JPS62285263A - 光磁気記録用光ヘツド - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の詳細な説明 〔産業上の利用分野〕 本発明は光を用いて磁気媒体上で記録および再生を行な
う光磁気記録用光へ・ソドに関する。

〔従来の技術〕

光磁気記録は垂直磁化膜を用いて磁区の反転により記録
ビットを形成する。再生時には直線漏光を照射し、磁気
カー効果により反射光の偏光軸が磁区の向きにより異な
る方向に回転するのを検出する。

第５図は従来の光ヘッドの基本構成図３示す。

半導体レーザ１からの出射光はコリメートレンズ２、ビ
ームスプリッタ３、集光レンズ４３介し、基板５を通し
て記録媒体６に収束される。反射光ビームはビームスプ
リッタ３で分離され、所定の角度に設定したアナライザ
８を通して光検出器９に導かれる。記録媒体の磁区の向
きによりアナライザの通過光量が変化することがらビッ
トが検出される。他方のビームスプリッタで分離された
反射光ビームは記録媒体上のスポット位置のエラー検出
光学系１３に導かれ、サーボ信号として利用される。

〔発明が解決しようとする問題点〕

記録媒体はプリグループの製作が容易なことなどからプ
ラスチック基板上に形成することが望ましい。しかし、
プラス千・ツク基板はガラス基板と異なり成型時の残留
応力などにより複屈折を有している。特にコンパクトデ
ィスクに広く用いられているポリカーボネート基板など
においては基板面内と垂直方向の間に大きな屈折率差を
有している。

このような面内と垂直方向間で複屈折を有する基板では
光ビームが基板に垂直に透過する場合は複屈折の影響は
ない。しかし、光ビームが斜めに透過する場きはその影
響が表われる。

第４図はポリカーボネート基板への入射角度と光ビーム
が怒しる複屈折の量の関係を示している。

入射角度が大きくなると大きな複屈折を恐しるようにな
る。光べ・ソドにおいては、基板中を収束ビームとして
光は透過するので、ビーム周辺部では基板を斜めに透過
することになりより多くの複屈折を感じることになる。

直線偏光が複屈折材料中を透過すると楕円偏光化するこ
とになり、光磁気記録においては再生時のＳ　７’　Ｎ
が劣化する。

本発明の目的はこのような複屈折を有する基板において
も、Ｓ　、／　Ｎが大きく劣化することのない光磁気記
録用光ヘッドを提供することにある。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明の構成は、レーザ光源からの出射ビームを記録媒
体上に収束する光学系と、前記記録媒体からの反射光ビ
ームを分離してアナライザを通し光検出器で信号検出を
行なう光学系とを有する光磁気記録用光ヘッドにおいて
、前記アナライザの前に挿入され前記反射光ビームを軸
対称に２分割し、この分割した片側の光ビームを前記対
称軸と直交する方向で左右反転し、前記アナライザ位置
においてこれら２つの光ビームを重ね合せる光学系を有
することを特徴とする。

（作用） 先に述べたように光へ・・ｌドにおいては、光ビームは
収束ビームとして基板を透過する。透過光の偏光状態は
入射偏光とビームの斜光する方向によって異なってくる
。

第３図は媒体反射光のビーム周辺部の位置による偏光状
態を示した図である。偏光状態はＸ軸またはＹ軸に軸対
称となっている。したがって、ビーム片側半分のビーム
を反転してもう半分に重ね合せれば、すべての位置で直
線偏光のビームを得ることができる。このような機能を
持つ光学系としては、第１図のような焦点距離の異なる
レンズと半分ずつ組合せた分割レンズ１４や、第２図の
ペンタゴンプリズム１５とハーフプリズム１６を組合せ
たものなどが考えられる。分割した光ビームの光路差は
適当な重さのガラス板を挿入すれば補正することができ
る。

〔実施例〕

第１図は本発明の一実施例の構成図である。半導体レー
ザ１からの出射光はコリメートレンズ２と２つのビーム
スプリッタ３、集光レンズ４を介して基板５上に形成さ
れた記録媒体６にスポットを形成する。記録媒体からの
反射光はビームスプリッタ３で分離され、分割レンズ１
４で２分割されて重ね合さった位置でアナライザ８を透
過する。

透過光は光検出器って検出される。もう一方のビームス
プリッタ３で分割された反射光は収束レンズ１０を介し
、１部はビームスブリ・ツタ３で分離されてトラックエ
ラー検出器１０に、１部はナイフェツジ１１を通してフ
ォーカスエラー検出器１２に導かれる。本実施例ではス
ポットの位置エラー検出として２分割光検出器を用いて
ディスクからの反射ビームの光量分布の１扁りを検出す
るプッシュプル法とスポット位置のフォーカスエラー検
出としてナイフェツジ法を用いているが、非点収差法や
３ビーム法など池の検出方式でもよい。また信号検出ら
アナライザの反射光と透過光を用いた差動検出方式を用
いてらよい。

（：発明の効果〕 本発明により複屈折の大きな基板を用いてらＳ／Ｎの劣
化が少ない光磁気記録用光ヘッドを実現することができ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の構成図、第２図は第１図の
分割用光学系の池の実施例を示す図、第３図は反射光ビ
ームの偏光状態を示す図、第４図は基板へのへ射角度と
複屈折量の関係を示す特性図、第５図は従来の光ヘッド
の一例の構成図である。 １・・・半導体レーザ、２・・・コリメートレンズ、３
・・・ビームスプリッタ、４・・・集光レンズ、５・・
・基板、６・・・記録媒体、７・・・収束レンズ、８・
・・アナライザ、９・・・光検出器、１０・・・トラッ
クエラー検出器、１１・・・ナイフェツジ、１２・・・
フォーカスエラー検出器、１３・・・エラー検出光学系
、１４・・・分割レンズ、１５・・・ペンタゴンプリズ
ム、１６・・・ハーフプリズム。 早１　図 だ甲゛判珂昭

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. レーザ光源からの出射ビームを記録媒体上に収束する光
   学系と、前記記録媒体からの反射光ビームを分離してア
   ナライザを通し光検出器で信号検出を行なう光学系とを
   有する光磁気記録用光ヘッドにおいて、前記アナライザ
   の前に挿入され前記反射光ビームを軸対称に２分割し、
   この分割した片側の光ビームを前記対称軸と直交する方
   向で左右反転し、前記アナライザ位置においてこれら２
   つの光ビームを重ね合せる光学系を有することを特徴と
   する光磁気記録用光ヘッド。