ、前記結像光学系と結像面とは、該付属装置が
    スリツトランプに取付けられたとき該結像光学系
    の主面と結像面の延長とが、スリツトランプのス
    リツト投射面の延長面上で交わるシヤインプルフ
    の原理による光学配置を有することを特徴とする
    スリツトランプ付属装置。 9 徹照像記録光学系は顕微鏡の観察光軸に挿入
    されるビームスプリツターと、該ビームスプリツ
    ターで反射された徹照像光束を記録手段に結像す
    る結像レンズとから構成されたことを特徴とする
    特許請求の範囲第8項記載の付属装置。 10 スリツト投射手段の光路内に偏光子が配置
    される形式のスリツトランプに対して使用される
    ものであつて、スリツトランプの偏光子と偏光方
    向が直角な検光子を徹照像記録光学系内に有する
    ことを特徴とする特許請求の範囲第8または第9
    に記載の付属装置。 11 ビームスプリツターの透過光路内にスリツ
    トランプの偏光子と偏光方向が直角な第2検光子
    が挿脱可能に設けられたことを特徴とする特許請
    求の範囲第10項記載の付属装置。 12 徹照像記録光学系は水晶体への投射スリツ
    ト光の長手方向を示す指標を有することを特徴と
    する特許請求の範囲第8ないし第11項いずれか
    に記載の付属装置。 13 指標は発光指標であることを特徴とする特
    許請求の範囲第12項記載の付属装置。 14 ビームスプリツターへの入射光軸を軸とし
    て回転可能に構成されたことを特徴とする特許請
    求の範囲第8項ないし第13項いずれかに記載の
    付属装置。
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